LIBRO Desarrollo - Experimental - Diodos
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INTRODUCCIÓN 1
1. PRUEBA DE SEMICONDUCTORES 3
1.1. PRUEBA DE TRANSISTORES UNIJUNTURA (U JT ) . . . . 5
1.2. PRUEBA DE TRANSISTORES BIPOLARES (BJT )(N P N
Y PNP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I 15
2.1. CARACTERIZACIÓN DEL DIODO . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.2. EL DIODO RECTIFICADOR DE MEDIA ONDA . . . . . . . 21
2.3. EL DIODO RECTIFICADOR DE ONDA COMPLETA . . . . 23
2.4. EL DIODO COMO RECORTADOR . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.5. FIJADORES DE NIVEL (SUJETADORES) . . . . . . . . . . . 27
2.6. EL REGULADOR ZENER . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
2.7. EL AMPLIFICADOR EMISOR COMÚN (EC) . . . . . . . . . 33
2.8. AMPLIFICADOR EMISOR COMÚN (EC) SEGUNDA PARTE 35
2.9. AMPLIFICADOR COLECTOR COMÚN (CC) . . . . . . . . . 37
2.10.AMPLIFICADOR COLECTOR COMÚN (CC). SEGUNDA
PARTE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
2.11.EL TRANSISTOR COMO SUICHE O INTERRUPTOR . . . 43
2.12.AMPLIFICADOR DE POTENCIA CLASE B . . . . . . . . . . 45
i
ÍNDICE
3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II 49
3.1. AMPLIFICADOR DIFERENCIAL . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
3.2. CONFIGURACIONES BÁSICAS DE LOS AO . . . . . . . . . 53
3.3. APLICACIONES CON AMPLIFICADORES OPERA-
CIONALES . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
3.4. COMPARADORES . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
3.5. FILTROS ACTIVOS 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
3.6. FILTROS ACTIVOS 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
3.7. EL PLL . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
3.8. EL UJT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
3.9. EL OSCILADOR DE CORRIMIENTO DE FASE . . . . . . . . 69
3.10.EL OSCILADOR PUENTE DE WIEN . . . . . . . . . . . . . . 71
5. ANEXOS 89
5.1. TRANSISTOR DE MEDIANA POTENCIA BD135 . . . . . . . 91
5.2. TRANSISTOR DE MEDIANA POTENCIA TIP 41 . . . . . . 94
5.3. TRANSISTOR DE POTENCIA 2N3055 . . . . . . . . . . . . . . 96
5.4. TABLA DE DIODOS 1N4XXX . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
5.5. PUENTES DE DIODOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102
5.6. TRIACS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
5.7. EL TIRISTOR SCR 106 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
5.8. EL OPTOACOPLADOR MOC3010 . . . . . . . . . . . . . . . . 113
5.9. TABLA DE TRANSISTORES CARACTERÍSTICAS . . . . . 116
Bibliografı́a 123
ii
INTRODUCCIÓN
1
ÍNDICE
Esperamos, con humildad, que los docentes y estudiantes que tengan la oportu-
nidad de conocer este escrito se sientan acompañados y asesorados para resolver
sus inquietudes en el laboratorio.
2
CAPÍTULO 1
3
CAPÍTULO 1. PRUEBA DE SEMICONDUCTORES
4
1.1. PRUEBA DE TRANSISTORES UNIJUNTURA (U JT )
B1
B1
E
E
B2
B2
Figura 1.1: El transistor U JT 2N 2646 visto por encima (Top view) y su sı́mbolo
esquematico
5
CAPÍTULO 1. PRUEBA DE SEMICONDUCTORES
6
1.2. PRUEBA DE TRANSISTORES BIPOLARES (BJT )(N P N Y P N P )
P P N N
(E) (C) (E) (C)
N(B) P(B)
7
CAPÍTULO 1. PRUEBA DE SEMICONDUCTORES
Cabe recalcar que los transistores bipolares, triacs, tiristores, y otros dispositivos
vienen en muchas presentaciones o encapsulados y esto viene ligado al tipo de
aplicación en que se les va a utilizar.
Cada transistor tiene impreso en el cuerpo del mismo, el tipo de transistor que
es, siendo ası́ muy fácil poder encontrar sus caracterı́sticas técnicas en un manual
como el ECG o NTE.
8
1.2. PRUEBA DE TRANSISTORES BIPOLARES (BJT )(N P N Y P N P )
9
CAPÍTULO 1. PRUEBA DE SEMICONDUCTORES
Tabla 1.1: Tabla que hace referencia al código americano para identificación de
transistores bipolares
B B
C E
- + + -
Negro W Rojo Rojo W Negro
10
1.2. PRUEBA DE TRANSISTORES BIPOLARES (BJT )(N P N Y P N P )
+ 1KW +
Vcc
Rojo Rojo
W W
Negro Negro
- -
Figura 1.5: Prueba del fototransistor con luz visible y con luz infraroja
11
CAPÍTULO 1. PRUEBA DE SEMICONDUCTORES
S S
G G
D D
CANAL P CANAL N
12
1.2. PRUEBA DE TRANSISTORES BIPOLARES (BJT )(N P N Y P N P )
13
CAPÍTULO 1. PRUEBA DE SEMICONDUCTORES
marca UNIVOLT. Lógicamente, puede suceder que las medidas y sus resul-
tados variarán si se realizan las pruebas con otro tipo de óhmetro digital por
que ellas se realizan haciendo circular pequeñas corrientes por los dispositivos
sometidos al examen.
14
CAPÍTULO 2
LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
15
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
16
2.1. CARACTERIZACIÓN DEL DIODO
Los diodos rectificadores son elementos semiconductores que cumplen una fun-
ción de conducir la corriente eléctrica en un sentido (corriente ánodo-cátodo). Esta
propiedad los hace muy apropiados para diferentes aplicaciones en electrónica. Se
pretende en esta práctica conocer algunas caracterı́sticas relacionadas con el com-
portamiento eléctrico de estos dispositivos.
2.1.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Tomando en cuenta el esquema de la figura 2.1 se tomarán datos del
voltaje que aparece en el diodo VD y la corriente eléctrica que circula por él.
Como hay que tomar alrededor de 50 datos (V , I), lo mejor es colocar un
potenciómetro P de 50Ω (ó de 100Ω) en la salida de la fuente de c.c fijada
en 1,5V . Una vez instalados todos los elementos y verificadas las conexiones
correctamente, proceder a variar el voltaje con pequeños recorridos del
potenciómetro ubicando cada una de las parejas en la tabla 2.1
Tabla 2.1
VD (V )
ID (mA)
17
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
CH 1
CH 2
1N4148
120 VRMS 9 VRMS R 100 W
18
2.1. CARACTERIZACIÓN DEL DIODO
Para ello solamente basta con cambiar el diodo del circuito en la figura 2.2
por cada uno de los anteriores, y de hecho, intentar identificar caracterı́sti-
cas propias en cada uno. Para estos dispositivos se hace evidente, a voltajes
menores a 20V , el voltaje de pico inverso VR .
19
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
20
2.2. EL DIODO RECTIFICADOR DE MEDIA ONDA
2.2.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Rectificador de media onda
Implementar el circuito de la figura 2.3 en el cual se utilizará un diodo
IN 4004, un transformador 506 ó 508 (muy popular en el mercado local)
y una resistencia fija (RL de 200Ω). Definir la salida del transformador con
12VRMS .
Con el botón que posiciona la traza, superponer estas dos señales para tratar
de recuperar la señal de la fuente (salida del transformador). También, medir
los voltajes en el diodo y en la resistencia RL utilizando el multı́metro y com-
21
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
parándolos con los valores obtenidos por medio del osciloscopio. Finalmente
medir el valor de la corriente ILRMS.
22
2.3. EL DIODO RECTIFICADOR DE ONDA COMPLETA
2.3.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Rectificación de onda completa
23
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
24
2.4. EL DIODO COMO RECORTADOR
Existen los limitadores en serie, figuras 2.6 (a) y (c), y los limitadores en paralelo,
figuras 2.6 (b) y (d).
25
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
2.4.1. PROCEDIMIENTO:
Construir los circuitos relacionados en la figura 2.6 y en cada caso observar y
medir las señales en la entrada Ven , en el diodo y en la salida,VO , utilizando
el osciloscopio. Ven es la señal que proporcionará el generador de audio.
26
2.5. FIJADORES DE NIVEL (SUJETADORES)
Son otras de las aplicaciones del diodo rectificador, en las cuales, él añade un valor
de nivel cc a una señal de corriente alterna ca ayudándose de otros elementos como
pilas y/o condensadores. Existen tanto fijadores positivos como negativos, figuras
2.7 (a) y (b).
C = 0,1µf .
R = 1M Ω.
Diodo 1N 4004
2.5.1. PROCEDIMIENTO:
Armar los circuitos presentados en la figura 2.7 (a) y (b). Observar y medir
las señales en la entrada, Ven , y en la salida, VO , con el osciloscopio en modo
dual.
27
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
28
2.6. EL REGULADOR ZENER
2.6.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Voltaje zener
Lo primero es identificar el voltaje del diodo zener, VZ . Una forma es aten-
diendo su referencia y observando las parámetros en el manual ECG. Otra,
es montar el circuito de la figura 2.8 Se varia el voltaje VS desde 0V hasta
encontrar el voltaje VZ que es el voltaje estacionario en el diodo, ası́, el voltaje
de la fuente se siga incrementando. Estos datos obtenidos se consignarán en
la tabla 2.2.
29
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
Tabla 2.2
Vs Vz
VS − VZ
RS =
0,5IZMAX
30
2.6. EL REGULADOR ZENER
31
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
32
2.7. EL AMPLIFICADOR EMISOR COMÚN (EC)
Una de las aplicaciones más importante del transistor bipolar es su utilización como
amplificador de voltaje. La configuración emisor común ofrece esta posibilidad de
una manera eficiente ya que presenta alta ganancia de voltaje, AV . La práctica
siguiente permitirá un conocimiento mas preciso sobre el comportamiento eléctrico
de esta configuración.
2.7.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Curvas caracterı́sticas
33
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
34
2.8. AMPLIFICADOR EMISOR COMÚN (EC) SEGUNDA PARTE
2.8.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Amplificación y ángulo de fase
Conectar el circuito de la figura 2.13 con S1 y S2 abiertos variando el valor
del potenciómetro P hasta que VCE =6V.
35
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
a) b)
Figura 2.14: Circuito para medir las impedancias de entrada y de salida en un
amplificador emisor común
36
2.9. AMPLIFICADOR COLECTOR COMÚN (CC)
2.9.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Ganancia de voltaje y ganancia de corriente
37
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
1. Elemento de muestreo.
2. Elemento de referencia.
38
2.9. AMPLIFICADOR COLECTOR COMÚN (CC)
3. Elemento comparador.
4. Amplificador de error.
5. Elemento de control.
Este tipo de fuente muestra un voltaje en la salida, VO , que depende del voltaje
colocado en la base B2 . Ven , es un voltaje rectificado y filtrado que puede ser de
bajo o alto valor dependiendo de los transistores.
Para medir la máxima corriente de salida, se conecta una resistencia variable de por
lo menos 50W en la salida con un amperı́metro en serie, se reduce el valor de ésta,
hasta que el voltaje VO llegue a 0,9 de su valor en vacı́o. Allı́ se tiene precisamente
una buena medida de esta corriente.
39
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
40
2.10. AMPLIFICADOR COLECTOR COMÚN (CC). SEGUNDA
PARTE
2.10.1. PROCEDIMIENTO:
Conectar el circuito de la figura 2.18, y variando el potenciómetro P , obtener el
voltaje colector- emisor, VCE = 6V .
41
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
42
2.11. EL TRANSISTOR COMO SUICHE O INTERRUPTOR
Figura 2.19: Circuitos sencillos para utilizar el transistor como suiche (interrup-
tor)
2.11.1. PROCEDIMIENTO:
CASO A. Interruptor on-off
Conectar el circuito de la figura 2.19, y con S1 abierto, medir, con el
multı́metro, el voltaje colector-emisor, VCE , y la corriente de colector IC .
Repetir el proceso cuando S1 está cerrado. Modificar el circuito para obtener
la conexión de la derecha de la figura 2.19 y realizar todo el procedimiento
anterior.
43
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
agrandar, aun más, la base de tiempo para medir luego el tiempo total
de conmutación, tc, el tiempo de encendido, ten, y el tiempo de apagado, tap.
Comparar el tiempo total del pulso en la salida con el tiempo total del pulso
en la entrada, el cual se ha medido previamente.
44
2.12. AMPLIFICADOR DE POTENCIA CLASE B
2.12.1. PROCEDIMIENTO:
Para realizar esta práctica, los transistores Q1 y Q2 deben estar montados
mecánicamente en sendos disipadores, o en uno solo, si están aislados. Los resis-
tores de 1Ω deben tener una potencia de trabajo de 2 a 5W (alambre bobinado).
45
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
Tabla 2.3
Condensar las medidas en la tabla 2.5. Observar y dibujar las formas de onda
obtenidas con el osciloscopio, para Ven y VO . Igualmente, realizar lo mismo para
completar la tabla 2.5.
Tabla 2.4
I(fuente)
I reposo (Ven = 0)
V en(máx)
Tabla 2.5
Ven Vo Av Av (dB)
46
2.13. AMPLIFICADOR CON TRANSISTOR J-FET
2.13.1. PROCEDIMIENTO:
En este laboratorio, se diseñará e implementará el amplificador de dos etapas según
la figura 2.22. Las condiciones dadas para cada amplificador son las siguientes:
J-FET 1: VDD = 24V , RL = 400Ω, Vp1 = −6V , IDSS1 = 30mA, gmo1 = 10000µs
y Ai = 15
J-FET 2: ID2 = 5IG , VDS2 = 4V , Rin2 = 100kΩ, IDSS2 = 15mA y Vp2 = −2V
La tarea es hallar, analı́tica y experimentalmente, la ganancia total de voltaje
AV 12 y la ganancia total de corriente AI12 .
47
CAPÍTULO 2. LABORATORIOS ELECTRÓNICA I
48
CAPÍTULO 3
LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
49
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
50
3.1. AMPLIFICADOR DIFERENCIAL
Vo 1 Vo 2
+ +
Vi1
Vi2
- -
RE
- VEE
3.1.1. PROCEDIMIENTO:
Medir los parámetros en cc como son las corrientes de emisor y de colector
lo mismo que los voltajes en el colector y en el emisor.
Con una fuente de señal conectada (Vi1 ) y la otra entrada aterrizada, realizar
la medida de la ganancia en modo diferencial. Para ello se definen varios
valores en la entrada y el respectivo valor en la salida. Diseñar una tabla de
datos.
51
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
Es importante observar, en el osciloscopio, qué tipo de señal nos muestra cada una
de las salidas para una entrada en particular (modo diferencial) y además para
qué valor de Vi se satura la salida.
52
3.2. CONFIGURACIONES BÁSICAS DE LOS AO
Rf Rf
V R1 Vo R1 Vo
R1 Rf
R1 Rf
(a) V (b)
Vcc
-VEE
2 - 7
IN- 4
6
LM 741
3
IN+ + 5
Vo
V 1
(c)
3.2.1. PROCEDIMIENTO:
Definir una ganancia de voltaje en cada circuito para elegir R1 y Rf .
53
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
54
3.3. APLICACIONES CON AMPLIFICADORES OPERACIONALES
C
R
V1 R C
Vo V1 R Vo
R1 ll R
R ll R
(a) (b)
Figura 3.3: El amplificador operacional (a) como integrador y (b) como derivador
3.3.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. EL INTEGRADOR
55
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
PARTE B. EL DERIVADOR
56
3.4. COMPARADORES
3.4. COMPARADORES
Vref
Vo
V1
47 KΩ
10K Ω
(c)
3.4.1. PROCEDIMIENTO:
Definir V1 como una señal senoidal de 1 a 3 Vp simétrica y no olvidar, además, que
hay que polarizar a +VCC la salida del comparador LM 311 con una resistencia
de 5,1K (su construcción interna es open collector). La posición X − Y del
osciloscopio permite observar una función de transferencia conectando la señal de
entrada en el canal X y la señal de la salida del comparador, en el canal Y .
57
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
58
3.5. FILTROS ACTIVOS 1
Rf
Rf
RA Vo RA Vo
R C
V
C V
R
(a)
(b)
3.5.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Filtro Pasa-Bajas
Una vez hallados los valores de los elementos del circuito, se procede a
realizar el montaje, utilizando una fuente dual para polarizar el ampli-
ficador operacional. (No olvidar verificar el voltaje OF F − SET antes
de empezar a conectar la señal V1 ).
59
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
60
3.6. FILTROS ACTIVOS 2
T
RA
V
110 R
+
V
-
3.6.1. PROCEDIMIENTO:
Implementar el circuito de la figura 3.6 seleccionando Rf = RA y
(R = RF ||RA ) verificando previamente el voltaje OF F − SET del ampli-
ficador. T1 es un transformador de 110Vac con salida de bajo voltaje.
61
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
62
3.7. EL PLL
3.7. EL PLL
Los P LL (Phase Locked Loop) bucles de enganche de fase son circuitos muy
versátiles. Se les emplea en regulación de velocidad de motores, en instrumentación
industrial, demodulación de señales F M , sintetizadores de frecuencia, decodifi-
cadores de tono, para multiplicar y dividir frecuencias, para demodular señales
SCA, en receptores de telemetrı́a, para la fabricación de alarmas y controles ul-
trasónicos, en control de sintonı́a fina, etc.
SEÑAL DE 4 +V
ENTRADA
Filtro Pasa-bajos
del loop
Entrada 3 Detector 2
vco DETECTOR de fase
DE FASE C2
R1
TENSIÓN DE
5 vco
CONTROL SEÑAL DE 6 +Vcc
ERROR
Detector 8
FILTRO PASO de Carga
C1 Vref
BAJO Cuadratura
7 1
C3 Filtro de
salida
AMPLIFICADOR (b)
SALIDA
(a)
Figura 3.7: (a)Bloques de un PLL, (b) Bloques internos del PLL LM567
63
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
Cuando hay señal de error, efecto causado por una señal de entrada con fase distinta
a la fase instantánea del V CO, el voltaje de salida del detector es llevado a un filtro
pasabajas para eliminar el ruido y componentes de alta frecuencia. Ya filtrada la
señal se hace llegar de nuevo al V CO, de tal forma que éste tienda a reducir la
diferencia de fase de ambas señales aumentando o disminuyendo su frecuencia de
oscilación. Este proceso se repite muchas veces hasta que el voltaje de control,
(señal de error) haga que la frecuencia del V CO se “estacione” en un punto igual
al promedio de la frecuencia de la señal de entrada. En este momento el Loop
(cı́rculo o anillo vicioso) es Locked (fijado, enganchado). Los P LL más populares
son: LM 563, LM 564, LM 561, LM 565 y el LM 567, entre otros.
R1 PLL LM567
• 1 2 3 4
+ + Vcc
R2 2.2µf
1µf IN
(a) (b)
Figura 3.8: (a) Generador de onda cuadrada, (b) Conexión del PLL (567)
64
3.7. EL PLL
65
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
66
3.8. EL UJT
3.8. EL UJT
470Ω
RE 470Ω
E B2
E B2
B1
B1
+
+
Vf CE
- - 100Ω
100Ω
(a) (b)
Figura 3.9: (a) UJT con fuente de voltaje a la entrada, (b) Configuración tı́pica
del UJT
3.8.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Identificar los terminales del transistor UJT 2N2646. A la vez,
utilizando el manual, tomar nota de las caracterı́sticas del mismo dis-
positivo. Con el óhmetro medir la resistencia estática internase RBB .
Montar el circuito de la figura 3.9(a), en el cual Vf es una fuente cc,
y variando muy lentamente el valor de Vf identificar el valor VP para el
cual se ha activado el transistor. ¿Cómo se evidencia este hecho? Tratar
de llegar a una solución en consenso entre todo el grupo. Para dar mayor
seguridad a la toma del valor de VP , se debe repetir el proceso.
67
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
68
3.9. EL OSCILADOR DE CORRIMIENTO DE FASE
C C C
R R R
3.9.1. PROCEDIMIENTO:
Para el circuito de la figura 3.10, definir C de 100pf y para una frecuencia de
30KHz, calcular el valor de R según la ecuación de la frecuencia para este
tipo de oscilador:
1
f0 = √
2π 6R.C
1
Recordando que la ganancia de la red de atenuación es β = 29 y para que,
además, exista oscilación es necesario que |BA| = 1, calcular el valor deRF
con estas consideraciones.
69
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
70
3.10. EL OSCILADOR PUENTE DE WIEN
R1
C
Vo
R2
R
C
3.10.1. PROCEDIMIENTO:
Definir el condensador C alrededor de 1000pf y definir, además, una frecuen-
cia de trabajo entre 1Khz. y 20Khz. Con estos valores hallar R según la
ecuación:
1
fr =
2πRC
R1
A≥3 A= +1
R2
71
CAPÍTULO 3. LABORATORIOS ELECTRÓNICA II
Una vez encontrados los valores de los elementos, proceder a montar el circuito
de la figura 3.11 utilizando una fuente dual para polarizar el amplificador.
72
CAPÍTULO 4
73
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
74
4.1. EL SCR EN CORRIENTE ALTERNA
Primero que todo se deben conocer las caracterı́sticas eléctricas del dispositivo
C106 utilizado en los desarrollos experimentales consecuentes. Por ejemplo la
corriente mı́nima de compuerta, IGMIN , el voltaje de pico inverso, VR , corriente
máxima ánodo-cátodo, IAK , y la disipación de potencia.
4.1.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Implementar el circuito de la figura 4.1(b) calculando R1 + R2
para un ángulo de conducción del SCR de 90o y con una corriente
IG de 2mA, además, teniendo en cuenta que RL es una bombilla de
100W . R2 puede ser un reóstato necesario para encontrar otros ángulos
de disparo. Si R2 es baja, la corriente de compuerta (GATE ) será lo
suficientemente grande para disparar el SCR cuando el voltaje de ca
sea bajo. Por lo tanto, el ángulo de retardo de disparo será pequeño y
la corriente promedio en la carga, grande.
Con el osciloscopio, sondas ×10, observar y medir las señales entre ánodo
y cátodo y en la carga RL , simultáneamente, a medida que el reóstato
R2 cambie su valor. Es importante registrar el valor de R2 para ángulos
de retardo de disparo mı́nimo y máximo, e igualmente el valor de dichos
ángulos.
PARTE B. Para aumentar aun más el ángulo de retardo de disparo, por ejemplo
75
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
(a) (b)
Figura 4.1: (a) Terminales del SCR, (b) Conexión en ca para ángulos de retardo
menores a 90 grados
100o, se usa la red (R1 + R2 )C del circuito de la figura 4.2(a). A mayor valor
de R2 , mayor es el tiempo que tarda la placa superior del condensador en
cargarse positivamente, y por tanto el disparo del SCR se retarda.
Con el osciloscopio, sondas ×10, observar y medir las señales entre ánodo
y cátodo y en la carga RL , simultáneamente, a medida que el reóstato
R2 cambie su valor. Es importante registrar el valor de R2 para ángulos
de retardo de disparo mı́nimo y máximo, e igualmente el valor de dichos
ángulos.
76
4.1. EL SCR EN CORRIENTE ALTERNA
(a) (b)
Figura 4.2: (a) SCR con red RC a la entrada (b) SCR con doble red RC a la
entrada
77
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
78
4.2. EL DIAC
4.2. EL DIAC
DIAC DIAC
(a) (b)
Figura 4.3: (a) El DIAC alimentado con una fuente cc, (b) el DIAC con fuente
de voltaje ac
4.2.1. PROCEDIMIENTO:
Revisar las caracterı́sticas eléctricas y parámetros del DIAC a utilizar,
aprovechando el manual ECG.
79
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
Ahora, se utilizará una fuente de ca (figura 4.3(b)) que puede ser una fuente
que produzca una señal mayor a 40VP , o en su defecto, la red de corriente
alterna con una resistencia RS adecuada según la tolerancia de potencia del
DIAC. (Para la red de ca su valor puede ser del orden de 20KΩ y si se usa
una fuente de menor tensión, se debe reducir el valor de esta resistencia).
¿Cómo son estos valores con los obtenidos cuando se polarizo el DIAC en cc?
¿Cuáles podrı́an ser las aplicaciones más comunes del los DIAC?
80
4.3. EL TRIAC
4.3. EL TRIAC
Los T RIACS se comportan en general como los SCR, excepto que los primeros
pueden conducir corriente en ambas direcciones, pero, ambos son miembros de la
familia de los TIRISTORES. El término TIRISTOR incluye a todos los dispositivos
de conmutación regenerativa y no pueden operar de una manera lineal, o sea, son
de comportamiento de encendido y apagado inherente. Por tanto, un transistor no
es un tiristor porque, aun cuando puede operar en encendido y apagado no es su
naturaleza única, porque existe la posibilidad de que él opere de manera lineal.
RL
RL
(a) (b)
Figura 4.4: (a) El TRIAC en ca, (b) El TRIAC con red RC a la entrada
4.3.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. Primero que todo identificar algunos valores caracterı́sticos del
T RIAC como:IGT , IRMS , VGT MAX , VON MAX y cuadrantes de opera-
ción; datos del manual ECG o manual N T E. Se recomienda el T RIAC
Q4015L5 y señal de ca de 117VRMS .
81
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
¿Cuál será el tiempo de retardo máximo que se puede controlar? ¿Por qué?
82
4.3. EL TRIAC
83
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
84
4.4. EL TRIAC CON DIAC Y DOBLE RED RC
Un elemento como éste ofrece ventajas importantes sobre los circuitos de control
de compuerta RC sencillos ya que ellos entregan un pulso de control de corriente
de compuerta en lugar de una corriente de compuerta senoidal.
c RL a c RL a
(a) (b)
Figura 4.5: (a) TRIAC con DIAC y red RC, (b) TRIAC con DIAC y doble red
RC
4.4.1. PROCEDIMIENTO:
PARTE A. En el laboratorio No. 4.2, de este capı́tulo, se encontró el voltaje
de conmutación del DIAC propuesto (±VBO ). Con este valor se calcula
el ángulo de retardo de disparo conociendo el voltaje de conmutación
del DIAC. De nuevo se tiene en cuenta que: V (t) = VO Sen̟t, y con-
secuentemente VC = VBO . De hecho también se hallará R1 .
Para calcular (R1 + R2 ), con C1 = 0,1µf (250V ), se puede tomar un
valor del tiempo de retardo de disparo cercano a 8ms.
Montar el circuito de la figura 4.5(a), colocar las sondas de medida del
osciloscopio, tal como se explicó en prácticas anteriores, tomando nota
de cada detalle y solucionando las mismas inquietudes planteadas allı́.
85
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
86
4.5. CONTROL DEL TRIAC CON OPTOACOPLADOR
RL
4.5.1. PROCEDIMIENTO:
Se desea a implementar el diseño plasmado en la figura 4.6, en la cual, se tiene
un OP T OT RIAC controlando un T RIAC y éste a su vez, controlará el motor
universal, RL , alimentado por la red ca del laboratorio.
87
CAPÍTULO 4. LABORATORIOS ELECTRÓNICA INDUSTRIAL
Una vez realizados todos los cálculos, montar el circuito y verificar y medir
con el osciloscopio las señales en el T RIAC , OP T OT RIAC y en la carga
RL en los estados de encendido y apagado.
NOTA: Los T RIAC se pueden instalar en cascada, esto es, el T RIAC de la figura
4.6 podrı́a controlar otro T RIAC de mayor potencia realizando los cálculos prece-
dentes. Esto permite optimizar un diseño existente de una manera más práctica.
88
CAPÍTULO 5
ANEXOS
89
CAPÍTULO 5. ANEXOS
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5.1. TRANSISTOR DE MEDIANA POTENCIA BD135
91
CAPÍTULO 5. ANEXOS
92
5.1. TRANSISTOR DE MEDIANA POTENCIA BD135
93
CAPÍTULO 5. ANEXOS
94
5.2. TRANSISTOR DE MEDIANA POTENCIA TIP 41
95
CAPÍTULO 5. ANEXOS
96
5.3. TRANSISTOR DE POTENCIA 2N3055
97
CAPÍTULO 5. ANEXOS
98
5.4. TABLA DE DIODOS 1N4XXX
99
CAPÍTULO 5. ANEXOS
100
5.4. TABLA DE DIODOS 1N4XXX
101
CAPÍTULO 5. ANEXOS
102
5.5. PUENTES DE DIODOS
103
CAPÍTULO 5. ANEXOS
5.6. TRIACS
104
5.6. TRIACS
105
CAPÍTULO 5. ANEXOS
106
5.6. TRIACS
107
CAPÍTULO 5. ANEXOS
108
5.7. EL TIRISTOR SCR 106
109
CAPÍTULO 5. ANEXOS
110
5.7. EL TIRISTOR SCR 106
111
CAPÍTULO 5. ANEXOS
112
5.8. EL OPTOACOPLADOR MOC3010
[IFT = 15 mA Max]
GlobalOptoisolator
]
[IFT = 10 mA Max]
[IFT = 5 mA Max]
(250 Volts Peak)
*Motorola Preferred Device
The MOC3010 Series consists of gallium arsenide infrared emitting diodes,
optically coupled to silicon bilateral switch and are designed for applications
requiring isolated triac triggering, low–current isolated ac switching, high
electrical isolation (to 7500 Vac peak), high detector standoff voltage, small STYLE 6 PLASTIC
size, and low cost.
To order devices that are tested and marked per VDE 0884 requirements, the
suffix ºVº must be included at end of part number. VDE 0884 is a test option.
6
Recommended for 115 Vac(rms) Applications: 1
113
CAPÍTULO 5. ANEXOS
114
5.8. EL OPTOACOPLADOR MOC3010
ZL
RL
VCC Rin 1 180 2.4 k
VCC Rin 1 180 6
6 120 V 120 V
MOC3010
MOC3010 60 Hz 2 MOC3011 60 Hz
2 0.1µ F C1
MOC3011 MOC3012
MOC3012 4 4
Figure 7. Resistive Load Figure 8. Inductive Load with Sensitive Gate Triac
(IGT
ZL
VCC Rin 1 180 1.2 k
6 120 V
MOC3010 60 Hz
2 MOC3011 0.2µ F C1
MOC3012 4
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CAPÍTULO 5. ANEXOS
116
5.9. TABLA DE TRANSISTORES CARACTERÍSTICAS
117
CAPÍTULO 5. ANEXOS
118
5.9. TABLA DE TRANSISTORES CARACTERÍSTICAS
119
CAPÍTULO 5. ANEXOS
120
5.9. TABLA DE TRANSISTORES CARACTERÍSTICAS
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CAPÍTULO 5. ANEXOS
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Bibliografı́a
[9] SAVANT, C.J, RODEN, M.S y CARPENTER, G.L (2000) Diseño Electrónico.
Addison Wesley, USA.
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Referencias Bibliografı́cas
[10] SEDRA, A.S, SMITH, K.C. (1998) Circuitos microelectrónicos. Oxford Uni-
versity Press, USA.
[15] PRIAS BARRAGAN Jhon Jairo, PADILLA BEJARANO, José Bestier, PI-
RAQUIVE MUÑOZ Nelson (2008).Diseño de circuitos con diodos y transis-
tores. Arte Imagen, Colombia
[16] www.datasheetcatalog.net
[17] www.wordpress.agustinborrego.es
124