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    Microscopía Electrónica de Barrido

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    El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) permite obtener imágenes tridimensionales de la morfología externa de una muestra a escalas entre unos pocos milímetros y nanómetros, lo que lo hace adecuado para estudiar la estructura y ultraestructura de una muestra. La microscopía electrónica de barrido es una de las técnicas más versátiles para estudiar las características microestructurales de objetos sólidos y observar muestras relacionadas con ciencia de materiales y materiales biol

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    Microscopía Electrónica de Barrido

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    El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) permite obtener imágenes tridimensionales de la morfología externa de una muestra a escalas entre unos pocos milímetros y nanómetros, lo que lo hace adecuado para estudiar la estructura y ultraestructura de una muestra. La microscopía electrónica de barrido es una de las técnicas más versátiles para estudiar las características microestructurales de objetos sólidos y observar muestras relacionadas con ciencia de materiales y materiales biol

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    El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) permite obtener imágenes tridimensionales de la morfología externa de una muestra a escalas entre unos pocos milímetros y nanómetros, lo que lo hace adecuado para estudiar la estructura y ultraestructura de una muestra. La microscopía electrónica de barrido es una de las técnicas más versátiles para estudiar las características microestructurales de objetos sólidos y observar muestras relacionadas con ciencia de materiales y materiales biol

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    Microscopía Electrónica de Barrido

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    El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) permite obtener imágenes tridimensionales de la morfología externa de una muestra a escalas entre unos pocos milímetros y nanómetros, lo que lo hace adecuado para estudiar la estructura y ultraestructura de una muestra. La microscopía electrónica de barrido es una de las técnicas más versátiles para estudiar las características microestructurales de objetos sólidos y observar muestras relacionadas con ciencia de materiales y materiales biol

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    El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM, Scanning Electron Microscope) es un instrumento

    que proporciona imágenes tridimensionales de la morfología externa de una muestra,


    permitiendo la observación y la caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos,
    mediante contraste topográfico o composicional. El rango de tamaños observables mediante el
    SEM (entre unos pocos milímetros y unos pocos nanómetros) hace que sea el instrumento
    adecuado para el estudio de la estructura y ultraestructura de una muestra.

    La microscopía electrónica de barrido es utilizada como una de las técnicas más versátiles en
    el estudio y análisis de las características microestructurales de objetos sólidos. Esta técnica
    nos permite observar muestras relacionadas con el campo de la ciencia de materiales y de
    materiales biológicos. Otra característica importante de microscopía electrónica de barrido
    (SEM) es que podemos observar muestras en tres dimensiones en contraste con la
    microscopía electrónica de transmisión (TEM) en donde las muestras son observadas en dos
    dimensiones, lo cual representa una pérdida en información relacionada con el espesor.

    Microfotografía SEM de un sólido laminar,Pb(HPO4)2.H2O

    Aplicaciones
    Algunas de las aplicaciones más importantes de estas técnicas son:

    ● Estructura y ultraestructura de tejidos y órganos animales y vegetales.


    ● Patologías animales y vegetales.
    ● Estudios capilares.
    ● Aplicaciones en hematología, dermatología, odontoestomatología y
    biomateriales
    ● Estudios forenses (búsqueda de partículas, tejidos, hilos
    micrométricos...).
    ● Identificación y/o caracterización de material arqueológico.
    ● Biodeterioro de obras de arte.
    ● Estudios de materiales de construcción.
    ● Aplicaciones en petrología y mineralogía.
    ● Estudios de corrosión de metales y aleaciones.
    ● Segregaciones y defectos microscópicos.
    ● Caracterización de materiales cerámicos.
    ● Electrónica.
    ● La segregación y porosidad en plásticos y materiales poliméricos.
    ● Estudios de plásticos reforzados
    ● Estudio de partículas

    EQUIPAMIENTOS
    Estudio de materiales

    Caracterización microestructural de materiales. Identificación, análisis de


    fases cristalinas y transiciones de fases en diversos materiales tales como
    metales, cerámicos, materiales compuestos, semiconductores, polímeros y
    minerales. Composición de superficies y tamaño de grano. Valoración del
    deterioro de materiales, determinación del grado de cristalinidad y presencia
    de defectos. Identificación del tipo de degradación: fatiga, corrosión,
    fragilización, etc.

    BIBLIOGRAFÍAS

    Physical Principles of Electron Microscopy. An introduction to TEM, SEM, and


    AEM

    Ray.F Egerton

    Edit. Springer

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