Chapitre 4
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Chapitre 4
Chapitre 4
Les matériaux utilisés dans les applications photovoltaïques peuvent être produit dans une
large variété de formes cristallines et polycristallines, bien que les matériaux cristallins ont
montré de très hauts rendements de conversion, mais leur cout de production reste encore
relativement élevé. Plusieurs matériaux polycristallins ont gagné récemment de plus en plus
d’attention à cause de leurs performances, stabilité et leur faible cout de production. Parmi ces
matériaux le CuInSe2 est considéré comme l’un des choix les plus approprié vu les bonnes
propriétés optiques qu’il présente.
Malgré les plus hautes efficacités atteintes en matière de conversion photovoltaïque (> à 19
%) les cellules à base de CuInSe2 sont toujours en amélioration et leurs propriétés électriques
ne sont pas complètement compris et font l’objet de beaucoup de sujets de recherche afin
d’augmenter leurs performances.
Amélioration Interprétation et
explication physique
(4.1)
⃗⃗⃗ (4.2)
⃗⃗⃗ (4.3)
(4.4)
(4.5)
Où μn et μp sont les mobilités des électrons et des trous respectivement. Dn et Dp sont les
constantes de diffusion, et E est le champ électrostatique. Ces équations correspondent aux
solutions des équations (4.1)-(4.3) et décrivent les phénomènes de transport dû au champ
électrique et au phénomène de diffusion.
4.1.2. Photo-génération :
La densité de flux ϕ dans le matériau semi-conducteur est donnée par la relation [56] :
(4.6)
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Chapitre 4 : Simulation numérique de la cellule CIS sur SCAPS-1D.
Où ϕ est la densité du flux c.-à-d. le nombre de photons par unité de surface et de temps
(photons/cm2.s), α est le coefficient d’absorption et z la profondeur de pénétration de la
lumière. Dans le cas d’un semi-conducteur à bande de gap directe α est donné
approximativement par l’expression [56] :
(4.7)
(4.8)
4.1.3. Recombinaison :
La présence d’impuretés joue un rôle très important dans le processus de recombinaison.
Une impureté piège un électron (ou trou) qui par attraction coulombienne attire un trou (ou
électron), ce qui provoque la recombinaison.
On distingue deux cas : Si le défaut qui a capturé un électron a une plus grande probabilité
de capturer un trou que de réémettre cet électron vers la bande de conduction, il capture le
trou et provoque une recombinaison, ce défaut porte le nom de centre de recombinaison. Si au
contraire le défaut qui a capturé un électron a une plus grande probabilité de réémettre cet
électron vers la bande de conduction que de capturer un trou, ce centre porte alors le nom de
piège à électron.
Le calcul du taux de recombinaison associé à ces centres fait l’objet du modèle donné par
Shokley-Read-Hall [57].
(4.9)
( ) ( )
( ) ( )
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Qui peut être simplifié par l’introduction des termes relatifs aux duré de vie de porteurs
et
( ) ( )
Comme on pose : ( ) et ( )
D’autres processus de recombinaison peuvent être considérés, mais leur taux est
insignifiant par rapport au taux de recombinaison dans la zone de charge d’espace pour les
matériaux polycristallins.
Les paramètres donnés sur le tableau 4.1 sont propre aux cellules qui ont atteint les plus
hauts rendements de conversion [59].
L’alignement des bandes sur les interfaces CdS/CIS et ZnO/CIS sont choisit de manière à
avoir | | et | | inferieur à la différence entre les deux bandes de gap avec ΔEc=0.3 eV
et ΔEv=-0.2eV, ce qui a été démontré par plusieurs études théoriques et expérimentales.
Les valeurs des mobilités des trous posées pour le CIS sont aux environs des valeurs les
plus récentes mesurées sur des films minces de CuInSe2 avec µe = 100 cm2/Vs etµh=3-22
cm2/Vs.
Les valeurs des masses effectives sont posées par default égale à 0.2m0 et 0.8m0 pour
chaque couche ce qui est en concordance avec les valeurs reportées dans les publications déjà
faites sur le CIS.
ϕbn et ϕbp sont les hauteurs des barrières Ec-Ef et Ef-Ec, S est la vitesse de recombinaison en
surface, W est l’épaisseur de la couche, µh et µe les mobilités des trous et des électrons, ND et
NA les densités des dopants legers, Eg est la bande de gap, Nc et Nv sont les densités d’états
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effectives, ΔEc est la variation de la bande de gap entre deux couche adjacentes, NDG et NAG
les densités de défauts donneurs et accepteurs et σ la section efficace électronique.
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Figure4.2 : Caractéristique I-V d’une cellule solaire.
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La valeur Vco correspond à la tension en circuit ouvert c.à.d. I=0. Elle est fonction des
caractéristiques de la jonction électronique et des matériaux.
o La puissance maximale Pm :
(4.10)
o Le facteur de forme FF :
C’est le rapport entre la puissance maximale délivrée par la cellule et le produit entre Icc et
Vco correspondant à la puissance maximale idéale, il est exprimé par :
(4.11)
o Le rendement η:
(4.12)
o La puissance crête Pm :
La puissance crête d’une photopile, aussi nommée puissance catalogue, notée Pm (Watt
crête) ou Wp (Watt peak) représente la puissance électrique maximale de sortie sous des
conditions standard (STC : Standard Test Condition), une irrandiance de 1000W/m2, une
température de 25°C et un spectre AM1.5.
o Le rendement quantique QE :
C’est le nombre de pairs électron-trou photo-générés par le nombre de photons incidents sur
la cellule. Il est mesuré en fonction de la longueur d’onde. Dans une gamme allant de 300nm
à 1300 nm. Il est donné par l’équation (2.13).
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∫ (4.13)
o Les fichiers d’entrée sont accessibles à l’utilisateur en format texte tel que les données
spectrales et les paramètres décrivant le dispositif.
o Possibilité d’introduire des interfaces et prise en compte du phénomène de
recombinaison en celle-ci.
o Introduction de résistances en série, et obtention des caractéristiques capacité-tension
et capacité –fréquence.
o C’est un logiciel qui présente une grande vitesse d’exécution.
Une tension à circuit ouvert Vco=0.6617 V, un courant de court-circuit Jcc= 32.89 mA/cm2,
un facteur de forme FF=81.30 et un rendement de conversion η=17.69%.
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Le rendement quantique de la cellule est donné sur la figure 4.4 montre un pic entre les
valeurs 90 -100 % puis une diminution due aux pertes par recombinaison.
Les valeurs obtenues pour la tension à circuit ouvert et le courant de court-circuit sont portées
sur le tableau 4.2.
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En effet, lorsque la température augmente la bande de gap devient plus étroite et ceci
accélère le phénomène de recombinaison des pairs électrons-trous entre la bande de
conduction et la bande de valence.
La forte réduction de Vco conduit à une diminution du facteur de forme FF ainsi que du
rendement de conversion η de la cellule solaire.
Les deux valeurs Vco et Jcc diminuent lorsque l’épaisseur de la couche absorbante diminue
car celle-ci absorbe de moins en moins de photons ayant les longues longueurs d’onde, ce qui
influence négativement le taux de génération de pairs électrons-trous.
Epaisseur de la
couche CuInSe2 Vco (V) Jcc (mA/cm2) FF % η (%)
(µm)
3.0 0.6617 32.8906 81.30 17.69
2.5 0.6595 32.6243 81.18 17.47
2.0 0.6554 32.1956 80.92 17.07
1.5 0.6488 31.4742 80.76 16.49
1.0 0.6405 30.5196 80.11 15.36
0.5 0.6090 27.6702 76.98 12.97
En revanche, pour des couches plus épaisses la génération se passe loin des interfaces
c’est pourquoi on observe une augmentation du rendement. Une épaisseur de 3.0 µm parait
être adéquate pour avoir un rendement optimal (17.69 %).
Ici on fait varier l’épaisseur du CdS de 0.06 à 0.001 µm. On observe une augmentation de
Vco et Jcc à mesure que l’épaisseur du CdS diminue tel que montré sur le tableau 4.4.
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Figure 4.7: Rendement quantique QE pour différentes épaisseurs de la
couche CdS. De 0.06 µm (rouge) à 0 .001µm (mauve).
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Epaisseur de la
couche CdS Vco (V) Jcc (mA/cm2) FF % η%
(nm)
0.06 0.6614 32.6005 81.28 17.53
0.05 0.6617 32.8906 81.30 17.69
0.025 0.6623 33.7256 81.36 18.17
0.005 0.6629 34.4464 81.36 18.58
0.002 0.6630 34.4574 81.38 18.59
0 .001 0.6631 34.4597 81.38 18.60
La couche CdS est responsable d’une partie des partes par absorption dans la cellule. Ainsi,
lorsque son épaisseur augmente le taux de photons d’énergie (hυ> Eg CdS) qui y sont
absorbés devient important, ce qui réduit le nombre de photons qui peuvent être absorbés par
la couche CIS, d’où l’augmentation du rendement quantique avec la diminution de l’épaisseur
de la couche tampon CdS (figure 4.7), particulièrement pour les longueurs d’onde λ=300-400
µm. Il parait qu’une épaisseur de 10 µm de CdS donne un rendement optimal (η=18.60 %).
Conclusion
Dans le but de pouvoir améliorer les performances des dispositifs photovoltaïques, ceci
nécessite parfois la présentation de modèles théoriques pour la simulation numérique. Dans ce
cette partie on a introduit le concept de simulation numérique sur la cellule solaire à base de
CIS, en prenant le soin de présenter un rappel succinct sur le modèle physique donné pour le
phénomène de transport, la photo génération et la recombinaison, comme on a décrit
brièvement le logiciel de calcul utilisé (SCAPS-1D).
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Chapitre 4 : Simulation numérique de la cellule CIS sur SCAPS-1D.
Conclusion générale
L’un des principaux obstacles rencontré pour que le photovoltaïque devienne plus
populaire est le cout du watt produit. Il n’est pas encore concurrentiel à celui de l’électricité
produite par les méthodes conventionnelles. Durant les dernières décennies, la course des
différents groupes de recherches et de sociétés vers la diminution du prix du watt d’électricité
produite par le photovoltaïque, conduit au développement de nouveaux semi-conducteurs
considérés actuellement comme matériaux promoteurs pour les applications photovoltaïques.
Parmi ces candidats, les couches minces de di-séléniure de Cuivre et d’Indium (CuInSe2). Par
rapport au silicium, les cellules solaires à base de ce semi-conducteur présenteraient une
efficacité élevée, une excellente stabilité, une résistance aux irradiations et une durée de vie
plus longue. Cependant, après plus de trente années de recherches et de développement les
cellules à base de CIS viennent tout récemment de passer au stade industriel et commercial,
avec par exemple, la mis au point en 2007 d’une unité de production avoisinant les 100 MW
annuelle [34]. La question qui se pose, qu’est ce qui doit être fait pour que la technologie CIS
atteint une grande échelle de production d’électricité photovoltaïque ?
D’une part, on doit satisfaire aux besoins de développement et accélérer les nouvelles
techniques comprenant l’amélioration des procédés de dépôt qui faciliteront la production
d’une grande masse de modules qui verra sans doute l’émergence d’une filière à bas coût au
côté des filières de haut rendement, et utilisant de substrats souples et légers, de type plastique
ou métal. D’autre part, des efforts doivent être fournis pour la compréhension des sciences
fondamentales des matériaux. Des améliorations significatives en terme de rendement
nécessite d’élucider la nature chimique et électronique des défauts qui limitent les
performances des cellules, ceci peut contribuer à établir des modèles complet pour les
processus de croissance des films minces Cu (In, Ga) Se2.
Finalement, les rendements atteints par les cellules CIS et les performances dont il a fait
preuve font de lui l’un des matériaux qui contribueront fortement au potentiel énergétique
solaire du futur.
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