Lambda UV - Vis. Brochure
Lambda UV - Vis. Brochure
Lambda UV - Vis. Brochure
Chromatography
Molecular Spectroscopy
Thermal Analysis
Informatics
Espectroscopa UV/Vis
continuo
velocidad y facilidad
WinLab
trabaja
temor a equivocarse.
Lambda 35
Lambda 45
1901100
Yes
1 (fijo)
No
Yes
Yes
0.54 (variable)
0.54 (variable)
No
Yes
3
2.42
Lambda 45
2.0
1.5
A
tecnologa
Lambda 25 y 35
1.0
0.5
0.09
200.0
202
204
206
208
210.0
nm
0.8
0.7
0.4552
0.6
0.5
0.4
A
0.3
0.2
0.2338
0.1
analtica.
0.0
240
250
260
nm
270
280
y requerimientos farmacopeicos.
1.20
Solucin de dicromato de potasio
1.00
0.80
A
0.60
0.40
0.20
0.00
220
250
300
350
nm
400
430
1.20
Holmium Perchlorate Solution
1.00
Valor
Especificado (nm)
0.80
A
0.60
0.40
0.20
0.000
200.0 250 300 350 400 450
nm
Valor
Medido (nm)
Tolerancia
(nm)
241.15
241.10
+/-1.0
361.50
361.10
+/-1.0
536.30
536.40
+/-3.0
Fig. 4. Sistemas Lambda exceden requerimientos farmacopeicos y de ASTM para exactitud de longitud de onda
(NIST 260-140) usando 4 mg/ml de una solucin de perclorato de holmio.
sin duda
desarrollador de mtodo,
analista y revisador.
Contrasea-protejida acceso de control
incluye contrasea de caducidad
Seguros para mtodos permite que los mtodos
no se sobreescriban. Todas las revisiones
se guardan en un lugar seguro.
Puntos configurables para e-firma.
Seis niveles para proteger la base datos
asegurando los datos evaluados.
UV WinLab software
problemas
minimizar
Desarrollo de Mtodos
mucho ms simple
Escaneo, cintica, cuant, control de tiempo
y programacin de longitudes de onda son
los modos que ofrecen mayor aplicacin.
Seguros para mtodos y proteccin con
contra seas son la clave para prevenir
errores.
Ajuste de la Coleccin de Datos
Rpidos anlisis
Entrada de muestras incluye una tabla
de informacin sobre la preparacin de
muestras, descripcin de la muestra,
informacin adicional y lmites de control.
Anlisis estandarizado de muestras tabuladas
para informacin regulatoria.
Entrada de muestras
Fcil acceso a
Sus datos
Seguros, encriptacin de los resultados en un lugar de ayuda GLP y
hacer una fcil revisin de los mismos.
Preguntas inteligentes permite la bsqueda en una tabla mltiple de parmetros.
Base de datos
Procesamiento de datos
Resultados
Reporte temporal
Reporte
accesorios de
robustos,
muestreo
sencillos y reproducibles
especificaciones tcnicas
No. Parte*
(Sistema estndar)
No. Parte*
Lambda 25
Lambda 35
Lambda 45
L600000N
L600000P
L600000R
L600000S
L600000T
L600000U
Ancho de banda
1 nm fijo
0.5, 1, 2, 4 nm
variable
0.5, 1, 2, 4 nm
variable
<0.01%T
<0.01%T
<0.01%T
<1%T
<0.01%T
<0.01%T
<0.01%T
<1%T
<0.005%T
<0.005%T
<0.005%T
<1%T
0.1 nm
0.1 nm
0.1 nm
10 mediciones a 656.1 nm
0.05 nm
0.05 nm
0.05 nm
0.001A
0.005A
0.010A
0.001A
0.005A
0.010A
0.001A
0.005A
0.010A
Mxima desviacin de
10 medidas a 1A
<0.001A
<0.001A
<0.001A
<0.00015
A/hora
<0.00015
A/hora
<0.00015
A/hora
Luz Espuria
At 220 nm (NaI)
At 340 nm (NaNO2)
At 370 nm (NaNO2)
At 200 nm (KCl)
Precisin fotomtrica
Estabilidad fotomtrica
Ruido fotomtrico
at 500 nm (RMS)
Slit 1 nm
<0.00005A
<0.00005A
<0.00005A
0.001A
0.001A
0.001A
Construccin
ptica
Doble haz real con portaceldas uno para refrencia y otro para muestra. Con doble detector
Monocromador
Seya Namioka
Rejilla
Fuente
Tamao
650 mm ancho, 233 mm altura, 560 mm fondo, 25" ancho, 9" altura, 22" fondo
Peso (aprox)
26 kg, 57 lbs
Las especificaciones mencionadas son garantizadas y se basan en el criterio final de pruebas usados en fabricacin. Especificaciones
tpicas podran ser superiores a las enlistadas.
*Requiere de una PC
PerkinElmer, Inc.
PerkinElmer Instruments es parte de la familia PerkinElmer, Inc.,
la cual es lider mundial en la industria y se enfoca en las divisiones
Optoelectronics y Life Sciences.
en semiconductores, ofreceindo
de muestras a interpretacin y
comunicacin de resultados.
Printed in USA