UNIVERSIDAD NACIONAL DEL COMAHUE

FACULTAD DE INGENIERÍA

ÁREA: ELECTROTECNIA.

CARRERA: INGENIERÍA ELECTRÓNICA.

Informe de laboratorio N°5

Tema: Estrategias de medición de impedancia.

Asignatura: Mediciones eléctricas y electrónicas

Integrantes:

● Ameijenda, Juan M. (ameijuanma2013@gmail.com)

● Hevia, Matias. (pyf.matias@gmail.com)
● Lohrengel, Facundo. (faculohrengel@gmail.com)
● Zarrabeitia, Angel N. (angel.n.zarra@gmail.com)

Fecha de entrega: 17/11/2022

Fecha de corrección: NOTA:

 Laboratorio N°5: Estrategias de medición de impedancia.
Cátedra: Mediciones Eléctricas/Mediciones Eléctricas y Electrónicas
Departamento de Electrotecnia ─ UNCo

● OBJETIVO

Este laboratorio tiene como finalidad caracterizar dos capacitores, uno electrolítico y otro
cerámico mediante dos estrategias diferentes de medida, la primera involucra un circuito
resistencia-capacitor (RC) en serie a distintas frecuencias y en la segunda se aplica un
medidor RLC que tiene como limitante una única frecuencia de 1 KHz.

● INTRODUCCIÓN

La medición de impedancia es un proceso fundamental a la hora de caracterizar sistemas

y/o componentes electrónicos que van a trabajar utilizando señales variantes en el tiempo.
Existen diferentes estrategias para llevar adelante este proceso de caracterización, las
cuales se diferencian principalmente por la capacidad de medir la frecuencia fija o variable,
y por la metodología utilizada para definir los elementos que componen el valor de
impedancia. En este caso se van a aplicar dos metodologías de medición diferentes con el
fin de analizar la capacitancia de dos capacitores basados en distintas tecnologías (uno
electrolítico y otro cerámico). En la primera, se hará uso de un circuito formado por una
resistencia y un capacitor conectados en serie a un generador de funciones. El esquema
básico del mismo se ve en la siguiente figura

Figura 1: Circuito RC serie utilizado para la caracterización de la capacitancia C en función de la frecuencia.

Este proceso de medición permite, debido al uso de un generador de funciones, realizar el

análisis a diferentes frecuencias.
Mediante la medición de la señal de tensión generada sobre la resistencia y el análisis del
divisor de tensión formado por la resistencia y el capacitor, es posible obtener el valor de
capacitancia que caracterizará la impedancia del componente. Viendo la figura 1 se puede
deducir la fórmula del divisor de tensión dado por:
2 2
𝑉𝑅 = 𝑉𝑔
|
𝑅
𝑅 + 𝑗𝑋𝑐 | donde |𝑅 + 𝑗𝑋𝑐 = | 𝑅 + (1/2π𝑓𝐶)
Realizando una serie de despejes se obtiene la fórmula para obtener la capacitancia (en
faradios) en función de los parámetros de la figura 1:
𝑉
𝐶 = 𝑅
[F] (1)
2 2
2π𝑓*𝑅* 𝑉𝑔 − 𝑉𝑅

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 Laboratorio N°5: Estrategias de medición de impedancia.
Cátedra: Mediciones Eléctricas/Mediciones Eléctricas y Electrónicas
Departamento de Electrotecnia ─ UNCo

Donde:
𝑉𝑔 = 𝑆𝑒ñ𝑎𝑙 𝑠𝑒𝑛𝑜𝑖𝑑𝑎𝑙 𝑑𝑒𝑙 𝑔𝑒𝑛𝑒𝑟𝑎𝑑𝑜𝑟 𝑑𝑒 𝑓𝑢𝑛𝑐𝑖𝑜𝑛𝑒𝑠 𝑐𝑜𝑛 𝑎𝑚𝑝𝑙𝑖𝑡𝑢𝑑 𝑐𝑜𝑛𝑜𝑐𝑖𝑑𝑎 [𝑉]
𝑓 = 𝐹𝑟𝑒𝑐𝑢𝑒𝑛𝑐𝑖𝑎 𝑐𝑜𝑛𝑜𝑐𝑖𝑑𝑎 𝑑𝑒 𝑙𝑎 𝑠𝑒ñ𝑎𝑙 𝑝𝑟𝑜𝑣𝑒𝑛𝑖𝑒𝑛𝑡𝑒 𝑑𝑒𝑙 𝑔𝑒𝑛𝑒𝑟𝑎𝑑𝑜𝑟 𝑑𝑒 𝑓𝑢𝑛𝑐𝑖𝑜𝑛𝑒𝑠 [𝐻𝑧]
𝑅 = 𝑉𝑎𝑙𝑜𝑟 𝑑𝑒 𝑙𝑎 𝑟𝑒𝑠𝑖𝑠𝑡𝑒𝑛𝑐𝑖𝑎 𝑐𝑜𝑛𝑒𝑐𝑡𝑎𝑑𝑎 𝑎𝑙 𝑐𝑖𝑟𝑐𝑢𝑖𝑡𝑜 [Ω]
𝑉𝑅 = 𝑆𝑒ñ𝑎𝑙 𝑑𝑒 𝑡𝑒𝑛𝑠𝑖ó𝑛 𝑠𝑜𝑏𝑟𝑒 𝑙𝑎 𝑟𝑒𝑠𝑖𝑠𝑡𝑒𝑛𝑐𝑖𝑎 [𝑉]

La segunda forma de medición será a través de un medidor RLC. El mismo es un

instrumento comercial que ejecuta la caracterización mediante una comparación de fases
entre señales de referencia. El sistema entregará no sólo el valor de capacitancia sino
también el componente de pérdida resistiva. El limitante de este dispositivo es que trabaja
solo a una frecuencia fija de 1 KHz.

● DESARROLLO

Actividad 1: Medición de capacitancia a través de un circuito RC serie

Para llevar a cabo la actividad se realizó el conexionado del circuito de la figura 1 sobre una
protoboard utilizando una resistencia medida de 468,6Ω. Luego se excitó el circuito con una
señal senoidal proveniente del generador de funciones con una amplitud conocida y fija de
4VPP, y variando la frecuencia desde 1 Hz hasta 10 MHz, con saltos de potencias de 10.

Se midió la caída de tensión a extremos de la resistencia según la figura 1 y se calculó la

capacitancia C para cada medición, según la ecuación (1). Los datos obtenidos para dos
capacitores distintos ( electrolítico de 10μF y cerámico de 1.2nF) se muestran en las tablas
1 y 2.

𝑉𝑅 (𝑉) 𝐶1(𝐹)
𝑓(𝐻𝑧)
−6
1 0,02 1, 70𝑥10
−5
10 1,3 1, 17𝑥10
−6
100 3,36 5, 26𝑥10
−7
1000 3,56 6, 63𝑥10
−8
10000 3,56 6, 63𝑥10
−9
100000 3,6 7, 01𝑥10
−10
1000000 3,58 6, 81𝑥10
−10
10000000 3,92 1, 67𝑥10
Tabla 1: Tensión y Capacitancia medidas con el Capacitor de 10μF

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𝑉𝑅 (𝑉) 𝐶2(𝐹)
𝑓(𝐻𝑧)
1 0 0
−8
10 0,0032 2, 72𝑥10
−9
100 0,0032 2, 72𝑥10
−9
1000 0,016 1, 36𝑥10
−9
10000 0,136 1, 16𝑥10
−9
100000 1,23 1, 10𝑥10
−10
1000000 3,42 5, 6𝑥10
−10
10000000 3,88 1, 36𝑥10
Tabla 2: Tensión y Capacitancia medidas con el Capacitor de 1.2nF

Para una mejor apreciación de la variación, se muestra en las figuras 2 y 3 las gráficas en
escala semilogaritmica de la capacitancia medida en función de la frecuencia.

Figura 2: Distintos valores de capacitancia del capacitor de 10μF en función de la frecuencia.

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Figura 3: Distintos valores de capacitancia del capacitor de 1.2nF en función de la frecuencia.

Actividad 2: Medición de capacitancia a través de un medidor RLC

Para esta actividad se midieron los mismos capacitores utilizando un medidor RLC Fluke
modelo PM6303, el cual trabaja a una frecuencia de 1kHz y arroja valores como impedancia
(módulo y ángulo), capacitancia serie, capacitancia paralelo, factor de calidad, disipación y
resistencia serie y paralelo. Los datos correspondientes a cada capacitor se muestran en la
tabla 3.

Parámetro 𝐶1 𝐶2
Z[Ω] 18,51 140,2
−6 −9
Cp[F] 8, 31𝑥10 1, 14𝑥10
−6 −9
Cs[F] 8, 8𝑥10 1, 14𝑥10
6
Rp[Ω] 77, 26 45, 5𝑥10
Rs[Ω] 4,51 441
Q 4 306
𝜙[°] -75,9 -89,8
D 0,251 0,003
Tabla 3: Parámetros medidos con el medidor Fluke en ambos capacitores

De esta tabla nos interesan los valores de capacitancia y resistencia en serie, para
comparar las mediciones obtenidas con el método anterior.

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● CONCLUSIÓN

En la primera experiencia el capacitor utilizado era de 10 µF. Cuando utilizamos el circuito

RC para medir su capacitancia se obtuvieron valores cercanos al esperado para frecuencias
bajas, menores a 1000 Hz, y se desviaba considerablemente la capacitancia resultante
cuando la frecuencia de trabajo era aumentada. Esto puede verse caracterizado en la tabla
1, donde se obtuvieron resultados del orden del microfaradio para bajas frecuencias y para
altas frecuencias los resultados rondaron los nanofaradios. Como se puede ver en la
ecuación 1, los parámetros que varían de esa ecuación son 𝑉𝑅 y 𝑓. Al observar la tabla, se
ve que los valores de 𝑉𝑅 aumentan a medida que aumenta la frecuencia, lo cual es de
esperarse debido a la naturaleza del capacitor, que se comporta como un circuito cerrado,
dejando que todo el voltaje caiga en la resistencia R (viéndolo desde la fórmula
𝑋𝐶 = 1/2π𝑓𝐶 se puede ver que tiende a presentar menor resistencia al aumentar la
frecuencia y tiende a comportarse como un cable). Volviendo a la ecuación 1, los valores de
𝑉𝑅 aumentan desde 0 a 4V, viendo la tabla 1, mientras que los valores de la frecuencia
aumentan desde 1 a 10 MHz. Dado que estos últimos están en el denominador, hacen que
2 2
los valores de la ecuación tiendan a 0. En el denominador aparece el factor 𝑉𝑔 − 𝑉𝑅
que tiende a valores bajos a medida que aumenta la frecuencia, pero no lo suficiente para
que, al multiplicarse por la frecuencia, logre dar un valor cercano al valor del capacitor. En
definitiva, la tendencia a la disminución de la capacitancia como se ve en la figura 2,
concuerda con lo calculado en la ecuación. Comparando este valor al medido luego en la
actividad 2, se puede ver que el valor es de 8,8 µF a 1 kHz, que no coincide con el valor de
la figura 2 a 1 kHz. Esto se debe a que el medidor RLC contempla las pérdidas de potencia
activa del capacitor, utilizando un modelo RC paralelo, mientras que el otro método lo
considera ideal.

En la segunda experiencia el capacitor utilizado era de 1.2 nF. En este caso, el análisis
hecho respecto a la 𝑉𝑅 y 𝑓 con su relación a la ecuación 1 se repite haciendo que se
obtengan valores más bajos de C a medida que aumenta la frecuencia. Viendo la figura 3,
los valores cercanos al esperado ocurren entre 1kHz y 100kHz. Comparándolo con el valor
obtenido gracias a la actividad 2, el valor obtenido es de 1,14 nF a 1 kHz, que resulta mucho
más cercano al valor de 1,36 nF a 1 kHz que se puede ver en la tabla 2. Esto se debe a que
la resistencia paralelo del último capacitor es mucho mayor a la del anterior, por lo cual su
efecto es menos notorio.

Como punto fuerte, la actividad 1 tiene la ventaja de que puede verse los valores del
capacitor variando la frecuencia. Sin embargo hay muchos factores de error que pueden
aparecer, como el valor de la resistencia R que debe elegirse convenientemente para evitar
que a la frecuencia de interés resulte mayor (o en el mismo orden) que la reactancia del
capacitor o valores parásitos que pueden aparecer en el circuito debido a que está armado
en una protoboard. En cambio, la actividad 2 tiene como ventaja que el valor es más preciso
o cercano al esperado por el capacitor; sin embargo está limitado a una sola frecuencia y no
puede verse el cambio que efectúa la misma sobre el capacitor.