Práctica No. 1 Muestreador y Retenedor

Ingeniería Mecatrónica
Práctica No. 1
“MUESTREADOR Y RETENEDOR”
Nombre de la Asignatura: CONTROL DIGITAL
Profesor: Dr. Alberto Canizo Cabrera
Alumno:
Fecha:
Observaciones: _______________________________________________________________
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Dr. Alberto Canizo Cabrera Página 1

INDICE
Se debe de colocar la tabla de contenido, es decir lo que se colocó por página, “generalmente se realiza
al final”.
OBJETIVO:
 El alumno implementará un dispositivo de muestreo y un dispositivo de retención para comprobar
dos de los procesos empleados en la discretización de señales analógicas.
 El alumno analizará las variaciones que se producen en ambos procesos al cambiar los parámetros
del sistema para diferentes señales de entrada.
INTRODUCCIÓN
Como su nombre lo dice, debe de introducir al tema que trata la práctica, así como de especificar la
conformación y desarrollo de la práctica. Finalizando con el propósito general de la misma
“Generalmente se realiza al final”.
JUSTIFICACIÓN
Aquí deberás poner el ¿Por qué? y el ¿para qué? se va a realizar la práctica, que aportación va a tener en
la formación como ingeniero mecatrónico.
MARCO TEORICO
Para esta práctica se deberá poner teoría de:
1. Sistemas discretos
2. Proceso de muestreo y forma matemática de la señal muestreada
3. Tipos de muestreadores
4. Retención de datos
5. Retenedor de orden cero y su función de transferencia
INVESTIGACIÓN PRELIMINAR
1. El alumno deberá realizar la lectura de la práctica.

2. El alumno realizará la simulación de los circuitos del procedimiento experimental considerando las
figuras 1.1 y 1.2 siguiendo los pasos del desarrollo. Considere emplear el circuito DG417 en sustitución
del circuito DG211CJ de la práctica, considerando que las terminales de ambos circuitos difieren
en posición.
3. Entregar los resultados de la simulación de forma impresa al profesor al inicio de la sesión de
laboratorio.
4. El alumno investigará el concepto de teorema de muestreo de Nyquist.
MATERIAL
1 CI LM555
1 CI UA741
1 CI DG211CJ Switch Analógico CMOS SPST
2 Resistencias de 100 Ω a ½ W.
1 Resistencia de 2.2 kΩ a ½ W.
1 Resistencia de 10 kΩ a ½ W.
1 Potenciómetro de 50 kΩ.
1 Capacitor de 1 nF.
1 Capacitor de 22 nF.
1 Capacitor de 0.1 µF.
1 Capacitores electrolíticos de 100 µF.
EQUIPO
1 Fuente bipolar.
1 Generador de funciones
1 Multímetro.
1 Osciloscopio.
DESARROLLO EXPERIMENTAL
En esta práctica se implementarán 2 circuitos que realizan las funciones de muestreo y retención
respectivamente. Estos circuitos se implementan a través de circuitos analógicos y amplificadores
operacionales para poder visualizar las funciones que se realizan en estos 2 procesos, pero haciendo la
anotación de que en los sistemas de control digital estas funciones se realizan a través de los convertidores
analógico digitales que contienen de manera intrínseca a dichas funciones de muestreo y retención (S/H,
Sample and Hold).
1. Implemente el circuito de la figura 1.1, el cual realiza la operación de muestreo sobre la señal 𝑉𝑒 (𝑡)
y genera una señal muestreada 𝑉𝑒∗ (𝑡). Este circuito consta de las siguientes partes:
a. Generador de pulsos de muestreo en configuración astable.
b. Interruptor analógico (interruptor bidireccional) controlado por pulsos.

Figura 1.1
2. Calibre el generador de funciones con una señal 𝑉𝑒 (𝑡) = 2.5 𝑆𝑒𝑛 6283.18 𝑡.
3. Pruebe el sistema por partes, verificando el correcto funcionamiento de cada una de ellas.
a. Generador de pulsos de muestreo. (Terminal 3 del LM555).
b. Interruptor analógico (interruptor bidireccional) controlado por pulsos. (Terminal 3 del
DG211CJ).
4. Compruebe y explique el funcionamiento del proceso de muestreo para las señales de entrada
triangular y cuadrada además de la señal senoidal del punto anterior.
5. Mida los valores de periodo de muestreo (𝑇) y el tiempo de muestreo (𝑝) mínimo y máximo de la
señal de salida del generador de pulsos variando el potenciómetro P1 a su valor mínimo y a su valor
máximo.
6. Indique cual es la frecuencia de muestreo mínima y máxima que se puede obtener con este circuito.
7. Empleando el teorema de Nyquist determine la frecuencia máxima de la señal de entrada Ve(t) que
puede ser muestreada con este sistema.
8. Varíe la frecuencia de la señal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a 50KHz y observe el

comportamiento simultáneo de las señales de entrada 𝑉𝑒 (𝑡) y de salida 𝑉𝑒∗ (𝑡), ajuste el valor de
frecuencia para obtener un proceso de muestreo equivalente. (Aliasing o Señal de salida que no es
muestreada adecuadamente debido a que no se toman las muestras necesarias para representarla).

9. Grafique las señales para cada punto y anote los rangos de funcionamiento de cada una de las etapas,
es muy importante llegar a una conclusión práctica de porque con este tipo de circuito no se puede
llegar a muestrear señales de cualquier frecuencia o amplitud.
10. Retire la resistencia R3 de 10 KΩ que está conectada a la terminal 3 del interruptor analógico, ya
que afecta el comportamiento del circuito retenedor que se adicionará a la salida del muestreador y
regrese la señal de entrada a su valor de amplitud y frecuencia original 𝑉𝑒 (𝑡) = 2.5 sin 6283.18 𝑡.
11. Añada el circuito de la figura 1.2 a la salida del circuito de la figura 1.1, el cual realizará la función
de retención y observe la señal de salida 𝑉𝑠 (𝑡) del circuito 1.2 y como se relaciona con la entrada
𝑉𝑒 (𝑡).
Figura 1.2
12. Anote los comentarios en cuanto a las formas obtenidas, así como las gráficas correspondientes,
haciendo las pruebas también para señales de diferentes tipos y frecuencias (triangular y cuadrada).
RESULTADOS Y DISCUSIONES
Aquí debes de poner los resultados de las mediciones y el error obtenido.
CUESTIONARIO
1. Investigue el concepto de Aliasing y explique la relación que tienen con respecto al muestreo de
señales analógicas.
2. Obtenga la función de transferencia en Laplace del retenedor empleado en la práctica (figura 1.2)
indicando de que tipo es y explicando su funcionamiento.

3. Calcule el valor de la constante de tiempo del retenedor y el tiempo de carga del capacitor al 98%
de su valor de carga final.
4. Explique de manera gráfica lo que sucedería si la frecuencia de muestreo es elevada y la constante
de tiempo RC del retenedor es mayor al periodo de muestreo T.
5. Describa los procesos de muestreo de orden múltiple, de ritmo múltiple y aleatorio.
6. Calcule los parámetros de tiempo del oscilador en modo astable implementado con el circuito
LM555 de la práctica y compárelos con los obtenidos prácticamente. Para este paso refiérase a la
hoja técnica del dispositivo LM555 donde se especifican las ecuaciones de funcionamiento.
CONCLUSIONES
Aquí debes de poner si se cumplió o no, los objetivos, así como comentarios finales acerca de todo lo
presentado en la práctica: teoría, resultados y discusiones.
BIBLIOGRAFÍA
Coloca las fuentes con las que te apoyaste, para la realización de la práctica.
LIBROS:
REFERENCIAS DE PÁGINAS WEB
Nota: Las referencias van sin el recuadro, solamente es para resaltarlas.

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8. Varíe la frecuencia de la señal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a 50KHz y observe el

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REFERENCIAS DE PÁGINAS WEB

Nota: Las referencias van sin el recuadro, solamente es para resaltarlas.

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