FA046161 ISSN 0335-3931

norme européenne NF EN ISO 4287

Décembre 1998

Indice de classement : E 05-015

ICS : 01.040.17 ; 17.040.20

Spécification géométrique des produits (GPS)

État de surface : Méthode du profil
Termes, définitions et paramètres d’état de surface

E : Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture : Profile method —

Terms, definitions and surface texture parameters
D : Geometrische Produktspezifikationen (GPS) — Oberflächenbeschaffenheit :
Tastschnittverfahren — Benennungen, Definitionen und Kenngrößen der
Oberflächenbeschaffenheit
© AFNOR 1998 — Tous droits réservés

Norme française homologuée

par décision du Directeur Général d’AFNOR le 20 novembre 1998 pour prendre effet
le 20 décembre 1998.
Remplace, avec la norme homologuée NF EN ISO 12085 (indice de classement :
E 05-020), la norme expérimentale E 05-015, de septembre 1984.

Correspondance La norme européenne NF EN ISO 4287:1998, avec son corrigendum AC:2008, a le

statut de norme française. Elle reproduit intégralement la Norme internationale
ISO 4287:1997 et ses rectificatif technique 1:1998 et 2:2005.

Analyse Dans la série de normes relatives à la mesure de l’état de surface par la méthode
dite du profil, le présent document définit les paramètres du profil primaire, du profil
d’ondulation et du profil de rugosité, et fixe la terminologie correspondante.

Descripteurs Thésaurus International Technique : état de surface, défaut de surface, mesu-

rage, critère de profil, ondulation, rugosité, définition.

Modifications Par rapport au document remplacé :

— suppression des articles relatifs à la méthode dite «des motifs» (objet de la norme
NF EN ISO 12085) ;
— mise en conformité avec le texte ISO.

Corrections Par rapport au 1er tirage, incorporation du corrigendum AC, d’octobre 2008, qui
prend en compte l’ajout des rectificatif technique 1:1998 et 2:2005 à ISO 4287:1997.

Éditée et diffusée par l’Association Française de Normalisation (AFNOR) — 11, rue Francis de Pressensé — 93571 La Plaine Saint-Denis Cedex
Tél. : + 33 (0)1 41 62 80 00 — Fax : + 33 (0)1 49 17 90 00 — www.afnor.org

© AFNOR 1998 AFNOR 1998 2e tirage 2009-02-P

GPS — Spécifications UNM 08

Membres de la commission de normalisation

Président : M BOMBARDELLI
Secrétariat : MME LUBINEAU et M DELAMASURE — UNM

M BALLU LMP
MME BAUDUIN AFNOR
M BOMBARDELLI SNECMA
M BONDIGUET RENAULT AUTOMOBILES
M BONJUS CIMI
M BOUCHAREINE IOTA
M CHANTOME AEROSPATIALE
M CHEVALIER MINISTERE DE L’EDUCATION
M CONTET SOMICRONIC
M COOREVITZ ENSAM
M CORDEBOIS DASSAULT AVIATION
M DELHOMME EDUCATION NATIONALE
M GEORGE SMG CONSULTANTS
M LACHEAU SCHNEIDER ELECTRIC
M LIETVEAUX BNIF
M MARIE PSA PEUGEOT CITROEN
M MATHIEU ENS CACHAN
M MEFREDJ GIAT INDUSTRIES
M MESTRE ENS CACHAN
M RIVIERE ISMCM
M SPENLE EDUCATION
M VINCENT CETIM

Avant-propos national

1) Erreurs techniques
Des erreurs techniques — dont certaines sont importantes — ont été constatées dans le texte de la norme
ISO 4287. Elles ont été signalées à l’ISO et devraient être prises en compte dans une prochaine révision.
Il a paru important que le lecteur de la norme soit informé de ces erreurs ; à cet effet, la présente annexe reprend
la partie française de la norme ISO en y incorporant les modifications demandées. Les textes à modifier sont bar-
rés ; les textes proposés sont en italique et soulignés.

2) Références aux normes françaises

La correspondance entre les normes mentionnées à l’article «Références normatives» et les normes françaises
identiques est la suivante :
ISO 3274 : NF EN ISO 3274 (indice de classement : E 05-052)
ISO 4288 : NF EN ISO 4288 (indice de classement : E 05-054)
ISO 11562 : NF EN ISO 11562 (indice de classement : E 05-055)
 —3— NF EN ISO 4287:1998

Annexe A
(informative)
Erreurs techniques sur la norme ISO 4287:1997

Init numérotation des tableaux d’annexe [A]!!!

Init numérotation des figures d’annexe [A]!!!
Init numérotation des équations d’annexe [A]!!!

Des erreurs techniques — dont certaines sont importantes — ont été constatées dans le texte de la norme
ISO 4287. Elles ont été signalées à l’ISO et devraient être prises en compte dans une prochaine révision.
Il a paru important que le lecteur de la norme soit informé de ces erreurs ; à cet effet, la présente annexe reprend
la partie française de la norme ISO en y incorporant les modifications demandées. Les textes à modifier sont
barrés ; les textes proposés sont en italique et soulignés.

1 Domaine d’application
La présente Norme internationale prescrit les termes, définitions et paramètres pour la détermination de l’état de
surface (profils de rugosité, d’ondulation et profil primaire) par les méthodes de profil.

2 Références normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui en est faite, constituent des
dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au moment de la publication, les éditions indiquées
étaient en vigueur. Toute norme est sujette à révision et les parties prenantes des accords fondés sur la présente
Norme internationale sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus récentes des normes
indiquées ci-après. Les membres de la CEI et de l’ISO possèdent le registre des Normes internationales en
vigueur à un moment donné.
ISO 3274:1996, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface : Méthode du profil — Caracté-
ristiques nominales des instruments à contact (palpeur).
ISO 4288:1996, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface : Méthode du profil — Règles
et procédures pour l’évaluaution de l’état de surface.
ISO 11562:1996, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface : Méthode du profil — Carac-
téristiques métrologiques des filtres à phase correcte.

3 Termes et définitions

3.1 Définitions générales

3.1.1
filtre de profil
filtre qui sépare le profil en composantes de longueur d’onde longue et composantes de longueur d’onde courte
[ISO 11562]
NOTE Trois filtres sont utilisés dans les instruments de mesure des profils de rugosité, d’ondulation et du profil primaire
(voir figure 1). Ils ont tous les mêmes caractéristiques de transmission, définies dans l’ISO 11562, mais des longueurs
d’onde de coupure différentes.
NF EN ISO 4287:1998 —4—

3.1.1.1
filtre de profil λs
filtre qui définit la séparation entre les composantes de rugosité et les composantes d’onde encore plus courtes
présentes sur la surface (voir la figure 1)

3.1.1.2
filtre de profil λc
filtre qui définit la séparation entre les composantes de rugosité et d’ondulation (voir la figure 1)

3.1.1.3
filtre de profil λf
filtre qui définit la séparation entre les composantes d’ondulation et les composantes d’onde encore plus longues
présentes sur la surface (voir la figure 1)

Figure 1 — Bande de transmission des profils de rugosité et d’ondulation

3.1.2
système de coordonnées
système de coordonnées dans lequel les paramètres d’état de surface sont définis
NOTE Il est courant d’utiliser un système orthogonal de coordonnées cartésiennes de sens direct, l’axe des X étant
dans la direction du palpage et confondu avec la ligne moyenne, l’axe des Y étant théoriquement dans le plan de la surface
réelle, et l’axe des Z étant dirigé vers l’extérieur (de la matière vers le milieu environnant). Cette convention est celle adop-
tée tout au long de la présente Norme internationale.
 —5— NF EN ISO 4287:1998

3.1.3
surface réelle
surface qui limite le corps et le sépare du milieu environnant

3.1.4
profil de surface
profil résultant de l’intersection de la surface réelle et d’un plan spécifié
ligne qui résulte de l’intersection de la surface réelle par un plan de coupe donné
Voir la figure 2.
NOTE En pratique, il est courant de choisir un plan dont une normale est théoriquement parallèle à la surface réelle et
de direction appropriée.

Figure 2 — Profil de surface

3.1.5
profil primaire
Voir l’ISO 3274.
NOTE Le profil primaire sert de base à l’évaluation des paramètres de profil primaire.

3.1.6
profil de rugosité
profil dérivé du profil primaire par suppression des composantes de grande longueur d’onde, en appliquant le filtre
de profil λc ; ce profil est intentionnellement modifié
Voir la figure 1.
NOTE 1 La bande de transmission des profils de rugosité est définie par les filtres de profil λs et λc (voir
l’ISO 11562:1996, paragraphes 2.6 et 3.2).

NOTE 2 Le profil de rugosité sert de base à l’évaluation des paramètres du profil de rugosité.

NOTE 3 La relation par défaut entre λc et λs est donnée dans l’ISO 3274:1996, paragraphe 4.4.
NF EN ISO 4287:1998 —6—

3.1.7
profil d’ondulation
profil dérivé du profil primaire par application successive des filtres de profil λf et λc, supprimant ainsi les compo-
santes de grande longueur d’onde à l’aide du filtre de profil λf, et les composantes de faible longueur d’onde à
l’aide du filtre de profil λc ; ce profil est intentionnellement modifié
NOTE 1 Il convient dans un premier temps d’enlever la forme nominale du profil total par les méthodes des moindres
carrés, avant d’appliquer le filtre de profil λf pour séparer le profil d’ondulation. En cas de forme nominale circulaire, il est
recommandé d’inclure le rayon dans l’optimisation des moindres carrés plutôt que de le fixer à sa valeur nominale. Cette
procédure de séparation du profil d’ondulation définit l’opérateur d’ondulation idéal.
NOTE 2 La bande de transmission des profils d’ondulation est définie par les filtres de profil λc et λf (voir
l’ISO 11562:1996, paragraphes 2.6 et 3.2).

NOTE 3 Le profil d’ondulation sert de base à l’évaluation des paramètres du profil d’ondulation.

3.1.8 Lignes moyennes

3.1.8.1
ligne moyenne du profil de rugosité
ligne qui correspond à la composante de profil de grande longueur d’onde supprimée par le filtre de profil λc
(Voir l’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)

3.1.8.2
ligne moyenne du profil d’ondulation
ligne qui correspond à la composante de profil de grande longueur d’onde supprimée par le filtre de profil λf
(Voir l’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)

3.1.8.3
ligne moyenne du profil primaire
ligne déterminée en calculant, à partir du profil primaire, une ligne des moindres carrés de forme nominale

3.1.9
longueur de base
lp, lr, lw
longueur, dans la direction de l’axe des X la ligne moyenne, utilisée pour identifier les irrégularités caractérisant
le profil à évaluer
NOTE Les longueurs de base des profils de rugosité, lr, et d’ondulation, lw, sont égales, en valeur numérique, aux lon-
gueurs d’onde caractéristiques des filtres de profil λc et λf respectivement. La longueur de base du profil primaire, lp, est
égale à la longueur d’évaluation.

3.1.10
longueur d’évaluation
ln
longueur, dans la direction de l’axe des X la ligne moyenne, utilisée pour établir le profil à évaluer
NOTE 1 La longueur d’évaluation peut comprendre une ou plusieurs longueurs de base.

NOTE 2 Pour les longueurs d’évaluation par défaut, voir l’ISO 4288:1996, paragraphe 4.4. L’ISO 4288 ne donne pas de
longueur d’évaluation par défaut des paramètres W.

3.2 Définitions géométriques

3.2.1
paramètre de préfixe P
paramètre calculé sur le profil primaire
 —7— NF EN ISO 4287:1998

3.2.2
paramètre de préfixe R
paramètre calculé sur le profil de rugosité

3.2.3
paramètre de préfixe W
paramètre calculé sur le profil d’ondulation
NOTE Les paramètres définis à l’article 4 peuvent être calculés sur l’un ou l’autre des profils. La première lettre majus-
cule du symbole du paramètre dénote le profil évalué. Ainsi, Ra est calculé sur le profil de rugosité et Pt sur le profil primaire.

3.2.4
saillie du profil
Partie du profil évalué, dirigée vers l’extérieur (de la matière vers le milieu environnant) et reliant deux intersections
consécutives du profil avec l’axe des X la ligne moyenne

3.2.5
creux du profil
partie du profil évalué, dirigée vers l’intérieur (du milieu environnant vers la matière) et reliant deux intersections
consécutives du profil avec l’axe des X la ligne moyenne

3.2.6
discrimination de hauteur et/ou d’espacement
hauteur minimale et espacement minimal des saillies et des creux du profil évalué qu’il convient de prendre en
considération
NOTE La hauteur minimale des saillies et des creux du profil est habituellement spécifiée sous forme de pourcentage
de Pz, Rz, Wz ou d’un autre paramètre d’amplitude, et l’espacement minimal en pourcentage de la longueur de base.

3.2.7
élément du profil
Saillie du profil et puis creux adjacent
Voir la figure 3.

Figure 3 — Élément du profil

NOTE Il convient de toujours compter les portions positives ou négatives du profil évalué en début ou en fin de longueur
de base comme des saillies ou des creux du profil. Lorsqu’on détermine les éléments du profil sur plusieurs longueurs de
base consécutives, les saillies et creux du profil situés en début et en fin de chaque longueur de base sont comptés une
seule fois, au début de chaque longueur de base.
NF EN ISO 4287:1998 —8—

3.2.8
ordonnée
Z(x)
hauteur du profil évalué en une position quelconque x
hauteur du profil
Z(x)
ordonnée du profil pour une abscisse x sur la ligne moyenne
NOTE La hauteur a une valeur négative si l’ordonnée est située au-dessous de l’axe des X la ligne moyenne, et une
valeur positive dans le cas contraire.

3.2.9
pente locale
dZ
-------
dX
pente du profil évalué à un point xi
Voir la figure 4.
NOTE 1 La valeur numérique de la pente locale et donc les paramètres PΔq, RΔq et WΔq, dépendent étroitement du
pas ΔX.
NOTE 2 La pente locale peut être estimée par la formule

dz i
------- = --------------- ⎛⎝ z i + 3 – 9z i + 2 + 45z i + 1 – 45z i – 1 + 9z i – 2 – z i – 3⎞⎠
1
dx 60ΔX

où zi est la hauteur du ième point du profil et ΔX le pas entre deux points adjacents du profil. Il convient d’utiliser la formule
ci-dessus pour le pas d’échantillonnage spécifié dans l’ISO 3274 en fonction du filtre utilisé.

Figure 4 — Pente locale

3.2.10
hauteur d’une saillie du profil
Zp
distance entre l’axe des X et le hauteur du profil correspondant au point le plus haut de la saillie du profil
Voir la figure 3.

3.2.11
profondeur d’un creux du profil
Zv
distance entre l’axe des X et le hauteur du profil correspondant au point le plus bas du creux du profil
Voir la figure 3.
 —9— NF EN ISO 4287:1998

3.2.12
hauteur d’un élément du profil
Zt
somme de la hauteur de la saillie et de la profondeur du creux de l’élément du profil
Voir la figure 3.

3.2.13
largeur d’un élément du profil
Xs
longueur du segment de l’axe des X la ligne moyenne qui est coupée par l’élément du profil
Voir la figure 3.

3.2.14
longueur portante du profil à un niveau c
Ml(c)
somme des longueurs des segments obtenus en coupant l’élément du le profil par une droite parallèle à l’axe des
X à un niveau donné, c la ligne moyenne, à un niveau de coupe donné, c, sur la longueur d’évaluation
Voir la figure 5.

Figure 5 — Longueur portante

3.2.15
niveau de coupe
distance entre le point le plus haut du profil et une ligne parallèle à la ligne moyenne

4 Définitions des paramètres de profil

4.1 Paramètres d’amplitude (saillie et creux)

4.1.1
hauteur maximale de saillie du profil
Pp, Rp, Wp
plus grande des hauteurs de saillie du profil, Zp, à l’intérieur d’une longueur de base
Voir la figure 6.
NF EN ISO 4287:1998 — 10 —

Figure 6 — Hauteur maximale de saillie du profil (exemple d’un profil de rugosité)

4.1.2
profondeur maximale de creux du profil
Pv, Rv, Wv
plus grande des profondeurs de creux du profil, Zv, à l’intérieur d’une longueur de base
Voir la figure 7.

Figure 7 — Profondeur maximale de creux du profil (exemple d’un profil de rugosité)

 — 11 — NF EN ISO 4287:1998

4.1.3
hauteur maximale du profil
Pz, Rz, Wz
somme de la plus grande des hauteurs de saillie du profil, Zp, et de la plus grande des profondeurs de creux du
profil, Zv, à l’intérieur d’une longueur de base
Voir la figure 8.
NOTE Dans l’ISO 4287-1:1984, le symbole Rz était utilisé pour identifier la «hauteur des irrégularités sur dix points».
Dans certains pays, certains instruments de mesure de la rugosité qui sont utilisés qui donnent cet ancien paramètre Rz.
Il faut donc faire attention lorsqu’on utilise des dessins et documents techniques existants, les différences entre résultats
de mesure obtenus avec différents types d’instruments n’étant pas toujours négligeables car ces deux paramètres sont
complètement différents.

Figure 8 — Hauteur maximale du profil (exemple de profil de rugosité)

4.1.4
hauteur moyenne des éléments du profil
Pc, Rc, Wc
valeur moyenne des hauteurs des éléments du profil, Zt, à l’intérieur d’une longueur de base
m

∑ Zti
1
Pc, Rc, Wc = -----
m
i=1

Voir la figure 9.
NOTE Les paramètres Pc, Rc, Wc nécessitent une discrimination de hauteur et d’espacement. Sauf spécification con-
traire, la discrimination de hauteur par défaut doit être de 10 % de Pz, Rz, Wz respectivement, et la discrimination d’espa-
cement par défaut doit être de 1 % de la longueur de base. Les deux conditions doivent être respectées.
NF EN ISO 4287:1998 — 12 —

Figure 9 — Hauteur moyenne des éléments du profil (exemple de profil de rugosité)

4.1.5
hauteur totale du profil
Pt, Rt, Wt
somme de la plus grande des hauteurs de saillie du profil, Zp, et de la plus grande des profondeurs de creux du
profil, Zv, à l’intérieur de la longueur d’évaluation
NOTE 1 Pt, Rt et Wt étant définis sur la longueur d’évaluation et non sur une longueur de base, la relation suivante sera
toujours respectée pour tout profil :
Pt ≥ Pz ; Rt ≥ Rz ; Wt ≥ Wz

NOTE 2 Par défaut, Pz est égal à Pt. Dans ce cas, l’utilisation de Pt est recommandée.

4.2 Paramètres d’amplitude (moyenne des ordonnées)

4.2.1
écart moyen arithmétique du profil évalué
Pa, Ra, Wa
moyenne arithmétique des valeurs absolues des ordonnées Z(x) à l’intérieur d’une longueur de base
I

∫
1
Pa, Ra, Wa = --- Z ( x ) dx
l
0

avec l = lp, lr ou lw suivant le cas.

4.2.2
écart moyen quadratique du profil évalué
Pq, Rq, Wq
moyenne quadratique des valeurs des ordonnées Z(x) à l’intérieur d’une longueur de base
I

∫
1 2
Pq, Rq, Wq = --- Z ( x ) dx
l
0

avec l = lp, lr ou lw suivant le cas.

 — 13 — NF EN ISO 4287:1998

4.2.3
facteur d’asymétrie du profil évalué
skewness
Psk, Rsk, Wsk
quotient de la moyenne des cubes des valeurs des ordonnées Z(x) par le cube du paramètre Pq, Rq ou Wq selon
le cas, à l’intérieur de la longueur de base
Ir

∫
1 1 3
Rsk = ---------- --- Z ( x ) dx
3
Rq lr
0

Voir la figure 9bis.

NOTE 1 L’équation ci-dessus définit Rsk. Psk et Wsk sont définis de façon similaire.

NOTE 2 Psk, Rsk et Wsk représentent une mesure de l’asymétrie de la courbe de distribution d’amplitude.

NOTE 3 Ces paramètres sont fortement influencés par des saillies isolées ou des creux isolés.

4.2.4
facteur d’aplatissement du profil évalué
kurtosis
Pku, Rku, Wku
quotient de la moyenne des valeurs à la puissance 4 des ordonnées Z(x) par la valeur à la puissance 4 du para-
mètre Pq, Rq ou Wq selon le cas, à l’intérieur d’une longueur de base
Ir

∫
1 1 4
Rku = ---------- --- Z ( x ) dx
4
Rq lr
0

Voir la figure 9ter.

NOTE 1 L’équation ci-dessus définit Rku ; Pku et Wku sont définis de façon similaire.

NOTE 2 Pku, Rku et Wku représentent l’aplatissement de la courbe de distribution d’amplitude.

NOTE 3 Ces paramètres sont fortement influencés par des saillies isolées ou des creux isolés.

Figure 9bis Figure 9ter

NF EN ISO 4287:1998 — 14 —

4.3 Paramètres d’espacement

4.3.1
largeur moyenne des éléments du profil
PSm, RSm, WSm
valeur moyenne des largeurs des éléments du profil, Xs, à l’intérieur d’une longueur de base
m

∑ Xsi
1
PSm, RSm, WSm = -----
m
i=1

Voir la figure 10.

NOTE Les paramètres PSm, RSm, WSm nécessitent une discrimination de hauteur et d’espacement. Sauf spécifica-
tion contraire, la discrimination de hauteur par défaut doit être de 10 % de Pz, Rz, Wz respectivement et la discrimination
d’espacement par défaut doit être de 1 % de la longueur de base. Les deux conditions doivent être respectées.

Figure 10 — Largeur des éléments du profil

4.4 Paramètres hybrides

4.4.1
pente quadratique moyenne du profil évalué
PΔq, RΔq, WΔq
valeur quadratique moyenne des pentes locales dZ/dX, à l’intérieur de la longueur de base
I
1 ⎛ dZ⎞ 2
P Δ q ,R Δ q ,W Δ q =
∫
--- ------- dx
l ⎝ dx ⎠
0
---------------------------------------------------------------------------------
-
 — 15 — NF EN ISO 4287:1998

4.5 Courbes et paramètres associés

NOTE Toutes les courbes et les paramètres qui y sont associés sont définis sur la longueur d’évaluation plutôt que sur
la longueur de base, afin d’obtenir des courbes et des paramètres associés ayant une plus grande stabilité.

4.5.1 taux de longueur portante

Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c)
rapport de la longueur portante du profil à un niveau de coupe donné c, Ml(c) à la longueur d’évaluation
Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) = MI (c)
---------------
In

4.5.2 courbe du taux de longueur portante du profil

(courbe d’Abbott Firestone)
courbe représentant le taux de longueur portante du profil en fonction du niveau de coupe
Voir la figure 11.
NOTE Cette courbe peut être interprétée comme la fonction de distribution cumulée des ordonnées Z(x) à l’intérieur de
la longueur d’évaluation.

Figure 11 — Courbe du taux de longueur portante

4.5.3
différence de hauteur de coupe du profil
Pdc, Rdc, Wdc
distance verticale entre deux niveaux de coupe d’une courbe du taux de longueur portante
distance entre deux niveaux de coupe correspondant à des taux de longueur portante donnés
Rδc = C(Rmr12) – C(Rmr21) ; (Rmr1 〈 Rmr2)
NOTE L’équation ci-dessus définit Rdc ; Pdc et Wdc sont définis de façon similaire.

4.5.4
taux de longueur portante relatif
Pmr, Rmr, Wmr
taux de longueur portante déterminé pour un niveau de coupe, à une hauteur Rdc par rapport à une référence C0
Pmr, Rmr, Wmr = Pmr, Rmr, Wmr (C1)
où
C1 = C0 + Pdc (ou Rdc ou Wdc)
C0 = C (Pmr0, Rmr0, Wmr0)
Voir figure 12.
NF EN ISO 4287:1998 — 16 —

Figure 12 — Taux de longueur portante relatif

4.5.5
courbe de distribution d’amplitude
fonction représentant la distribution des ordonnées Z(x) à l’intérieur de la longueur d’évaluation
Voir la figure 13.
NOTE Voir en 4.2 les paramètres associés à la courbe de distribution d’amplitude.

Figure 13 — Courbe de distribution d’amplitude

NORME EUROPÉENNE EN ISO 4287
EUROPÄISCHE NORM Août 1998
EUROPEAN STANDARD + AC
Octobre 2008
ICS : 17.040 ; 17.040.70
Descripteurs : spécification géométrique des produits, propriété de surface, rugosité, ondulation de surface, profil
de la texture, vocabulaire.

Version française

Spécification géométrique des produits (GPS) —

État de surface : Méthode du profil —
Termes, définitions et paramètres d’état de surface

Geometrische Produktspezifikationen (GPS) — Geometrical Product Specifications (GPS) —

Oberflächenbeschaffenheit : Tastschnittverfahren — Surface texture : Profile method —
Benennungen, Definitionen und Kenngrößen Terms, definitions and surface texture parameters
der Oberflächenbeschaffenheit

La présente norme européenne a été adoptée par le CEN le 15 juin 1998.

Le corrigendum a pris effet le 15 octobre 2008 pour incorporation dans les trois versions linguistiques officielles
de l’EN.

Les membres du CEN sont tenus de se soumettre au Règlement Intérieur du CEN/CENELEC qui définit les
conditions dans lesquelles doit être attribué, sans modification, le statut de norme nationale à la norme
européenne.

Les listes mises à jour et les références bibliographiques relatives à ces normes nationales peuvent être obtenues
auprès du Secrétariat Central ou auprès des membres du CEN.

La présente norme européenne existe en trois versions officielles (allemand, anglais, français). Une version faite
dans une autre langue par traduction sous la responsabilité d'un membre du CEN dans sa langue nationale, et
notifiée au Secrétariat Central, a le même statut que les versions officielles.

Les membres du CEN sont les organismes nationaux de normalisation des pays suivants : Allemagne, Autriche,
Belgique, Danemark, Espagne, Finlande, France, Grèce, Irlande, Islande, Italie, Luxembourg, Norvège, Pays-
Bas, Portugal, République Tchèque, Royaume-Uni, Suède et Suisse.

CEN
COMITÉ EUROPÉEN DE NORMALISATION

Europäisches Komitee für Normung

European Committee for Standardization

Secrétariat Central : rue de Stassart 36, B-1050 Bruxelles

© CEN 1998 Tous droits d’exploitation sous quelque forme et de quelque manière que ce soit réservés dans le monde
entier aux membres nationaux du CEN.
Réf. n° EN ISO 4287:1998 F
Page 2
EN ISO 4287:1998

Avant-propos

Le présent document a été préparé par l’ISO/TC 213 «Spécification et vérification dimensionnelles et géométri-
ques des produits».
Le présent document a été repris comme norme européenne par le Comité Technique CEN /TC 290 «Spécifica-
tion dimensionnelle et géométrique des produits, et vérification correspondante» dont le secrétariat est tenu par
DIN.
Le présent document doit être mis en application au niveau national, soit par publication d’un texte identique, soit
par entérinement, au plus tard en février 1999 et les normes nationales en contradiction devront être retirées au
plus tard en février 1999.
Selon le Règlement Intérieur du CEN/CENELEC, les instituts de normalisation nationaux des pays suivants sont
tenus de mettre ce document en application : Allemagne, Autriche, Belgique, Danemark, Espagne, Finlande,
France, Grèce, Irlande, Islande, Italie, Luxembourg, Norvège, Pays-Bas, Portugal, République Tchèque,
Royaume-Uni, Suède et Suisse.

Notice d’entérinement

Le texte de l'ISO 4287:1997/Cor.1:1998 et de l'ISO 4287:1997/Cor.2:2005 a été approuvé par le CEN comme
Corrigendum européen sans aucune modification.
NOTE Les références normatives aux normes internationales sont mentionnées en annexe ZA (normative).
 Page 3
EN ISO 4287:1998

Annexe ZA
(normative)
Références normatives aux publications internationales
avec leurs publications européennes correspondantes

Cette norme européenne comporte par référence datée ou non datée des dispositions d’autres publications.
Ces références normatives sont citées aux endroits appropriés dans le texte et les publications sont énumérées
ci-après. Pour les références datées, les amendements ou révisions ultérieurs de l’une quelconque de ces publi-
cations ne s’appliquent à la présente norme européenne que s’ils y ont été incorporés par amendement ou révi-
sion. Pour les références non datées, la dernière édition de la publication à laquelle il est fait référence s’applique.

Publication Année Titre EN Année

ISO 4288 1996 Spécification géométrique des produits (GPS) — État EN ISO 4288 1997
de surface : Méthode du profil — Règles et procédu-
res pour l’évaluation de l’état de surface

ISO 11562 1996 Spécification géométrique des produits (GPS) — État EN ISO 11562 1997
de surface : Méthode du profil — Caractéristiques
métrologiques des filtres à phase correcte
IS0 4287:1997(E/F)

Contents Page

1 Scope . .. .. .. . ... .. .. .. .. .. .. .. . .. .. .. .. ... . ... .. . .. .. .. . .. .. .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. .. .. . .. .. . 1

2 Normative references . . ... . ... .. .. .. .. . .. .. .. . .. ... . .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. . .. .. .. .. 1

3 Terms and definitions .. .. . .. ... .. .. .. . .. .. .. .. . .. .. .. ... .. .. .. .. ... .. .. ... . .. .. . .. .. .. . 2

3.1 General terms .. . .. .. . .. .. ... . .. .. .. .. .. .. . .. .. .. .. ... . ... .. .. .. ... .. .. .. .. . .. .. .. .. 2

3.2 Geometrical parameter terms . .. .. . .. .. .. .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. . .. .. .. .. . 6

4 Surface profile parameter definitions . .. . .. .. ... .. .. .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. . .. .. .. 10
4.1 Amplitude parameters (peak and valley) . .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. .. . .. .. . 10
4.2 Amplitude parameters (average of ordinates) .. .. .. .. .. . ... . .. .. .. 13

4.3 Spacing parameters . .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. ... .. .. ... .. .. .. .. .. . .. .. .. .. . 15

4.4 Hybrid parameters . .. .. .. .. .. ... . ... . .. ... . .. ... .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. . .. .. .. .. .. 15

4.5 Curves and related parameters . .. .. .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. .. .. .. . .. .. .. 16

Annexes
A Text equivalents 19

B Flowchart for surface assessment 20

C Comparison of basic terms and parameter symbols be- 21
tween IS0 4287-1 :I 984 and IS0 4287:1996
D Relationship to the GPS matrix model 23

E Bibliography 25

0 IS0 1997
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reprodu-
ced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photoco-
pying and microfilm, without permission in writing from the publisher. / Droits de
reproduction reserves. Sauf prescription differente, aucune partie de cette publication ne
peut etre reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun procede, elec-
tronique ou mecanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans I’accord ecrit de
l’editeur.
International Organization for Standardization
Case postale 56 l CH-1211 Geneve 20 l Switzerland
Printed in Switzerland / lmprime en Suisse

ii
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Sommaire Page

1 Domaine d’application . .. . .. .. .. . .. .. . ... .. . .. .. . .. .. . .. ... . ... .. .. ... .. .. ... ... .. .. ... . 1

2 References normatives . . .. .. .. . .. .. .. .. .. . .. . .. . .. .. .. .. .. .. ... .. .. ... .. .. ... ... .. .. .. 1

3 Termes et definitions .................... 2

3.1 Definitions generales ............ . .. .. . .. . .. .. . .. .. .. ... .. .. .. ... .. ... .. .. .. .. .. 2

3.2 Definitions geometriques ...... .. .. .. . . .. .. . .. ... . ... .. .. .. .. ... .. ... .. .. .. .. 6

4 Definitions des parametres de pro f il . . .. . .. . .. . ... .. . ... .. .. .. .. ... .. ... .. .. .. .. 10
4.1 Parametres d’amplitude (saillie et creux) . .. .. .. ... .. .. .. ... .. ... .. .. . 10
4.2 Parametres d’amplitude (moyenne des ordonnees) ... .. ... .. .. 13
4.3 Parametres d’espacement ................................................... 15
4.4 Parametres hybrides ............................................................ 15
4.5 Courbes et parametres associes . . .. .. . .. .. . .. .. .. ... .. .. .. .. ... .. ... . .. . 16

Annexes
A Equivalents textuels 19
B Diagramme pour I’evaluation de surface 20
C Comparaison des symboles des termes de base et des 21
parametres entre I’ISO 4287-l :I 984 et I’ISO 4287:1996
D Relation avec la matrice GPS 23
E Bibliographie 25
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

Foreword

IS0 (the International Organization for Standardization) is a worldwide

federation of national standards bodies (IS0 member bodies). The work
of preparing International Standards is normally carried out through IS0
technical committees. Each member body interested in a subject for
which a technical committee has been established has the right to be
represented on that committee. International organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. IS0
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
(I EC) on all matters of electrotechnical standardization.

Draft International Standards adopted by the technical committees are cir-

culated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.

International Standard IS0 4287 was prepared by Technical Committee

lSO/TC 57, Metrology and properties of surfaces, and has been based on
studies carried out by the Joint Harmonization Group of ISO/TC 3, Limits
and fits, ISO/K 10, Technical drawings, product definition and related
documentation, SC 5, Dimensioning and tolerancing, and ISOK 57,
Metrology and properties of surfaces.

This first edition of IS0 4287 cancels and replaces IS0 4287-1:1984. This
revision of IS0 4287-l :1984; is a major rewrite and reorganization that,
together with IS0 11562 and IS0 3274, additionally defines the waviness
profile, the primary profile and their parameters in a consistent manner.

Annex A forms an integral part of this International Standard. Annexes B,

C, D and E are for information only.
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Avant-propos

L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une federation

mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comites membres de
I’ISO). L’elaboration des Normes internationales est en general confiee aux
comites techniques de I’ISO. Chaque comite membre inter-es& par une
etude a le droit de faire partie du comite technique tree 8 cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent egalement aux travaux. L’ISO colla-
bore etroitement avec la Commission electrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation electrotechnique.

Les projets de Normes internationales adopt& par les comites techniques

sont soumis aux comites membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert I’approbation de 75 % au moins des co-
mites membres votants.

La Norme internationale IS0 4287 a ete elaboree par le comite technique

lSO/TC 57, M&ro/ogie et propri&& des surfaces, sous-comite SC 1,
Param& tres gbom& triques - Instruments et pro&dures pour la mesure
de /a rugositd et de I’ondulation des surfaces, et tient compte des etudes
me&es par le groupe d’harmonisation joint entre l’lSO/TC 3, Ajustements,
I’ ISO/TC IO, Dessins techniques, d@finitions de produits et documentation
y relative, sous-comite SC 5, Cotation et tokancement et l’lSO/K 57,
M6 trologie et proprid t6s des surfaces.

Cette premiere edition de I’ISO 4287 annule et remplace

I’ISO 4287-l :I 984. Cette revision constitue une reorganisation et une ree-
criture importantes de I’ISO 4287-l :1984; avec I’ISO 11562 et I’ISO 3274,
elle ajoute, de facon coherente, les definitions du profil d’ondulation, du
profil primaire ainsi que de leurs parametres.
.
L’annexe A fart partie integrante de la presente Norme internat ionale . Les
annexes B, c, D et E sont donnees uniquement a titre d informa tion.
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

Introduction

This International Standard is a Geometrical Product Specification (GPS)

standard and is to be regarded as a General GPS standard (see
lSO/TR 14638). It influences chain link 2 of the chains of standards or I sur-
face texture.

For more detailed information on the relationship of this International

Standard to other standards and the GPS matrix model, see annex E.

Historically, the roughness profile and its parameters have been the only
parts of surface texture characterization that have been well defined.

A default relationship between AC and af is under consideration.

@ IS0 IS0 4287:1997(E/f]

Introduction

%a presente Norme internationale qui traite de la specification geometrique

des produits (GPS), est consideree comme une norme GPS g&Wale (voir
I’ISO/rR 14638). Elle influence le maillon 2 des cha’ines de normes relati-
ves a Mat de surface.

Pour de plus amples informations sur la relation de la presente Norme in-

ternationale avec les autres normes et la matrice GPS, voir l’annexe D.

Par le passe, le profil de rugosite et ses parametres ont ete les seuls ele-
ments caracteristiques de Mat de surface a etre correctement definis.

Une relation par defaut entre AC et Af est en tours d’etude.

This page intentionally left blank
INTERNATIONAL STANDARD o ,so IS0 4287:1997(E/F)
NORME INTERNATIONALE ’

Geometrical Product SpQcification gbombtrique des

Specifications (GPS) - Surface produits (GPS) - kat de
texture: Profile method - surface: Methode du profil-
Terms, definitions and surface Termes, definitions et
texture parameters parametres d’btat de surface

II Scope II Domaine d’application

This International Standard specifies terms, definitions La presente Norme internationale prescrit les termes,
and parameters for the determination of surface tex- definitions et parametres pour la determination de
ture (roughness, waviness and primary profile) by Bat de surface (profils de rugosite, d’ondulation et
profiling methods. profil primaire) par les methodes de profil. I

2 Normative references 2 Refkrences normatives

The following standards contain provisions which, Les normes suivantes contiennent des dispositions
through reference in this text, constitute provisions of qui, par suite de la reference qui en est faite, consti-
this International Standard. At the time of publication, tuent des dispositions valables pour la presente
the editions indicated were valid. All standards are Norme internationale. Au moment de la publication,
subject to revision, and parties to agreements based les editions indiquees etaient en vigueur. Toute norme
on this International Standard are encouraged to in- est sujette a revision et les parties prenantes des ac-
vestigate the possibility of applying the most recent cords fond& sur la presente Norme internationale
editions of the standards indicated below. Members sont invitees a rechercher la possibilite d’appliquer les
of IEC and IS0 maintain registers of currently valid editions les plus recentes des normes indiquees ci-
lnternational Standards. apres. Les membres de la CEI et de I’ISO possedent
le registre des Normes internationales en vigueur a un
IS 0 3274: 1996, Geometrical Product Specifications moment donne.
(GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal
characteristics of contact (stylus) instruments. IS0 3274: 1996, Spbcification geometr-ique des pro-
duits (GPS) - &at de surface: Methode du profil-
IS0 4288: 1996, Geometrical Product Specifications Carat t&is tiques nominales des instruments a con tat t
(GPS) - Surface texture: Profile method - Rules and (palpeur).
procedures for the assessment of surface texture.
ISO 4288: 1996, Specification geome trique des pro-
IS0 11562: 1996, Geometrical Product Specifications duits (GPS) - &at de surface: Methode du profil-
(GPS) - Surface texture: Profile method - Metro- Regles et procedures pour I’evaluation de I’etat de
logical characterization of phase correct filters. surface.

IS0 11562: 1996, Specification geometrique des pro-

duits (GPS) - &at de surface: Methode du profil-
Caracteristiques metrologiques des filtres a phase
correcte.

1
IS0 4287:1997(E/F)

3 Terms and definitions 3 Termes et dbfinitions

3.1 General terms 3.1 Dhfinitions ghbrales

3.1.1 3.1.1
profile filter filtre de profil
filter which separates profiles into longwave and filtre qui &pare le profil en composantes de longueur
shortwave components [ISO 115621 d’onde longue et composantes de longueur d’onde
courte [ISO 115621
NOTE - There are three filters used in instruments for
measuring roughness, waviness and primary profiles (see NOTE - Trois filtres sont utilises dans les instruments de
figure 1). They all have the same transmission character- mesure des profils de rugosite, d’ondulation et du profil
istics, defined in IS0 11562, but different cut-off wave- primaire (voir la figure 1). Ils ont tous les memes caracteris-
lengths. tiques de transmission, definies dans I’ISO 11562, mais des
longueurs d’onde de coupure differentes.

3.1.1.1 3.1.1.1
As profile filter filtre de profil As
filter which defines the intersection between the filtre qui definit la separation entre les composantes
roughness and the even shorter wave components de rugosite et les composantes d’onde encore plus
present in a surface (see figure 1) courtes presentes a la surface (voir la figure I)

3.1.1.2 3.1.1.2
Ac profile filter filtre de profil AC
filter which defines the intersection between the filtre qui definit la separation entre les composantes
roughness and waviness components (see figure 1) de rugosite et les composantes d’ondulation (voir la
figure 1)

3.1.1.3 3.1.1.3
Af profile filter filtre de profil ilf
filter which defines the intersection between the filtre qui definit la separation entre les composantes
waviness and the even longer wave components d’ondulation et les composantes d’onde encore plus
present in a surface see figure 1) longues presentes a la surface (voir la figure 1)

8
c‘
0
.- t
.! 100
E
i!m
: Roughness profile Waviness profile
Profil de rugosite Profil d'ondulation

50

Af
Wavelength
Longueur d'onde

Figure 1 - Transmission characteristic of roughness and waviness profiles

Figure 1 - Caractbristiques de transmission des profils de rugosit6 et d’ondulation
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.12 3.1.2
coordinate system systame de coordonnhes
that coordinate system in which surface texture systeme de coordonnees dans lequel les parametres
parameters are defined d’etat de surface sont definis

NOTE - It is usual to use a rectangular coordinate sys- NOTE - II est courant d’utiliser un systeme orthogonal
tern in which the axes form a right-handed Cartesian set, de coordonnees cartesiennes de sens direct, l’axe des X
the X-axis being the direction of tracing colinear with the &ant dans la direction du palpage et confondu avec la ligne
mean line, the Y-axis also nominally lying on the real sur- moyenne, l’axe des Y etant theoriquement dans le plan de
face, and the Z-axis being in an outward direction (from the la surface reelle, et l’axe des 2 &ant dirige vers l’exterieur
material to the surrounding medium). This convention is (de la mat&e vers le milieu environnant). Cette convention
adopted throughout the rest of this International Standard. est celle adoptee tout au long de la presente Norme inter-
nationale.

3.1.3 3.1.3
real surface surface rhelle
surface limiting the body and separating it from the surface qui Iimite le corps et le separe du milieu envi-
surrounding medium ronnant

3.1.4 3.1.4
surface profile profil de surface
profile that. results from the intersection of the real profil resultant de I’intersection de la surface reelle et
surface by a specified plane d’un plan specific

See figure 2. Voir la figure 2.

NOTE - In practice, it is usual to choose a plane with a NOTE - En pratique, il est courant de choisir un plan dont
normal that nominally lies parallel to the real surface and in une normale est theoriquement parallele a la surface reelle
a suitable direction. et de direction appropriee.

Figure 2 - Surface profile .

Figure 2 - Profil de surface

3
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

3.1.5 3.1.5
primary profile prof il primaire
See IS0 3274. Voir I’ISO 3274.

NOTE - The primary profile is the basis for evaluation of NOTE - Le profil primaire sert de base a I’evaluation des
the primary profile parameters. parametres du profil primaire.

3.1.6 3.1.6
roughness profile profil de rugositb
profile derived from the primary profile by suppressing profil derive du profil primaire par suppression des
the longwave component using the profile filter AC; composantes de grande longueur d’onde, en appli-
this profile is intentionally modified quant le filtre de profil AC; ce profil est intentionnelle-
ment modif ie
See figure 1.
Voir la figure 1.
NOTES
NOTES
1 The transmission band for roughness profiles is defined
by the As and Ac profile filters (see IS0 115621996, 2.6 and 1 La bande de transmission des profils de rugosite est de-
3.2). finie par les filtres de profil As et Ac (voir I’ISO 11562:1996,
paragraphes 2.6 et 3.2).
2 The roughness profile is the basis for evaluation of the
roughness profile parameters. 2 Le profil de rugosite sert de base a I’evaluation des pa-
rametres du profil de rugosite.
3 The default relationship between k and As is given in
IS0 3274: 1996, 4.4. 3 La relation par defaut entre Ac et As est donnee dans
I’ISO 3274:1996, paragraphe 4.4.

3.1.7 3.1.7
waviness profile prof il d’ondulation
profile derived by subsequent application of the profile profil derive du profil primaire par application succes-
filter Af and the profile filter AC to the primary profile, sive des filtres de profil ilf et k, supprimant ainsi les
suppressing the longwave component using the pro- composantes de grande longueur d’onde 8 I’aide du
file filter Af, and suppressing the shortwave com- filtre de profil Af, et les composantes de faible lon-
ponent using the profile filter Ac; this profile is inten- gueur d’onde a I’aide du filtre de profil Ac; ce profil est
tionally modif ied intentionnellement modifie

NOTES NOTES

1 The nominal form should first be removed from the total 1 II convient dans un premier temps d’enlever la forme
profile by best-fit least-squares methods, before applying nominale du profil total par les methodes des moindres car-
the ilf profile filter for separating the waviness profile. For r-es, avant d’appliquer le filtre de profil Af pour &parer le
circular nominal form, it is recommended that the radius profil d’ondulation. En cas de forme nominale circulaire, il
should also be included in the least-squares optimization est recommande d’inclure le rayon dans I’optimisation des
and not held fixed to the nominal value. This procedure for moindres carres plutbt que de le fixer a sa valeur nominale.
separating the waviness profile defines the ideal waviness Cette procedure de separation du profil d’ondulation definit
operator. I’operateur d’ondulation ideal.

2 The transmission band for waviness profiles is defined 2 La bande de transmission des profils d’ondulation est
by the AC and If profile filters (see IS0 11562:1996, 2.6 and definie par les filtres de profil Ac et Af (voir
3.2). I’ISO 11562:1996, paragraphes 2.6 et 3.2).

3 The waviness profile is the basis for evaluation of the 3 Le profil d’ond ulation sert d e base a I’evaluation des pa-
waviness profile parameters. ram& res du profil d’ondulation.

4
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.1.8 Mean lines 3- 1.8 Lignes moyennes

3.1.8.1 3.1.8.1
mean line for the roughness profile ligne moyenne du profil de rugosit6
line corresponding to the longwave profile component ligne qui correspond 8 la composante de profil de
suppresseld by the profile filter Ac grande longueur d’onde supprimee par le filtre de
profil ac
(See IS0 11562:1996, 3.2)
(Voir I’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)

3.1.8.2 3.1.8.2
mean line for the waviness profile ligne moyenne du profil d’ondulation
line corresponding to the longwave profile component ligne qui correspond 8 la composante de profil de
suppressed by the profile filteraf grande longueur d’onde supprimbe par le filtre de
profil af
(See IS0 11562:1996, 3.2)
(Voir I’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)

3.1.8.3 3.1.8.3
mean line for the primary profile ligne moyenne du profil primaire
line determined by fitting a least-squares line of nom- ligne determinee en calculant, a partir du prof il pri-
inal form through the primary profile maire, une ligne des moindres cart-es de forme nomi-
nale

3.1.9 3.1.9
sampling length longueur de base
lp, I?-,lw lp, lr, lw
length in the direction of the X-axis used for identify- longueur, dans la direction de I’axe des X, utilisee pour
ing the irregularities characterizing the profile under identifier les irregularites caracterisant le profil a eva-
evaluation luer

NOTE - The sampling length for the roughness Zr and NOTE - Les longueurs de base des profils de rugosite Zr
waviness profiles IW is numerically equal to the character- et d’ondulation, ZW, sont egales, en valeur numerique, aux
istic wavelength of the profile filters Ac and If, respectively. longueurs d’onde caracteristiques des filtres de profil AC et
The sampling length for primary profile, lp, is equal to the Af respectivement. La longueur de base du profil primaire,
evaluation length. Zp, est egale a la longueur d’evaluation.

3.1.10 3.1.10
evaluation length longueur d%valuation
In In
length in the dire ction of the X-axis used for as)sessi w longueur, dans la direction de I’axe des X, utilisee pour
the profile under evaluation etablir le profil 8 evaluer

NOTES NOTES

The evaluation length may contain one or more sampling 1 La longueur d’evaluation peut comprendre une ou plu-
lengths. sieurs longueurs de base.

2 For default evaluation lengths see IS0 4288:1996, 4.4. 2 Pour les longueurs d’evaluation par defaut, voir
IS0 4288 does not give default evaluation length for I’ISO 4288:1996, paragraphe 4.4. L’ISO 4288 ne donne pas
W-parameters. de longueur d’evaluation par defaut des parametres W.

5
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

3.2 Geometrical parameter terms 3.2 Dhfinitions gbombtriques

3.2.1 3.2.1
B-parameter parambtre P
parameter calculated from the primary profile parametre calcule sur le profil primaire

3.2.2 3.2.2
R-parameter paramatre R
parameter calculated from the roughness profile parametre calcule sur le profil de rugosite

3.2.3 3.2.3
W-parameter parambtre W
parameter calculated from the waviness profile parametre calcule sur le profil d’ondulation

NOTE - The parameters defined in clause 4 can be calcu- NOTE - Les parametres definis 8 I’article 4 peuvent etre
lated from any profile. The first capital letter in the par- calcules sur I’un ou I’autre des profils. La premiere lettre
ameter symbol designates the type of the profile evaluated. majuscule du symbole du parametre denote Be type de
For example, Ra is calculated from the roughness profile profil evalue. Ainsi, Ra est calcule sur le profil de rugosite et
and Pt is calculated from the primary profile. Pt sur le profil primaire.

3.2.4 3.2.4
profile peak saillie du profil
an outwardly directed (from material to surrounding partie du profil evalue, dirigee vers I’exterieur (de la
medium) portion of the assessed profile connecting mat&e vers le milieu environnant) et reliant deux in-
two adjacents points of the intersection of the profile tersections consecutives du profil avec l’axe des X
with the X-axis

3.2.5 3.2.5
profile valley creux du profil
an inwardly directed (from surrounding medium to partie du profil evalue, dirigee vers I’interieur (du mi-
material) portion of the assessed profile connecting lieu environnant vers la mat&e) et reliant deux inter-
two adjacent points of the intersection of the as- sections consecutives du profil avec I’axe des X
sessed profile with the X-axis

3.2.6 3.2.6
height and/or spacing discrimination discrimination de hauteur et/au d’espace-
minimum height and minimum spacing of profile ment
peaks and profile valleys of the assessed profile which hauteur minimale et espacement minimal des saillies
should be taken into account et des creux du profil evalue qu’il convient de prendre
en consideration
NOTE - The minimum height of the profile peaks and
valleys are usually specified as a percentage of Pz, Rz, WZ or NOTE - La hauteur minimale des saillies et des creux du
another amplitude parameter, and the minimum spacing as profil est habituellement specifiee sous forme de pourcen-
a percentage of the sampling length. Page de Pz, Rz, Wz ou d’un autre parametre d’amplitude et
I’espacement minimal en pourcentage de la longueur de
base.

6
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.2.7 3.2.7
profile element 6IQment du profil
profile peak and the adjacent profile valley saillie du profil et creux du profil adjacent

See figure 3. Voir la figure 3.

NOTE - The positive or negative portion of the assessed NOTE - II convient de toujours compter les portions po-
profile at the beginning or end of the sampling length sitives ou negatives du profil evalue en debut ou en fin de
should always be considered as a profile peak or as a profile longueur de base comme des saillies ou des creux du profil.
valley. When determining a number of profile elements Lorsqu’on determine les elements du profil sur plusieurs
over several successive sampling lengths, the peaks and longueurs de base consecutives, les saillies et creux du
valleys of the assessed profile at the beginning or end of profil evalue situ& en debut et en fin de chaque longueur
each sampling length are taken into account once only at de base sont comptes une seule fois, au debut de chaque
the beginning of each sampling length. longueur de base.

3.2.8 3.2.8
ordinate value ordonnhe
z(x) z(x)
height of the assessed profile at any position x hauteur du profil &al& en une position quelconque x

NOTE - The height is regarded as negative if the ordinate NOTE - La hauteur a une valeur negative si I’ordonnee
lies below the X-axis, and positive otherwise. est sit&e au-dessous de l’axe des X, et une valeur positive
dans le cas contraire.

Mean line
Ligne moyenne

Figure 3 - Profile element

Figure 3 - bment du profil

7
IS0 4287:1997(E/F)

3.2.9 3.2.9
local slope pente locale
dz dz
dX dx
slope of the assessed profile at a position xi pente du profil 6valu6 2 un point xi

See figure 4. Voir la figure 4.

NOTES NOTES
1 The numerical value of the local slope, and thus the par- 1 La valeur numerique de la pente locale, et done les pa-
ameters PAq, RAq and WAq, depends critically on the ordi- rametres PAq, RAq et WAq, dependent etroitement du pas
nate spacing AX. Ax.
2 A formula for estimating the local slope is 2 La pente locale peut etre estimee par la formule
dzi
-=- 1 dzi 1
6oAx ( Zi+3 - 9Zi+2 + 45Zi+j - 45Zi-1 + 9Zi-2 - Zi-3 ) -=- - 9Zi+2 + 45Zj+J - 45Zj-1 + 923-z - Zi-3)
dx 6oAx ( zi+3
dx

The above formula should be used for the sample spacing OCI ziest la hauteur du z‘&ne point du profil et AX le pas entre
stipulated in IS0 3274 for the filter used, where zi is the deux points adjacents du profil. II convient d’utiliser la for-
height of the ith profile point and AX is the spacing be- mule ci-dessus pour le pas d’echantillonnage specific dans
tween adjacent profile points. I’ISO 3274 en fonction du filtre utilise.

3.2.10 3.2.10
profile peak height hauteur d’une saillie du profil
ZP ZP
distance between the X-axis and the highest point o distance entre l’axe des X et le point le plus haut de la
the profile peak saillie du profil

See figure 3. Voir la figure 3.

Figure 4 - Local slope

Figure 4 - Pente locale

8
@IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.2. I I 3.211
profile valley depth profondeur d’un creux du profil
ZV ZV
distance between the X-axis and the lowest point of distance entre l’axe des X et le point le plus bas du
the profile valley creux du profil

See figure 3. Voir la figure 3.

32.12 3.2.12
profile element height hauteur d’un Qkment du profil
zt zt
sum of the height of the peak and depth of the valley somme de la hauteur de la saillie et de la profondeur
of a profile element du creux de I’element du profil

See figure 3. Voir la figure 3.

32.13 3.2.13
profile element width largeur d’un 6l6ment du profil
xs xs
length of the X-axis segment intersecting with the longueur du segment de l’axe des X qui est toupee
profile element par l’element du profil
See figure 3. Voir la figure 3.

3.2.14 3.2.14
material length of profile at the level c longueur portante du profil & un niveau c
Ml(c) Ml(c)
sum of the section lengths obtained, intersecting with somme des longueurs des segments obtenus en
the profile element by a line parallel to the X-axis at a coupant I’element du profil par une droite parallele a
given level, c l’axe des X a un niveau donne, c
See figure 5. Voir la figure 5.

Sampling Length
Longueurdebase

Ml k) = /Yl, + /Yl*

Figure 5 - Material length

Figure 5 - ILongueur portante
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

4 Surface profile parameter definitions 4 Dbfinitions des paramhtres de profil

4.1 Amplitude parameters (peak and valley) 4.1 Paramhtres d’amplitude (saillie et creux)
4.1.1 4.1.1
maximum profile peak height hauteur maximale de saillie du profil
Q4 &5 wp pp.t &A wp
largest profile peak height Zp within a sampling length plus grande des hauteurs de saillie du profil, Zp, 3 I’in-
t&ieur d’une longueur de base
See figure 6.
Voir la figure 6.

Sampling length

Figure 6 - Maximum profile pealc height (example of a roughness profile)

Figure 6 - Hauteur maximale de saillie du profil (exemple d’un profil de rugositb)

IO
0 IS0 IS0 4287:1997(E/F)

4.12 4.12
maximum profile valley depth profondeur maximale de creux du profil
Pv, Rv, WV Pv, Rv, WV
largest profile valley depth ZV within a sampling length plus grande des profondeurs de creux du profil, ZV, a
I’int&ieur d’une longueur de base
See figure 7.
Voir la figure 7.

Sampling length
Longueurdebase

Figure 7 - Maximum profile valley depth (example of a roughness profile)

Figure 7 - Profondeur maximale de creux du profil (exemple d’un profil de rugositk)

11
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

4.1.3 4.1.3
maximum height of profile hauteur maximale du profil
Pz, Rz, Wz Pz, Rz, Wz
sum of height of the largest profile peak height Zp and somme de la plus grande des hauteurs de saillie du
the largest profile valley depth Zv within a sampling profil, Zp, et de la plus grande des profondeurs de
length creux du profil, Zv, a I’interieur d’une longueur de base

See figure 8. Voir la figure 8.

NOTE - In IS0 4287-l :1984, the RZ symbol was used to NOTE - Dans I’ISO 4187-I :I 984, le symbole RZ etait utili-
indicate the “ten point height of irregularities”. In some se pour identifier la ((hauteur des irregularites sur dix
countries there are surface roughness measuring instru- points)). Dans certains pays, certains instruments de mesu-
ments in use which measure the former RZ parameter. re de la rugosite qui sont utilises donnent cet ancien para-
Therefore, care must be taken when using existing techni- metre Rz. II faut done faire attention lorsqu’on utilise des
cal documents and drawings because differences between dessins et documents techniques existants, les differences
results obtained with different types of instruments are not entre resultats de mesure obtenus avec differents types
always negligibly small. d’instruments n’etant pas toujours negligeables.

4.1.4 4.1.4
mean height of profile elements hauteur moyenne des 6lements du profil
PC, Rc, WC PC, Rc, WC
mean value of the profile element heights Zt within a valeur moyenne des hauteurs des elements du profil,
sampling length Zt, a I’interieur d’une longueur de base
I* I*
PC, Rc, WC = - c Zti PC, Rc, WC = - c Zti
m i=l m i=l

See figure 9. Voir la figure 9.

NOTE - The parameters PC, Rc, WC require height and NOTE - Les parametres PC, Rc, WC necessitent une dis-
spacing discrimination. If not otherwise specified, the de- crimination de hauteur et d’espacement. Sauf specification
fault height discrimination shall be 10 % of Pz, Rz, WZ, re- contraire, la discrimination de hauteur par defaut doit etre
spectively, and the default spacing discrimination shall be de 10 % de Pz, Rz, WZ respectivement, et la discrimination
1 % of the sampling length. Both conditions shall be met. d’espacement par defaut doit etre de 1 % de la longueur de
base. Les deux conditions doivent etre respectees.

Sampling Length
Longueurdebase
-

Figure 8 - Maximum height of profile (example of a roughness profile)

Figure 8 - Hauteur maximale du profil (exemple de profil de rugosite)

12
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

4.1.5 4.1.5
total height of profile hauteur totale du profil
Pt, Rt, Wt Pt, Rt, Wt
sum of the height of the largest profile peak height Zp somme de la plus grande des hauteurs de saillie du
and the largest profile valley depth ZV within the profil, Zpp et de la plus grande des profondeurs de
evaluation length , creux du profil, ZV~ a I’interieur de la longueur d’eva-
luation
NOTES
1 Since Pt, Rt and Wt are defined over the evaluation NOTES
length rather than the sampling length, the following will 1 Pt, Rt et Wt &ant definis sur la longueur d’evaluation et
always be true for any profile: non sur une longueur de base, la relation suivante sera
Pt 2 Pz; Rt 2 Rz; Wt a Wz toujours respectee pour tout profil:
Pt 3 Pz; Rt 2 Rz; Wt a Wz
2 In the default case PZ is equal to Pt. In this case the use
of Pt is recommended. 2 Par dbfaut, Pz est egal a Pt. Dans ce cas, I’utilisation de
Pt est recommandee.

4.2 Amplitude parameters (average of 4.2 Paramgtres d’amplitude (moyenne des

ordinates) ordonnhes)
4.2. I 4.2.1
arithmetical mean deviation of the assessed &art moyen arithmhtique du profil 6valu6
profile Pa, Ra, Wa
Pa, Ra, Wa moyenne arithmetique des valeurs absolues des or-
arithmetic mean of the absolute ordinate values Z(X) donnees Z(X) a I’interieur d’une longueur de base
within a sampling length

0
avec 2 = lp, Zr ou IW suivant le cas.
with I = Zp, Zr or IW according to the case.

Sampling length
Longueurdebase

Figure 9 - Height of profile elements (example of a roughness profile)

Figure 9 - Hauteur moyenne des Mments du profil (exemple de profil de rugosite)

13
IS0 4287:1997(E/F) @IS0

4.2.2 4.2.2
root mean square deviation of the assessed &art moyen quadratique du profil 6valuQ
profile pqt Rq, wq
pqr Rq, wq moyenne quadratique des valeurs des ordonnees Z(X)
root mean square value of the ordinate values Z(x) a I’interieur d’une longueur de base
within a sampling length
1L
Pq, Rq, Wq = I Z’(x) dx
I
0

avec I = lp, Zr ou lw suivant le cas.

with k = Zp, 21or kw according to the case.

4.2.3 4.2.3
skewness of the assessed profile facteur d’asymbtrie du profil 6valu6
Psk, Rsk, Wsk skewness
quotient of the mean cube value of the ordinate Psk, Rsk, Wsk
values Z(X) and the cube of Pq, Rq or Wq respectively, quotient de la moyenne des cubes des valeurs des
within a sampling length ordonnees Z(X) par le cube du parametre Pq, Rq ou Wq
selon le cas, 8 I’interieur de la longueur de base

NOTES
NOTES
1 The above equation defines Rsk; Psk and Wsk are defined
in a similar manner. 1 L’equation ci-dessus definit. Rsk. Psk et Wsk sont definis
de facon similaire.
2 Psk, Rsk and Wsk are measures of the asymme try of the
probability dens ity functi on of the ord inate values. 2 Psk, Rsk et Wsk representent une mesure de I’asymetrie
de la courbe de distribution d’amplitude.
3 These parameters are strongly influenced by isolated
peaks or isolated valleys. 3 Ces parametres sont fortement influences par des
saillies solees ou des creux isoles.

4.2.4 4.2.4
kurtosis of the assessed profile facteur d’aplatissement prof il 6valu6
Pku, Rku, Wku kurtosis
quotient of the mean quartic value of the ordinate Pku, Rku, Wku
values Z(X) and the fourth power of Pq, Rq or Wq re- quotient de la moyenne des valeurs 8 la puissance 4
spectively within a sampling length des ordonnees Z(X) par la valeur a la puissance 4 du
parametre Pq, Rq ou Wq selon le cas, a l’interieur
d’une longueur de base

NOTES
l The above equation defines Rku; Pku and Wku are de-
NOTES
fined in a similar manner.
2 Pku, Rku and Wku are measures of the sharpness of the 1 L’equation ci-dessus definit Rku; Pku et Wku sont definis
de facon similaire.
probability density function of the ordinate values.
2 Pku, Rku et Wku representent une mesure de I’aplatis-
3 These parameters are strongly influenced by isolated
sement de la courbe de distribution d’amplitude.
peaks or isolated valleys.
3 Ces parametres sont fortement influences par des
saillies isolees ou des creux isoles.

14
@ IS0 IS0 4287:1997(EIF)

4.3 Spacing parameters 4.3 ParamBtres d’espacement

4.3.1 4.3.1
mean width of the profile elements largeur moyenne des 6l6ments du profil
PSm, RSm, WSm PSm, RSm, WSm
mean value of the profile element widths XS within a valeur moyenne des largeurs des elements du profil,
sampling length XS, a I’interieur d’une longueur de base
1 m 1 m
PSm, RSm, WSm = - Xsi PSm, RSm, WSm = - Xsi
mc mc
i=l i=l
See figure 10. Voir la figure 10.

NOTE - The parameters PSm, RSm, WSm require height NOTE - Les parametres PSm, RSm, WSm necessitent une
and spacing discrimination. If not otherwise specified, the discrimination de hauteur et d’espacement. Sauf specifica-
default height discrimination shall be 10 % of Pz, Rz, WZ re- tion contraire, la discrimination de hauteur par defaut doit
spectively, and the default spacing discrimination shall be etre de 10 % de Pz, Rz, WZ respectivement, et la discrimi-
1 % of the sampling length. Both conditions shall be met. nation d’espacement par defaut doit etre de 1 % de la lon-
gueur de base. Les deux conditions doivent etre
respectees.

4.4 Hybrid parameters 4.4 Paramhtres hybrides

4.4-l 4.4.1
root mean square slope of the assessed pro- pente quadratique moyenne du profil 6valuQ
file PAq, RAq, WAq
PAq, RAq, WAq valeur quadratique moyenne des pentes locales
root mean square value of the ordinate slopes dZ/dX, dZ/dX, 8 I’interieur de la longueur de base
within the sampling length

Sampling Length
Longueurdebase

Figure IO - Width of profile elements

Figure IO - ILargeur des Mments du profill

15
IS0 4287:1997(E/F) @IS0

4.5 Curves and related parameters 4.5 Courbes et paramhtres assocks

NOTE - All curves and related parameters are defined NOTE - Toutes les courbes et les parametres qui y sont
over the evaluation length rather than the sampling length, associes sont definis sur la longueur d’evaluation plutot que
as this provides more stable curves and related parameters. sur la longueur de base, afin d’obtenir des courbes et des
parametres associes ayant une plus grande stabilite.

4.5.1 4.5.1
material ratio of the profile taux de longueur portante
Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c)
ratio of the material length of the profile elements rapport de la longueur portante du profil a un niveau
Ml(c) at a given level c to the evaluation length donne c, Ml(c), a la longueur d’evaluation
Ml(c)
Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) = - Pmr( c), Rmr( c), Wmr(c) = -
In In

4.5.2 4.5.2
material ratio curve of the profile courbe du taux de longueur portante du
(Abbott Firestone curve) prof il
curve representing the material ratio of the profile as a (Courbe d’Abbott Firestone)
function of level courbe representant le taux de longueur portante du
profil en fonction du niveau
See figure 1 I.
Voir la figure II.
NOTE - This curve can be interpreted as the sample
cumulative probability function of the ordinate values Z(X), NOTE - Cette courbe peut etre interpretee comme la
within an evaluation length. fonction de distribution cumulee des ordonnees Z(X) a I’in-
terieur de la longueur d’evaluation.

Mean line
Ligne moyenne

0 20 40 60 100
Evaluation length Rmrk), %
Longueur d’kaluation c

Figure 11 - Material ratio curve

Figure 11 - Courbe du taux de longueur portante

16
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

4.5.3 4.5.3
profile section height difference diffbence de hauteur de coupe du profil
P&, R&, W& Pi%, R&, W&
vertical distance between two section levels of given distance verticale entre deux niveaux de coupe d’une
material ratio courbe du taux de longueur portante
R& = C(Rmr1) - C(RmR)(Rmrl < Rmr2) R&z = C(Rmr1) - C(RmR)(Rmrl < Rmr2)

NOTE -The above equation defines R&; P& and W& are NOTE - L’kquation ci-dessus dkfinit R&. Pi% et W& sont
defined in a similar manner. dkfinis de faGon similaire. .

4.5.4 4.5.4
relative material ratio taux de longueur portante relatif
Pmr, Rmr, Wmr Pmr, Rmr, Wmr
material ratio determined at a profile section level R&, taux de longueur portante determine pour un niveau
related to a reference CO de coupe, a une hauteur R& par rapport 8 une refe-
rence CO
Pmr, Rmr, Wmr = Pmr, Rmr, Wmr (Cl )
Pmr, Rmr, Wmr = Pmr, Rmr, Wmr (Cl )
where
00
Cl = CO - R& (or P& or W&)
CO = C(Pmr0, RmrO, WmrO) Cl = CO -R& (ou P& ou W&j
CO = C (PmrO, RmrO, WmrO)
See figure 12.
Voir la figure 12.

40 I 50 60 70 80 1 90 100
RmrO R;7)r

Figure 12 - Profile section level separation

Figure 12 - Taux de longueur portante relatif

17
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

4.5.5 4.5.5
profile height amplitude curve courbe de distribution d’amplitude
sample probability density function of the ordinate Z(x) fonction representant la distribution des ordonkes
within the evaluation length Z(X) 8 I’int&ieur de la longueur d’&aluation

See figure 13. Voir la figure 13.

NOTE - For profile height amplitude curve parameters, NOTE - Voir en 4.2 les paramktres assocks 5 la courbe
see 4.2. de distribution d’amplitude.

Mean line
Ligne moyenne

Evaluation length Amplitude density

Longueur d’fivaluation Distribution d’amplitude
h
I

Figure 13 - Profile height amplitude distribution curve

Figure 13 - Courbe de distribution d’amplitude

18
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Annex A Annexe A
(normative) (normative)
Text equivalents Equivalents textuels

In order to facilitate alphanumeric notation by means Afin de faciliter les notations alphanum&iques sur des
of computers, the following text equivalents are ordinateurs, les bquivalents textuels suivants sont re-
recommended: command&.

Parameter Text equivalent

ParamGtre I Equivalent textuel I

P& Pdc
Rdc
Wdc

Lf

19
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

Annex B Annexe B
(informative) (informative)
Flowchart for surface assessment Diagramme pour Mvaluation
de surface

c
Output scaling
- EcheLLe
de sortie
-

Prof iLe recording

Enregistrement du profil

f-l
de rugosite

0Primary profile
ProfiL primaire
Prof iLe filter
FiLtre de profil

AC
4

FiLtre de profil
Characteristic
Fonctions
caractlkistiques

Parameters of
roughness, waviness
functions

and primary profiles

Parametres des profils
de rugosite, d’ondulation
I Af I
et du profil primaire

algorithm
Algorithme du .
profil primaire

Figure B.1
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Annex C I Arinexe C
(informative) (informative)
Comparison of basic terms Comparaison des symboles
and parameter symbols between des termes de base
IS0 4287~I:1984 and IS0 4287:1996 et des paramhtres entre
I’ISO 4287~I:1984 et IWO 4287:1996

Table C.1 - Basic terms

Tableau C.l - Termes de base

Clause in 1996 Basic terms, 1996 edition 1984 edition 1996 edition
edition Termes de base de kdtion 1996
Paragraphe de
l’bdition 1996
3.1.9

3.1.10

3.2.8
Ordonnee
3.2.9 Local slope dz
Pente locale dx
3.2.10 Profile peak height
&P
Hauteur d’une saillie du profil
3.2.11 Profile valley depth
2%
Profondeur d’un creux du profil
3.2.12 Profile element height
zt
Hauteur d’un element du profil
3.2.13 Profile element width
xs
Largeur d’un element du profil
3.2.14 Material length of profile at the level c
Ml(c)
Longueur portante du profil a un niveau c
1) The sampling lengths for the three different profiles are named: lp (primary profile), ZW(waviness profile), Zr (roughness
profile).
I
1) Les longueurs de base correspondant aux trois differents profils sont symbolisees: Zp (profil primaire), ZW (profil d’ondu-
lation) et Zr (profil de rugosite). I
IS0 4287:1997(E/F)

Table C.2 - Parameters of surface texture

Tableau C.2 - ParamQtres d’htat de surface

Clause in 1996 Parameters, 1996 edition

Paramhtre
de kdition 1996
de I’bdition 1996

4.3.1 Mean width of the profile elements

Largeur moyenne des elements du profil 4Yl R&n*) X

4.4.1 Root mean square slope of the assessed profile

As RAq*) ’ X
Pente quadratique moyenne du profil evalue
4.5.1 Material ratio of the profile
Rmr(c)*) X
Taux de longueur portante
4.5.3 Profile section height difference
R&2) X
Difference de hauteur de coupe du profil
4.5.4 Relative material ratio
Taux de longueur portante relatif tP RI?24 X

Ten point height (deleted as an IS0 parameter)

Hauteur sur dix points (parametre IS0 supprime) Rz -

1) This sampling length is Zr, ZWand Zp for R-, W- and P-parameters respectively; Zp is equal to ZIZ.
2) Parameters which are defined for three profiles: primary profiles, waviness profile and roughness profiles. Only the
roughness profile parameter is indicated in the table. As an example, the three parameters are written Pa (primary profile),
Wa (waviness profile) and Ra (roughness profile).
1) Cette longueur de base est Zr, Zw et ZZJpour les parametres R, Wet P respectivement; Z~Iest egal a In.
2) Parametres definis sur les dix profils: profil primaire, profil d’ondulation et profil de rugosite. Seul le param&-e du profil
de rugosite est symbolise dans les tableaux. A titre d’exemple, les trois parametres sont symbolises, respectivement, Pa
(profil primaire), Wa (profil d’ondulation) et Ra (profil de rugosite).
0 IS0 PSO 4287:1997(E/F)

Annex D Annexe D
(informative) (informative)
Relationship to the GPS matrix Relation avec la matrice GPS
model

For full details about the GPS matrix model, see Pour de plus amples renseignements 8 propos de la
lSO/TR 14638. matrice GPS, voir I’lSOTrR 14638.

D.1 Information about this International D.l Information sur la prkente Norme
Standard and its use internationale et son utilisation

IS0 4287 is a major rewrite and reorganization of La presente Norme internationale constitue une reor-
IS0 4287-l :I984 that, together with IS0 11562 and ganisation et une reecriture importantes de
IS0 3274, additionally defines the waviness profile, I’ISO 4287-l 3984; avec I’ISO 11562 et I’ISO 3274,
the primary profile and their parameters in a consist- elle ajoute, de facon coherente, les definitions du
ent manner. profil d’ondulation, du profil primaire ainsi que de leurs
parametres.

D.2 Position in the GPS matrix model D.2 Situation dans la matrice GPS

This International Standard is a general GPS standard La presente Norme internationale est une norme GPS
that influences chain link 2 of the chains of standards g&&ale, qui influence le maillon 2 des chalnes de
on roughness profile, waviness profile and primary normes relatives au profil de rugosite, au profil d’ondu-
profile in the general GPS matrix, as graphically illus- lation et au profil primaire de la matrice GPS g&&ale,
trated in figure D.1. comme illustre a la figure D.I.

D.3 Related International Standards D.3 Normes internationales assockes

The related International Standards are those of the Les Normes internationales associees sont celles des
chains of standards indicated in figure D.I. chaOnes de normes indiquees sur la figure D.I.

23
IS0 4287:1997(E/F)

Global GPS standards I

Fundamental
General GPS matrix
GPS
1 Chain link numbs er 1 2 3 4 5 6
standards Size
1 Distance
Radius
Angie
I
1 Form of line independent of datum I I I I I I I
1 Form of line dependent on datum I I I I I I I
I Form of surface independent of datum I I I I I I I
1 Form of surface dependent on datum
I Qrientation
1 Location
1 Circular run-out
I Total run-out
I Datum profiles I I.~.~_~.~.~.~.~.~.~_
I I I I I
...................
:::::::::::::::::::::::::::::::::::
::::::::::::::::::::::::::::::::::::::.
I Rouclhness profile I .:.:.:.:.:.~:.:.~:.~:.~~:.~:.~.
.....................
......... 1
.:.:.:.:.f:.:.:.:.:.:.:.~::~::::::’
:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.~:.:~:
I Waviness profile f::::::::::j:::::::::::::::::::::
:::::::::::::::::::::::::::::::::::::::
1 Primary profile
I Surface imperfections I I I I I I I
1 Edges

Figure D.1

,
Normes GPS globales
Normes
I Matrice GPS g6n&ale I
1 Maillon no 11 I2 I3 I4 I5 I6 1
de base Taille
I Distance
1 Ravon
I Angle
Forma d’une ligne indbpendante d’une
r6fitrence
Forme d’une ligne dependante d’une
rhfkrence I I I I I I I
I Forme d’une surface independante d’une
rbfbrence I I I I I I I
Forme d’une surface dependante d’une
rbfbrence
I Orientation
I I I I 1-n
1 Position
1 Battement circulaire
I Battement total I I I II
1 Rbfbrences
Profil de rugositi!
Profil d’ondulation
Profil primaire
Imperfections de surface
Ar&es

Figure D.‘!

24
@IS0 PSO 4287:1997(E/F)

Annex E Annexe E
(informative) (informative)
Bibliography Bibliographie

[ I] ISOnR 14638: 1995, Geometrical Product Specifi- 1I ISO/rR 14638: 1995, Sp&c;f;cat;on g6om&rique
cation (GPSI - Mas terplan. des produits (GPS) - Schema directeur.

[Z] VIM:l993, In ternational vocabulary of basic and [2] VIM:l993, Voca b u Iaire international des termes
general terms in metrology. BIPM, IEC, FCC, fondamentaux et g&&aux de m&rologie. BIPM,
ISO, IUPAC, IUPAP, OIML. CEI, FICC, ISO, OIML, UICPA, UIPPA.

25
A
INTERNATIONAL STANDARD ISO 4287:1997
TECHNICAL CORRIGENDUM 1

NORME INTERNATIONALE ISO 4287:1997

RECTIFICATIF TECHNIQUE 1

Published/Publié 1998-06-15

INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION • Ã≈∆ƒ”Õ¿–ŒƒÕ¿fl Œ–√¿Õ»«¿÷»fl œŒ —“¿Õƒ¿–“»«¿÷»» • ORGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION

Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture:

Profile method — Terms, definitions and surface texture
parameters
TECHNICAL CORRIGENDUM 1

Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:

Méthode du profil — Termes, définitions et paramètres d’état de
surface
RECTIFICATIF TECHNIQUE 1

Technical Corrigendum 1 to International Standard ISO 4287:1997 was prepared by Technical Committee
ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product specifications and verification.

Le Rectificatif technique 1 à la Norme internationale ISO 4287:1997 a été élaboré par le comité technique
ISO/TC 213, Spécifications et vérification dimensionnelles et géométriques des produits.

Page 21

Annex C

In the title, replace “ISO 4287:1996” with “ISO 4287:1997”.

Table C.1

In the first, second and last columns, replace “1996 edition” with “1997 edition”.

ICS 01.040.17; 17.040.20 Ref. No./Réf.n°: ISO 4287:1997/Cor.1:1998(E/F)

Descriptors: geometrical product specifications, surface properties, surface condition, roughness, surface waviness, texture profiles,
vocabulary./Descripteurs: spécification géométrique des produits, propriété de surface, état de surface, rugosité, ondulation de surface,
profil de la texture, vocabulaire.

© ISO 1998
Printed in Switzerland/Imprimé en Suisse
ISO 4287:1997/Cor.1:1998(E/F) © ISO

Page 21

Annexe C

Dans le titre, remplacer «ISO 4287:1996» par «ISO 4287:1997».

Tableau C.1

Dans les première et dernière colonnes, remplacer «Édition 1996» par «Édition 1997».

Dans la deuxième colonne, replacer «Termes de base de l’édition 1996» par «Termes de base de l’édition 1997».

Page 24

Figure D.1

Replace “Datum profiles” with “Datums”.

2
 INTERNATIONAL STANDARD ISO 4287:1997
TECHNICAL CORRIGENDUM 2

NORME INTERNATIONALE ISO 4287:1997

RECTIFICATIF TECHNIQUE 2

Published/Publié 2005-02-15

INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION • МЕЖДУНАРОДНАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ • ORGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION

Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture:

Profile method — Terms, definitions and surface texture
parameters

TECHNICAL CORRIGENDUM 2

Spécification géométrique des produits (GPS) — État de

surface: Méthode du profil — Termes, définitions et paramètres
d’état de surface

RECTIFICATIF TECHNIQUE 2

Technical Corrigendum 1 to International Standard ISO 4287:1997 was prepared by Technical Committee
ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product specifications and verification.

Le Rectificatif technique 1 à la Norme internationale ISO 4287:1997 a été élaboré par le comité technique
ISO/TC 213, Spécifications et vérification dimensionnelles et géométriques des produits.

Page 5, Figure 1

Replace Figure 1 with the following figure and legend.

Remplacer la Figure 1 par la figure et légende suivantes.

ICS 01.040.17; 17.040.20 Ref. No./Réf. no ISO 4287:1997/Cor.2:2005(E/F)

© ISO 2005 – All rights reserved/Tous droits réservés

Published in Switzerland/Publié en Suisse

ISO 4287:1997/Cor.2:2005(E/F)

Key Légende

1 roughness profile 1 profil de rugosité

2 waviness profile 2 profil d'ondulation

X Wavelength. X Longueur d'onde.

Y Transmission, %. Y Transmission, %.

NOTE The cut-offs are not drawn to scale.

NOTE Les longueurs d'onde de coupure ne sont pas dessinées à l'échelle.

Figure 1 — Transmission characteristics of roughness and waviness profiles

Figure 1 — Caractéristiques de transmission des profils de rugosité et d'ondulation

2 © ISO 2005 – All rights reserved/Tous droits réservés