Laboratorio 6. Abril 2020- Programas: Laboratorio de Física.

DIFRACCIÓN DE LA LUZ

Light diffraction
RESUMEN VALENTINA
En esta práctica de laboratorio llamada difracción de la luz CORREA MACIAS
hicimos incidir un haz de luz de láser sobre diferentes objetos Cód.1088345975
los cuales tenían una dimensión proporcional a la longitud de dalentina.correa@utp.edu.co
onda del haz de luz con lo cual logramos obtener unos patrones
de difracción, para los cuales tomamos las distancias entre el JEFERSON ALEXANDER
máximo central y los mínimos adyacentes. GIRALDO VALENCIA
PALABRAS CLAVES: haz de luz, longitud de onda, Cód. 1115422869
difracción, máximo central, mínimos adyacentes
DAHIANA ORTIZ VELEZ
ABSTRACT Cód. 1088038448
In this laboratory practice called light diffraction, we made a dahianna.ortiz@utp.edu.co
laser light beam fall on different objects which had a dimension
proportional to the wavelength of the light beam, with which we
were able to obtain diffraction patterns, for which we took the
distances between the central maximum and the adjacent
minimums.
KEYWORDS: light beam, wavelength, diffraction, central
maximum, adjacent minimums

OBJETIVOS propia longitud de onda, y que se manifiesta en

 Estudiar el patrón de difracción dado forma de perturbaciones en la propagación de la
por rendijas rectangulares sencillas y onda, bien sea rodeando el obstáculo, bien sea
dobles, aberturas circulares, y rejillas de produciéndose una divergencia a partir de la
difracción. abertura.
 Medir las constantes correspondientes Cuando se observa la difracción producida por
en cada caso. un objeto proyectando sobre una pantalla a una
distancia muy grande del propio objeto, la
1. FUNDAMENTACIÓN TEÓRICA distribución de intensidades observada de
El fenómeno de la difracción se presenta conoce como patrón de difracción de
cuando una onda interactúa con objetos cuyas Fraunhofer.
dimensiones son comparables con su longitud Patrón de difracción de Fraunhofer:
de onda. Consideremos un haz plano de luz
La difracción es el fenómeno que se produce monocromática de longitud de onda λ que en su
cuando las ondas (mecánicas, electromagnéticas propagación encuentra perpendicularmente una
o asociadas a partículas) alcanzan un obstáculo rendija estrecha de anchura 2b. De acuerdo con
o abertura de dimensiones comparables a su el principio de Huygens, cada punto de la
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rendija se convierte en un emisor de ondas El patrón de difracción por dos rendijas

secundarias. Puesto que por hipótesis el haz paralelas iguales resulta de la interferencia de
incidente es plano y la rendija se encuentra los dos patrones de difracción provenientes de
perpendicular a él, todas esas ondas secundarias cada una de las rendijas. Lo que se observa en
se encuentran en fase. Y si recogemos sobre la pantalla es un patrón de interferencia de
una pantalla lejana la radiación procedente de Young producido por dos rendijas rectangulares
todos estos focos emisores, encontraremos una modulado por un patrón de difracción de
distribución de intensidad donde cada uno de Fraunhofer por una rendija rectangular. En este
los puntos de la pantalla estará mas o menos caso los máximos de interferencia están dados
iluminado dependiendo de las fases de las por la siguiente expresión:
ondas secundarias que alcanzan el punto dado;
fases que a su vez dependerán del camino que dSenθ = mλ m = 1, 2,3
cada no de los rayos originados en estas fuentes
secundarias haya tenido que recorrer para llegar Donde: d es la distancia entre las dos rendijas, θ
allí. Aparecerán máximos y mínimos en la es la separación angular entre el máximo de
pantalla, y puntos con una intensidad interferencia central y los máximos
intermedia, que constituyen el patrón de secundarios, m es el orden del patrón de
difracción de la rendija. difracción para los máximos de interferencia y
λ la longitud de onda de la luz.
Puede demostrarse que la condición para que Patrón de difracción de Fraunhofer múltiples
rendijas:
La rejilla de difracción consiste en un gran
número de rendijas paralelas idénticas de ancho
b y separadas una distancia d. Cuando la rejilla
es iluminada convenientemente, el patrón
observado en la pantalla consiste en la
distribución de interferencia producida por N
haya interferencia destructiva en la pantalla se rendijas, modulado por un patrón de difracción
puede expresar mediante la ecuación: de una sola rendija. En la práctica lo que se
observa es una forma parecida al patrón de
bSenθ = mλ m = 1, 2, 3, .... difracción para la rendija doble extendida al
caso de N rendijas. En este caso la condición
Donde: b es el ancho de la rendija, θ es la para interferencia constructiva está dada por la
separación angular entre el centro del máximo expresión:
central y el centro de los mimos o regiones dSenθ = mλ.
oscuras observados, mes el orden del patrón de
difracción para los mínimos de intensidad (m Donde: d es la distancia entre las rendijas o
aumenta hacia los extremos del patrón de constante de la rejilla, θ es la separación
difracción) y λ es la longitud de onda de la luz angular entre los máximos secundarios y el
incidente. máximo central, m es el orden del patrón de
Patrón de difracción de Fraunhofer rendija difracción para máximos de intensidad, λ es la
doble:
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longitud de onda de la luz utilizada para obtener dispositiva y la pantalla debe ser la
el patrón de difracción. máxima posible.
2.2.2. Dibujar lo más fielmente posible
2. PROCEDIMIENTO el espectro de difracción.
2.1. Difracción por una rendija 2.2.3. Calcular la distancia angular
rectangular entre el máximo central y los
2.1.1. Colocar el accesorio de rejillas máximos secundarios
simples en el banco óptico. Se consecutivos. Organizar los datos
debe sujetar lateralmente y hacer en una tabla.
poca presión para que se acople al 2.2.4. Repetir el procedimiento para las
banco. Además, se debe situar a 1 siguientes dos rendijas dobles.
m de distancia del sensor de luz. 2.3. Múltiples rendijas de Difracción
2.1.2. Encender el diodo láser y 2.3.1. Con el mismo montaje utilizado
asegurarse que la luz incida sobre anteriormente, hacer incidir la luz
la primera y mas estrecha de las del láser sobre alguna de las
rejillas rectangulares. posiciones del accesorio con mas
2.1.3. Debe asegurar que la pantalla de dos rendijas.
esté perpendicular al haz de láser, 2.3.2. Tomar los datos teniendo en
luego observar el reflejo de láser cuenta los pasos seguidos
(sin rejilla) y girar o mover la anteriormente.
pantalla muy lentamente hasta que
el reflejo incida de nuevo sobre la 3. RESULTADOS
abertura frontal del láser. λ=650 nm  65x10(-5)mm
2.1.4. Medir la distancia entre el
alambre y la pantalla. 3.1. Difracción rendija simple
2.1.5. Para la toma de las medidas Dato de fábrica: L= 1m b= 0,3mm
dibujar el espectro de difracción tal X= Distancia del centro del máximo central
como se ve por detrás de la a los mínimos
pantalla acrílica (lado opaco de la ΔX=0,165mm-0,153mm
pantalla) Colocar en una hoja de ΔX=0,012 mm
papel.
2.1.6. Medir la distancia entre el centro 3.2. Difracción rendija doble
del máximo central y cada uno de b= 0,04 mm d=0,25 mm
los primeros cincos mínimos del
Rendija doble
patrón de difracción. Organizar
estos datos en una tabla. m ΔX1 ΔX2
2.2. Difracción por una rendija doble: 1 0,033 0,035
2.2.1. Hacer incidir el laser sobre la 2 0,069 0,05
primera rendija hasta observar en 3 -0,033 -0,044
la pantalla un patrón claro de 4 -0,066 -0,051
difracción. La distancia entre la Promedio
0,00075 -0,0025
(mm)
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3.3. Múltiples rendijas (3 rendijas)

b1 d1
m ΔX1 θ1 (m ΔX2 θ1 (m
Múltiples rendijas (3 rendijas)
m) m)
m ΔX1 ΔX2 0,0 88,7 0,6 0,0 88,8 0,5
1
1 0,044 0,05 44 0 5 5 5 6
2 0,053 0,06 0,0 88,9 1,0 0,0 89,0 0,9
2
53 2 7 6 5 9
3 -0,045 -0,051
- - - - - -
Promedio(mm) 0,0173 0,0197 3 0,0 88,7 1,9 0,0 88,8 1,6
45 3 0 51 8 6

Múltiples rendijas (4 rendijas) Promedi 0,0 29,6 0,0 0,0 29,6 0,0
o(mm) 173 301 583 197 742 350
m ΔX1 ΔX2
1 0,054 -0,029
2 0,082 0,05 Múltiples rendijas (4 rendijas)
3 -0,04 0,092
b1 d1
Promedio(mm) 0,0320 0,0377 m ΔX1 θ1 (m ΔX2 θ1 (m
m) m)
- -
0,05 88,9 -
1 0,53 0,02 88,0
4 4 7,25
4. ANÁLISIS 9 3
0,08 89,3 88,8
2 0,90 0,05 1,13
2 0 5
mλ
Despejando: b= -
sinθ 3
-
88,5
- 0,09 89,3
1,33
0,04 2,32 2 8
7
Rendija doble
b Promedio 0,03 29,8 0,29 0,03 30,0 1,59
d(m (mm) 20 908 53 77 688 63
m ΔX1 θ1 (m ΔX2 θ1
m)
m)
88, 1,4 0,03 88,
1 0,033
26 8 5 36
1,13 Errores
89, 0,9 88, Usamos la fórmula: Eb = (b / ) * Δ
2 0,069 0,05 1,13
17 4 85
-
- - - - Donde b /  = -m cot csc, y se halla con la
3 88, 4,4 0,04 88, -1,96
0,033 fórmula:
26 5 4 70
- - - -
-
4 89, 1,9 0,05 88, -2,22 Δ = ( ( / a) Δa)2 + ( / d) Δd)2 ) 1/2
0,066
13 0 1 88
Prome - - Luego para hallar las derivadas parciales
0,000 0,0 0,9
dio 0,00 0,0 0,48 usamos la relación  =arctan (a/d)
75 1 8
(mm) 25 9

Δ/ Δa = (1 / (1+ (a/d) 2 ) ) (1/d) = d / (d2 + a2 )

Δ/ Δd = (1 / (1+ (a/d) 2 ) ) (-a/d2) = -a / (d2 + a2 )

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5. CONCLUSIONES

 Se logró a través del fenómeno de

difracción obtener y evaluar distancias
referentes a diámetros exteriores, y
cualquier abertura que pueda ser
atravesada por el láser.
 La difracción no es un fenómeno
cualitativamente distinto de la
interferencia.
 Se observó que las imágenes producidas
en la pantalla siguen un patrón según el
objeto, si es un alambre en la pantalla
este se repetirá alternando zonas de luz
y zonas de sombra con forma de
rectángulos pequeños.

BIBLIOGRAFÍA

-Guías de laboratorio de física 3

Arcos Velasco Hector Ivan, Cruz Muñoz
Beatriz, Holguın Tabares Carlos Arturo, Marın
Ramırez William, Medina Milton Humberto,
Quiroga Hurtado John, Ramirez Ramırez
Ramiro, Riascos Landazury Henry, Zuluaga
Hernandez Raul Antonio. Guıas realizadas por
los profesores del Departamento de Fısica,
2011.

-Serway Raymond, Fisica Tomo I McGraw Hill

4º edición 1997.