Metrologia 1

ndice
INTRODUCCION
El desarrollo de los microprocesadores y procesadores digitales de seal (DSP)
ah permitido realizar tareas que durante aos fueron hechas por sistemas
electrnicos analgicos.
Por otro lado como el mundo real es anlogo, una forma de enlazar las variables
analgicas con los procesos digitales a travs de los sistemas llamados
conversadores analgico digital (ADC - analogue to digital converter) y
conversores digital analgico (DAC digital to analogue converter)
El objetivo bsico de un ADC es transformar una seal elctrica anloga a un
nmero digital equivalente. De la misma forma un DAC transforma un nmero
digital en una seal elctrica anloga.
Esta funcin exige que los pasos intermedios se realicen de forma ptima para no
perder informacin. Segn el tipo de componente y su aplicacin existen distintos
parmetros que lo caracterizan, estos pueden ser: la velocidad de conversin, la
resolucin, los rangos de entrada, etc... Por ejemplo, una mayor cantidad de bit,
implica mayor precisin, pero tambin mayor complejidad.
Un incremento en solo un bit permite disponer el doble de precisin (mayor

resolucin), pero hace ms difcil el diseo del circuito, adems, la conversin
podra volverse ms lenta.
Dentro de las aplicaciones de estos sistemas de manejo de seales de video,
audio, los discos compactos, instrumentacin y control industrial. En los siguientes
apartados se describen los conceptos bsicos de conversiones de seal, tcnicas
de implementacin para los ADC o DAC, caractersticas y parmetros que los
definen.
Se revisarn las configuraciones ms clsicas, atendiendo criterios de velocidad y
manejo de datos, como tambin los nuevos productos disponibles en el mercado.
CONVERSIN BASICA DE SEALES

Un transductor permite relacionar las seales del mundo real y sus anlogas
elctricas. Para computarizar la informacin un sistema digital, se requiere los
convertidores de datos del tipo ADC o DAC, segn corresponda.
El diagrama de bloques de la Fig.1 muestra la secuencia desde una variable
fsica entra al sistema hasta que es transformada a seal digital (cdigo
binario).
Para dicha seal ingrese al convertidor anlogo- digital, esta debe ser
muestreada, es decir toman valores discretos en instantes de tiempo de seal
anloga, lo que recibe el nombre de sampling.
Matemticamente es el que equivale a multiplicar la seal anloga por una
secuencia de impulsos de periodo constante. Como resultado se obtiene un
tren de impulsos con aptitudes limitadas por la envolvente de la seal
analgica.
Para garantizar la toma de muestra y la conversin de forma correcta se debe

considerar la velocidad del muestreo, para la cual el Teorema de Nyquist,
establece que la frecuencia del muestreo FS, debe ser como mnimo el doble
que el ancho de la banda de la seal mostrada como se indica en (1).
Si no ocurre esta situacin, se tiene lugar el fenmeno denominado ALIASING.
En el proceso inverso indicado en la Fig.2, en la cual la seal digital es

transformada en seal elctrica,
para la
recuperacin de la seal elctrica,
la seal
digital debe pasar por un
convertidor del tipo digital anlogo. Esta seal modulada, es recuperada a travs
de un filtro pasa abajo e interpolada, obtenindose la seal anloga equivalente.
CARACTERISTICAS
La data digital es un numero binario que se define considerando desde el bit de
mayor peso (MSB, more significative bit) al bit de menor peso (LSB, least
significative bit) como se muestra en la Fig.3.
Cada conversor ADC o DAC, est determinado por una funcin de transferencia
ideal de entrada- salida (ver Fig.4), que muestra la equivalencia entre el mundo
digital y el anlogo.
DESARROLLO
A2. Linealidad de los DAC por Aproximacin Sucesiva (SAR)

Los parmetros ms afectados son: la relacin seal/ruido (SNR), la ganancia, la
no-Linealidad Diferencial (DNL) y la no-Linealidad Integral (INL).
Se aprecia la misma influencia en otros tipos de convertidor como el convertidor
paralelo, el convertidor pipeline o el convertidor delta-sigma. El estudio ilustra la
influencia del diseo de referencia en la linealidad de un DAC.
Arquitecturas de referencia
En los ADC se utilizan dos esquemas de referencia generales [2">. Algunos
productos proporcionan un buffer interno (Fig. 2), por lo que la entrada de
referencia es de alta impedancia. Este buffer rechaza todos los picos de corriente
generados por el DAC en la lnea de referencia.
Es posible que se inyecte alguna distorsin fuertemente atenuada en la entrada
del buffer, por lo que deber instalarse un condensador en la entrada de
referencia. Este esquema es sencillo de utilizar en una aplicacin y por lo tanto no
hablaremos ms de l.
Lamentablemente, el buffer requiere de un gran ancho de banda y por lo tanto
influye en el rendimiento ante el ruido y en el consumo de energa. Los productos
de gama alta no pueden utilizar este esquema de referencia.
Rechazo de carga de la fuente de referencia y resistencia

entre la fuente y el condensador
El condensador externo proporcionar la carga de los picos de corriente

provenientes del DAC del convertidor, pero se descargar hasta la mitad de un
LSB. La fuente de referencia es la encargada de proporcionar esta carga, mientras
que la corriente mxima, (Imx) que debe proporcionar en el tiempo el buffer de
referencia, se calcula de la siguiente manera:
Si la tasa de conversin (fconv) es 1 MSPS y si la capacidad total Ctot del DAC es

de 50 pF, que se carga desde masa hasta una tensin de referencia REF de 5 V,
la corriente mxima ser de 250 A. Esta corriente depende tpicamente de la
tensin de entrada, por lo tanto la salida de la fuente de referencia no debe caer
ms de la mitad de un LSB con esta corriente de carga. En otras palabras, el
rechazo de carga dREF/d1 desde la fuente, que se encarga de atacar el
condensador, debe ser mejor que:
Si el rechazo de carga de la fuente de referencia y la resistencia entre la fuente y

el condensador CREF supera esta resistencia, obtendremos una cada de tensin
(Vres) dependiente del cdigo que superar la mitad de un LSB.
Fig. 4: INL en LSB

respecto al cdigo
de salida del ADC
con un rechazo de
carga de a) 100
m, b) 1 y c)
1,8.
Fig. 5: DNL en LSB
respecto al cdigo
de salida del ADC
con un rechazo de
carga de a) 100
m, b) 1,8 y c)
10 .
La tensin de entrada Vent del ADC no se compara con la referencia REF, sino
con la tensin que se ha reducido en Vres. Este efecto se ilustra en la figura 4, que
muestra la no-Linealidad Integral (INL) de un ADC por SAR de 16 bits a 1 MSPS
con una resistencia de 100 m, 1 y 1,8 . Adems, la referencia reducida
provocar directamente un error de ganancia.
Afortunadamente, el rechazo de carga no influye en la no-Linealidad Diferencial
(DNL), como se muestra en la figura 5, donde se representa la DNL respecto al
cdigo de salida del ADC con un rechazo de carga de 100 m, 1,8 y 10 . Esto
se debe a que la corriente media del DAC no difiere mucho en cdigos
adyacentes. La influencia es despreciable en comparacin con los errores de DNL
habituales del DAC. Sin embargo, con cada cdigo se aade un pequeo error y la
suma de varios errores consecutivos afecta a la INL, que se define como la suma
de todas las DNL hasta el cdigo que nos interesa
Marco Metodologico
Proceso de Funcionamiento del DAC
(Digital to Analog Conver t er)
Los parmetros caractersticos

de un convertidor DAC son:
Escala completa de salida (Full-Scale Output (FSO)).

Se define como el mximo
valor analgico de salida posible, es decir,
cuando se aplica a la entrada el mximo
valor binario.
Resolucin :
Se define como la diferenc
ia en voltios que se produce a
la salida del convertidor para
un cambio sucesivo de su valor binario.
Precisin:
Es la comparacin entre la salida re
al de un DAC y la salida esperada.
Se expresa como un porcentaje de la te
nsin de salida mxima. Idealmente, la
precisin debera ser como mucho
del bit LSB (bit menos significativo). As,
para un DAC de 8 bits, LSB es 1/256
y la precisin es aproximadamente
0,2 %.
Linealidad:
Es la desviacin (error lineal) de la
salida ideal. Un caso especial es el
error de offset (cuando todos los bits estn a cero).

Monotonicidad:
Un DAC es montono si no pr
oduce escalones inversos cuando
se le aplica secuencialmente su rango completo de bits de entrada.
CONCLUSIN
Los sistemas ADC y DAC son necesarios cuando se realizan procesamiento digital
de seales permite el nexo entre ambos espacios del mundo real y el digital. Son
muy utilizados en sistemas de instrumentacin y adquisicin de datos. Cada
convertir posee propias caractersticas y parmetros que lo definen. Estos
parmetros y medidas se toman con respecto ah curvas ideales de transferencia,
sea, cuando ms se ajusta un determinado modelo de funcionamiento ah estas
curvas, ms preciso ser para obtener un buen funcionamiento de cada
convertidor, es importante destacar los parmetros que aporta el fabricante de
cada dispositivo y las condiciones de trabajo en que fueron medidas.
En todo ADC el conjunto de bits obtenidos a la salida sea un reflejo lo ms exacto
posible de valor analgico correspondiente. Si el ADC, est situado a la salida de
un sensor (que habitualmente aporta la seal de amplitud dbil) es esencial en
que la etapa de conversin no se genera un nivel de ruido que impida la
conversin real de la seal de entrada.
La arquitectura ms extensiva entre los ADC est basada en el mtodo de las
aproximaciones sucesivas. Su xito se fundamenta en conseguir tanto una
resolucin como una velocidad aceptable para una gran variedad de aplicaciones.
Normalmente se trata de redes resistivas conectada a los bits de entrada con cada
valor de resistencia ajustado al valor del bit de entrada, como estructura bsica.
Los conversores han entrado siempre a la dualidad, velocidad y resolucin, las
diversas estructuras desarrolladas y disponibles comercialmente permiten adaptar
un modelo para cada aplicacin.
Las configuraciones ms frecuentes, atendiendo de criterios de velocidad son:

convcersores lentos (de 1 a 100ms), que incluyen dispositivos de rampa y
escalera; los conversores medios (de 1us a 1ms) abarcan los denominadores
aproximacin sucesivas; y los rpidos (entre 25 MHz), flash.
REFERENCIAS:
W. Friedrich Oehme, Mario Huemer, Markus Pfaff, Elektronik und

Schaltungstechnik, Hanser Technikbuecher, ISBN-10:3-446-40694-8, 2006.
Frank Ohnhaeuser, Controlar la entrada de referencia de un CAN con

Aproximacin Sucesiva, Electronique 11/2003.
Frank Ohnhaeuser, Mario Huemer, Generacin de Referencia para

Convertidores A/D, actas sobre CD-ROM del Simposio Internacional Sobre
Seales, Sistemas y Electrnica (ISSSE2007), Montreal (Canad), agosto
de 2007.

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Un incremento en solo un bit permite disponer el doble de precisin (mayor

CONVERSIN BASICA DE SEALES

Para garantizar la toma de muestra y la conversin de forma correcta se debe

En el proceso inverso indicado en la Fig.2, en la cual la seal digital es

A2. Linealidad de los DAC por Aproximacin Sucesiva (SAR)

Rechazo de carga de la fuente de referencia y resistencia

El condensador externo proporcionar la carga de los picos de corriente

Si la tasa de conversin (fconv) es 1 MSPS y si la capacidad total Ctot del DAC es

Si el rechazo de carga de la fuente de referencia y la resistencia entre la fuente y

Fig. 4: INL en LSB

Los parmetros caractersticos

Escala completa de salida (Full-Scale Output (FSO)).

error de offset (cuando todos los bits estn a cero).

Las configuraciones ms frecuentes, atendiendo de criterios de velocidad son:

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