semiconductor memoriesとは 意味・読み方・使い方

To provide a semiconductor memory in which memories can be tested surely.例文帳に追加

確実にメモリをテストすることができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can test simultaneously many semiconductor memories.例文帳に追加

多くの半導体記憶装置を同時にテストできる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

One kind of semiconductor memory is utilized, therefore, as a plurality off kinds of semiconductor memories.例文帳に追加

このため、１種類の半導体メモリを複数種の半導体メモリとして利用できる。 - 特許庁

To shorten a test time of a semiconductor device mounted with nonvolatile semiconductor memories.例文帳に追加

不揮発性半導体メモリを搭載した半導体装置の試験時間を短縮する。 - 特許庁

The semiconductor memory has flash memories 1, 2, and a MRAM 5 being different in kinds from the flash memories 1, 2.例文帳に追加

半導体記憶装置は、フラッシュメモリ１，２と、これらフラッシュメモリ１，２とは種類の異なるＭＲＡＭ５とを有する。 - 特許庁

In a semiconductor-device manufacturing method, after forming in a semiconductor substrate a semiconductor integrated circuit including phase change memories and nonvolatile memories other than the phase change memories (step S1), such inspecting processes as probing inspections are so performed (step S2) as to store data in the nonvolatile memories other than the phase change memories in response to the inspected results (step S3).例文帳に追加

半導体基板に相変化メモリと相変化メモリ以外の不揮発性メモリとを含む半導体集積回路を形成した（ステップＳ１）後、プローブ検査などの検査工程を行い（ステップＳ２）、検査の結果に応じて、相変化メモリ以外の不揮発性メモリにデータの格納を行う（ステップＳ３）。 - 特許庁

A semiconductor test device has two fail memories 203, 204 and two analysis memories 107, 108, fail information are accumulated alternately in the analysis memories 107, 108 for each test through an OR circuit 105 from the fail memories 103, 104.例文帳に追加

半導体試験装置は、２面のフェイルメモリ２０３，２０４とともに２面の解析メモリ１０７，１０８を持ち、フェイルメモリ１０３，１０４から論理和回路１０５を通じて、毎回の試験ごとにフェイル情報を交互に解析メモリ１０７，１０８に累積して格納していく。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit includes a nonvolatile memory (11) and volatile memories (12, 13).例文帳に追加

半導体集積回路は不揮発性メモリ（１１）と揮発性メモリ（１２，１３）とを含む。 - 特許庁