Práctica 2. CPK Y CP
Título mejorado con IA
CPK Y CPProf. Sergio Raymundo Romero Montemayor Ingeniería de la Calidad
Integrantes: Debanhi Jetlanetzy Alba Garza Axel Emanuel García Gaytán Christian Ernesto de los Santos Castilla Diagrama de Pareto de Defecto 700 100
600 80 500Conteo*Costo
Porcentaje 60 400
300 40
200
20 100
0 0 Defecto E puntadas E dobladillo Def tejido Tej mal alin Hilo flojo Botón falt Conteo*Costo 211.7 181.9 112.5 92.2 59.6 36.9 Porcentaje 30.5 26.2 16.2 13.3 8.6 5.3 % acumulado 30.5 56.7 72.8 86.1 94.7 100.0
14 80
12
Porcentaje 10 60 Costo
8 40 6
4 20 2
0 0 Defecto Tej mal alin Def tejido E dobladillo E puntadas Hilo flojo Botón falt Costo 5.12 4.89 4.23 1.89 0.89 0.17 Porcentaje 29.8 28.4 24.6 11.0 5.2 1.0 % acumulado 29.8 58.2 82.8 93.8 99.0 100.0
