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    Difracción Rayos X - Analisis Mineralogico (Informe)

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    Janny Carrillo Guerra
    Este documento describe el procedimiento para analizar muestras mediante el método de difracción de rayos X. Explica que este método permite identificar la composición mineralógica de muestras cristalinas a través de su difractograma característico y puede cuantificar los contenidos minerales con un error del 1%. Detalla los pasos del procedimiento, desde la preparación de la muestra hasta la obtención y análisis de los resultados usando software como TOPAS.

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    Difracción Rayos X - Analisis Mineralogico (Informe)

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    Janny Carrillo Guerra
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    Este documento describe el procedimiento para analizar muestras mediante el método de difracción de rayos X. Explica que este método permite identificar la composición mineralógica de muestras cristalinas a través de su difractograma característico y puede cuantificar los contenidos minerales con un error del 1%. Detalla los pasos del procedimiento, desde la preparación de la muestra hasta la obtención y análisis de los resultados usando software como TOPAS.

    Título original

    DIFRACCIÓN RAYOS X - ANALISIS MINERALOGICO (INFORME)

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    Este documento describe el procedimiento para analizar muestras mediante el método de difracción de rayos X. Explica que este método permite identificar la composición mineralógica de muestras cristalinas a través de su difractograma característico y puede cuantificar los contenidos minerales con un error del 1%. Detalla los pasos del procedimiento, desde la preparación de la muestra hasta la obtención y análisis de los resultados usando software como TOPAS.

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    Difracción Rayos X - Analisis Mineralogico (Informe)

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    Janny Carrillo Guerra
    Este documento describe el procedimiento para analizar muestras mediante el método de difracción de rayos X. Explica que este método permite identificar la composición mineralógica de muestras cristalinas a través de su difractograma característico y puede cuantificar los contenidos minerales con un error del 1%. Detalla los pasos del procedimiento, desde la preparación de la muestra hasta la obtención y análisis de los resultados usando software como TOPAS.

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    UNIVERSIDAD CENTRAL DEL ECUADOR

    FACULTAD DE INGENIERÍA EN GEOLOGÍA, MINAS, PETRÓLEOS Y AMBIENTAL


    ESCUELA DE GEOLOGÍA
    ANÁLISIS MINERALÓGICO
    Arciniéga Frank, Janina Carrillo
    INFORME DE LABORATORIO DE ANÁLISIS MINERALÓGICO
    PRÁCTICA DE LABORATORIO Nº 6

    TEMA: DIFRACCIÓN DE RAYOS X


    1. OBJETIVOS
    1.1. Objetivos Principal

    Conocer el procedimiento para analizar muestras por el método de difracción


    de rayos X.
    1.2. Objetivos Específicos
     Conocer la técnica y manejo del equipo de difracción de rayos X, así como sus
    aplicaciones.
     Identificar los tipos de muestras que pueden ser utilizadas para realizar análisis a
    través de este método.
     Conocer las principales características del equipo de difracción de rayos X.
    2. MATERIALES Y REACTIVOS

    Difractómetro de rayos X Portaobjetos de teflón

    Computadora, con software TOPAS Lámina de vidrio


    3. FUNDAMENTO TEÓRICO
    UNIVERSIDAD CENTRAL DEL ECUADOR
    FACULTAD DE INGENIERÍA EN GEOLOGÍA, MINAS, PETRÓLEOS Y AMBIENTAL
    ESCUELA DE GEOLOGÍA
    ANÁLISIS MINERALÓGICO
    Arciniéga Frank, Janina Carrillo
    La difracción de rayos X puede sintetizarse un los fenómenos físicos que se produce
    cuando un haz de rayos X interacciona con un sustancia cristalina, a determinada
    longitud de onda, es ahí donde se genera una dispersión del haz de rayos X en
    diferentes direcciones del espacio.
    En la actualidad se han desarrollado diferentes técnicas y software que permiten l
    identificación y análisis automático de diferentes muestras que son analizadas por
    medio de un difracto metro de rayos X, puesto que es el único método que permite
    hacer análisis mineralógico, porque su fundamento es la identificación cualitativa de la
    composición mineralógica de una muestra cristalina, ya que todos los sólidos
    cristalinos poseen su difractograma característico, tanto en su aspecto cualitativo
    como cuantitativo. A través del software Topas, se pueden realizar medidas
    cuantitativas del contenido de cierto mineral con un porcentaje de error de apenas 1%.

    Fig. 1.- Pantalla de TOPAS, donde los picos altos indican valores de cierto minerales que coinciden con
    valores guía para cada mineral.

    Este método de análisis mineralógico tiene ciertas restricciones como el límite de


    detección de un contenido mineral cuyo valor mínimo es del 1% por tanto no permite
    realizar un análisis de traza de mineral, solo pueden realizarse ensayos en muestras
    cristalinas sólidas, no húmedas y de preferencia pulverizadas.
    El difractómetro de rayos X tiene 3 partes fundamentales que son:
    1. Tubo generador
    2. Detector
    3. Generador de rayos X
    UNIVERSIDAD CENTRAL DEL ECUADOR
    FACULTAD DE INGENIERÍA EN GEOLOGÍA, MINAS, PETRÓLEOS Y AMBIENTAL
    ESCUELA DE GEOLOGÍA
    ANÁLISIS MINERALÓGICO
    Arciniéga Frank, Janina Carrillo

    Tubo generador

    Detector

    Generador de
    rayos X

    4. PROCEDIMIENTO
    I. Secar la muestra en la plancha térmica.
    II. Determinar la humedad si es que la tuviera.
    III. Moler la muestra en el molino vibratorio.
    IV. Colocar en el porta muestras, con la ayuda de una lámina de vidrio esparcir
    el materia.
    V. Colocar la muestra en el cargador y cerrar la compuerta del difractómetro.
    VI. Escoger el programa determinado para lectura del difractograma,
    especificando el tipo de muestra que se ha colocado.
    VII. Cuantificar el resultado a través del programa TOPAS
    VIII. Registrar los datos en el registro de difractometría.

    5. DISCUSIÓN

    La difractometría de rayos X es una técnica analítica de referencia para el estudio de la


    composición mineralógica de una amplia gama de materiales, inorgánicos u orgánicos,
    tanto de origen natural como sintético. El patrón de difractometría de rayos X de una
    sustancia se considera la “huella dactilar” de la sustancia. El material puede ser metal,
    mineral, cerámico, vidrio, plástico, recubrimiento en capa fina, papel, fármacos o
    prácticamente de cualquier tipo. Las muestras pueden estar en forma de polvo,
    sólidos, pastillas y películas delgas. La forma y tamaño pueden ser muy variables.
    Los nuevos equipos de difractómetro, requieren un sistema de enfriamiento, además
    cuentan con un detector que permite amplificar la respuesta obtenida.
    UNIVERSIDAD CENTRAL DEL ECUADOR
    FACULTAD DE INGENIERÍA EN GEOLOGÍA, MINAS, PETRÓLEOS Y AMBIENTAL
    ESCUELA DE GEOLOGÍA
    ANÁLISIS MINERALÓGICO
    Arciniéga Frank, Janina Carrillo
    Para el análisis de minerales a través de este método no se requiere grandes
    cantidades de muestra, sin embargo es necesario pulverizar la muestra.
    6. CONCLUSIONES
     El método de difracción por rayos X es el único método especializado en el
    análisis cualitativo de contenido mineral, con un límite de detección de hasta
    el 1%, pueden realizarse análisis cuantitativos a través de simulaciones
    matemáticas que son muy cercanas a los valores reales, como el caso del
    software TOPAS.
     El fundamento de esta técnica es la capacidad que tiene una haz rayos X para
    tomar “huella digital” de un mineral, por tanto la muestra que se usa siempre
    debe tener una estructura cristalina, la cual va a ser diferente y distintiva para
    cada mineral.
     Existen diversos usos que se le da a esta técnica, en nuestro país, se solicita
    este análisis especialmente en definición de contenido de cloruro de potasio
    y/o baritina en la industria petrolera, para determinar la presencia de un
    compuesto o la cantidad de cierto mineral en una muestra en la industria
    agrícola, química, etc.
     El equipo de difracción de rayos X admite muestras sólidas, totalmente secas,
    las mismas que pueden estar en forma de pastillas, pasta o pulverizadas.
    7. REFERENCIAS

    http://www.idaea.csic.es/index.php?
    option=com_ogngrups&view=detall_grup&Itemid=98&cid=46&lang=es
    https://www.upct.es/~minaeees/difraccion_rayosx.pdf
    file:///C:/Users/Usuario/Downloads/PROCEDIMIENTO%20PARA%20ANALISIS
    %20DE%20MUESTRAS%20POR%20DIFRACCION%20DE%20RAYOS%20X.pdf
    https://www.upv.es/materiales/Fcm/Fcm03/pfcm3_4_1.html

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