Fundamentos de Metrología Industrial

Escuela Superior de Ingeniería
Máster Oficial en Ingeniería Fabricación
FUNDAMENTOS
DE METROLOGÍA INDUSTRIAL
METROLOGÍA DIMENSIONAL
Metrología Industrial
Introducción
En una primera aproximación, podemos definir Metrología como la ciencia de las

medidas, que en su generalidad, trata del estudio y aplicación de todos los medios
propios para la medida de magnitudes.
Desde sus primeras manifestaciones, normalmente incluida dentro de la antropología

general, pasando por la arquitectura y la agrimensura, hasta las transacciones
comerciales, la propiedad de la tierra y el derecho a percibir rentas, donde
rápidamente se encuentra el rastro de alguna operación de medida, la metrología, al
igual que hoy, ha formado parte de la vida diaria de los pueblos [1].
Antes del Sistema Métrico Decimal, los humanos no tenían más remedio que echar
mano de lo que llevaban encima, su propio cuerpo, para contabilizar e intercambiar
productos. Así aparece el pie, como unidad de medida útil para medir pequeñas
parcelas. Aparece el codo, útil para medir piezas de tela u otros objetos que se pueden
colocar a la altura del brazo, en un mostrador o similar. Aparece el paso, útil para
medir terrenos más grandes, caminando por las lindes. Para medidas más pequeñas,
de objetos delicados, aparece la palma y, para menores longitudes, el dedo. Desde
aquel entonces la Humanidad ha recorrido un largo camino, pero se mantiene la gran
importancia de la exactitud de las mediciones. Más cerca de nuestra época, en 1799 en
París, se estableció el Sistema Métrico, el antecesor de nuestro actual Sistema de
Unidades, el Sistema Internacional (SI), mediante el depósito de dos patrones de
platino que representaban al metro y al kilogramo.
En la Europa de hoy se mide y se pesa con un coste equivalente a más del 6% de

nuestro PIB, por lo que la metrología supone una parte natural y vital de nuestra
actividad diaria, y afecta a nuestras economías domésticas. La cantidad de sustancias
activas en medicina, el análisis de muestras de sangre o los efectos de la cirugía láser,
tienen que tener la exactitud adecuada, para evitar poner en peligro la salud de los
pacientes. Es prácticamente imposible describir cualquier cosa sin referirse a los pesos
y medidas: horas de sol, tallas de prendas de vestir, etc. Así pues, el comercio, el
mercado y las leyes que los regulan dependen de los pesos y las medidas [2].
El desarrollo material de la humanidad en los dos últimos siglos, ha sido posible

gracias a la cantidad de productos que la industria ha proporcionado, con una calidad
y precios aceptables. Para ello se abandonaron los sistemas de fabricación artesanales,
dando paso a los sistemas de fabricación en serie. Esta forma de producción ha creado
la necesidad de la “intercambiabilidad” para que el producto final pueda ser montado a
partir de cualquier conjunto de sus piezas componentes, y con ello se ha aumentado
fuertemente el control de fabricación en cuanto a normas, empleo de tolerancias y
1
verificación sistemática de las máquinas-herramienta e instrumentos de medida.

Además, el desarrollo técnico ha conducido a conseguir precisiones cada vez más
estrechas, para lo cual resulta primordial el control de piezas a través de la medición y
el uso técnicas muy especificas.
Finalmente, la ciencia es totalmente dependiente de la medición. La existencia de

equipos de medida y la capacidad de utilizarlos es algo esencial para que los
científicos puedan documentar de forma objetiva los resultados que obtienen en sus
observaciones y experimentos. La ciencia de la medida, la Metrología, es
probablemente la ciencia más antigua del mundo y el conocimiento sobre su aplicación
es una necesidad fundamental en la práctica de todas las profesiones con sustrato
científico.
Según el Máster Oficial de Ingeniería de Fabricación de la Universidad de Cádiz se

define la Metrología como la ciencia e ingeniería de la medida, incluyendo el estudio,
mantenimiento y aplicación del sistema de pesas y medidas. Actúa tanto en los
ámbitos científico, industrial y legal, como en cualquier otro demandado por la
Sociedad. Su objetivo fundamental es la obtención y expresión del valor de las
magnitudes, garantizando la trazabilidad de los procesos y la consecución de la
exactitud requerida en cada caso, empleando para ello instrumentos, métodos y
medios apropiados.
Por último, se establece como objeto del presente trabajo ofrecer una visión general de
la Metrología Industrial. Se profundizará más en el campo de la Metrología
Dimensional, dada su especial relevancia en los procesos de fabricación industriales
donde la precisión geométrica es primordial para garantizar la intercambiabilidad de
partes y la producción en serie.
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1. División de la Metrología
La Metrología suele considerarse dividida en tres categorías, cada una de ellas con
diferentes niveles de complejidad y exactitud. Estas tres categorías son:
- La Metrología Científica se ocupa de la organización y el desarrollo de los patrones

de medida y de su mantenimiento. Está dividida en 9 campos técnicos por el BIPM:
Acústica, Cantidad de Sustancia, Electricidad y Magnetismo, Fotometría y Radiometría,
Longitud, Masa, Radiaciones Ionizantes y Radioactividad, Termometría y Tiempo y
Frecuencia. En Euramet existen tres campos más, Flujo, Metrología Interdisciplinar y
Calidad.
- La Metrología Industrial debe asegurar el adecuado funcionamiento de los

instrumentos de medida empleados en la industria, en los procesos de producción y
verificación para asegurar la calidad del producto.
- La Metrología legal se ocupa de aquellas mediciones que influyen sobre la

transparencia de las transacciones económicas, particularmente cuando hay un
requisito de verificación legal del instrumento de medida.
En metrología hay diferentes áreas específicas. Algunas de ellas son las siguientes:
- Metrología Dimensional, encargada de las medidas de longitudes, donde la longitud

se generaliza a espacio, a fin de incluir ángulos, superficies y volúmenes.
- Metrología Química, que se refiere a todos los tipos de mediciones en la química.

Generalmente encaminada a la medición de componentes de interés en una mezcla.
- Metrología Eléctrica, que estudia las medidas eléctricas: tensión (o voltaje),

intensidad de corriente (o amperaje), resistencia, impedancia, reactancia, etc. La
metrología eléctrica está constituida por tres divisiones: tiempo y frecuencia,
mediciones electromagnéticas y termometría.
2. Organización de la Metrología
A mediados del siglo XIX se vio clara la necesidad de contar con un sistema métrico
decimal universal, en particular durante las primeras exposiciones industriales
universales. En 1875, tuvo lugar en París una conferencia diplomática sobre el metro,
en la que 17 gobiernos, entre ellos el español, firmaron el tratado diplomático
conocido como La Convención del Metro. Los firmantes decidieron crear y financiar
una institución científica de carácter permanente, el Bureau International de Poids et
Mesures (BIPM). Los representantes de los Gobiernos de los Estados miembros se
reúnen cada cuatro años en la Conferencia General de Pesas y Medidas (CGPM). La
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CGPM discute y examina el trabajo realizado por los Institutos Nacionales de

Metrología (INM) y el BIPM, y emite recomendaciones sobre nuevas determinaciones
metrológicas fundamentales y sobre cuestiones importantes relativas al propio BIPM.
Es objeto del BIPM proveer y mantener un sistema coherente de medidas a través del
mundo, trazable a las unidades del Sistema Internacional (SI). Esta tarea se lleva a cabo
de diferentes formas, desde la diseminación de las unidades SI hasta la coordinación
internacional en las comparaciones entre los diferentes institutos nacionales de
metrología. [3]
La CGPM elige hasta 18 representantes para el Comité Internacional de Pesas y

Medidas CIPM, que se reúne anualmente. El CIPM supervisa al BIPM en nombre de la
CGPM y coopera con otras organizaciones internacionales de metrología. El CIPM lleva
a cabo la preparación de los trabajos preliminares para las decisiones técnicas a
adoptar por la CGPM. El CIPM se apoya en 10 comités consultivos, cada uno de los
cuales se ocupa de un campo de la metrología. El presidente de cada comité consultivo
suele ser un miembro del CIPM. Los otros miembros de los comités consultivos son
representantes de los INM y otros expertos.
También se ha creado un cierto número de Comités Conjuntos del BIPM y de otras

organizaciones internacionales para tareas particulares:
- JCDCMAS: Comité Conjunto para la coordinación de la asistencia a Países en vías de

desarrollo, sobre Metrología, Acreditación y Normalización.
- JCGM: Comité Conjunto para Guías sobre Metrología.
- JCRB: Comité Conjunto de las Organizaciones Metrológicas Regionales y el BIPM.
- JCTLM: Comité Conjunto para la Trazabilidad de Medicina en Laboratorios.
El Acuerdo de Reconocimiento Mutuo del CIPM (ARM-CIPM), es un acuerdo entre los

institutos nacionales de metrología. Fue firmado en 1999, ligeramente revisado en
algunos aspectos técnicos en 2003, y consta de dos partes. Una se refiere al
establecimiento del grado de equivalencia entre los patrones nacionales de medida,
mientras que la segunda parte se refiere al reconocimiento mutuo de certificados de
calibración y medida emitidos por los INM participantes.
Los objetivos del ARM-CIPM son:

- Establecer el grado de equivalencia entre los patrones nacionales de medida
mantenidos por los INM.
- Proporcionar lo necesario para el mutuo reconocimiento de los certificados de
calibración y de medida expedidos por los INM.
- Con base en lo anterior, proporcionar a los gobiernos y otras partes interesadas un
fundamento técnico seguro, con miras al establecimiento de acuerdos más amplios
relacionados con el comercio internacional, y con aspectos reglamentarios.
Estos objetivos se alcanzan a través del siguiente proceso:
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- Revisión por pares de las Capacidades de Medida y Calibración (CMC) declaradas por
los INM y de los participantes;
- Participación exitosa de los INM en comparaciones internacionales de patrones de
medida (comparaciones clave o suplementarias);
- Revisión por pares de los sistemas de calidad y demostración de la competencia de
los INM participantes.
Los resultados de los procesos anteriores son las declaraciones de las CMC de cada
INM y los resultados de las comparaciones, ambos publicados en una base de datos
mantenida por el BIPM y públicamente disponible en su web.
Los directores de los INM firman el ARM con la aprobación de las autoridades
competentes de sus respectivos países y con ello contraen los siguientes
compromisos:
- aceptar el proceso especificado en el ARM-CIPM para el establecimiento de la base
de datos.
- reconocer los resultados de las comparaciones clave y suplementarias, tal como
figuran en la base de datos.
El ARM-CIPM esta coordinado por el BIPM y los comités consultivos. Actualmente

alrededor del 90% del comercio mundial de las exportaciones de mercancías se realiza
entre las naciones participantes en el ARM-CIPM.
La colaboración entre los institutos nacionales de metrología a nivel regional es

coordinada por las Organizaciones Metrológicas Regionales (OMR). El objeto de las
actividades de una OMR depende de las necesidades específicas de la región, pero en
general incluye:
- La coordinación de las comparaciones de patrones nacionales de medida y otras

actividades derivadas del ARM-CIPM.
- La cooperación en la investigación y el desarrollo de la metrología.
- Facilitar la trazabilidad a las realizaciones primarias de las unidades del SI.
- La cooperación en el desarrollo de infraestructura metrológica de los países
miembros.
- La formación y asesoría conjunta.
- Compartir capacidades e instalaciones técnicas.
En la región europea la OMR es el EURAMET.
Otras organizaciones de carácter internacional son:
- ILAC (International Laboratory Accreditation Cooperation) es una organización

dedicada a la cooperación internacional entre los distintos esquemas de acreditación
de laboratorios que operan en el mundo.
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- OIML (Legal Metrology International Organization) es una Organización

intergubernamental cuya finalidad es promover la armonización global de los
procedimientos de la metrología legal. La OIML ha desarrollado desde su creación una
estructura técnica mundial que proporciona a los miembros directrices metrológicas
para la elaboración de requisitos regionales y nacionales relativos a la fabricación y uso
de instrumentos de medida, que se aplican en metrología legal. La OIML elabora
recomendaciones internacionales, dotando así a sus miembros de una base
internacionalmente aceptada para el establecimiento de su legislación nacional sobre
diversos tipos de instrumentos de medida.
En la mayor parte de los países, la infraestructura metrológica está compuesta por los
INM, los institutos nacionales designados y los laboratorios acreditados. En muchos
países, la tendencia para los INM y los institutos designados es buscar la evaluación de
sus sistemas de calidad por tercera parte a través de la acreditación, certificación o
evaluación por pares.
Un Instituto Nacional de Metrología, INM, está designado por decisión oficial nacional
para desarrollar y mantener los patrones nacionales de medida, de una o más
magnitudes. El INM representa internacionalmente al país ante los institutos
metrólogicos nacionales de otros países, las OMR y el BIPM. Los INM constituyen la
columna vertebral de la organización metrológica internacional.
Además de las actividades descritas anteriormente, los INM normalmente son

responsables de:
- La diseminación de las unidades del SI a los laboratorios acreditados, la industria, la
educación, los legisladores etc.
- La investigación en metrología y el desarrollo de nuevos y mejores patrones de

medida (primarios o secundarios) y métodos de medición.
- participar en las comparaciones al más alto nivel internacional.
- mantener una visión general de la jerarquía nacional sobre trazabilidad/calibración

(el Sistema Nacional de Medición).
En España, el INM es el Centro Español de Metrología (CEM).
La infraestructura metrológica española, Figura 1, está comandada por el Centro

Español de Metrología (CEM) y los Laboratorios Asociados a él (en la actualidad ROA, I.
Óptica-CSIC, INTA, LMRI-CIEMAT, LCOE e ISCIII). Todos ellos forman la cúspide de la
pirámide metrológica nacional, donde se establecen y mantienen los patrones
primarios de las unidades de medida correspondientes al Sistema Internacional de
Unidades (Sistema SI), declarado de uso legal en España por Ley 3/1985, de 18 de
marzo, de Metrología.
La diseminación de las unidades de medida por todo el país, desde el nivel primario
hasta las mediciones realizadas en la industria, el comercio, la ciencia, la educación o
los servicios, manteniendo una trazabilidad demostrable a los patrones nacionales, se
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realiza mediante el concurso de laboratorios de calibración, la mayoría de ellos

acreditados por la Entidad Nacional de Acreditación (ENAC). Este conjunto de
laboratorios, junto con la propia ENAC, constituye parte importante de la
infraestructura metrológica española.
Su funcionamiento correcto es vital para la interconexión de todas las capas de la

sociedad, en las cuales se realizan diariamente multitud de mediciones de diversa
índole, con distinta trascendencia para los ciudadanos. Puede decirse que esta
infraestructura permite garantizar la validez de todas las mediciones realizadas en
España, así como la compatibilidad de éstas con las realizadas fuera de nuestras
fronteras, aspecto básico para el reconocimiento internacional de nuestros
intercambios comerciales y de nuestras contribuciones científico-técnicas.
Todos los integrantes de este sistema trabajan coordinadamente para garantizar la

misión que tienen encomendada de manera conjunta, bajo la supervisión del Consejo
Superior de Metrología (CSM), órgano superior de asesoramiento y coordinación del
Estado en materia de metrología científica, técnica, histórica y legal, cuya Secretaría
corresponde al Centro Español de Metrología.
Figura 1. Infraestructura Metrológica Española
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3. Sistema Internacional de Unidades (SI)
La Oficina Internacional de Pesas y Medidas, el BIPM, fue establecida en el Artículo 1

de la Convención del Metro, de 20 de Mayo de 1875, y está encargada de
proporcionar las bases para que un único sistema coherente de medidas se utilice en
todo el mundo. El sistema métrico decimal, que data de la época de la Revolución
Francesa, se basaba en el metro y el kilogramo. Bajo los términos de la Convención de
1875, se fabricaron nuevos prototipos del metro y del kilogramo y se adoptaron
formalmente por la primera Conferencia General de Pesas y Medidas en 1889. Este
sistema fue desarrollándose a lo largo del tiempo, de modo que ahora incluye siete
unidades básicas. En 1960, en la 11ª CGPM, se decidió que se debería llamar Sistema
Internacional de Unidades, SI. El SI no es estático, sino que evoluciona para responder
a las crecientes demandas de medida, en todos los niveles de precisión y en todas las
áreas de la ciencia, la tecnología y el empeño humano.
Las siete unidades básicas del SI, proporcionan la referencia utilizada para definir
todas las unidades de medida del Sistema Internacional. Según avanza la ciencia y se
mejoran los métodos de medida, se tienen que revisar sus definiciones. Cuanto más
precisas sean las mediciones, mayor cuidado se requiere en la realización de las
unidades de medida.
Las siete magnitudes básicas correspondientes a las siete unidades básicas son
longitud, masa, tiempo, corriente eléctrica, temperatura termodinámica, cantidad de
sustancia e intensidad luminosa. Las magnitudes y unidades básicas se presentan, con
sus símbolos, en la Tabla 1.
Tabla 1. Magnitudes y unidades básicas del Sistema SI

Magnitud Símbolo Unidad Símbolo
básica básica
longitud l, h, r, x metro m
masa m kilogramo kg
tiempo, t segundo s
duración
corriente I, i amperio A
eléctrica
temperatura T kelvin K
termodinámica
cantidad de n mol mol

sustancia
intensidad Iv candela cd
luminosa
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El resto de magnitudes se denominan magnitudes derivadas y se expresan mediante

unidades derivadas, definidas como productos de potencias de las unidades básicas.
En la Tabla 2 se incluyen ejemplos de magnitudes y unidades derivadas.
Tabla 2. Ejemplos de magnitudes y unidades derivadas
Magnitud Símbolo Unidad Símbolo

derivada derivada
área A metro m2
cuadrado
volumen V metro m3
cúbico
velocidad v metro por m/s
segundo
aceleración a metro por m/s2
segundo
cuadrado
número de σ, ν% metro a la m-1
ondas potencia
menos
uno
densidad de ρ kilogramo kg/m3
masa por metro
cúbico
densidad ρA kilogramo kg/m2
superficial por metro
cuadrado
volumen v metro m3/kg
específico cúbico
por
kilogramo
densidad de j amperio A/m2
corriente por metro
cuadrado
intensidad de H amperio A/m
campo por metro
magnético
concentración c mol por mol/m3
metro
cúbico
concentración ρ, γ kilogramo kg/m3
de masa por metro
cúbico
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luminancia Lv candela cd/m2

por metro
cuadrado
índice de n uno 1
refracción
permeabilidad μ r uno 1
relativa
Algunas unidades derivadas reciben un nombre especial con objeto de expresar, en

forma compacta, una combinación de unidades básicas frecuentemente utilizadas. Así
ocurre, por ejemplo, con el joule, símbolo J, por definición igual a m2 kg s-2.
Actualmente hay 22 nombres especiales de unidades aprobados para su uso en el SI,
los cuales se incluyen en la Tabla 3.
El SI es el único sistema de unidades que es reconocido universalmente, por ello tiene

la ventaja definida de permitir un entendimiento internacional. Otras unidades ajenas
al SI, se definen generalmente en términos de unidades del SI. El uso del SI también
simplifica la enseñanza de la ciencia. Por todas estas razones se recomienda el uso de
las unidades del SI en todos los campos de la ciencia y la tecnología.
No obstante, algunas unidades no pertenecientes al SI son todavía ampliamente
utilizadas. Unas pocas, como el minuto, la hora y el día, unidades de tiempo, serán
siempre utilizadas porque están fuertemente enraizadas en nuestra cultura. Otras se
utilizan por razones históricas, para resolver necesidades de grupos con intereses
especiales, o porque no hay alternativas SI adecuadas. Siempre permanecerá la
prerrogativa del científico, de utilizar las unidades que considere se ajustan mejor a su
propósito. Sin embargo cuando se usen unidades ajenas al SI, debe figurar el factor de
conversión al SI.
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Tabla 3. Unidades SI derivadas, con nombres especiales

Magnitud Nombre Símbolo Expresión
derivada de la de la en
unidad unidad función
derivada derivada de otras
unidades
ángulo plano radián rad m/m = 1
ángulo sólido estereo- sr m2/m2 =
rradián 1
frecuencia hercio Hz s−1
fuerza newton N m kg s−2
presión, pascal Pa N/m2 =
tensión m-1 kg s-2
energía, julio J N m = m2
trabajo kg s-2
potencia, vatio W J/s = m2
flujo radiante kg s-3
carga culombio C sA
eléctrica
diferencia de voltio V m2 kg s-3

potencial A-1
eléctrico
capacidad faradio F m-2 kg-1
eléctrica s4 A2
resistencia ohmio Ω m2 kg s-3
eléctrica A-2
conductancia siemens S m-2 kg-1
eléctrica s3 A2
flujo weber Wb m2 kg s-2
magnético A-1
densidad de tesla T kg s-2 A-1
flujo
magnético
inductancia henrio H m2 kg s-2
A-2
temperatura grado oC K
Celsius Celsius
flujo lumen lm cd sr = cd
luminoso
iluminancia lux lx lm/m2 =
m−2 cd
actividad de becquerel Bq s-1
radionucleido
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4. Metrología Dimensional
La Metrología Dimensional es la parte de la Metrología que tiene por objeto la medida

de la magnitud física longitud. Esta magnitud se generaliza a espacio, a fin de incluir
ángulos, ángulos sólidos, superficies y volúmenes.
Los campos de actividad de la Metrología Dimensional son: longitudes, ángulos,

formas geométricas (rectitud, plenitud, planicidad, redondez, cilindridad…), formas
tecnológicas (roscas, engranajes) y geometrías de superficies (ondulación y rugosidad).
A continuación se definen los conceptos más relevantes para la comprensión de

posteriores desarrollos en el presente escrito.
Medición: conjunto de operaciones que tienen por finalidad determinar un valor de una
magnitud [4].
Método de medida: conjunto de operaciones que tienen por finalidad determinar un

valor de una magnitud [4].
Mensurando: magnitud particular sometida a medición [4].
Magnitud de influencia: magnitud que no es el mensurando pero que tiene un efecto

sobre el resultado de la medida, como por ejemplo la temperatura de la pieza o el
instrumento a medir [4].
Exactitud de medida: grado de concordancia entre el resultado de una medición y un

valor verdadero del mensurando [4].
Repetibilidad (de los resultados de las mediciones): grado de concordancia entre

resultados de sucesivas mediciones del mismo mensurando, mediciones efectuadas
con aplicación de la totalidad de las mismas condiciones de medida, entendiendo por
estas condiciones la realización de medidas consecutivas en un corto espacio de
tiempo, empleando el mismo proceso, instrumento, observador y en el mismo lugar
[4].
Reproducibilidad (de los resultados de las mediciones): grado de concordancia entre

resultados de sucesivas mediciones del mismo mensurando, mediciones efectuadas
bajo diferentes condiciones de medida [4].
Error (de medida): resultado de una medición menos el valor verdadero del
mensurando”. Dado que el valor verdadero del mensurando no puede ser determinado
se considerará un valor convencionalmente verdadero [4].
Error aleatorio: resultado de una medición menos la media de un número infinito de

mediciones del mismo mensurando, efectuadas bajo condiciones de repetibilidad [4].
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Error sistemático: media que resultaría de un número infinito de mediciones del mismo
mensurando efectuadas bajo condiciones de repetibilidad, menos un valor verdadero
del mensurando [4].
Tolerancia: El concepto de intervalo de tolerancia se entiende como el conjunto de

valores, limitado superior e inferiormente, dentro del cual debe encontrarse una
magnitud para que se acepte como válida.
PATRONES DE MEDIDA
Un patrón de medida es una medida materializada, un instrumento de medida, un

material de referencia o un sistema de medida concebido para definir, realizar,
conservar o reproducir una unidad o uno o más valores de una magnitud, de modo
que sirva de referencia.
Existen diferentes tipos de patrones de medida, entre los cuales:

- Patrón internacional: patrón reconocido por los firmantes de un acuerdo
internacional con la intención de ser utilizado mundialmente [4].
- Patrón nacional: patrón de medida reconocido por una autoridad nacional para
servir en un Estado como base para la asignación de valores a otros patrones de
magnitudes de la misma naturaleza [4].
- Patrón de referencia: patrón designado para la calibración de patrones de
magnitudes de la misma naturaleza [4].
- Patrón de trabajo: patrón utilizado habitualmente para calibrar o verificar
instrumentos o sistemas de medida [4].
- Patrón primario: Patrón establecido mediante un procedimiento de medida primario
o creado como un objeto elegido por convenio. Ampliamente reconocido como
poseedor de la más alta calidad metrológica y cuyo valor es aceptado sin referencia a
otros patrones de la misma magnitud [4].
- Patrón secundario: Patrón establecido por medio de una calibración respecto a un
patrón primario de una magnitud de la misma naturaleza.
La Figura 2 muestra los diferentes niveles en que se sitúan los patrones de medida, en
la cadena de trazabilidad. A medida que subimos hacia la cúspide de la pirámide la
incertidumbre de los patrones disminuye aumentando su precisión.
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Figura 2. Niveles en la cadena de trazabilidad de los patrones de medida.
BLOQUES PATRÓN DE LONGITUD, BPL.
Los bloques patrón son patrones de longitud que materializan fracciones de la unidad
de longitud, el metro. Dependiendo del tipo de aplicación y de la calidad requerida se
fabrican en diferentes grados.En definitiva, los bloques patrón son la primera
materialización física del enlace de la cadena de trazabilidad entre el patrón primario y
los demás instrumentos.
En la norma UNE-EN ISO 3650, sobre los patrones de longitud, establece 4 clases de
precisión: K (patrones primarios nacionales), 0 (patrones de referencia), 1 (patrones de
trabajo) y 2 (Patrones de taller). Dicha norma también recoge las especificaciones en
cuanto a longitud nominal, planitud y variación de longitud.
Los BPL se pueden combinar, gracias a su excelente planitud y acabado superficial,

para conseguir la longitud deseada. Como material constructivo se utilizan el acero,
carburo de tungsteno y materiales cerámicos. Se suministran en juegos como el
mostrado en la Figura 3, que comprenden entre 11 y 121 bloques patrón.
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Figura 3. Juego de BPL, de grado 0
TRAZABILIDAD AL SI
Una cadena de trazabilidad es una cadena ininterrumpida de comparaciones, todas

ellas con incertidumbres establecidas. Esto asegura que un resultado de medida o el
valor de un patrón está relacionado con referencias de niveles superiores, hasta llegar
al patrón primario.
Un usuario final puede obtener trazabilidad al máximo nivel internacional, bien

directamente de un Instituto Nacional de Metrología, o de un laboratorio secundario de
calibración, normalmente un laboratorio acreditado. Como resultado de los diversos
acuerdos de reconocimiento mutuo, puede obtenerse reconocimiento internacional de
la trazabilidad de laboratorios de fuera del propio país del usuario.
CALIBRACIÓN Y CONFIRMACIÓN METROLÓGICA
Una herramienta fundamental para asegurar la trazabilidad de una medida es la

calibración del instrumento o sistema de medida. La calibración determina las
características metrológicas de un instrumento o sistema. Esto se logra mediante
comparación directa con patrones de medida.
Hay cuatro razones principales para tener calibrado un instrumento:

- Establecer y demostrar su trazabilidad.
- Garantizar que las lecturas del instrumento son compatibles con otras mediciones.
- Determinar la incertidumbre de medida del equipo.
- Establecer la fiabilidad del instrumento.
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Los instrumentos de medida han de ser calibrados periódicamente con unas

incertidumbres de calibración compatibles con las especificaciones y exigencias del
producto. La calibración da lugar a la emisión de un Certificado de Calibración, ya que
actualmente es una exigencia de los sistemas de calidad. Para calibrar un instrumento
hace falta otro de mayor precisión, entendiendo como tal, la aptitud de un instrumento
para dar indicaciones próximas al valor verdadero, que nos proporciona un valor que
podemos tomar como “verdadero”, necesario para contrastar la indicación del
instrumento a calibrar. Al aplicar sistemáticamente en sentido ascendente, una cadena
ininterrumpida de comparaciones llegamos a los patrones de más alto nivel,
asegurando la trazabilidad.
La confirmación metrológica es el conjunto de operaciones requeridas para asegurarse

de que el equipo de medición es conforme a los requisitos para su uso previsto. Es
decir, a través de la confirmación metrológica se confiere al equipo de medición la
aptitud para el control de determinados tipos de piezas según especificaciones del
equipo y del cliente. La Figura 4 ofrece una visión clara y concisa sobre la confirmación
metrológica. Como resultado del proceso se emite un certificado de confirmación que
establece los intervalos de confirmación donde el equipo resulta apto para garantizar
la trazabilidad en sus medidas.
La norma UNE-EN ISO 10012:2003 especifica requisitos genéricos y proporciona
orientación para la gestión de los procesos de medición y para la confirmación
metrológica del equipo de medición utilizado para apoyar y demostrar el cumplimiento
de requisitos metrológicos.
Figura 4. Gráfico estructural de la confirmación metrológica.
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INCERTIDUMBRE
La Incertidumbre es una medida cuantitativa de la calidad del resultado de medición,

que permite que los resultados de medida sean comparados con otros resultados,
referencias, especificaciones o normas.
Un resultado de medida viene expresado en un certificado en la forma Y = y ± U(k=2),
donde Y es el resultado, y el valor numérico, U es la incertidumbre unidad y k es el
factor de incertidumbre. De acuerdo con la Recomendación 1 del CIPM, de 1981, la
incertidumbre debe cuantificarse como una cantidad equivalente a una desviación
típica, admitiéndose su multiplicación por un factor de incertidumbre k, normalmente
de valor comprendido entre 1 y 3, y que debe especificarse como parte del resultado
de la medida.
Las causas de incertidumbres más importantes son debidas a:

- El operador o procedimiento de medida.
- El instrumento de medida.
- La pieza o magnitud de la medida.
- Las condiciones ambientales o correcciones. Magnitudes de influencia.
Otras causas de error son:

- Desviaciones sistemáticas del instrumentos de medida que originan un error
sistemático.
- Errores gruesos o faltas del operador del instrumento.
Para evaluar la incertidumbre es necesario realizar n repeticiones de las medidas

individuales. Es conveniente emplear algún tipo de criterio de rechazo para eliminar los
valores que provienen de errores gruesos, que influyen negativamente en el resultado
de la medida. Los criterios de rechazo más importantes son:
- Criterio de rechazo de la máxima desviación respecto a la mediana.
- Criterio de rechazo de la máxima desviación respecto a la media.
- Criterio de rechazo de Chauvenet.
De estos criterios, el más aconsejable es el de Chauvenet por su carácter

probabilístico. Dicho criterio consiste en eliminar todas las medidas cuya probabilidad
de aparición sea menor que 1/2n, donde n es el número de medidas tomadas.
La incertidumbre de medida puede determinarse de diferentes formas. El método más

ampliamente utilizado y aceptado; por ejemplo, por los organismos de acreditación, es
el “método GUM” recomendado por ISO, descrito en la “Guía para la Expresión de la
Incertidumbre de Medida”. Los puntos principales del método GUM y la filosofía
subyacente se describen a continuación.
Filosofía GUM sobre la incertidumbre:

- Una magnitud de medida X, cuyo valor no se conoce con exactitud, se considera
como una variable estocástica con una función de probabilidad.
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- El resultado x de la medición es una estimación del valor esperado o esperanza

matemática E(X).
- La incertidumbre típica u(x) es la raíz cuadrada de la estimación de la varianza V(X).
- Evaluación Tipo A. La esperanza matemática y la varianza se estiman mediante
tratamiento estadístico de las medidas repetidas.
- Evaluación Tipo B. La esperanza matemática y la varianza se estiman por otros
métodos. El método más comúnmente utilizado es asumir una distribución de
probabilidad; por ejemplo una distribución rectangular, basándose en la experiencia o
en otra información.
El método GUM se desarrolla según los siguientes pasos:
1) Identificar todas las causas importantes de la incertidumbre de medida: Aplicar un

modelo matemático del proceso real de medición para identificar las fuentes.
2) Calcular la incertidumbre típica (o estándar) de cada componente de la
incertidumbre de medida: Cada componente de la incertidumbre de medida se expresa
en términos de la incertidumbre típica determinada a partir de una evaluación tipo A o
tipo B.
3) Calcular la incertidumbre combinada: La incertidumbre combinada se calcula
combinando las componentes individuales de incertidumbre, de acuerdo con la ley de
propagación de la incertidumbre. Para una suma o diferencia de componentes, la
incertidumbre combinada se calcula como la raíz cuadrada de la suma de los
cuadrados de las incertidumbres típicas de las componentes. Para un producto o
cociente de componentes se aplica, la misma regla de la “suma/diferencia” a las
incertidumbres típicas relativas de las componentes.
4) Calcular la incertidumbre expandida: Multiplicar la incertidumbre combinada por el
factor de cobertura k. La sección 6 de la GUM señala que el factor de cobertura se elige
con base en el nivel de confianza requerido de la medición. En general, k tomará
valores de 2 ó 3 si se requiere un nivel de confianza de aproximadamente 95 % ó 99%
respectivamente, sin embargo existe la posibilidad de que el valor de k sea
subestimado.
5) Expresar el resultado de medida en la forma: Y=y±U
METROLOGÍA DE FORMAS
Las normas UNE-EN ISO 286-1:2011 y UNE-EN ISO 286-2:2011, establecen un sistema
de especificaciones geométricas del producto, (GPS). Se trata un conjunto de normas
y/documentos que permiten definir la forma (geometría), dimensiones y características
superficiales de una pieza, asegurando su óptimo funcionamiento e incorporando el
grado de dispersión respecto al valor óptimo que permite mantener un funcionamiento
satisfactorio.
18
Las normas GPS se dividen en los siguientes tipos:

- Fundamentales: Normas que presentan reglas y procedimientos básicos para la
acotación y establecimiento de tolerancias de piezas y productos.
- Globales: Normas que influyen sobre algunas o todas las cadenas de normas GPS
generales y complementarias.
- Generales: Normas que constituyen el núcleo de las normas GPS y que establecen
reglas para la indicación en los dibujos, así como definiciones y principios de
verificación aplicables a diferentes tipos de características geométricas.
- Complementarias: Normas que establecen reglas complementarias para la indicación
en los dibujos, así como definiciones y principios de verificación para una categoría
particular de elementos o características.
La matriz GPS, Tabla 4, permite una clasificación rápida de la normativa y un acceso a

la información muy interesante.
Tabla 4. Matriz GPS
Las tolerancias de forma y posición definen las zonas de la pieza en las que puede
variar un elemento geométrico sin que la pieza pierda intercambiabilidad y
funcionalidad.
En la Tabla 5, se muestran las tolerancias de posición. La Tabla 6, muestra las

tolerancias de forma.
19
Tabla 5.Tolerancias de posición Tabla 6. Tolerancias de forma
METROLOGÍA DEL ACABADO SUPERFICIAL
Dentro del mundo de la tecnología, se observan gran cantidad de piezas que han de
ponerse en contacto con otras y rozarse a altas velocidades. El acabado final y la
textura de una superficie es de gran importancia e influencia para definir la capacidad
de desgaste, lubricación, resistencia a la fatiga y aspecto externo de una pieza o
material, por lo que la rugosidad es un factor importante atener en cuenta.
Definiciones Previas
- Textura Superficial: Desviaciones aleatorias o repetidas de la superficie geométrica

que constituyen la topografía tridimensional (UNE-EN ISO 8785).
- Imperfecciones superficiales: elementos o grupo de irregularidades de la

superficie real causados involuntariamente o accidentalmente durante la fabricación,
almacenaje o uso de la superficie (UNE-EN ISO 8785).
- Dirección de las irregularidades. Se evalúan mediante procedimientos visotáctiles o

sistemas ópticos. Son clasificadas según la norma UNE 1-037-83.
- Perfil: Plano normal y perpendicular a las estrías de superficie.
- Perfil de forma: Perfil de la superficie ideal especificada en el documento técnico o

dibujo que define a la pieza.
- Perfil efectivo: Intersección de la superficie que conocemos mediante la medición con

instrumentos con un plano normal a la misma.
- Longitud básica (l): Longitud del perfil geométrico elegida para evaluar la rugosidad.
20
- Longitud de medida (ln): Longitud total que se emplea para evaluar los parámetros
de rugosidad.
- Desviación de forma: Desviación entre la forma geométrica definida en planos y la

forma real medida.
- Desviación de ondulación: Son las desviaciones que existen entre el perfil

microgeométrico teórico (perfil de ondulación) y el perfil real de una superficie.
- Rugosidad. La rugosidad superficial es el conjunto de irregularidades de la superficie

real, definidas convencionalmente en perfil transversal (perfil de rugosidad) donde las
desviaciones de forma y ondulaciones han sido eliminadas.
- Desviaciones de rugosidad: Son las desviaciones entre el perfil de ondulación y el

perfil de rugosidad.
En la Figura 5, podemos observar los diferentes perfiles y desviaciones comentadas.
Figura 5. Perfiles de forma (a), ondulación (b), efectivo (c) y desviaciones.
(a)
(b)
(c)
21
El parámetro más empleado para caracterizar la calidad superficial de una pieza es la

Rugosidad media aritmética (Ra), y se define como la media aritmética de los valores
absolutos de las desviaciones del perfil respecto a la línea media, en los límites de la
longitud básica.
Se entiende por línea media (m), la línea que divide el perfil de forma que en la
longitud básica, la suma de los cuadrados de las desviaciones del perfil respecto a esta
línea es mínima (línea media de mínimos cuadrados), o bien, línea en la que la suma de
las áreas encerradas por encima de ésta y el perfil efectivo, es igual a la suma de las
áreas encerradas por debajo de esta línea y el citado perfil (línea media aritmética o
línea central). A continuación, en la Figura 6, se muestran definidas estas líneas sobre
un perfil. En la siguiente figura, Figura 7, se observa el parámetro Ra.
Figura 6. Línea media de los mínimos cuadrados (a), y línea media aritmética (b)
(a)
(b)
Figura 7. Parámetro Ra
22
La norma UNE 1-037-83 recoge los siguientes símbolos de rugosidad, Tabla 7. en

función del proceso de fabricación.
Tabla 7. Símbolos de rugosidad, en función del proceso de fabricación
Símbolo Descripción
Símbolo básico. Solamente puede utilizarse cuando su

significado se exprese mediante una nota
Superficie obtenida sin arranque de viruta
Superficies obtenida por mecanizado con arranque de viruta
La forma general de representar la rugosidad sigue el siguiente esquema representado

en la Figura 8. En la siguiente tabla, Tabla 8, se definen los símbolos de dirección de
estrías.
Figura 8. Esquema de representación de la rugosidad
Donde:
a= Valor máximo admisible de la Ra
b= Proceso de fabricación
c= Valor normalizado de la long. básica lc
d= Símbolo de la dirección de estrías
e= Sobremedida para el mecanizado, en mm
f= Otros parámetros de rugosidad
23
Figura 8. Símbolos de dirección de estrías
Símbolo Interpretación
Huellas paralelas al plano de proyección

de la vista sobre la que se aplica el símbolo
Huellas perpendiculares al plano de proyección

Huellas que se cruzan en dos direcciones

oblícuas respecto al plano de proyección
Huellas sin orientación definida. Multidireccionales
Huellas de forma aproximadamente circular

respecto al centro de la superficie a la que
se aplica el símbolo
Huellas de dirección aproximadamente radial
respecto al centro de la superficie a la que se
aplica el símbolo
EL INSTRUMENTO DE MEDIDA. MÉTODOS DE MEDIDA
Es fundamental para garantizar la trazabilidad en las medidas la disposición de

equipos para el control dimensional y el conocimiento sobre el manejo y características
de los mismos.
A continuación se definen las cualidades más interesantes de un instrumento de
medida, como paso previo a la descripción de dichos instrumentos.
Campo de medida: Intervalo de valores que puede tomar la magnitud a medir con un
instrumento, de manera que el error de medida, operando dentro de las condiciones
de empleo, sea inferior al máximo especificado para el instrumento [5].
Alcance: Valor máximo del campo de medida [5].
Escala: Conjunto ordenado de signos en el dispositivo indicador que representan

valores de la magnitud medida [5].
División de escala: Intervalo entre dos valores sucesivos de la escala [5].
24
Lectura: Indicación obtenida directamente de un instrumento de medida [5].
Resolución: Incremento mínimo de la magnitud medida que provoca en el indicador

una variación claramente perceptible [5].
Sensibilidad: La sensibilidad de un instrumento de medida, para un valor dado de la

magnitud medida, se expresa por el cociente entre el incremento observado de la
variable (lectura) y el incremento correspondiente de la magnitud medida [5].
Precisión: Cualidad que caracteriza la aptitud de un instrumento para dar indicaciones

próximas al valor verdadero de la magnitud medida [5].
Cadena de medición: Es el conjunto de dispositivos situados entre la pieza a medir y el

resultado final de la medición. La medida circula por la cadena bajo una forma
convencional, de acuerdo con la cual a cada valor de la medida corresponde un cierto
tipo de indicación. Se pasa de uno a otro mediante un “código” que puede adoptar muy
diversos aspectos, pero que en general pueden clasificarse en códigos analógicos o
digitales. La cadena de medición consta de:
- Captador: Es el primer transductor de la cadena de medida, toma la señal de entrada
y la transforma en una señal que pasa al siguiente elemento.
- Amplificador: Amplifica la señal de medida para ofrecer una señal de salida que sea
leída sin dificultad.
- Receptor: Es otro transductor que transforma la señal amplificada en otra de salida
perceptible por el operador.
- Registrador: En muchos casos es de gran utilidad introducir como elemento final de
la cadena de medición un registrador que permita conservar en forma gráfica los
resultados de la medición para una posterior explotación de resultados.
A continuación se detallan algunas de las clasificaciones existentes para los

instrumentos de medida.
Clasificación según la magnitud a medir.

- Directos: Cuando se mide la magnitud que se quiere evaluar. Generalmente en estos
casos sólo intervienen, durante el propio proceso de medición, el mensurando y el
instrumento.
- Indirectos: Cuando se mide una magnitud diferente a la que se quiere evaluar,
obteniéndose ésta a partir de aquélla mediante la aplicación de una ley física o
una expresión algebraica.
Clasificación según la manera de considerar al mensurando.

- Absolutos: Cuando se aborda la medición del total de la magnitud del mensurando
- Diferenciales o por comparación: Cuando se evalúa la diferencia de magnitud que
presenta el mensurando frente a un patrón de valor conocido y generalmente próximo
al del mensurando.
25
Clasificación según el propio método de medida.

- Métodos de desviación: Aquéllos en los que el valor del mensurando queda
determinado por la “desviación” de un dispositivo indicador analógico.
- Métodos de cero: Los efectos causados por el mensurando y la magnitud de
referencia sobre el dispositivo indicador producen una situación de equilibrio, dando
como resultado “cero”.
- Métodos de sustitución: Son aquéllos métodos en los que se evalúa un patrón y se
“sustituye” por el mensurando, de valor sensiblemente igual. Este método viene a
coincidir con la medida diferencial o por comparación.
- Métodos de recuento: Se tiene en casos en los que la magnitud posee carácter
discreto y la evaluación se efectúa mediante “contaje” o “recuento” de sus elementos
constituyentes.
Clasificación según las características del resultado que proporcionan

- Por variables: Cuando el resultado de la medición es expresable mediante valores
numéricos. Corresponde con el caso más común de medición.
- Por atributos: Cuando el resultado de la evaluación es un “juicio de valor” o
“atributo”, por ejemplo: “sí” o “no”, “vale” o “no vale”, “apto” o “no apto”, “pasa” o “no
pasa”, etc. Corresponde con la verificación, comprobación o ensayo. En el caso
dimensional pertenecen a este tipo la verificación los “calibres de límites” o “calibres
pasa/no pasa”.
- Por clases: Es un caso particular de método por atributos pero que agrupa los
resultados en más de dos categorías, generalmente con límites numéricos.
ALGUNOS INSTRUMENTOS DE MEDIDA.
CALIBRE O PIE DE REY
El pie de rey es, en esencia, una regla graduada perfeccionada para aumentar la
precisión y seguridad de las mediciones hechas con ella. Consta de una regla de acero
graduada, que lleva en un extremo un brazo (boca fija) y un pico; sobre esta regla,
graduada en milímetros, se desliza una corredera provista también de un brazo (boca
móvil) y un pico, en cuyo borde va grabada otra escala auxiliar (nonio).
Unido a esta corredera hay una varilla que desliza a lo largo de una ranura existente en
la parte posterior de la regla. Los brazos sirven para medir exteriores, los picos para
interiores y la varilla para profundidades
En los pies de rey de mayor precisión, además de un tornillo de fijación, se coloca otro
micrómetro para aproximación suave del cursor a la pieza; estos instrumentos se
fabrican en acero inoxidable y llevan las bocas templadas y rectificadas.
El nonio, ideado por el portugués Petrus Nonius en 1542, fue construido por primera
vez por Pierre Vernier en 1631, de donde deriva el nombre de vernier. El nonius se
construye tomando (n - 1) divisiones de la escala fija y dividiéndola en n partes
iguales. Así podemos tener un nonius de longitud 9 mm, dividido en 10 partes, siendo
26
por tanto su apreciación de 1/10 mm. De igual forma podrá apreciarse 1/20 mm sin
más que dividir 19 mm en 20 partes, y 1/50 mm dividiendo 49 mm en 50 partes.
De esta forma, el valor de la medida obtenida con un pie de rey provisto de nonius,
será: los milímetros indicados por la división de la regla inmediatamente anterior al
cero del nonius, más el número de décimas o centésimas (dependiendo de la
apreciación del nonius utilizado), que indique la división del mismo que coincida con
una división de la regla.
Además del modelo normal, existen muchas variantes para diferentes usos, de acuerdo
con la forma particular de sus bocas. Basados en el sistema del pie de rey se encuentra
el medidor entre centros, donde la distancia entre centros viene dada por la semisuma
de la distancia máxima entre los bordes más alejados de los taladros y la mínima entre
los más cercanos; otro instrumento es el gramil de altura, utilizado en trazados y
trabajos con comparador.
Existen también pies de rey que en vez de llevar nonius, van provistos de una esfera
graduada y una aguja cuyo movimiento es transmitido por un piñón, para facilitar la
lectura. También existen pies de rey electrónicos que muestran el valor de la medida
tomada a través de un marcador digital. En la Figura 9, se muestra un pie de rey
convencional.
Figura 9. Pie de rey
MICRÓMETRO
Fue ideado por el francés Palmer hacia 1848. De ahí que se le conozca también por
este nombre. Si un tornillo gira una vuelta completa, en una tuerca fija, tiene un
avance del paso de la rosca: hay. Por consiguiente, una fuerte desmultiplicación del
movimiento y una gran amplificación: Por ejemplo, para un paso del tornillo de 0,5
mm y una cabeza dividida en 50 divisiones pueden hacerse lecturas de 1/50 de vuelta
y, por tanto. Cada división será de 0,5/50 mm = 0,01 mm.
Un micrómetro clásico se compone de un cuerpo en forma de herradura, que en uno
de sus extremos lleva un tope fijo. En la otra parte hay un cilindro que tiene el otro
tope variable; un cilindro, graduado longitudinalmente en milímetros y medios
milímetros, es solidario a una tuerca fija, sobre la que enrosca el tornillo que lleva
27
interiormente la cabeza graduada (tambor). Al hacer girar la cabeza graduada, avanza

el tope variable al enroscar el tomillo en la tuerca fija, y con él la cabeza graduada.
El tope móvil debe estar provisto de un limitador del par (de fricción o de rosca) que
ejerza sobre las caras de medida una fuerza de presión comprendida entre 5 y 10 N. El
accesorio se denomina comúnmente "carraca" con lo cual la cabeza giratoria patina en
vacío cuando se supera el valor nominal de la fuerza de contacto.
Además existe posibilidad de regulación del tope fijo, así como un dispositivo de
fijación del tope móvil.
La lectura se realizará comprobando el valor, en milímetros y medios milímetros, de la
escala longitudinal acotado por el extremo del tambor giratorio.
El resto de la indicación se leerá en la escala giratoria, sumándo a la anterior el valor
de división más próximo al eje de la escala longitudinal.
Los micrómetros se construyen en acero de alto contenido en carbono, con los
tratamientos térmicos adecuados para asegurar una gran rigidez en el cuerpo soporte
en forma de arco. Para medir con ellos deben colocarse en un soporte a fin de no
transmitirles calor y las piezas deben cogerse con guantes. La Figura 10 muestra un
micrómetro convencional.
Figura 10. Micrómetro convencional
28
MÁQUINA DE MEDICIÓN POR COORDENADAS
Las Máquinas de Medición por Coordenadas (MMC) son instrumentos que sirven para
realizar mediciones tridimensionales y de desviaciones de la regularidad geométrica de
objetos con forma simple o compleja.
Las hay de distintas dimensiones, tipos, materiales y exactitudes de medición y para
aplicación en laboratorios de metrología, laboratorios industriales y en las líneas de
producción. En la Figura 11, se muestra una máquina de medición por coordenadas
para laboratorios de metrología.
Emplea tres componentes móviles que se trasladan a lo largo de guías con recorridos
ortogonales, para medir una pieza por determinación de las coordenadas X, Y y Z de
los puntos de la misma con un palpador de contacto o sin él y sistema de medición del
desplazamiento (escala), que se encuentran en cada uno de los ejes. Como las
mediciones están representadas en el sistema tridimensional, la CMM puede efectuar
diferentes tipos de medición como: dimensional, posicional, desviaciones geométricas
y mediciones de contorno.
Aunque las Máquinas de Medición por Coordenadas son diferentes entre sí,
dependiendo del volumen de medición y la aplicación para las que son fabricadas,
todas operan bajo el mismo principio: el registro de una pieza con una técnica de
medición punto a punto, asignando a cada uno de éstos una terna de coordenadas
referido a un sistema coordenado en 3D; y la vinculación numérica de las coordenadas
asignadas a los puntos, con una geometría espacial completa de la pieza a través de
un software de medición en un equipo de procesamiento de datos.
Las ventajas de esta tecnología de medición son:
- No se requiere orientar el objeto a ensayas.
- Fácil adaptación por software a la tarea de medición.
- Comparación de las mediciones con modelos matemáticos o numéricos.
- Determinación de dimensión, forma y posición de la pieza.
Figura 11. Maquina de medir por coordenadas Mitutoyo M544
29
INTERFEROMETRÍA
La interferometría se basa en el fenómeno de la interferencia, que podemos

producir cuando dos ondas luminosas de exactamente la misma frecuencia se
superponen sobre una pantalla. Además de tener la misma frecuencia, estas ondas
deben ser sincrónicas, es decir que sus diferencias de fase, y por lo tanto las distancias
entre las crestas de ambas ondas, deben permanecer constantes con el tiempo. Esto es
prácticamente posible sólo si la luz de ambas ondas que se interfieren proviene de la
misma fuente luminosa. Pero si es solamente una fuente luminosa la que produce la
luz, los dos haces luminosos que se interfieren deben generarse de alguna manera a
partir del mismo haz. Existen dos procedimientos para lograr esto: denominamos al
primero división de amplitud y al segundo división de frente de onda. Usando estos
dos métodos básicos se han diseñado una gran cantidad de interferómetros, con los
que se pueden efectuar medidas sumamente precisas. El primero es el sistema de dos
rendijas de Young, que produce interferencia por frente de onda y el segundo es el de
Michelson, que produce interferencia por división de amplitud. En la Figura 12, se
muestran ambos sistemas para la consecución de los haces.
Figura 12. Esquemas de interferómetros de Young (a), y Michelson (b)
Usando estos dos métodos básicos se han diseñado una gran cantidad de
interferómetros, con los que se pueden efectuar medidas sumamente precisas.
El Interferómetro es un instrumento que emplea la interferencia de ondas de luz para

la medida ultraprecisa de longitudes de onda de la luz misma, de distancias pequeñas
y de determinados fenómenos ópticos.
Para medir la longitud de onda de una luz monocromática se utiliza un interferómetro

dispuesto de tal forma que un espejo situado en la trayectoria de uno de los haces de
30
luz puede desplazarse una distancia pequeña (que puede medirse con precisión) y
varía así la trayectoria óptica del haz. Cuando se desplaza el espejo una distancia igual
a la mitad de la longitud de onda de la luz, se produce un ciclo completo de cambios
en las franjas de interferencia.
La longitud de onda se calcula midiendo el número de ciclos que tienen lugar cuando
se mueve el espejo una distancia determinada.
El laboratorio de interferometría láser tiene como objetivo diseminar por medio de

calibraciones la unidad de longitud de acuerdo a la definición del metro, esto se logra
mediante mediciones hechas con interferómetros láser, trazados directamente al
patrón nacional primario de longitud. En este laboratorio se pueden realizar
mediciones de planitud, rectitud, paralelismo, perpendicularidad, etc. También es por
medio de esta técnica por la cual se calibran los patrones de longitud del más alto
nivel de precisión.
5. El laboratorio de metrología
Como ya se ha descrito anteriormente, existen una serie de magnitudes de influencia,

como la temperatura, vibraciones, o el ruido, que afectan a la incertidumbre de las
medidas. Por ello un laboratorio de metrología precisa de un ambiente controlado, al
menos para los principales parámetros que pueden influir en las magnitudes medidas o
en los instrumentos de medida. Las condiciones constructivas exigibles para el
funcionamiento de un laboratorio quedarán definidas cuando se conozca la precisión
que se quiere conseguir, las máquinas y equipos que se van a instalar, y las condiciones
ambientales que son necesarias mantener para asegurar que no se producen influencias
extrañas (a las conocidas o previstas) que alteren el resultado del experimento o
medición. También se ha de garantizar que el experimento o medición es repetible, es
decir, cualquier otro laboratorio podría repetir el proceso y obtener el mismo resultado,
por lo cual el laboratorio de metrología en objeto de normalización.
Es necesario asegurar que, durante la vida del instrumento, su fiabilidad y precisión

estén siempre dentro de las especificaciones iniciales requeridas para su utilización. Por
tanto los instrumentos de medida deben ser calibrados periódicamente con unas
incertidumbres de calibración compatibles con las especificaciones y exigencias del
producto que se está fabricando y asegurar que los medios de calibración son trazables a
través de una cadena de calibración a los patrones nacionales.
Un Plan de Calibración es la calibración sistemática y organizada del total de los

instrumentos y accesorios de un centro de medición y supone la ordenación de todos los
instrumentos de mayor a menor precisión. La documentación necesaria que soporta el
plan de calibración de un laboratorio de metrología está compuesta por la siguiente
información:
31
- Carta de Trazabilidad: Refleja gráficamente la cadena de laboratorios o centros de

nivel metrológico superior que enlazan los patrones de un centro de trabajo con los del
laboratorio nacional de forma que quede suficientemente asegurado el enlace final a las
unidades básicas.
- Diagrama de niveles: Es un gráfico en el que figuran, agrupados y ordenados por
niveles de precisión, todos los patrones, instrumentos y equipos de medida de un
laboratorio. Cada grupo está formado por instrumentos que se calibran con los mismos
patrones y procedimientos. El primer nivel, o nivel de referencia, está formado por los
patrones de mayor precisión del centro que son calibrados externamente en centros
superiores. Los siguientes niveles se forman con grupos calibrados por niveles
superiores y calibran a grupos inferiores, los grupos del último nivel no se emplean en
calibraciones internas. En cada grupo mediante flechas, se indica de que otros grupos
reciben calibración y a que grupos la da. En la Figura 13, se muestra un diagrama de
niveles de un laboratorio de metrología dimensional.
- Procedimientos de Calibración: Define el proceso detallado a seguir por el metrólogo
en la calibración de un instrumento. Cada laboratorio estudia y realiza estos
procedimientos de calibración, si bien, el CEM ofrece información y procedimientos de
calibración que pueden servir como guía.
Figura 13. Diagrama de niveles
ACREDITACIÓN DE LABORATORIOS
La acreditación es la herramienta establecida a escala internacional para generar

confianza sobre la actuación de un tipo de organizaciones muy determinado que se
denominan de manera general Organismos de Evaluación de la Conformidad y que
abarca a los Laboratorios de ensayo, Laboratorios de Calibración, Entidades de
Inspección, Entidades de certificación y Verificadores Ambientales [6]
32
La acreditación no es obligatoria, sino voluntaria.
La norma UNE-EN ISO/IEC 17025 define el conjunto de requisitos que debe cumplir
un laboratorio de análisis o de calibración para demostrar su competencia y su
capacidad de producir resultados técnicamente válidos. En la Tabla 8, se recogen los
requisitos tanto técnicos como de gestión que marca la norma UNE-EN ISO/IEC 17025.
En España los laboratorios de calibración, ensayos o certificación que implantan la

norma ISO 17025 son acreditados por la Entidad Nacional de Acreditación (ENAC),
que es miembro de la “European Coopera-tion for Acreditation” (AE), y tiene
reconocimiento internacional.
La marca de ENAC o referencia a la condición de acreditado en los informes o
certificados es el medio por el cual las organizaciones acreditadas declaran
públicamente el cumplimiento de los requisitos de acreditación. Sólo pueden hacer uso
de la Marca de ENAC o referencia a la condición de acreditado aquellas organizaciones
que estén acreditadas. El uso inadecuado o fraudulento puede dar lugar a que ENAC
emprenda acciones legales contra los infractores.
El alcance de Acreditación es el ámbito para el cual se otorga una acreditación. Es una

declaración que define el área, campo, sector, técnica, norma o cualquier otro donde se
demuestra la competencia técnica. El alcance de Acreditación es una parte fundamental
que constituye el Anexo Técnico que acompaña al “Certificado de Acreditación”. El
solicitante de la acreditación establece el alcance para el que desea ser acreditado en
función de sus necesidades y objetivos.
Tabla 8, Requisitos UNE-EN ISO/IEC 17025
UNE-EN ISO/IEC 17025:

Requisitos de gestión Requisitos Técnicos
4.1 Organización 5.1 Generalidades
4.2 Sistema de gestión 5.2 Personal
4.3 Control de documentos 5.3 Instalaciones y condiciones ambientales
4.4 Revisión de los pedidos, ofertas y contratos 5.4 Métodos de ensayo y de calibración y validación de los
métodos
4.5 Subcontratación de ensayos y calibraciones 5.5 Equipos
4.6 Compras de servicios y de suministros 5.6 Trazabilidad de las mediciones
4.7 Servicios al cliente 5.7 Muestreo
4.8 Quejas 5.8 Manipulación de los items de ensayo o de calibración
4.9 Control de trabajos de ensayos o de 5.9 Aseguramiento de la calidad de los resultados de

calibraciones no conformes ensayo y de calibración
4.10 Mejora 5.10 Informe de los resultados
4.11 Acciones correctivas
4.12 Acciones preventivas
4.13 Control de los registros
4.14 Auditorias internas
4.15 Revisiones por la dirección
33
5. Conclusiones
Una sólida estructura metrológica nacional, englobada en su correspondiente
organización regional y la pertenencia a la Conferencia General de Pesos y Medidas es
fundamental para el desarrollo económico y social de un país.
La trazabilidad es una propiedad de la medida igual de importante que el valor medido

en sí, puesto que muestra su relación directa con los patrones primarios y asegura la
validez de la misma.
Durante la realización del presente trabajo, la principal dificultad encontrada ha sido

realizar una síntesis sobre una materia tan amplia como la abordada. Una vez
terminado, el presente texto le deja la sensación al autor de haber omitido ciertos
aspectos fundamentales y detalles, sin embargo, se finaliza con la creencia de aportar
una visión global sobre la Metrología, en particular, sobre la Metrología Dimensional.
6. Referencias Bibliográficas
1- Carlos Granados, Apuntes Cursos de Doctorado, Introducción a la Historia de
la Metrología, E.T.S.I.I. Univ. Politécnica de Madrid.
2- EURAMET, Metrología Abreviada, 2ª Edición en castellano, 2008.
3- www.bipm.org, consulta en Abril-2011
4- CEM, Vocabulario Internacional de términos fundamentales y generales de

metrología (VIM). 1998
5- Glosario de términos de la AECC (Asociación Española de Control de Calidad),

2008.
6- www.enac.es , consulta en Abril 2011
7. Bibliografía
1- AENOR, “Metrología Dimensional”, 2001.
2- Javier Carro, “Curso de Metrología Dimensional”, Ed. Sección Publicaciones

E.T.S.I.I. U.P.M., 1978.
3- Lorenzo Sevilla, M.Jesús Martín, “Metrología Dimensional”, UMA, 3ª Edición

2008.
4- www.enac.es
5- www.bipm.org
6- EURAMET, “Metrología Abreviada”, 2ª Edición en castellano, 2008.
7- http://www.cem.es/sites/default/files/historia.pdf, consulta en Abril-2011
8- www.cem.es
9- Apuntes del MOIF, Univ. de Cádiz, 2011-05-02
34
35

Fundamentos de Metrología Industrial

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Escuela Superior de Ingeniería

Máster Oficial en Ingeniería Fabricación

En una primera aproximación, podemos definir Metrología como la ciencia de las

Desde sus primeras manifestaciones, normalmente incluida dentro de la antropología

En la Europa de hoy se mide y se pesa con un coste equivalente a más del 6% de

El desarrollo material de la humanidad en los dos últimos siglos, ha sido posible

verificación sistemática de las máquinas-herramienta e instrumentos de medida.

Finalmente, la ciencia es totalmente dependiente de la medición. La existencia de

Según el Máster Oficial de Ingeniería de Fabricación de la Universidad de Cádiz se

- La Metrología Científica se ocupa de la organización y el desarrollo de los patrones

- La Metrología Industrial debe asegurar el adecuado funcionamiento de los

- La Metrología legal se ocupa de aquellas mediciones que influyen sobre la

- Metrología Dimensional, encargada de las medidas de longitudes, donde la longitud

- Metrología Química, que se refiere a todos los tipos de mediciones en la química.

- Metrología Eléctrica, que estudia las medidas eléctricas: tensión (o voltaje),

CGPM discute y examina el trabajo realizado por los Institutos Nacionales de

La CGPM elige hasta 18 representantes para el Comité Internacional de Pesas y

También se ha creado un cierto número de Comités Conjuntos del BIPM y de otras

- JCDCMAS: Comité Conjunto para la coordinación de la asistencia a Países en vías de

El Acuerdo de Reconocimiento Mutuo del CIPM (ARM-CIPM), es un acuerdo entre los

Los objetivos del ARM-CIPM son:

Estos objetivos se alcanzan a través del siguiente proceso:

El ARM-CIPM esta coordinado por el BIPM y los comités consultivos. Actualmente

La colaboración entre los institutos nacionales de metrología a nivel regional es

- La coordinación de las comparaciones de patrones nacionales de medida y otras

En la región europea la OMR es el EURAMET.

Otras organizaciones de carácter internacional son:

- ILAC (International Laboratory Accreditation Cooperation) es una organización

- OIML (Legal Metrology International Organization) es una Organización

Además de las actividades descritas anteriormente, los INM normalmente son

- La investigación en metrología y el desarrollo de nuevos y mejores patrones de

- participar en las comparaciones al más alto nivel internacional.

- mantener una visión general de la jerarquía nacional sobre trazabilidad/calibración

En España, el INM es el Centro Español de Metrología (CEM).

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Magnitud Símbolo Unidad Símbolo

luminancia Lv candela cd/m2

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Tabla 3. Unidades SI derivadas, con nombres especiales

diferencia de voltio V m2 kg s-3

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Los campos de actividad de la Metrología Dimensional son: longitudes, ángulos,

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