CT Analyzer User Manual

CT Analyzer
Manual del usuario

Manual del usuario de CT Analyzer
Versión del manual: ESP 1039 05 04

Este manual hace referencia a la versión 5.10 del firmware de CT Analyzer y al software
CT Analyzer Suite.
© OMICRON electronics GmbH 2020. Todos los derechos reservados.
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2 OMICRON
Contenido
Contenido
Acerca de este manual 7
Símbolos de seguridad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
Documentos relacionados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1 Instrucciones de seguridad 9
1.1 Cualificación de los operadores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.2 Normas y reglas de seguridad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.2.1 Normas de seguridad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.2.2 Reglas de seguridad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.3 Funcionamiento seguro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.3.1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.3.2 Integridad del equipo de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.3.3 CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.3.4 Configuración de la prueba y área de trabajo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
1.3.5 Realización de pruebas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
1.4 Alimentación eléctrica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.5 Medidas reglamentarias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.6 Exención de responsabilidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.7 Declaraciones de conformidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.8 Reciclaje. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2 Introducción 14
2.1 Uso previsto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.2 "Reconocimiento" de parámetros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.3 Componentes funcionales del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
2.3.1 Vista general . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
2.3.2 Unidad de conexión a la red y puesta a tierra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.3.3 Ranura para tarjetas Compact Flash . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.3.4 Interfaz de control remoto (conexión de PC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.3.5 Entradas y salidas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.3.6 Tecla I/0 con LED de estado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
2.3.7 Pantalla con teclas configurables. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
2.3.8 Teclado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
2.4 Licencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.4.1 Ámbito funcional según la licencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.4.2 Tipos de licencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.5 Conjunto de material suministrado en la entrega, accesorios, licencias disponibles . . . . . . . . . . . 23
3 Configuración y conexión 24
3.1 Reglas de seguridad generales para la conexión y el funcionamiento del CT Analyzer . . . . . . . . 24
3.2 Instalación del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
3.3 Conexión del CT Analyzer a un ordenador (opcional) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
3.4 Conexión para aplicaciones habituales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.4.1 Cableado para una prueba de TC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.4.2 Cableado para una prueba de carga . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.4.3 Cableado para la medida de la resistencia principal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.5 Conexión para aplicaciones especiales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.5.1 Medida en un núcleo separado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.5.2 Medida de la curva de excitación para un núcleo de hierro sin devanado . . . . . . . . . . . 34
3.5.3 Medida en un conjunto de conmutadores GIS (SF6) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
3.5.4 Medida en TCs tipo borna . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.5.5 Medida de la relación de TP con la Prueba Quick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.5.6 Medida de la resistencia del devanado con la Prueba Quick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.5.7 Verificación de la polaridad con la Prueba Quick y verificador de la polaridad CPOL2 . . 45
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3.6 Desconexión. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
3.7 Mejora de la calidad de los resultados de la medida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.7.1 Medida con 4 hilos frente a medida con 2 hilos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.7.2 Técnicas de reducción de señales parásitas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
4 Pruebas del TC en el modo de prueba de TC ("nueva prueba de TC") 49
4.1 Guía breve (modo de prueba de TC ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
4.2 Ejecución de una prueba (modo de prueba de TC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
4.2.1 Instalación del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
4.2.2 Preparación, configuración y ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
4.2.3 Una vez finalizada la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
4.2.4 Desconexión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
5 Pruebas del TC en el modo de prueba avanzada de TC ("nueva prueba avanzada de TC") 55
5.1 Guía breve (modo de prueba avanzada de TC). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
5.2 Ejecución de una prueba (modo de prueba avanzada de TC). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
5.2.1 Instalación del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
5.2.2 Preparación y configuración de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
5.2.3 Ejecución de la prueba automática y conexión del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
5.2.4 Una vez finalizada la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
5.2.5 Desconexión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
6 Uso y configuración del CT Analyzer 67
6.1 Cómo trabajar en la interfaz de usuario . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
6.1.1 Visualización de una determinada tarjeta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
6.1.2 Uso de las teclas configurables . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
6.1.3 Edición de una tarjeta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
6.2 El Menú Principal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
6.3 Nueva prueba de TC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
6.4 Nueva prueba de MR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
6.5 Nueva prueba avanzada de TC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
6.6 Nueva prueba avanzada de MR. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
6.7 Nueva prueba rápida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
6.8 Ajustes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
6.8.1 Opciones disponibles en la página del menú Ajustes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
6.8.2 Selección de tarjeta de prueba por defecto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
6.8.3 Ajustes varios . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
6.9 Herramientas (funciones de actualización) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
6.9.1 Opciones disponibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
6.9.2 Actualizar función de texto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
6.9.3 Actualizar función de firmware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
6.9.4 Función Actualizar licencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
6.10 Manejo de archivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
6.10.1 Funciones disponibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
6.10.2 Cómo trabajar en el sistema de archivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
6.11 Sistema de ayuda del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
6.12 Uso del CT Analyzer desde un ordenador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
7 Tarjetas de prueba para el modo de prueba de TC 86
7.1 Descripción general de las tarjetas de prueba disponibles en el modo de prueba de TC . . . . . . . 86
7.2 Tarjeta CT-Objeto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
7.2.1 Teclas configurables disponibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
7.2.2 Campos de información que debe llenar el usuario . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
7.2.3 Parámetros y ajustes utilizados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
7.3 Tarjeta Resultados de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
7.3.2 Resultados de prueba mostrados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
4 OMICRON
Contenido
7.3.3 Detalles de la medición de la resistencia del devanado secundario . . . . . . . . . . . . . . . . 91

7.3.4 Gráfico de excitación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
7.4 Tarjeta Comentario. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
8 Tarjetas de prueba para el modo de prueba avanzada de TC 95
8.1 Descripción general de las tarjetas de prueba disponibles en el modo de prueba avanzada
de TC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
8.2 Tarjeta CT-Objeto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
8.2.2 Campos de información que debe llenar el usuario . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
8.2.3 Parámetros y ajustes que utiliza o determina el proceso de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . 98
8.3 Tarjeta Carga . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
8.3.1 Ajustes de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
8.3.2 Resultados de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
8.3.3 Conexión de la carga y ejecución de la prueba de carga . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
8.4 Tarjeta Magnetismo residual . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
8.4.1 Ajustes y resultados de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
8.4.2 Ejecución de una medición del magnetismo residual . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
8.5 Tarjeta Resistencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122
8.5.1 Medición de la resistencia del devanado principal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
8.5.2 Medición de la resistencia del devanado secundario. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
8.5.3 Ajustes y resultados de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124
8.6 Tarjeta Excitación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
8.6.1 Teclas configurables disponibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
8.6.4 Gráfico de excitación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132
8.6.5 Gráfico de error de limitación de exactitud* . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134
8.7 Tarjeta Relación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 136
8.7.1 Teclas configurables disponibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
8.7.4 Tabla de relación y tabla de fases para IEC 60044-1, IEC 60044-6 e IEC 61869-2 . . . 139
8.7.5 Tabla de relación y tabla de fases para IEEE C57.13 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
8.8 Tarjeta Evaluación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
8.8.1 Detalles de la evaluación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142
8.8.2 Parámetros evaluados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
8.9 Tarjeta Comentario. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148
9 Uso de la función de reconocimiento automático 149
9.1 Acerca de la función de reconocimiento automático . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150
9.2 Instalación y conexión del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
9.3 Preparación y configuración de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
9.4 Ejecución de una prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
9.5 Una vez finalizada la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
9.6 Desconexión. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153
10 Uso de la función Prueba Quick 154
10.1 Notas de seguridad y notas sobre el uso de la Prueba Quick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
10.2 Introducción a la Prueba Quick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155
10.3 Cómo realizar medidas con la Prueba Quick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
10.4 Tipo de medida Avanzado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
10.5 Comprobación de polaridad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
10.6 Medida de la relación de TC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
10.7 Medición de la relación del TT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
10.8 Medición de resistencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 172
OMICRON 5
10.9 Medida de impedancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175

10.10 Medida de reactancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
11 Control remoto a través del ordenador 179
11.1 CT Analyzer Suite . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
11.1.1 Requisitos del sistema . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
11.1.2 Instalación de CT Analyzer Suite . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
11.1.3 Vista de inicio de CT Analyzer Suite . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
11.2 Software CT Analyzer Remote Control . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
11.2.1 Requisitos del sistema . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
12 Datos técnicos 182
12.1 Alimentación eléctrica de la red . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 182
12.2 Especificaciones de salida y entrada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 182
12.2.1 Salida del generador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 182
12.2.2 Entradas de medición . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
12.3 Exactitud de medición de la resistencia del devanado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
12.4 Exactitud de la medida de relación y fase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
12.5 Interfaz de tarjetas Compact Flash . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 184
12.6 Interfaz de control remoto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 185
12.6.1 Interfaz RS232 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 185
12.6.2 Interfaz USB. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
12.7 Condiciones ambientales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
12.8 Datos mecánicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
12.9 Normas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187
13 Mantenimiento por parte del usuario 188
13.1 Cuidado y limpieza . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
13.2 Cambio de fusibles. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
13.3 Calibración del CT Analyzer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
14 Mensajes de error y de aviso 190
Asistencia 204
6 OMICRON
Acerca de este manual
Acerca de este manual

Este Manual del usuario proporciona información sobre cómo usar la unidad de prueba CT Analyzer.
Además de contener instrucciones de seguridad de gran importancia para trabajar con CT Analyzer, el
Manual del usuario de CT Analyzer le permitirá familiarizarse con el funcionamiento de la unidad de
prueba CT Analyzer. Lea y respete las instrucciones de seguridad descritas en el capítulo
1 "Instrucciones de seguridad" en la página 9 y todas las instrucciones pertinentes de instalación y uso.
Seguir las instrucciones presentes en este Manual del usuario le ayudará a evitar riesgos, gastos en
reparaciones y posibles períodos de inactividad por un uso incorrecto.
El Manual del usuario de CT Analyzer siempre debe encontrarse en el lugar en el que se utilice
CT Analyzer. Todos los usuarios de CT Analyzer deben leer este manual antes de poner en
funcionamiento el dispositivo y tener presentes las instrucciones de seguridad, instalación y
funcionamiento que se recogen.
La mera lectura del Manual del usuario de CT Analyzer no le exime de la obligación de cumplir todas
las normas de seguridad nacionales e internacionales pertinentes.
Símbolos de seguridad
En este manual, los siguientes símbolos indican instrucciones de seguridad para evitar riesgos.
PELIGRO
Si no se cumplen las instrucciones de seguridad, se producirán lesiones graves o incluso
la muerte.
AVISO
Si no se cumplen las instrucciones de seguridad, se pueden producir lesiones graves o
incluso la muerte.
PRECAUCIÓN
Si no se cumplen las instrucciones de seguridad, se pueden producir lesiones leves o
moderadas.
NOTIFICACIÓN
Posibilidad de desperfectos en los equipos o pérdida de datos.
OMICRON 7
Documentos relacionados
Los siguientes documentos completan la información que se ofrece en el Manual del usuario de
CT Analyzer:
Título Descripción
Manual del usuario de CT SB2 Contiene información sobre el uso y el funcionamiento de la caja de
conexiones CT SB2 opcional para la medida de TC de relación
múltiple con CT Analyzer, así como instrucciones de seguridad para
trabajar con la caja de conmutadores CT SB2.
Ayuda de CT Analyzer Suite Contiene información detallada sobre el software
CT Analyzer Suite.
8 OMICRON
Instrucciones de seguridad
1 Instrucciones de seguridad
1.1 Cualificación de los operadores
El trabajo con equipos de potencia de alta tensión puede ser extremadamente peligroso. Solo el
personal cualificado y formado en ingeniería eléctrica tiene autorización para manejar el CT Analyzer y
sus accesorios. Antes de comenzar el trabajo, establezca claramente las responsabilidades.
El personal no experimentado en la realización de pruebas con el CT Analyzer debe estar en todo
momento bajo la supervisión de un operador experimentado mientras trabaja con el equipo. El operador
supervisor debe estar familiarizado con el equipo y las normativas locales. El operador es responsable
de las medidas de seguridad durante toda la prueba.
Solo el personal cualificado de OMICRON tiene permiso para realizar tareas de mantenimiento y
reparaciones en la unidad de prueba CT Analyzer (consulte "Asistencia" en la página 204).
1.2 Normas y reglas de seguridad

1.2.1 Normas de seguridad
Al realizar pruebas con el CT Analyzer, deben cumplirse todas las instrucciones de seguridad internas,
así como las instrucciones proporcionadas en cualquier otro documento relacionado con la seguridad.
Asimismo, siga las normas de seguridad indicadas a continuación, si procede:
• EN 50191 (VDE 0104) "Erection and Operation of Electrical Equipment" (Instalación y uso de
equipos para pruebas eléctricas)
• EN 50110-1 (VDE 0105 Sección 100) "Operation of Electrical Installations" (Uso de instalaciones
eléctricas)
• IEEE 510 "IEEE Recommended Practices for Safety in High-Voltage and High-Power Testing"
(Prácticas recomendadas por el IEEE para seguridad en pruebas con alta tensión y alta potencia
eléctrica)
Además, deben cumplirse todas las normas aplicables para la prevención de accidentes en el país y en
el sitio de uso.
Antes de utilizar la unidad de prueba CT Analyzer, lea atentamente las instrucciones de seguridad
incluidas en el Manual del usuario.
No encienda la unidad de prueba CT Analyzer ni utilice el CT Analyzer si tiene alguna duda sobre la
información de seguridad que figura en este manual. Si no entiende alguna norma de seguridad,
póngase en contacto con OMICRON antes de continuar.
1.2.2 Reglas de seguridad

Siga siempre estas cinco reglas de seguridad:
► Desconecte el equipo en su totalidad
► Asegúrese de que no vuelve a conectarse.
► Verifique la ausencia de tensión en la instalación.
► Cortocircuite y ponga la instalación a tierra.
► Establezca la protección correspondiente contra partes vivas contiguas.
OMICRON 9
Manual del usuario del CT Analyzer
1.3 Funcionamiento seguro

1.3.1 General
A la hora de usar el CT Analyzer y sus accesorios, lea las siguientes instrucciones de seguridad.
► Las instrucciones de seguridad indicadas aquí se aplican siempre al utilizar el CT Analyzer. Se
complementan con notas y avisos aplicables únicamente a acciones específicas. En este manual del
usuario, estas notas y avisos específicos se indican cuando es necesario.
► Además de las instrucciones de seguridad indicadas en este manual, siga siempre las instrucciones
de seguridad internas de la compañía, así como los documentos de seguridad.
► En caso de problemas o preguntas, o si no se entiende alguna instrucción de seguridad, póngase en
contacto con el servicio de asistencia técnica de OMICRON (consulte el capítulo "Asistencia" en la
página 204).
► Aceptar las normas también conlleva seguir las instrucciones de este Manual del usuario.
► Cumpla siempre con las cinco reglas de seguridad y siga las instrucciones de seguridad cuando
desconecte el equipo en prueba.
1.3.2 Integridad del equipo de prueba

► Utilice la unidad de prueba CT Analyzer y sus accesorios solo cuando estén en buen estado técnico.
Asegúrese de que su uso está en consonancia con las normativas locales y con las instrucciones
descritas en este documento.
► Si el CT Analyzer o cualquier dispositivo o accesorio añadido parece no funcionar correctamente,
póngase en contacto con el servicio de asistencia de OMICRON (consulte el capítulo "Asistencia" en
la página 204).
► Utilice únicamente cables y accesorios originales disponibles de OMICRON.
► No utilice el CT Analyzer en condiciones ambientales que sobrepasen los límites de temperatura y
humedad que se indican en el capítulo 12 "Datos técnicos" en la página 182.
► No abra la unidad de prueba CT Analyzer. Al abrir el CT Analyzer sin autorización, se invalida toda
posible reclamación en garantía. No repare, modifique, amplíe ni adapte el CT Analyzer ni ninguno
de sus accesorios.
1.3.3 CT Analyzer
► Coloque la unidad de prueba CT Analyzer de modo que pueda desconectarlo fácilmente de la
tensión.
► Antes de poner en funcionamiento el CT Analyzer, revise el equipo para comprobar que no presenta
desperfectos visibles.
► Al poner en funcionamiento el CT Analyzer, asegúrese de que las rendijas de aire, el interruptor de
corriente y el enchufe de la alimentación eléctrica de la unidad de prueba CT Analyzer no se hayan
bloqueado y que la unidad de prueba se pueda desconectar con facilidad de la corriente.
► No utilice el CT Analyzer en presencia de gases o vapores explosivos.
► No introduzca objetos (p. ej., destornilladores, etc.) en las rendijas de ventilación ni en ninguna toma
de entrada/salida.
10 OMICRON
1.3.4 Configuración de la prueba y área de trabajo
CT Analyzer
Equipo en
prueba
Área de trabajo Área peligrosa
Figura 1-1: Representación esquemática de la configuración de la prueba que muestra la separación

entre el área de trabajo y el área peligrosa
► Defina un área peligrosa alrededor del equipo en prueba y asegure el área para evitar accesos no
autorizados mediante una barrera de cadena y una señal de aviso.
► Manténgase siempre en el área de trabajo durante la prueba. No entre en el área de alta tensión
durante la secuencia de la prueba si no se lo solicita explícitamente el CT Analyzer o
CT Analyzer Suite.
► Impida la presencia de otras personas en el área peligrosa alrededor del equipo en prueba.
► Coloque siempre la unidad de prueba CT Analyzer sobre una base sólida y seca en la zona de
trabajo.
► Asegúrese de poner a tierra la unidad de prueba CT Analyzer como se describe en la sección
3.2 "Instalación del CT Analyzer" en la página 26.
► Conecte los cables de prueba o los cables de comunicación primero al dispositivo conectado a tierra
antes de desenrollarlos.
► Mantenga los cables sin desenrollar cerca del suelo.
► No permanezca en las proximidades ni debajo de un punto de conexión, ya que las pinzas podrían
soltarse y tocarle.
1.3.5 Realización de pruebas

Observe lo siguiente al realizar pruebas:
► Tenga siempre presente el peligro que suponen las altas tensiones y las corrientes asociadas a este
equipo. Preste atención a la información que figura en este manual.
► Quédese en el área de trabajo durante la prueba.
► No retire nunca ningún cable del CT Analyzer ni del equipo en prueba mientras se realiza una
prueba.
► Cuando desconecte los cables, empiece siempre por el dispositivo que suministra la corriente.
► Inicie la prueba solo si se tomaron todas las precauciones de seguridad y si está completamente
seguro de que no hay nadie en el área potencialmente peligrosa alrededor del equipo en prueba.
OMICRON 11
1.4 Alimentación eléctrica

Asegúrese de que la alimentación eléctrica que reciba la unidad de prueba CT Analyzer provenga
únicamente de una toma de corriente con conexión a tierra de protección (PE). El CT Analyzer se puede
alimentar desde fase a neutro o desde fase a fase. Sin embargo, la tensión no debe sobrepasar
240 V CA.
1.5 Medidas reglamentarias

Asegúrese de que el Manual del usuario del CT Analyzer o, como alternativa, el manual electrónico
estén disponibles en el lugar en el que se vaya a utilizar el CT Analyzer.
Los usuarios del CT Analyzer deben leer este manual antes de poner en funcionamiento el dispositivo
y tener presentes las instrucciones de seguridad, así como todas las instrucciones correspondientes a
la conexión y el funcionamiento.
La unidad de prueba CT Analyzer y sus accesorios solo pueden emplearse según la documentación del
usuario (incluidos, sin carácter limitativo, los manuales de usuario, los manuales de referencia, los
manuales de introducción y los manuales del fabricante). El fabricante y el distribuidor no se hacen
responsables de los daños derivados de un uso indebido.
Si abre el dispositivo CT Analyzer o sus accesorios sin autorización, se invalidará cualquier reclamación
de la garantía. Solo el personal autorizado de OMICRON puede llevar a cabo el mantenimiento, la
calibración o las reparaciones en el dispositivo.
1.6 Exención de responsabilidad

Si el equipo se usa de una manera distinta a la descrita en la documentación del usuario, la protección
con la que cuenta el equipo puede verse negativamente afectada. El fabricante y el distribuidor no se
hacen responsables de las instrucciones de seguridad que aparecen en este manual ni de ninguna otra
norma o regla de seguridad relevante local, nacional, internacional o interna de la compañía que no se
cumpla.
1.7 Declaraciones de conformidad

Declaración de conformidad (UE)
El equipo cumple las normas generales del Consejo de la Unión Europea para satisfacer los requisitos
de los estados miembros en materia de la directiva de compatibilidad electromagnética (CEM), la
directiva sobre baja tensión (LVD) y la directiva sobre limitación de utilización de determinadas
sustancias peligrosas en aparatos eléctricos y electrónicos.
FCC compliance (USA)

This equipment has been tested and found to comply with the limits for a Class A digital device, pursuant
to part 15 of the FCC Rules. These limits are designed to provide reasonable protection against harmful
interference when the equipment is operated in a commercial environment. This equipment generates,
uses, and can radiate radio frequency energy and, if not installed and used in accordance with the
instruction manual, may cause harmful interference to radio communications. Operation of this
equipment in a residential area is likely to cause harmful interference in which case the user will be
required to correct the interference at his own expense.
12 OMICRON
Changes or modifications not expressly approved by the party responsible for compliance could void the
user's authority to operate the equipment.
Declaration of compliance (Canada)

This Class A digital apparatus complies with Canadian ICES-003.
Cet appareil numérique de la classe A est conforme à la norme NMB-003 du Canada.
1.8 Reciclaje
Esta unidad de prueba (incluidos todos sus accesorios) no está prevista para
uso doméstico. Al terminar su vida útil, no deseche la unidad de prueba como
si fuera un residuo doméstico.
Para clientes en países de la UE (incl. el Espacio Económico Europeo)
Las unidades de prueba de OMICRON están supeditadas a la directiva sobre
residuos de aparatos eléctricos y electrónicos 2012/19/UE (directiva RAEE). Como
parte de nuestras obligaciones legales en virtud de esta legislación, OMICRON
ofrece recoger la unidad de prueba y asegurarse de que esta se deseche mediante
agentes de reciclaje autorizados.
Para clientes fuera del Espacio Económico Europeo
Póngase en contacto con las autoridades competentes en materia medioambiental
de su país y deseche el equipo de prueba de OMICRON de acuerdo con los
requisitos legales.
OMICRON 13
2 Introducción
2.1 Uso previsto
El CT Analyzer está concebido para efectuar la prueba y calibración automáticas de transformadores
de corriente (es decir, TCs con núcleos no separados) con bajo flujo de dispersión, tanto en laboratorios
como en instalaciones eléctricas. La prueba de los TCs con núcleos separados también es posible, pero
con una exactitud restringida. Con el CT Analyzer se pueden realizar las siguientes pruebas:
• Medida de la carga
• Medida del magnetismo residual de los TCs
• Medida de la resistencia del devanado del TC
• Medida de la característica de excitación del TC conforme a IEC 61869-2, IEC 60044-1,
IEC 60044-6 (TPS, TPX, TPY, TPZ) e IEEE C57.13.
• Medida de la relación del TC considerando la carga conectada
• Medida de fase y polaridad del TC
• Determinación del factor límite de la exactitud, factor de seguridad del instrumento, constante de
tiempo secundario, factor de corriente simétrica de cortocircuito, factor de dimensionamiento de
transitorios, factor de remanencia, punto de inflexión para tensión/corriente, clase, inductancia
saturada y no saturada.
• Reconocimiento de parámetros de TC desconocidos y evaluación automática basándose en estos
valores (consulte la sección 2.2 siguiente).
Con la función Prueba Quick es posible utilizar también el CT Analyzer como multímetro versátil con
fuente de alimentación incluida. Con él, sería posible:
• Realizar una medición rápida y sencilla de la resistencia, por ejemplo, pruebas de cableado en el
lado secundario de los TCs.
• Llevar a cabo pruebas rápidas de relación de tensión en los TPs.
• Realizar una medición de valores de carga, por ejemplo, para determinar el nuevo valor de carga
después de modificar el equipo de relé. Esto permite al CT Analyzer recalcular los resultados de la
prueba de TC para el nuevo valor de carga, con lo que deja de ser necesario ejecutar una nueva
prueba de TC para determinar el comportamiento de TC con la nueva carga.
• Hacer verificaciones rápidas del cableado con el comprobador de polaridad CPOL2 de OMICRON.
Si utiliza CPOL2 junto con la señal de prueba específica proporcionada por la función Prueba Quick
del CT Analyzer, podrá verificar una serie de puntos de prueba (por ejemplo, el cableado de carga)
para obtener una polaridad correcta.
El CT Analyzer está concebido exclusivamente para las aplicaciones descritas anteriormente. Se
considera que cualquier otra modalidad de uso no se ajusta a las normas. El fabricante y el distribuidor
no se hacen responsables de los daños derivados de un uso indebido. El usuario asume en exclusiva
toda la responsabilidad y todos los riesgos.
14 OMICRON
Introducción
Mediciones de desviación de fase y error de relación con equipo de prueba

directo (inyección de corriente primaria) e indirecto (inyección de tensión
secundaria)
Los métodos de prueba alternativos con la tecnología de prueba indirecta aplicada por el CT Analyzer
proporcionan unos resultados similares a las pruebas directas con altas corrientes para diseños de TC
que presentan un bajo flujo de dispersión. Se ofrece una comparativa y se pueden utilizar ambos
métodos de prueba sin procedimientos adicionales. En cuanto a los TCs que presentan un flujo de
dispersión considerable (por ejemplo, los que tienen entrehierros amplios, una relación baja o
devanados secundarios enrollados de manera no uniforme), los resultados de desviación de fase y/o
errores de relación pueden diferir entre el método de prueba directo y el indirecto debido a las diferentes
metodologías de prueba que requieren más procedimientos.
Si se desconoce el tipo de diseño de TC, OMICRON recomienda volver a confirmar las características
del TC de antemano y/o llevar a cabo una calibración inicial entre el método directo y el indirecto para
el tipo de TC en concreto.
Como ejemplo, lo que se denomina factor de construcción mencionado en la norma IEC 61869-2 indica
si el TC presenta un flujo de dispersión alto o bajo. Por debajo del límite especificado, ambos métodos
de prueba (el directo y el indirecto) brindan resultados similares.
En todos los demás casos, podría haber diferencias entre el método de prueba directo y el indirecto, y
se recomienda llevar a cabo una calibración inicial, una documentación de los resultados y un examen
posterior de las diferencias. Siguiendo este procedimiento, la alta replicabilidad del CT Analyzer permite
incluso aplicar el CT Analyzer para realizar una calibración rastreable del TC.
2.2 "Reconocimiento" de parámetros

El modo de prueba avanzada de TC del CT Analyzer proporciona la función de reconocimiento
automático que ha sido concebida para ayudar al usuario a descubrir los datos de una placa con nombre
desconocido. Por ejemplo, en los casos en los que la placa del nombre del TC sea ilegible. Si hay
suficientes datos de la placa del TC disponibles, que hayan sido especificados por el usuario, esta
función podrá definirse con los datos del TC ausentes, como, por ejemplo, Iprim, Isec, clase o relación.
Los parámetros que reconoce el CT Analyzer se marcan con un signo de interrogación en la interfaz de
usuario de la tarjeta CT-Objeto antes de la prueba. Para que el CT Analyzer reconozca un parámetro,
seleccione la tecla configurable ? en lugar de especificar un valor para este parámetro. Durante la
prueba, el CT Analyzer sustituye el signo de interrogación por el valor reconocido.
Al usar esta función, tenga en cuenta que las evaluaciones realizadas con uno o más parámetros
reconocidos pueden diferir de una evaluación basada en los datos exactos de la placa del
nombre. Una evaluación absolutamente fiable solo se garantiza si todos los datos del TC
necesarios se especifican antes de la prueba.
Para obtener información detallada sobre la función de reconocimiento automático, consulte el capítulo
9 en la página 149.
OMICRON 15
2.3 Componentes funcionales del CT Analyzer

2.3.1 Vista general
La Figura 2-1 ofrece una vista general de los elementos de operación y visualización y de los conectores
del CT Analyzer.
OUTPUT Pantalla Interfaz de control remoto Terminal de

Salida del con teclas dependientes del contexto Interfaz RS232 e interfaz USB puesta a tierra
generador ("teclas configurables") para la conexión del CT Analyzer
a un ordenador
Teclado Ranura para tarjetas

con teclas de cursor y teclas de Compact Flash
selección de tarjeta
SEC, PRIM Tecla I/0 Unidad de conexión a la red

Entradas de medida con LED de estado Conector hembra de la red con fusible
e interruptor de encendido/apagado
Figura 2-1: Descripción general del CT Analyzer
16 OMICRON
Introducción
2.3.2 Unidad de conexión a la red y puesta a tierra
Conector hembra de la red (IEC 320)
Fusible de la red: 2 x T 6,3 A / 250 V,

alta capacidad de interrupción
Interruptor de encendido/apagado
Terminal de puesta a tierra

(conector hembra de 4 mm combinado con tuerca
moleteada para la conexión mediante pinza)
Figura 2-2: Unidad de conexión a la red y terminal de puesta a tierra
2.3.3 Ranura para tarjetas Compact Flash
Tarjeta Compact Flash

Soporte para almacenamiento de
datos de prueba.
Botón Expulsar
Se utiliza para expulsar la tarjeta
Compact Flash.
Figura 2-3: Ranura para tarjetas Compact Flash
OMICRON 17
2.3.4 Interfaz de control remoto (conexión de PC)

Los dispositivos CT Analyzer a partir del número de serie JHxxxx incluyen una interfaz USB y una
interfaz RS232. Puede usar ambas interfaces alternativamente para conectar la unidad de prueba
CT Analyzer a un ordenador.
OMICRON recomienda usar la interfaz USB, ya que la comunicación por USB es mucho más rápida que
por RS232.
Interfaz RS232
Interfaz USB
(conector de tipo B)
Figura 2-4: Interfaz de control remoto (RS232 y USB)
Puesto que en este caso el CT Analyzer ofrece dos interfaces alternativas, el usuario debe seleccionar
la interfaz que desea usar (o comprobar la selección) en los ajustes del CT Analyzer antes de conectar
el CT Analyzer. El ajuste predeterminado para esos dispositivos es USB.
1. Abra el Menú Principal del CT Analyzer y seleccione Ajustes.
2. En la página Menú Ajustes, seleccione Interfaz remota.
3. En la página Seleccionar puerto de interfaz remota, seleccione la interfaz que está utilizando en
ese momento para conectar el CT Analyzer al ordenador: USB o RS232.
El CT Analyzer solo se comunicará a través de la interfaz seleccionada. El ordenador no la identificará
si los ajustes del CT Analyzer no coinciden con la interfaz utilizada para la conexión.
Nota: Consulte las siguientes secciones para obtener más información:
► Sección 3.3 en la página 27 para obtener información sobre cómo conectar el CT Analyzer a un PC.
► Capítulo 6 en la página 67 para obtener información general sobre cómo utilizar el CT Analyzer.
► Sección 6.8 en la página 71 para obtener información más detallada sobre la página Menú Ajustes.
18 OMICRON
Introducción
2.3.5 Entradas y salidas
AVISO
La alta tensión puede causar lesiones graves o la muerte
Mientras parpadea el LED rojo de la tecla , la salida está activada y pueden producirse
tensiones letales por la alta energía almacenada en el entorno eléctrico conectado (por
ejemplo, condensadores, bobinas de inductancia, cables, etc.).
► No toque el equipo en prueba ni los cables de medición mientras el LED rojo esté
parpadeando.
► Espere hasta que el LED rojo se apague y el LED verde se encienda para tocar el
sistema de medición.
► Si la medición se interrumpe repentinamente, por ejemplo, debido a una falta de
tensión o a un comportamiento erróneo del CT Analyzer, no toque la configuración de
prueba hasta que haya pasado un tiempo y la energía almacenada en el entorno
eléctrico conectado se haya disipado.
OUTPUT
Salida del generador.
CA: 40 Vrms, 5 Arms
CC: 120 V, 5 A (pico de 15 A)
SEC
Entrada de medida correspondiente al lado secundario del TC, 300 VCA máx.
PRIM
Entrada de medida correspondiente al lado primario del TC, 30 VCA máx.
Figura 2-5: Entradas y salidas del CT Analyzer
OMICRON 19
2.3.6 Tecla I/0 con LED de estado

LED rojo a la izquierda, LED verde a la derecha.
Tecla I/0 para comenzar la prueba.
Durante el proceso de arranque, después de encender el CT Analyzer, ambos LED están
encendidos. El LED rojo se apaga cuando termina el proceso de arranque y el CT Analyzer
ya se puede utilizar.
El LED verde permanece encendido para indicar que el equipo está operativo y no se aplica tensión
a la configuración de prueba.
El LED rojo parpadea para indicar que hay una prueba en curso y se aplica tensión a la configuración
de prueba. No toque ninguna parte de la configuración de prueba mientras el LED rojo parpadee.
Cualquier otro comportamiento de los LED de estado, diferente de los descritos aquí, indica un error.
En este caso, apague el CT Analyzer. No toque ninguna parte de la configuración de prueba hasta que
el LED rojo esté apagado y póngase en contacto con el soporte técnico de OMICRON (consulte el
capítulo "Asistencia" en la página 204).
2.3.7 Pantalla con teclas configurables

Zona de tarjeta Campos de descripción de Teclas configurables, etiquetadas mediante los
con ficha las teclas configurables campos de descripción de las teclas configurables
Línea de estado
Campo de edición Campo de visualización Si en el campo de descripción de teclas configurables

(subrayados por medio (no está subrayado) situado más abajo (consulte la flecha discontinua) hay
de líneas de puntos) 3 puntos visibles, esta tecla se puede usar para abrir
un conjunto adicional de teclas configurables
Se muestra una barra de desplazamiento si el contenido de una tarjeta es demasiado largo para poder mostrarse de una vez.
Utilice las teclas de cursor arriba/abajo del teclado para desplazarse por la tarjeta.
Figura 2-6: Pantalla con teclas configurables dependientes del contexto
20 OMICRON
Introducción
Los siguientes iconos pueden aparecer en la línea de estado:
Tabla 2-1: Iconos mostrados en la línea de estado
Icono Descripción
Control remoto. El software CT Analyzer Suite estableció conexión con el CT Analyzer.
El teclado del CT Analyzer está bloqueado hasta que finaliza la prueba en curso.
Llave de seguridad. Los datos medidos con el CT Analyzer se pueden almacenar en

archivos XML. Los archivos almacenados están protegidos por una suma de
comprobación de seguridad para impedir la edición de los datos recogidos en ellos.
Si el CT Analyzer muestra los datos de una prueba almacenada previamente y los datos
del archivo son válidos, se muestra una llave en la línea de estado. Si los datos no son
válidos porque alguien intentó editarlos posteriormente, se muestra una llave rota.
Nota: Al cargar archivos anteriores que no incluyan ninguna suma de comprobación de
seguridad, no se muestra ninguna información de seguridad.
Indicación de sobrecarga. El CT Analyzer no pudo producir la corriente de prueba
necesaria o tomar todos los puntos de medida necesarios debido a una sobrecarga.
Medida de TC de relación múltiple. Indica que se ha inicializado una prueba del TC con la
caja de conexiones opcional CT SB2 en el CT Analyzer (aquí: combinación de tomas
completas X1-X4).
OMICRON 21
2.3.8 Teclado
Figura 2-7: Teclado
Tabla 2-2: Elementos de teclado
Tecla Descripción
Teclas de números / caracteres para introducir valores y texto.
Al pulsar una tecla, se mostrará el juego de caracteres disponible para la tecla en
la línea de estado. Pulse la tecla varias veces para desplazarse por el juego de
caracteres mostrado. Transcurrido 1 segundo o al pulsar otra tecla, el carácter
seleccionado en la línea de estado se introduce en el campo de edición de la
pantalla.
Nota: Para cambiar rápidamente de letras a números, mantenga pulsado el botón
durante un segundo.
Pulse esta tecla para introducir mayúsculas.
Pulse esta tecla para mostrar el sistema de ayuda sensible al contexto (consulte la
sección 6.11 en la página 85).
Pulse esta tecla para eliminar el carácter a la izquierda de la posición del cursor.
Pulse esta tecla para salir de un campo de edición sin aplicar un cambio, salir del
modo de edición de una tarjeta o retroceder un nivel en la interfaz de usuario.
La tarjeta CT-Objeto es el nivel superior de la interfaz de usuario. Pulsando varias
veces esta tecla siempre se vuelve a la tarjeta CT-Objeto.
Pulse esta tecla para aplicar un cambio en un campo de edición.
Cuando trabaje en el sistema de archivos del CT Analyzer, utilice esta tecla para
abrir una carpeta seleccionada o para confirmar el retroceso al siguiente nivel
superior de la estructura de archivos.
Utilice las teclas de selector de tarjeta para mostrar una tarjeta concreta.
Utilice las teclas de cursor para seleccionar un campo de edición de la interfaz de

usuario o mover el cursor dentro de un campo de edición.
Utilice la tecla de cursor para entrar en el modo de edición de una tarjeta

mostrada.
22 OMICRON
Introducción
2.4 Licencias
Para obtener información actualizada sobre las licencias y los paquetes disponibles para el
CT Analyzer, consulte el sitio web de OMICRON o póngase en contacto con el servicio de asistencia
técnica de OMICRON (consulte "Asistencia" en la página 204).
2.4.1 Ámbito funcional según la licencia

El ámbito operativo que proporciona el CT Analyzer depende de las licencias actualmente disponibles
en el dispositivo.
En este Manual del usuario se describe el ámbito operativo completo que se obtiene cuando se dispone
de todo el conjunto de licencias de la unidad de prueba CT Analyzer . La inexistencia de alguna licencia
ocasionará en primer lugar restricciones operativas en relación con los estándares, clases, tipos de
núcleo y frecuencias que se pueden seleccionar, así como en la disponibilidad de funciones de medida
y/o tarjetas de prueba concretas.
Nota: El ámbito operativo del software CT Analyzer Suite también depende de las licencias disponibles
en el dispositivo CT Analyzer conectado. OMICRON ofrece licencias adicionales de software para
CT Analyzer Suite a fin de permitir un uso autónomo del software CT Analyzer Suite, independiente de
las licencias del dispositivo CT Analyzer. Si desea obtener información sobre las licencias de software,
consulte el sistema de ayuda de CT Analyzer Suite.
2.4.2 Tipos de licencia

OMICRON ofrece dos tipos de licencias para el CT Analyzer: licencias ilimitadas en el tiempo y licencias
provisorias.
• Licencia ilimitada en el tiempo:
Licencia adquirida para un ámbito funcional específico que no esté limitado en el tiempo.
• Licencia provisoria:
Licencia limitada en el tiempo para un ámbito funcional específico. El ámbito funcional
correspondiente no se podrá utilizar después de la fecha de caducidad de la licencia. Por lo tanto,
el CT Analyzer mostrará un mensaje correspondiente con suficiente antelación respecto a la
caducidad de la licencia.
El CT Analyzer puede contener una combinación de licencias ilimitadas en el tiempo y licencias
provisorias, con la restricción de que solo se admitirá una fecha de caducidad para las licencias
provisorias.
Si desea información sobre cómo añadir licencias al CT Analyzer, consulte la sección 6.9.4 en la
página 81.
2.5 Conjunto de material suministrado en la entrega,

accesorios, licencias disponibles
Para obtener información actualizada sobre el conjunto de material suministrado en la entrega y los
accesorios disponibles para el CT Analyzer, consulte el sitio web de OMICRON o póngase en contacto
con la oficina de OMICRON más cercana.
OMICRON 23
3 Configuración y conexión
3.1 Reglas de seguridad generales para la conexión y el
funcionamiento del CT Analyzer
Siga las reglas de seguridad generales y las instrucciones de seguridad que aparecen en el capítulo
1 "Instrucciones de seguridad" en la página 9 cuando conecte y utilice el CT Analyzer. Estas reglas de
seguridad se complementan con notas y avisos aplicables únicamente a acciones específicas. En este
manual del usuario, estas notas y avisos específicos se indican cuando es necesario.
► Antes de poner en funcionamiento el CT Analyzer, revise la unidad de prueba para comprobar que
no presenta desperfectos visibles.
► Al poner en funcionamiento el CT Analyzer, asegúrese de que las rendijas de aire, el interruptor de
corriente y el enchufe de la alimentación eléctrica de la unidad de prueba no se hayan bloqueado y
que la unidad de prueba se pueda desconectar con facilidad de la corriente.
► Utilice únicamente cables con conectores de seguridad de punta cónica de 4 mm y carcasa de
plástico para realizar la conexión a las tomas hembra de entrada/salida del panel frontal.
► Durante la prueba, conecte siempre un terminal del lado primario del transformador a la tierra de
protección.
AVISO
La alta tensión o la corriente pueden provocar la muerte o lesiones graves
► Compruebe que los terminales del equipo en prueba que se van a conectar al
CT Analyzer no transportan tensión potencial.
► En una prueba, el CT Analyzer es la única fuente de alimentación permitida del equipo
en prueba.
AVISO
Mientras parpadea el LED rojo en la unidad de prueba CT Analyzer, la salida está
activada y pueden producirse tensiones letales por la alta energía almacenada en el
entorno eléctrico conectado (por ejemplo, condensadores, bobinas de inductancia,
cables, etc.).
► No toque el equipo en pruebas ni los cables de medición mientras el LED rojo del
CT Analyzer esté parpadeando.
► Nunca conecte o desconecte los cables de medición mientras el LED rojo del
24 OMICRON
Configuración y conexión
AVISO
Mezclar accidentalmente los devanados primarios y secundarios puede generar
tensiones potencialmente letales o dejar inservible la unidad de prueba CT Analyzer o el
TC conectado.
► Compruebe siempre que la salida del CT Analyzer esté conectada al lado correcto del
transformador de corriente, siguiendo las instrucciones sobre cableado que aparecen
en las secciones 3.4 y 3.5 a continuación.
AVISO
Proporcionar tensión de prueba a un TC puede desencadenar tensiones altamente
peligrosas en otras tomas o núcleos del TC.
► No toque otras tomas ni devanados del TC durante la prueba.
► Al probar TCs de varios núcleos, asegúrese de que no hay otros devanados del TC
abiertos. Deje los devanados secundarios de otros núcleos (no medidos) conectados
o cortocircuítelos si los devanados están abiertos.
► Si es posible, use la caja de conexiones opcional CT SB2 para la realización de
comprobaciones de TCs de relación múltiple. El CT Analyzer reduce automáticamente
la tensión de prueba de forma que la tensión máxima posible en la configuración de la
medición (por ejemplo, la tensión generada en la combinación de tomas con la
relación más alta) queda limitada a 200 V.
AVISO
Observe lo siguiente al realizar pruebas:
► Impida la presencia de otras personas en el área potencialmente peligrosa alrededor
del equipo en prueba.
► Si es necesario, tome medidas de precaución adicionales de acuerdo con las normas
pertinentes, por ejemplo, defina un área de alta tensión alrededor del equipo en
prueba y asegure el área para evitar accesos no autorizados con una barrera de
cadena y una señal de advertencia.
► Inicie la prueba solo si se tomaron todas las precauciones de seguridad y si está
completamente seguro de que no hay nadie en el área potencialmente peligrosa
alrededor del equipo en prueba.
OMICRON 25
3.2 Instalación del CT Analyzer

Prosiga como se especifica a continuación para configurar el CT Analyzer:
1. Asegúrese de colocar la unidad de prueba CT Analyzer sobre una base sólida y seca.
2. Conecte la terminal de tierra del panel lateral del CT Analyzer (consulte la sección 2.3 en la página
16) a la conexión a tierra de protección (PE). Utilice el cable original suministrado por OMICRON o,
de forma alternativa, una conexión sólida de al menos 6 mm2. Utilice un punto de tierra lo más
próximo posible al equipo en prueba.
3. Conecte el CT Analyzer a la red usando el cable de alimentación suministrado. Suministre la
alimentación eléctrica al CT Analyzer únicamente desde una toma de corriente provista de conexión
a tierra de protección (PE).
Aparece un mensaje de error (901) si la conexión PE es defectuosa o si la alimentación eléctrica
carece de conexión galvánica a tierra. Puede darse el caso en aplicaciones de red muy especiales
o si el CT Analyzer está conectado mediante un generador o un transformador de aislamiento. El
mensaje de error 901 es un mensaje de seguridad importante.
AVISO
► Compruebe siempre que la tierra de protección y equipotencial estén conectadas
adecuadamente para garantizar un funcionamiento seguro.
4. Para conectar el equipo en prueba, siga las instrucciones que aparecen en este manual. Consulte
las secciones 3.4 y 3.5 para conocer descripciones detalladas sobre cómo conectar el CT Analyzer
para una medición y/o aplicación específicas.
26 OMICRON
3.3 Conexión del CT Analyzer a un ordenador (opcional)

Los dispositivos CT Analyzer a partir del número de serie JHxxxx incluyen una interfaz USB y una
interfaz RS232. Puede usar ambas interfaces alternativamente para conectar el CT Analyzer a un
ordenador.
Proceda de la siguiente manera para conectar la unidad de prueba CT Analyzer a un ordenador:
1. Seleccione la interfaz que se va a usar (o compruebe la selección) en los ajustes del CT Analyzer:
► Abra el Menú Principal del CT Analyzer y seleccione Ajustes.
► En la página Menú Ajustes, seleccione Interfaz remota.
► En la página Seleccionar puerto de interfaz remota, seleccione la interfaz que está utilizando
en ese momento para conectar el CT Analyzer al ordenador: USB o RS232.
2. Conecte el CT Analyzer al ordenador usando un cable RS232 o un cable USB, como se muestra en
la siguiente figura.
CT Analyzer conectado por USB
Ajustes del CT Analyzer:

Menú principal -> Configuración -> con PC
USB A/B
Interfaz remota -> USB
CT Analyzer conectado mediante interfaz RS232 y un adaptador RS232/USB en el lado del

ordenador
Adaptador
Ajustes del CT Analyzer: RS232/USB
Menú principal -> Configuración -> con PC

RS232
Interfaz remota -> RS232 (conexión crossover)
CT Analyzer conectado por interfaz RS232
Ajustes del CT Analyzer:

con PC
Menú principal -> Configuración -> RS232
Interfaz remota -> RS232 (conexión crossover)
Figura 3-1: Conexión del CT Analyzer a un ordenador
OMICRON 27
3.4 Conexión para aplicaciones habituales

3.4.1 Cableado para una prueba de TC
Se aplica al modo de prueba de TC y al modo de prueba avanzada de TC.
En esta sección se muestra el cableado básico del CT Analyzer para una prueba de TC.
Siga las reglas de seguridad generales que aparecen en la sección 3.1 en la página 24 y las
instrucciones de seguridad que aparecen en el capítulo 1 "Instrucciones de seguridad" en la página 9.
Siga las indicaciones e instrucciones para mejorar la calidad de los resultados de la medición que
aparecen en la sección 3.7 en la página 47.
AVISO
► Asegúrese de que no hay otros devanados del TC abiertos.
NOTIFICACIÓN
Es posible la falsificación de los resultados de la medición
► Conecte siempre el terminal puesto a tierra del lado secundario del TC a las tomas negras de
entrada SEC y de salida OUTPUT del CT Analyzer. Conectar las tomas de salida rojas del
CT Analyzer a la conexión a tierra de protección (PE) puede provocar una medida incorrecta y/o
una cancelación automática de la medida con un mensaje de error.
► Si es necesario utilizar pinzas para conectar los cables de medición al lado secundario del equipo
en prueba, utilice siempre la técnica de conexión con 4-hilos que se explica en la sección 3.7.1 en
la página 47 para evitar errores de medición.
Para una prueba de TC, conecte el CT Analyzer como se indica en la Figura 3-2:
1. Compruebe que el lado primario del TC esté conectado a la conexión a tierra de protección en un
lado y abierto en el otro.
NOTIFICACIÓN
Es de máxima importancia para evitar que se acoplen interferencias al circuito primario durante la
medida.
► Conecte el lado del circuito primario susceptible de recibir más interferencias a la conexión PE
(p. ej., el lado con mayor longitud de línea). El lado no puesto a tierra debe ser el lado que recibe
menos interferencias (consulte la Figura 3-2).
2. Desconecte todos los devanados secundarios del núcleo del TC sometido a prueba para eliminar
toda carga de este núcleo. Una carga de cualquier tipo que permanezca en el lado secundario del
TC durante la medida provocará resultados incorrectos en las medidas o mensajes de error.
Si el TC sometido a prueba es un TC de varios núcleos, deje los devanados secundarios de otros
núcleos (no medidos) conectados o cortocircuítelos si los devanados están abiertos.
28 OMICRON
3. Conecte la toma negra de la entrada PRIM del CT Analyzer al lado puesto a tierra del circuito
primario del TC y la toma roja de esta entrada al lado abierto (no puesto a tierra).
4. Conecte la toma negra OUTPUT y la toma negra de la entrada SEC del CT Analyzer a ese terminal
del lado secundario del TC que está conectado a la conexión de tierra de protección.
5. Conecte la toma roja OUTPUT y la toma roja de la entrada SEC del CT Analyzer al otro terminal (no
puesto a tierra) del lado secundario del TC.
Línea de servicio
público Evite el acoplamiento de interferencias al circuito primario (p. ej. desconectando la línea eléctrica,
apagando el interruptor de potencia, etc.). El acoplamiento de interferencias a la conexión no
puesta a tierra influye en los resultados de la medida.
El lado susceptible
de recibir más
interferencias se
tiene que conectar a
la conexión a tierra
de protección.
Figura 3-2: Cableado básico para una prueba del TC
Nota: El TC puede producir señales parásitas de zumbido de frecuencia variable durante la prueba de
TC. Se trata de un comportamiento normal y no indica que el TC esté defectuoso.
OMICRON 29
3.4.2 Cableado para una prueba de carga

Solo se aplica al modo de prueba avanzada de TC.
Para una prueba de carga, conecte el CT Analyzer como se indica en la Figura 3-3. Siga las reglas de
seguridad generales que aparecen en la sección 3.1 en la página 24 y las instrucciones de seguridad
que aparecen en el capítulo 1 "Instrucciones de seguridad" en la página 9.
1. Abra la línea de conexión que va al lado no puesto a tierra del TC (consulte la Figura 3-3).
NOTIFICACIÓN
Es importante desconectar el TC sometido a prueba antes de realizar la prueba de carga.
► Si no desconecta el TC para la prueba de carga, el CT Analyzer mide la impedancia en paralelo
de la carga y del devanado del TC, en lugar de la carga en sí misma. Si bien en muchos casos
la impedancia del TC es muy superior a la impedancia de la carga, ello provocaría un error de
medida.
► El CT Analyzer no efectúa la desmagnetización tras una medida de la carga. Por tanto, se
podría producir una saturación del TC si no lo desconecta antes de la prueba de carga.
2. Conecte la toma negra OUTPUT y la toma negra de la entrada SEC del CT Analyzer al lado de la
carga que se conecta a la conexión a tierra de protección.
3. Conecte la toma roja OUTPUT y la toma roja de la entrada SEC del CT Analyzer al otro lado (no
puesto a tierra) de la carga.
TC Carga
Figura 3-3: Cableado básico para una prueba de carga
30 OMICRON
3.4.3 Cableado para la medida de la resistencia principal

Para la medición de la resistencia del devanado principal, conecte el CT Analyzer como se indica en la
Figura 3-4. Siga las reglas de seguridad generales que aparecen en la sección 3.1 en la página 24 y las
1. Compruebe que el lado primario del TC esté conectado a la conexión a tierra de protección en un
lado y abierto en el otro.
2. Desconecte la carga del núcleo/devanado sometido a prueba para eliminar toda carga del TC. Una
carga de cualquier tipo que permanezca en el lado secundario de un núcleo sometido a prueba
durante la medida provocará resultados incorrectos en las medidas o mensajes de error.
3. Conecte la toma negra de la entrada PRIM del CT Analyzer al lado puesto a tierra del devanado
primario del TC y la toma roja de esta entrada al lado abierto (no puesto a tierra).
OMICRON 31
4. Conecte la toma negra OUTPUT del CT Analyzer al lado puesto a tierra del devanado principal del
TC y la toma roja OUTPUT al lado no puesto a tierra del devanado principal.
Línea de servicio público
Figura 3-4: Cableado básico para la medida de la resistencia del devanado primario
AVISO
Los TCs generalmente no deben accionarse con devanados secundarios abiertos. El
suministro de la tensión al devanado principal de un TC puede generar tensiones
potencialmente letales en devanados secundarios abiertos.
► Solo se permite la medición de un TC con el devanado secundario abierto para la
medición de una resistencia de CC específica que se describe en esta sección. Para
las demás mediciones, se deben cortocircuitar los devanados secundarios abiertos
antes de realizar la medición.
AVISO
La medición de la resistencia del devanado principal se realiza con corriente CC.
► No abra el circuito de medida mientras circule corriente.
► Pulse la tecla de la unidad de prueba CT Analyzer y espere hasta que se apague
el LED rojo para abrir el circuito de medición.
32 OMICRON
3.5 Conexión para aplicaciones especiales

3.5.1 Medida en un núcleo separado
En el caso de los núcleos separados, la posición del cable primario dentro del núcleo tiene gran
influencia en los resultados de la medida de relación.
Por tanto, para obtener resultados de medida correctos, es muy importante situar el cable primario
durante la medida en la misma posición dentro del núcleo que ocupa durante el funcionamiento real.
Según la posición del cable primario dentro del núcleo, la relación medida puede diferir hasta en un
20 %.
Esta figura muestra cómo el error de relación puede variar según la posición del cable primario dentro
del núcleo.
Posición 1
Error de relación medido: +0,5 %
Posición 2 Posición 3
Error de relación medido: +5 % Error de relación medido: -15 %
Cable primario Entrehierro
Figura 3-5: Error de relación según la posición del cable primario dentro del núcleo separado
Como se muestra en la Figura 3-5, el error de relación medido puede variar considerablemente en
función de la posición del cable primario. Los mejores resultados de medida se obtienen cuando el cable
primario se sitúa exactamente en el centro del núcleo. Como alternativa se puede usar una lámina de
cobre formando un anillo colocada en el lado interior del núcleo, como se muestra en la Figura 3-6.
Lámina de cobre
Figura 3-6: Uso de una lámina de cobre formando un anillo como cable primario
OMICRON 33
Nota: Solo es posible obtener resultados de medida precisos situando el cable primario exactamente
en el centro del núcleo.
El CT Analyzer no tiene en cuenta las inductancias de fugas. Lo que hace es obviar dichas inductancias.
De este modo, el CT Analyzer puede alcanzar un error de medida de aproximadamente el 0,1 % para
los TCs de clase PR y TPY, y de aproximadamente el 0,8 % para los TCs de clase TPZ.
3.5.2 Medida de la curva de excitación para un núcleo de hierro

sin devanado
Con el CT Analyzer es posible medir las propiedades magnéticas de un núcleo de hierro sin devanado
vacío. Para ello, es necesario aplicar al núcleo un "devanado auxiliar" con un mínimo de 20 giros.
Con ese fin, OMICRON ofrece un cable especial con 23 giros (VEHK0658) y una plantilla especial de
Microsoft Excel para los cálculos necesarios. Tenga en cuenta que esta medición no se puede llevar a
cabo desde el software CT Analyzer Suite
Proceda de la siguiente manera para efectuar la medida (consulte la Figura 3-7 y la Figura 3-8). Siga
las reglas de seguridad generales que aparecen en la sección 3.1 en la página 24 y las instrucciones
de seguridad que aparecen en el capítulo 1 "Instrucciones de seguridad" en la página 9.
1. Aplique el cable de "devanado auxiliar" al núcleo sin devanado.
2. Conecte las tomas OUTPUT y la entrada SEC del CT Analyzer al cable tal y como se muestra en la
Figura 3-7. Con los núcleos que requieren altas corrientes para alcanzar el punto de inflexión, se
pueden utilizar varios cables en cascada a fin de incrementar el número de giros. Consulte la
Figura 3-8.
3. Conecte el CT Analyzer a un ordenador tal y como se describe en la sección 3.3 en la página 27.
4. En el ordenador, busque la plantilla de Excel "EXL-0007 Measurement of Iron Core ENU.xlt". Esta
plantilla está instalada junto con CT Analyzer Suite en la carpeta \RemoteEFL\Templates\ de la ruta
de instalación de CT Analyzer Suite. Para la ruta de instalación predeterminada en un sistema
operativo de 64 bits, la ruta completa es C:\Archivos de programa\OMICRON\CT Analyzer\
RemoteEFL\Templates\, por ejemplo.
5. Abra la plantilla "EXL-0007 Measurement of Iron Core ENU.xlt" con Microsoft Excel, por ejemplo,
haciendo doble clic en la plantilla.
6. Introduzca los parámetros del hierro en la hoja de trabajo correspondiente de la plantilla.
7. Inicie la medición haciendo clic en el botón Comenzar prueba de la hoja de trabajo.
Devanado auxiliar
de 23 giros
Núcleo de hierro sin
devanado
Figura 3-7: Medida de la curva de excitación con un cable de "devanado auxiliar"
34 OMICRON
Figura 3-8: Medida de la curva de excitación con varios cables de "devanado auxiliar" en cascada
OMICRON 35
3.5.3 Medida en un conjunto de conmutadores GIS (SF6)

Proceda de la siguiente manera para efectuar medidas en un conjunto de conmutadores GIS (SF6)
(consulte la Figura 3-9). Siga las reglas de seguridad generales que aparecen en la sección 3.1 en la
página 24 y las instrucciones de seguridad que aparecen en el capítulo 1 "Instrucciones de seguridad"
en la página 9.
1. Desconecte todas las líneas eléctricas.
2. Abra todos los interruptores de potencia de las barras.
3. Cierre el interruptor de puesta a tierra.
4. Conecte un terminal del lado secundario del TC a la conexión a tierra de protección.
5. Conecte el lado secundario del TC a las tomas OUTPUT y la entrada SEC del CT Analyzer:
► Conecte el lado del TC que esté conectado a la conexión a tierra de protección a las tomas
negras del CT Analyzer.
► Conecte el lado del TC que esté abierto a las tomas rojas del CT Analyzer.
6. Conecte el lado primario del TC a la entrada PRIM del CT Analyzer. Compruebe que la polaridad es
correcta (mismos colores en la misma polaridad).
Barra aislada por gas Seccionador de puesta a tierra

Línea de servicio público
desconectada
Interruptor de
potencia
Carga
3 m máx.
Cables coaxiales de medición
100 m máx.
Figura 3-9: Medida en un conjunto de conmutadores GIS (SF6)
36 OMICRON
3.5.4 Medida en TCs tipo borna

Medida en un TC tipo borna

Proceda de la siguiente manera para efectuar medidas en un TC tipo borna (consulte la Figura 3-10).
1. Desconecte todas las líneas eléctricas del transformador (es decir, aísle el transformador del
sistema de alimentación).
2. Conecte todos los terminales del transformador que no se usen en la medida (en este ejemplo, H2
y H3) a la conexión a tierra de protección (PE) para minimizar las perturbaciones externas. Las
perturbaciones externas pueden influir en los resultados de la medida porque las bornas actúan
como una antena.
3. Conecte el terminal H0 a la conexión a tierra de protección.
4. Conecte un terminal del lado secundario del TC a la conexión a tierra de protección.
5. Conecte el lado secundario del TC a las tomas OUTPUT y a las tomas SEC del CT Analyzer:
► Conecte el lado del TC que esté conectado a la conexión a tierra de protección a las tomas
negras del CT Analyzer.
► Conecte el lado del TC que esté abierto a las tomas rojas del CT Analyzer.
6. Conecte el lado primario del TC a la entrada PRIM del CT Analyzer. Compruebe que la polaridad es
correcta (mismos colores en la misma polaridad).
7. Cortocircuite y conecte a masa el devanado libre del cateto del transformador objeto de la medida
para reducir la impedancia del devanado que se conecta en serie al lado primario del TC. La
impedancia de entrada del CT Analyzer puede influir en los resultados de las medidas, si no se
cortocircuita ningún devanado de ese cateto.
8. Si el transformador ya dispone de un cambiador de tomas, su posición podría cambiar a una donde
el devanado de la regulación sirviera de puente para garantizar que dicho devanado no pueda
actuar como un divisor de tensión con el devanado principal del transformador.
OMICRON 37
H3 H2 H1
(C) (B) (A)
(W) (V) (U)
TC
H0
(Mp)
(N)
Cables coaxiales de medición
Figura 3-10: Medida en un TC tipo borna
Nota: El terminal primario H1 debe estar abierto. De lo contrario el lado primario se cortocircuita y el
CT Analyzer no puede obtener resultados correctos.
38 OMICRON
Medida en un transformador con devanado en Y (estrella)

Al realizar medidas de los transformadores de corriente en los devanados del transformador conectado
en Y, debe asegurarse de que la impedancia principal del transformador no influya en los resultados de
la medida.
La impedancia de entrada del CT Analyzer puede influir también en los resultados de las medidas. Para
evitar cualquier influencia de la impedancia de entrada del CT Analyzer en los resultados de la medida,
el devanado del transformador en el mismo cateto debe estar cortocircuitado. Lo ideal es que el
cortocircuito afecte a los devanados de todos los catetos del transformador.
Asimismo, todos los terminales de la borna que no estén conectados al CT Analyzer deben estar
conectados a una tierra de protección para evitar la influencia de las perturbaciones externas (consulte
la Figura 3-11).
Figura 3-11: Medida en un transformador con devanado en Y
OMICRON 39
Medida en un transformador con devanado en Δ (Delta)

TCs fuera del devanado en delta
No es necesario aplicar ninguna compensación a los TCs que estén situados en la borna, fuera del
devanado en delta (Figura 3-12).
En este caso, solo dos devanados del transformador en paralelo se conectarán en serie al TC. Dicho
método influirá mucho menos en los resultados de la medida de la resistencia del devanado del TC.
El devanado en Y y los demás devanados del devanado en delta del transformador de alimentación
están cortocircuitados para evitar que el flujo inducido del núcleo del transformador influya en la medida.
Figura 3-12: TC tipo borna fuera del transformador de alimentación del devanado en delta
TCs dentro del devanado en delta

Para los TCs que estén integrados en el devanado en delta del transformador, no es posible leer la
relación de TC directamente, ya que el devanado delta actúa como un divisor de tensión. Para obtener
la relación de TC correcta, es necesario corregir el valor de la relación determinado por el CT Analyzer.
40 OMICRON
Con este fin, el CT Analyzer ofrece un campo de "Compensación Delta" en la tarjeta CT-Objeto donde
es posible seleccionar el factor de compensación delta en función de los terminales de la borna que se
utilizan para la medida de la señal primaria.
Figura 3-13: Ajustes de la compensación delta en la tarjeta CT-Objeto
Si es posible cortocircuitar el devanado del transformador en el mismo cateto cuando se realiza la

medida primaria (consulte la Figura 3-15), hay que realizar la medida con el devanado cortocircuitado.
En este caso no se necesita ninguna compensación delta, ya que la tensión inducida en el devanado
secundario del transformador es cero y, por lo tanto, la tensión inducida en el lado primario también será
cero.
Para el ajuste de medida mostrado en la Figura 3-14, el factor de compensación delta de la tarjeta
CT-Objeto debe fijarse en "Relación 2/3" (consulte la Figura 3-13).
Si la entrada PRIM se conecta entre L1 y L2, la compensación delta debe fijarse en "Relación 1/3".
L1
L2 L3
Figura 3-14: Ajuste de medida para la compensación delta "Relación 2/3"
En la configuración mostrada en la Figura 3-15, no se necesita ninguna compensación delta, ya que el

devanado principal del transformador de alimentación está cortocircuitado en el otro lado. Esto evita la
inducción del flujo en el devanado principal del transformador, que podría influir en los resultados de la
medida.
OMICRON 41
L1
L2 L3
Figura 3-15: Ajuste de medida para la compensación delta "Relación 1"
42 OMICRON
3.5.5 Medida de la relación de TP con la Prueba Quick

Solo se aplica al modo de prueba Quick.
Para medir la relación de TPs con el CT Analyzer, puede utilizar la función Prueba Quick del
CT Analyzer (consulte el capítulo 10 en la página 154) o la función de CT Analyzer Quick Test del
software CT Analyzer Suite.
Para las medidas de la relación de TP con la Prueba Quick, conecte el CT Analyzer tal y como se
muestra en la Figura 3-16. Si desea una descripción detallada de cómo realizar dichas medidas,
consulte la sección 10.7 en la página 169.
1. Conecte las tomas OUTPUT y la entrada SEC del CT Analyzer al lado primario del TP.
2. Conecte la entrada PRIM del CT Analyzer al devanado secundario del TP.
A a
N n
Figura 3-16: Conexión del TP para la medida de la relación con el CT Analyzer
AVISO
Para la medición de la Relación de TP, la salida del CT Analyzer se debe conectar al
lado primario del TP. La conexión accidental de la salida del CT Analyzer al lado
secundario del TP ocasionará tensiones peligrosas en el lado primario.
► Para la medición de relación de TP con la Prueba Quick, asegúrese siempre de
conectar la salida del CT Analyzer al lado primario del TP.
OMICRON 43
3.5.6 Medida de la resistencia del devanado con la Prueba Quick

Para medir la resistencia del devanado de los TPs o TCs con el CT Analyzer, puede utilizar la función
Prueba Quick del CT Analyzer (consulte el capítulo 10 en la página 154) o la función de
CT Analyzer Quick Test del software CT Analyzer Suite.
Para las medidas de la resistencia del devanado con la Prueba Quick, conecte el CT Analyzer tal y como
se muestra en la Figura 3-17. Si desea una descripción detallada de cómo realizar dichas medidas,
Conecte las tomas OUTPUT y la entrada SEC del CT Analyzer al devanado que desea medir.
A a
N n
Figura 3-17: Conexión del CT Analyzer para la medición de la resistencia del devanado primario usando
la Prueba Quick
AVISO
Los TCs generalmente no deben accionarse con devanados secundarios abiertos. El
suministro de la tensión al devanado principal de un TC puede generar tensiones
potencialmente letales en devanados secundarios abiertos.
► Solo se permite la medición de un TC con el devanado secundario abierto para la
medición de una resistencia de CC específica que se describe en esta sección. Para
las demás mediciones, se deben cortocircuitar los devanados secundarios abiertos
antes de realizar la medición.
AVISO
La medida de la resistencia se realiza con corriente CC. Suministrar una inductancia con
corriente CC cargará la inductancia. El CT Analyzer no efectúa la descarga automática
de la inductancia.
► Espere hasta que la inductancia se haya descargado por completo antes de tocar
cualquier conexión o desconectar los cables de medición del CT Analyzer.
44 OMICRON
NOTIFICACIÓN
Posibles daños en el equipo
Las corrientes demasiado altas destruirían el devanado.
► Utilice únicamente corrientes bajas de, por ejemplo, 100 mA al medir el lado primario de los TPs.
3.5.7 Verificación de la polaridad con la Prueba Quick y

verificador de la polaridad CPOL2
Para la verificación de la polaridad con la Prueba Quick, conecte el CT Analyzer tal y como se muestra
en la Figura 3-18. Si desea una descripción detallada de cómo realizar la verificación de la polaridad,
1. Compruebe que el lado no puesto a tierra del devanado del TP no esté conectado al cableado que
se desea verificar.
2. Conecte la toma negra OUTPUT y la toma negra de la entrada SEC del CT Analyzer al lado de la
carga que se conecta a la conexión a tierra de protección.
3. Conecte la toma roja OUTPUT y la toma roja de la entrada SEC del CT Analyzer al otro lado (no
puesto a tierra) de la carga.
S1 S1
TC S2 S2
Carga
 
CPOL2 CPOL2
Figura 3-18: Cableado para una verificación de polaridad del cableado de carga con la Prueba Quick y
con el verificador de polaridad CPOL2
Nota: El CT Analyzer mide la tensión de la señal inyectada a través de la entrada SEC. Por tanto, se
recomienda conectar siempre esta entrada cuando se use el tipo de medida Verif. Polaridad. Cuanto
más alta sea la resistencia del cableado que se ha comprobado (por ejemplo, el cableado de carga) o
el ajuste de la amplitud de corriente en el CT Analyzer, más alta será la tensión de terminal generada
por la señal de corriente inyectada.
OMICRON 45
3.6 Desconexión
AVISO
Mientras parpadea el LED rojo en el CT Analyzer, la salida está activada y pueden
producirse tensiones letales por la alta energía almacenada en el entorno eléctrico
conectado (por ejemplo, condensadores, bobinas de inductancia, cables, etc.).
► No desconecte los cables de medición mientras parpadea el LED rojo del
CT Analyzer.
► Espere siempre hasta que el LED rojo se apague para desconectar los cables de
medición.
Siga el procedimiento que se especifica a continuación para desconectar el CT Analyzer:

1. Espere hasta que el LED rojo del CT Analyzer se apague.
2. Desconecte los cables de medición, empezando por el CT Analyzer.
46 OMICRON
3.7 Mejora de la calidad de los resultados de la medida

3.7.1 Medida con 4 hilos frente a medida con 2 hilos
Si el lado secundario del equipo en prueba no cuenta con terminales de tornillo para conectar los
adaptadores de terminal que se suministran ni de conectores de seguridad tipo banana para introducir
directamente los cables de medida y, por tanto, es necesario utilizar pinzas (p. ej. pinzas dentadas o
pinzas Kelvin) para conectar los cables de medida, utilice siempre la técnica de conexión con 4 hilos
que se explica a continuación.
De lo contrario, la resistencia de contacto de las pinzas podría influir en los resultados de la
medida (es decir, el CT Analyzer podría ofrecer resultados de medida incorrectos).
Ambas técnicas de conexión se muestran en la siguiente figura.
Aceptar ¡No la utilice!

Conexión con 4 hilos Conexión con 2 hilos
Los cables de medida de las tomas OUTPUT Se emplean cables de medida

y la entrada SEC del CT Analyzer se independientes para las tomas OUTPUT y
conectan al equipo en prueba con pinzas la entrada SEC del CT Analyzer, pero los
independientes. cables de medida se conectan al equipo en
prueba con una pinza normal.
Para cada cable de medida se usa una pinza
distinta: ¡Correcto! Dos cables de medida comparten la misma
pinza: ¡No la utilice!
Figura 3-19: Demostración de técnica de conexión con 2 y 4 hilos
OMICRON 47
3.7.2 Técnicas de reducción de señales parásitas

Para que los resultados de la prueba sean correctos, es importante tener en cuenta lo siguiente:
► Si es posible, desconecte de las líneas de red eléctrica ambos terminales primarios del TC.
► Si es posible, utilice siempre los cables coaxiales de medición suministrados por OMICRON. Si es
necesario utilizar cables monofilares de medición sueltos, trence los cables hasta constituir una línea
de par trenzado. Evite bucles abiertos que consten de cables monofilares individuales de medida
para evitar tensiones de interferencia provocadas por campos magnéticos.
► Conecte un terminal del lado primario del TC a la conexión a tierra de protección. Si no es posible
desconectar las líneas eléctricas de ambos terminales primarios, conecte el lado del circuito primario
susceptible de recibir más interferencias a la conexión PE (el lado primario que siga conectado a las
líneas eléctricas o el lado con mayor longitud de línea, respectivamente). El lado no puesto a tierra
debe ser el lado que recibe menos interferencias.
► Al probar un TC en una instalación eléctrica, compruebe que un lado del TC esté conectado a la
conexión a tierra de protección y que al menos el terminal no puesto a tierra esté desconectado de
todas las líneas eléctricas.
Consulte la Figura 3-20.
NOTIFICACIÓN
► No conecte ambos terminales primarios a la conexión a tierra de protección. Si lo hace, obtendría
resultados de medida incorrectos. Conectar los dos terminales primarios a la conexión a tierra de
protección tiene el mismo efecto que un cortocircuito en el TC.
Línea de servicio
público Línea de servicio público
Conexión necesaria si el terminal del

lado secundario no se puede desconectar
Use cables coaxiales de medida.

Carga
Figura 3-20: Reducción de señales parásitas para la medida del TC
48 OMICRON
Pruebas del TC en el modo de prueba de TC ("nueva prueba de TC")
4 Pruebas del TC en el modo de prueba de

TC ("nueva prueba de TC")
Al trabajar con el CT Analyzer, deben cumplirse siempre las reglas de seguridad de la sección 3.1 en la
página 24 y las instrucciones de seguridad del capítulo 1 "Instrucciones de seguridad" en la página 9.
AVISO
cables, etc.).
AVISO
TC conectado.
en las secciones 3.4 y 3.5.
AVISO
OMICRON 49
4.1 Guía breve (modo de prueba de TC )
Configuración del CT Analyzer

-> 3.2 en la página 26
Encienda el CT Analyzer.
Seleccione Nueva prueba de TC
en el menú principal
-> 4.2.2, paso 1. en la página 51
Introduzca los datos de la

placa del TC
Comience la prueba
-> 4.2.2, paso 4. en la página 52 Nota: También es posible iniciar la prueba usando CT Analyzer Suite.
Ejecución de prueba automática
Mensaje Prueba finalizada

Ver los resultados

-> 4.2.3 en la página 53
Desconecte o realice una

nueva prueba
Figura 4-1: Guía breve para poner a prueba el modo de prueba de TC
50 OMICRON
4.2 Ejecución de una prueba (modo de prueba de TC)

En esta sección se ofrece una descripción detallada sobre cómo realizar una prueba de TC usando el
modo de prueba de TC del CT Analyzer. Siga las secciones de la 4.2.1 a la 4.2.4 en este mismo orden.
4.2.1 Instalación del CT Analyzer

1. Instale la unidad de prueba CT Analyzer como se describe en la sección 3.2 en la página 26.
4.2.2 Preparación, configuración y ejecución de la prueba

1. Siga el procedimiento que se especifica a continuación para mostrar la tarjeta CT-Objeto para una
nueva prueba de TC.
► De ser necesario, encienda el CT Analyzer y espere hasta que el proceso de reinicio haya
finalizado.
► Pulse la tecla configurable Principal para que se muestre el menú principal.
► En el menú principal, seleccione "Nueva prueba de CT" y pulse la tecla configurable Aceptar
para iniciar una nueva prueba TC.
► La pantalla muestra la tarjeta CT-Objeto preparada para iniciar una prueba.
2. Conecte el TC al CT Analyzer como se describe en el capítulo 3.
► Asegúrese de que el LED rojo del CT Analyzer está apagado.
► Consulte la sección 3.4.1 en la página 28 para obtener información detallada sobre cómo
conectar el CT Analyzer para la prueba de TC.
► Compruebe que la polaridad de todos los cables es correcta.
► Puede visualizar el diagrama de conexiones pulsando la tecla ? con el enfoque situado en
la pestaña de la tarjeta CT-Objeto.
Pulse
Figura 4-2: Visualización del diagrama de cableado (modo de prueba de TC)

3. Introduzca los datos de la placa del nombre del TC en la tarjeta CT-Objeto (consulte la Figura 4-3).
Consulte la tabla que figura a continuación.
Figura 4-3: Tarjeta CT-Objeto con los datos de la placa del nombre introducidos
OMICRON 51
Tabla 4-1: Datos de la placa del nombre en la tarjeta CT-Objeto
Parámetro Descripción
I-pn Corriente primaria nominal.
I-sn Corriente secundaria nominal.
Norma Norma conforme a la cual se tiene que realizar la prueba.
f Frecuencia nominal del TC.
P/M Tipo de TC. Introduzca "P" para un TC de protección y "M" para un TC de
medición.
Clase Clase de precisión nominal del TC.
Consulte la tabla 7-4 de la página 89 para obtener información detallada sobre los parámetros.
Los parámetros I-pn e I-sn son obligatorios. La ejecución de la prueba no es posible si no se
especifican datos para esos parámetros. Todos los demás parámetros están asignados a valores
por defecto y deben adaptarse en consonancia.
1
4. Inicie la prueba pulsando la tecla . El LED rojo parpadea para indicar que se está ejecutando
la prueba de TC.
5. El CT Analyzer realiza una verificación del cableado. Se visualizará un mensaje si el cableado no
es correcto. Si es necesario, corrija el cableado y pulse la tecla configurable Cont. prueba para
realizar la prueba de TC.
Figura 4-4: Mensaje de polaridad inversa

6. El CT Analyzer ejecuta la prueba de TC y mide la resistencia del devanado, la curva de excitación
y la relación.
7. Mensaje "Prueba finalizada"
Cuando la prueba haya terminado, el LED rojo dejará de parpadear y el verde se encenderá. El
CT Analyzer mostrará un mensaje de "Prueba finalizada" con el estado de la ejecución de la prueba
(consulte la Figura 4-5). Pulse cualquier tecla para cerrar el mensaje.
Figura 4-5: Mensaje de Prueba finalizada cuando la prueba ha terminado
1. También es posible iniciar la prueba usando CT Analyzer Suite.
52 OMICRON
4.2.3 Una vez finalizada la prueba

1. Visualice la tarjeta Resultados de la prueba para ver los resultados de la prueba (consulte la Figura
4-6).
Pulse Prueba de resistencia del devanado para ver los detalles de la prueba de resistencia del
devanado y/o pulse Gráfico de excitación para ver el gráfico de excitación (consulte también
7.3.3 en la página 91 y 7.3.4 en la página 92).
Figura 4-6: Tarjeta Resultados de prueba una vez finalizada la prueba

2. Visualice la tarjeta CT-Objeto e introduzca los datos de "Ubicación" y "Objeto". A continuación,
pulse Guardar para guardar la prueba.
Figura 4-7: Tarjeta CT-Objeto una vez finalizada la prueba, lista para introducir los detalles de
ubicación (izquierda) y después de guardar la prueba (derecha)
OMICRON 53
4.2.4 Desconexión
Una vez finalizada la prueba de TC, desconecte el TC sometido a prueba del CT Analyzer.
AVISO
cables, etc.).
► No desconecte los cables de medición mientras parpadea el LED rojo del CT Analyzer.
medición.

54 OMICRON
Pruebas del TC en el modo de prueba avanzada de TC ("nueva prueba avanzada de TC")
5 Pruebas del TC en el modo de prueba

avanzada de TC
("nueva prueba avanzada de TC")
AVISO
cables, etc.).
AVISO
TC conectado.
OMICRON 55
AVISO
56 OMICRON
5.1 Guía breve (modo de prueba avanzada de TC)

Esta guía breve no tiene en cuenta la medición del magnetismo residual (consulte la sección 8.4 en la
página 118).
Configuración del CT Analyzer

Encienda el CT Analyzer.
Seleccione
Nueva prueba avanzada de TC
en el menú principal
Seleccione las tarjetas

de prueba
Introduzca los datos de la

placa del TC
¿Está activada
la tarjeta de prueba
Sí
de carga?
No Seleccione la corriente de
prueba para la prueba de carga
Inicio de la prueba
-> 5.2.3, paso 1. en la página 62 Nota: También es posible iniciar la prueba usando CT Analyzer Suite.
pase a la página siguiente
Figura 5-1: Guía breve para poner a prueba el modo de prueba avanzada de TC (1)
OMICRON 57
viene de la página anterior
Conecte el CT Analyzer para

la prueba de carga
¿Está activada
la tarjeta de prueba
de carga? Sí
No Tecla configurable Tecla configurable Tecla configurable

Inicio de la prueba Saltar prueba Cancelar prueba
Ejecución de la prueba:
Prueba de carga
Medición del magnetismo

residual si está activado
Conecte el CT Analyzer para
la medición de la resistencia
del devanado primario
¿Resistencia
devanado prim.
está activada? Sí
Tecla configurable Tecla configurable Tecla configurable

No Inicio de la prueba Saltar prueba Cancelar prueba
Medición de Resistencia
devanado prim.
Conecte el CT Analyzer
para la prueba de TC:
Tecla configurable Tecla configurable Tecla configurable

Inicio de la prueba Saltar prueba Cancelar prueba
Prueba de TC
Mensaje Prueba finalizada

Desconecte o realice una

Ver resultados
nueva prueba
Figura 5-2: Guía breve para poner a prueba el modo de prueba avanzada de TC (2)
58 OMICRON
5.2 Ejecución de una prueba (modo de prueba avanzada

de TC)
En esta sección se ofrece una descripción detallada sobre cómo realizar una prueba de TC usando el
modo de prueba avanzada de TC del CT Analyzer. Siga las secciones de la 5.2.1 a la 5.2.5 en este
mismo orden.
La prueba de TC de ejemplo que se describe a continuación no utiliza la función de reconocimiento
automático, que supone una ayuda para que el usuario descubra los datos de una placa con nombre
desconocido de un TC. Por ejemplo, en los casos en los que la placa con el nombre sea ilegible. Para
obtener información detallada sobre la función de reconocimiento automático, consulte el capítulo 9 en
la página 149.
5.2.1 Instalación del CT Analyzer

1. Instale la unidad de prueba CT Analyzer como se describe en la sección 3.2 en la página 26.
5.2.2 Preparación y configuración de la prueba

nueva prueba avanzada de TC.
finalizado.
► En el menú principal, seleccione "Nueva prueba avanzada de TC" y pulse la tecla configurable
Aceptar para iniciar una nueva prueba avanzada de TC.
2. Por motivos de simplicidad, preferimos no realizar una medición de magnetismo residual en la
prueba TC de ejemplo que aquí describimos. Pulse la tecla configurable Selec. Tarjet en la tarjeta
CT-Objeto para abrir la página Selec. Tarjet. Efectúe una comprobación y, si es necesario, realice
una selección de las siguientes tarjetas de prueba (consulte la Figura 5-3):
En este ejemplo, estamos utilizando tarjetas de prueba: CT-Objeto, Carga, Resistencia del
devanado primario, Resistencia del devanado secundario, Excitación, Relación y Evaluación.
En este ejemplo, no se ha utilizado la tarjeta de prueba Magnetismo residual. Deséchela si es
necesario.
Figura 5-3: Página Selec. Tarjet

Cuando haya terminado, pulse la tecla configurable Atrás para volver a la tarjeta CT-Objeto.
OMICRON 59
3. Introduzca los datos del TC en las tablas que se muestran a continuación en la tarjeta CT-Objeto
(consulte la Figura 5-4).
Figura 5-4: Tarjeta CT-Objeto con los datos de la placa del nombre introducidos
Tabla 5-1: Datos de la placa del nombre en la tarjeta CT-Objeto
I-pn Corriente primaria nominal del TC.
I-sn Corriente secundaria nominal del TC.
Norma Norma que se usará para la prueba de TC y la evaluación de la prueba.
P/M Tipo de TC. Introduzca "P" para un TC de protección y "M" para un TC de
medición.
Clase Clase de precisión nominal del TC. Este campo estará disponible tras seleccionar
el tipo de TC (TC de protección o de medición).
VA Potencia nominal del TC.
Nota: Para los TCs de protección de IEEE C57.13 clases C, K y T, el parámetro
VA no es accesible. Introduzca los Vb de tensión nominal en terminal secundario
en su lugar (consulte también "Parámetros y ajustes específicos que se muestran
para los TCs de protección de la norma IEEE C57.13" en la página 113).
Nota: En función de la norma y tipo de TC seleccionados, pueden ser necesarios más datos u otros
datos sobre TC para una evaluación correcta. Si la opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio" está
activada en los ajustes de dispositivo (consulte la sección 6.8.3 en la página 76), todos los
parámetros necesarios para la evaluación se marcarán con un asterisco "*" en la tarjeta CT-Objeto.
En este caso, no estará disponible la evaluación automática si no introduce los datos de al menos
un parámetro marcado con un asterisco "*" (consulte la sección 8.2.3 en la página 98).
Tabla 5-2: Más información de datos que se deben especificar en la tarjeta CT-Objeto
Carga / cos ϕ Valor de carga y cos ϕ de la carga funcional.
Rprim Resistencia del devanado primario especificada (solo disponible si está
activada la medición de la resistencia del devanado primario para la prueba).
Factor Multiplic. Factor multiplicador de clase. (Se puede utilizar para incrementar el nivel de
Clase evaluación de la prueba de relación. Ejemplo: Multiplicador de clase 0,5 -> la
tolerancia máxima aceptada para el error de relación es solo la mitad de la
tolerancia estándar.
60 OMICRON
Tabla 5-2: Más información de datos que se deben especificar en la tarjeta CT-Objeto
Compensación Factor de corrección para la medición de la relación si se instala un TC dentro
delta de un transformador de devanado delta (consulte también "Medida en un
transformador con devanado en Δ (Delta)" en la página 40).
"Relación 1": No se precisa corrección.
"Relación 2/3": Si la entrada PRIM está conectada a los dos terminales del
devanado de un transformador a los que el TC está conectado en serie.
"Relación 1/3": Si la entrada PRIM está conectada a los terminales del
devanado de un transformador a los que el TC no está conectado en serie.
Modo de prueba Se puede utilizar para cambiar el modo de medición para probar TCs muy
del TC de BT pequeños con tensiones del punto de inflexión muy bajas.
"Modo alternancia": Modo de medición normal del CT Analyzer.
"Modo seno": Aplica señales de prueba sinusoidales de frecuencia nominal al
TC. Esto solo afecta a los TCs con tensión del punto de inflexión baja.
4. Si ha activado la tarjeta de prueba Carga en el paso 2, visualice la tarjeta Carga y especifique la
corriente de prueba para la medida de carga. Utilice la corriente de prueba por defecto derivada del
Isn introducido previamente en la tarjeta CT-Objeto o introduzca una corriente de prueba de su
elección en el parámetro "I-pru".
Figura 5-5: Definición de la corriente de prueba en la tarjeta Carga
OMICRON 61
5.2.3 Ejecución de la prueba automática y conexión del

CT Analyzer
1. Inicie la prueba pulsando la tecla 1. El LED rojo parpadea para indicar que se está ejecutando
la prueba de TC.
2. Si ha activado la tarjeta de prueba Carga en la sección 5.2.2, paso 2. en la página 59, se muestra
un mensaje que le pide que cambie el cableado para la prueba de carga. Conecte la carga como se
explica en el capítulo 3.
conectar el CT Analyzer para la prueba de carga.
► Puede visualizar el diagrama de conexiones pulsando la tecla ? mientras se muestra el
mensaje de comprobación de cableado.
Pulse
Figura 5-6: Prueba de carga: mensaje de comprobación del cableado (izquierda) y diagrama del
cableado (derecha)
3. Pulse la tecla configurable Inicio de la prueba para ejecutar la prueba de carga automática.
Nota: Si no desea realizar la prueba de carga, pulse Saltar prueba para omitirla y continuar con el
siguiente paso de la prueba, o bien Cancelar prueba para anularla.
Nota: Si está activada la opción "Medida de carga continua" en los Ajustes (consulte la sección
6.8.3 en la página 76), la prueba de carga debe detenerse automáticamente presionando la tecla
.
4. Si ha activado la tarjeta de prueba Resistencia del devanado primario en la sección 5.2.2, paso
2. en la página 59, se muestra un mensaje que le pide que cambie el cableado para la medida de
la resistencia del devanado primario. Conecte el devanado primario del TC como se explica en el
capítulo 3.
conectar el CT Analyzer para la medida de resistencia primaria.
62 OMICRON
Pulse
Figura 5-7: Medición de la resistencia del devanado principal: mensaje de comprobación del
cableado (izquierda) y diagrama del cableado (derecha)
5. Pulse la tecla configurable Inicio de la prueba para realizar la medida de la resistencia del
devanado primario.
Nota: Si no desea realizar la medida de la resistencia del devanado primario, pulse Saltar prueba
para omitir dicha medida y continuar con la siguiente prueba TC, o bien pulse Cancelar prueba para
anular la prueba completa.
AVISO
La medición de la resistencia del devanado principal se realiza con corriente CC.
► Pulse la tecla del CT Analyzer y espere hasta que se apague el LED rojo para abrir
el circuito de medición.
6. Se muestra un mensaje que le pide que cambie el cableado para la prueba avanzada de TC.
Conecte el TC al CT Analyzer como se describe en el capítulo 3.
Nota: Si no desea ejecutar la prueba de TC, pulse la tecla configurable Saltar prueba en lugar de
cambiar el cableado. De esta forma, se omitirá la prueba de TC y se ejecutará de inmediato el ciclo
de desmagnetización para finalizar la prueba.
Pulse
Figura 5-8: Prueba de TC: mensaje de comprobación del cableado (izquierda) y diagrama del
cableado (derecha)
7. Pulse la tecla configurable Inicio de la prueba para realizar la prueba de TC automática.
Nota: Si no desea realizar la prueba de TC, pulse Saltar prueba para omitir la prueba de TC o bien
pulse Cancelar prueba para anular la prueba completa.
OMICRON 63
8. Paso de la prueba automática 1: medida de la resistencia del TC

El CT Analyzer mide la resistencia del devanado secundario del TC.
9. Paso de la prueba automática 2: determinación de la característica de excitación
El CT Analyzer mide la curva de excitación y determina el punto de inflexión y otros datos
importantes del TC.
10. Paso de la prueba automática 3: Medición de la relación
El CT Analyzer mide a continuación el error de relación de corriente, el error de fase, el error
compuesto y la polaridad. El CT Analyzer calcula el error de relación de la carga funcional y la carga
nominal.
11. Mensaje "Prueba finalizada"
Cuando la prueba haya terminado, el LED rojo dejará de parpadear y el verde se encenderá.
El CT Analyzer mostrará un mensaje de "Prueba finalizada" con el estado de la ejecución de la
prueba y la evaluación general (consulte la Figura 5-9).
Pulse cualquier tecla para cerrar el mensaje.
Figura 5-9: Mensaje de Prueba finalizada cuando la prueba ha terminado

Nota: Los ajustes y resultados de todas las pruebas que se iniciaron en el CT Analyzer y
concluyeron con el estado "Prueba: correcta" se almacenan automáticamente en
OMICRON\AutoSave\CTAnalyzer.xml, en la tarjeta Compact Flash. El archivo CTAnalyzer.xml
existente se sobrescribe con todas las pruebas que se realicen correctamente. Las pruebas que no
concluyan correctamente o que el usuario cancele no se almacenan y, por lo tanto, no sobrescriben
el archivo CTAnalyzer.xml existente. Las pruebas ejecutadas desde el software CT Analyzer Suite
no se guardan automáticamente en el CT Analyzer y, por lo tanto, no se sobrescriben en el archivo
CTAnalyzer.xml.
64 OMICRON
5.2.4 Una vez finalizada la prueba

Una vez finalizada la prueba, la tarjeta CT-Objeto mostrará los datos del TC determinados durante la
prueba (consulte la Figura 5-10).
Figura 5-10: Tarjeta CT-Objeto una vez finalizada la prueba
Ahora puede introducir los detalles de "Ubicación" y "Objeto", y guardar la prueba (utilice las teclas de
cursor para desplazarse por la tarjeta y seleccionar los campos de edición).
Figura 5-11: Tarjeta CT-Objeto una vez finalizada la prueba, lista para introducir los detalles de
ubicación (izquierda) y después de guardar la prueba (derecha)
Esta evaluación de los parámetros individuales se puede ver en la tarjeta Evaluación (Figura 5-12).
Figura 5-12: Tarjeta Evaluación una vez finalizada la prueba
Si lo desea, puede visualizar los resultados individuales de la medida obtenidos durante la prueba
visualizando las tarjetas Carga, Resistencia, Excitación y Relación, tal y como se muestra en las
figuras de la 5-13 a la 5-16 a continuación.
Figura 5-13: Tarjeta Carga con los resultados de la medida una vez finalizada la prueba
OMICRON 65
Figura 5-14: Tarjeta Resistencia con los resultados de la medida una vez finalizada la prueba
Figura 5-15: Tarjeta Excitación con los resultados de la medida una vez finalizada la prueba
Figura 5-16: Error de relación y desplazamiento de fase para la carga funcional tras finalizar la prueba
5.2.5 Desconexión
Una vez finalizada la prueba avanzada de TC, desconecte el TC sometido a prueba del CT Analyzer.
AVISO
cables, etc.).
medición.

66 OMICRON
Uso y configuración del CT Analyzer
6 Uso y configuración del CT Analyzer

6.1 Cómo trabajar en la interfaz de usuario
6.1.1 Visualización de una determinada tarjeta
Para visualizar una determinada tarjeta, selecciónela pulsando las teclas de selección de tarjeta
.
A continuación se resaltará la ficha que lleva el nombre de la tarjeta seleccionada (consulte la Figura
6-1).
Figura 6-1: Tarjeta CT-Objeto seleccionada
6.1.2 Uso de las teclas configurables

Con las teclas configurables se puede utilizar el CT Analyzer y cambiar el nivel del software del interfaz
de usuario.
Las funciones de las teclas configurables dependen del contexto; es decir, el software ofrece funciones
o conjuntos de parámetros distintos según el foco (según la tarjeta o campo que se hayan resaltado o
seleccionado en la interfaz de usuario).
Si el campo de descripción de teclas configurables situado más abajo contiene 3 puntos (consulte
Guardar como en la Figura 6-1), significa que existen teclas configurables adicionales. Es posible
cambiar el conjunto de teclas configurables que se muestra en la pantalla utilizando la tecla ...
situada debajo de las teclas configurables (consulte la Figura 6-2).
Primer conjunto de teclas configurables Segundo conjunto de teclas configurables
Pulse
Figura 6-2: Cambio del conjunto de teclas configurables de la tarjeta CT-Objeto
OMICRON 67
6.1.3 Edición de una tarjeta

Para abrir el modo de edición de una tarjeta visualizada en la pantalla, pulse la tecla de cursor .
La ficha de la tarjeta dejará de estar resaltada (consulte la Figura 6-3). Use las teclas de cursor para
mover el cursor y para seleccionar el campo de edición correspondiente. Ciertos campos de edición
tienen asignadas teclas configurables. Las teclas configurables disponibles en un campo de edición se
indican al seleccionar dicho campo.
Campo de edición
Campo de edición Campo de visualización

seleccionado (la selección no es posible)
Figura 6-3: Campo de edición seleccionado en la tarjeta CT-Objeto
Para editar una tarjeta, proceda de la siguiente manera:

1. Seleccione el campo de edición con las teclas de cursor.
2. Introduzca o edite el valor o texto:
► Seleccione una entrada disponible a través de las teclas configurables (si las hay)
► o introduzca el valor o texto mediante el teclado y luego pulse la tecla para confirmar la
entrada, o bien use la tecla ESC para salir de un campo de edición sin aplicar ni guardar la
entrada.
3. Salga del modo de edición desplazando el cursor hasta la ficha de la tarjeta con la tecla de cursor
o pulsando la tecla ESC . El foco se situará entonces otra vez en la ficha de la tarjeta (ficha
resaltada).
6.2 El Menú Principal

El menú principal de cualquier tarjeta de prueba se puede abrir pulsando la tecla Cómo acceder:
configurable Principal. Las opciones de la lista se pueden seleccionar con las Pulse la tecla configurable
teclas de cursor . Cuando se selecciona (resalta) una opción, las teclas Principal en cualquier
tarjeta de prueba
configurables presentan un rótulo con las funciones disponibles para la opción en
-> Menú Principal
cuestión.
Figura 6-4: Página Menú Principal
68 OMICRON
6.3 Nueva prueba de TC

Al seleccionar "Nueva prueba de TC" en el menú principal y pulsar después la Cómo acceder:
tecla configurable Aceptar, se mostrará una nueva prueba de TC en la tarjeta Pulse la tecla configurable
CT-Objeto. Principal en cualquier
tarjeta de prueba
Menú Principal:
- Nueva prueba de CT
Tecla configurable
Aceptar
-> Tarjeta CT-Objeto
Figura 6-5: Tarjeta CT-Objeto con ajustes de prueba por defecto después de inicializar una nueva
prueba del TC
Para obtener más información sobre los parámetros y los campos en la tarjeta CT-Objeto del modo de
prueba de TC, consulte la sección 7.2 en la página 87.
6.4 Nueva prueba de MR

Con la opción "Nueva prueba de MR" del menú principal, podrá inicializar una Cómo acceder:
nueva prueba TC de relación múltiple con la caja de conexiones CT SB2 opcional. Pulse la tecla configurable
Principal en cualquier
Esta opción solo está disponible si se ha adquirido la licencia correspondiente. tarjeta de prueba
Para obtener más información sobre las pruebas de TC de relación múltiple con la Menú Principal:
caja de conmutadores CT SB2, consulte el Manual del usuario de CT SB2. - Nueva prueba de MR
Tecla configurable
Aceptar
6.5 Nueva prueba avanzada de TC

Al seleccionar "Nueva prueba avanzada de TC" en el menú principal y pulsar Cómo acceder:
después la tecla configurable Aceptar, se cargará una nueva prueba del TC con Pulse la tecla configurable
los ajustes por defecto de los parámetros, y esta se mostrará en la tarjeta Principal en cualquier
tarjeta de prueba
CT-Objeto. Es posible definir parte de los valores predeterminados en los ajustes
Menú Principal:
de dispositivo (consulte la sección 6.8 en la página 71). - Nueva prueba
avanzada de TC
Tecla configurable
Aceptar
Figura 6-6: Tarjeta CT-Objeto con ajustes de prueba por defecto después de inicializar una nueva
prueba avanzada de TC
Esta opción solo está disponible si se ha adquirido la licencia correspondiente. Para obtener más
información sobre los parámetros y los campos en la tarjeta CT-Objeto del modo de
prueba avanzada de TC, consulte la sección 8.2 en la página 96.
OMICRON 69
6.6 Nueva prueba avanzada de MR

Con la opción "Nueva prueba avanzada de MR" del menú principal, podrá Cómo acceder:
inicializar una nueva prueba avanzada de TC de relación múltiple con la caja de Pulse la tecla configurable
conexiones CT SB2 opcional. Principal en cualquier
tarjeta de prueba
Esta opción solo está disponible si se ha adquirido la licencia correspondiente. Menú Principal:
Para obtener más información sobre las pruebas avanzadas de TC de relación - Nueva prueba
avanzada de MR
múltiple con la caja de conmutadores CT SB2, consulte el Manual del usuario de Tecla configurable
CT SB2. Aceptar
6.7 Nueva prueba rápida

Con la opción "Nueva prueba rápida" del menú principal, puede abrir la función Cómo acceder:
opcional Prueba Quick. Con esta función puede usar el CT Analyzer como Pulse la tecla configurable
multímetro o realizar comprobaciones de polaridad usando el comprobador de Principal en cualquier
tarjeta de prueba
polaridad CPOL2.
Menú Principal:
Esta opción solo está disponible si se ha adquirido la licencia correspondiente. Si - Nueva prueba rápida
Tecla configurable
desea obtener más información sobre la Prueba Quick, consulte el capítulo 10 en Aceptar
la página 154. -> Tarjeta CT-Quick
70 OMICRON
6.8 Ajustes
En la página Menú Ajustes puede acceder a los ajustes del dispositivo y a los Cómo acceder:
ajustes predeterminados para nuevas pruebas del TC. Seleccione una entrada Pulse la tecla configurable
con las teclas de cursor y luego pulse la tecla configurable Selecc. para Principal en cualquier
tarjeta de prueba
abrir la página de ajustes correspondiente.
Menú Principal:
- Ajustes
Tecla configurable
Selecc.
-> Página Menú Ajustes
Figura 6-7: Página Menú Ajustes
6.8.1 Opciones disponibles en la página del menú Ajustes
Tabla 6-1: Opciones del Menú de ajustes
Opción Descripción
Seleccionar idioma Selección del idioma de la interfaz de usuario.
Es posible instalar un idioma de usuario en el CT Analyzer. La interfaz del
usuario en inglés forma parte del firmware y, por tanto, siempre está
disponible. El usuario también puede instalar un segundo idioma si lo
necesita (consulte la sección 6.9 en la página 78).
Seleccione el modo de Con esta opción, es posible seleccionar el modo de prueba predeterminado
inicio que aparece en el CT Analyzer cada vez que se enciende.
Prueba al arrancar: Seleccione el modo de prueba predeterminada con las
teclas configurables Prueba de TC, Prueba avanzada de TC o Quick.
Modo en inicio: Seleccione el modo de prueba predeterminada con las
teclas configurables Relación simple o Relación múltiple.
Información más detallada:
→ Modo de prueba de TC, consulte el capítulo 7 en la página 86.
→ Modo de prueba avanzada de TC, consulte el capítulo 8 en la página 95.
→ Función de medición de la prueba Quick, consulte el capítulo 10 en la
página 154
→ Prueba de relación múltiple con la caja de conmutadores CT SB2,
consulte el Manual del usuario de CT SB2.
Selección de tarjeta de Seleccione las tarjetas de prueba que las nuevas pruebas avanzadas de TC
prueba por defecto deben contener por defecto. Consulte la sección 6.8.2 en la página 75.
OMICRON 71
Tabla 6-1: Opciones del Menú de ajustes (continuación)
Norma predeterminada Mediante teclas configurables, seleccione los ajustes de estándar Isn
predeterminado, clase y tipo TC (P/M) que se utilizarán para una nueva
prueba de TC.
"Isn": Seleccione la corriente secundaria predeterminada (1A o 5A, o ? si
desea utilizar la función de reconocimiento automático por defecto).
"Estándar": Seleccione IEC 60044-1, IEC 60044-6, IEEE C57.13 o
IEC 61869-2 o Personal. para cargar un archivo de normas de evaluación
personalizada (consulte "Seleccione la evaluación personalizada" en la
página 73; la función de reconocimiento automático no está disponible si
utiliza una configuración de evaluación personalizada en vez de un
estándar).
"P/M": Seleccione TC Prot. o TC Medida (TC de protección o medición), o
? si desea utilizar la función del estimador de manera predeterminada.
"Clase": Las clases disponibles para la selección dependen del estándar
seleccionado y del tipo TC (P/M). Seleccione una clase o ? si desea utilizar
la función del estimador de manera predeterminada.
"Ktd" (sólo IEC 60044-6):
si IEC 60044-6 está seleccionado para el estándar, es posible seleccionar
el método de cálculo para Ktd (factor de dimensionamiento de transitorios):
Según IEC 60044-6: Ktd se calcula de forma exacta según la norma.
Según OMICRON: en el cálculo de Ktd, se tiene en cuenta la remanencia
del TC.
Según GB 16847: Ktd se calcula de forma exacta según la norma china
GB16847.
"TPX/Y/Z Spec. Mtd." (IEC 61869-2, solo TCs de protección):
Para los TCs de protección de IEC 61869-2 de las clases TPX, TPY y TPY
es posible seleccionar el método por defecto para especificar los requisitos
de protección empleados para la evaluación de clase de exactitud (consulte
la página 108 para obtener más información).
por Servicio: Especificación de los requisitos de protección por ciclo de
servicio y constantes de tiempo necesarias (especificación estándar de
acuerdo con IEC 61869-2; el CT Analyzer calcula el Ktd automáticamente a
partir de los valores introducidos).
por Ktd: Especificación de los requisitos de protección por el Ktd del factor
de dimensionamiento nominal de transitorios señalado en la placa con
nombre del TC (especificación alternativa de acuerdo con IEC 61869-2).
Frecuencia nominal por Frecuencia nominal a utilizar para una nueva prueba avanzada de TC:
defecto 16,7 Hz, 50 Hz, 60 Hz o 400 Hz.
72 OMICRON
Seleccione la El CT Analyzer ofrece la posibilidad de personalizar la evaluación de
evaluación prueba automática del modo de prueba avanzada de TC según sus
personalizada necesidades aplicando sus propias normas de evaluación (denominadas
configuraciones de evaluación personalizadas) en vez de las normas de
evaluación predefinidas basadas en las definiciones de clase mencionadas
en los estándares IEC e IEEE.
Puede crear estas normas de evaluación personalizadas en
CT Analyzer Suite y, a continuación, enviarlas a su unidad de prueba
CT Analyzer (Guardar como -> Enviar a CT Analyzer). CT Analyzer Suite
almacena por defecto dichas normas de evaluación personalizadas
(archivos *.car) en la carpeta OMICRON/CAR de la tarjeta Compact Flash
del CT Analyzer.
Pulse la tecla configurable Seleccionar archivo para seleccionar un
archivo de norma de evaluación personalizada almacenado en la tarjeta
Compact Flash de su CT Analyzer. Se ofrece la norma de evaluación
personalizada seleccionada para su selección en el campo Estándar de la
tarjeta CT-Objeto.
Utilice la tecla configurable Desactivar para borrar la selección.
Nota: La función de reconocimiento automático no está disponible si utiliza
una configuración de evaluación personalizada en vez de un estándar.
Temperatura Permite seleccionar la unidad de temperatura (°C o °F) y los valores por
defecto de la temperatura ambiente y la temperatura de referencia (para
medida y cálculo de la resistencia de devanado).
Fecha/hora Ajustes del reloj interno del dispositivo. Seleccione un campo utilizando las
teclas del cursor, introduzca un valor y pulse Establecer para aplicar los
cambios.
Contraste de la pantalla Ajuste del contraste de la pantalla.
Gráfico Gráfico de error Permite activar o desactivar el gráfico de error de limitación de exactitud.
de limitación Este gráfico es obligatorio según las normas chinas. Muestra la corriente
primaria máxima posible (K * Ipn) que puede circular por encima de una
determinada carga sin superar el límite de exactitud (5 % o 10 %).
Retardo de arranque Permite definir un retardo de hasta 10 segundos hasta el comienzo real de
la prueba después de pulsar el botón de comienzo.
Puede aplicar el retardo definido para la prueba de carga, la medida del
magnetismo residual, la medida de resistencia del devanado primario y la
medida de resistencia del devanado secundario.
OMICRON 73
Limitaciones de carga Hay dos opciones disponibles:
nominal "Habilitar cargas nominales < 1 VA":
Habilitar o deshabilitar el uso de cargas nominales inferiores a 1 VA. Si se
habilita, es posible seleccionar una carga nominal inferior a 1 VA en la
tarjeta CT-Objeto (parámetro "VA") del modo de prueba avanzada de TC.
Si se deshabilita, la carga nominal se establece automáticamente en 1 VA si
intenta introducir un valor de carga inferior.
"VA mín. en Isn 5 A de núcleos M":
Solo se aplica a los TCs de medición con IEC 60044-1/IEC 61869-2 e
Isn = 5 A.
Puede fijar el valor mínimo de VA utilizado para la evaluación de TC en
3,75 VA. Eso significa que, al seleccionar la tecla configurable 3,75 VA, el
CT Analyzer evaluará el TC hasta el límite inferior de carga nominal de
3,75 VA en lugar de 1 VA. Cuando 3,75 VA esté activo, no será posible
introducir valores de VA menores de 3,75 VA en la tarjeta CT-Objeto del
modo de prueba avanzada de TC .
Seleccionar 0 VA desactivará esta opción. La evaluación se realizará a un
valor de carga inferior de 1 VA. Se trata del valor predeterminado de fábrica
que es adecuado para casi cualquier caso. Procure no cambiarlo a menos
que tenga un buen motivo.
Interfaz remota1 Si su CT Analyzer está equipado con una interfaz USB y una interfaz
RS232, use esta opción para visualizar la página Seleccionar puerto de
interfaz remota. En esta página puede seleccionar la interfaz que se utiliza
para conectar el CT Analyzer a un PC: USB o RS232.
El CT Analyzer solo se comunicará mediante la interfaz seleccionada si
incluye ambas interfaces. El ordenador no la identificará si los ajustes del
CT Analyzer no coinciden con la interfaz utilizada para la conexión.
Otros Ajustes Use la página Otros Ajustes para
► activar o desactivar la evaluación de prueba automática, si el usuario no
ha introducido un parámetro marcado con un asterisco "*" en la tarjeta
CT-Objeto antes de la prueba. Los parámetros marcados con un
asterisco son parámetros obligatorios que son necesarios para la
evaluación (y posiblemente para el cálculo de más parámetros).
► Activar o desactivar la medida de carga continua.
► Definir el valor por defecto del factor de multiplicación de clase.
► Seleccionar el modo de medición por defecto que emplea el CT Analyzer
(en modo alternancia o modo seno; el modo seno puede especificarse
para probar TCs muy pequeños con tensiones del punto de inflexión muy
bajas).
► Definir los umbrales de los algoritmos de decisión de la función de
reconocimiento automático (decisión a 1 A/5 A, P/M).
Estos ajustes solo son importantes para el modo de prueba avanzada de
TC. Para obtener más información, consulte la sección 6.8.3 en la
página 76.
1. Solo disponible para dispositivos CT Analyzer equipados con una interfaz USB (número de serie JHxxxx o posterior).
74 OMICRON
6.8.2 Selección de tarjeta de prueba por defecto

La activación o desactivación de tarjetas de prueba por defecto para la prueba Cómo acceder:
avanzada de TC se realiza con la opción Selec. de tarjeta de prueba por Pulse la tecla configurable
defecto del Menú Ajustes. En este caso, la selección de la tarjeta de prueba Principal en cualquier
tarjeta de prueba
realizada en esta página se volverá efectiva cuando se inicie una nueva prueba
Menú Principal:
avanzada de TC. - Ajustes
Si desea activar o desactivar las tarjetas de prueba únicamente para la prueba Tecla configurable
Selecc.
activa actual, pulse la tecla configurable Selec.Tarjet en la tarjeta CT-Objeto. En
Menú Ajustes:
este caso, la selección de la tarjeta de prueba realizada en esta página será - Selección de tarjeta
efectiva tras pulsar la tecla configurable Atrás. de prueba por
defecto
Para activar o desactivar una tarjeta, seleccione su entrada con las teclas de Tecla configurable
cursor y luego pulse las teclas configurables Añadir o Quitar. Las Selecc.
-> Página Selec. tarjetas
tarjetas activadas se señalan con una marca de verificación, consulte Figura 6-8.
Figura 6-8: Página Selec. tarjetas para seleccionar las tarjetas de prueba por defecto
Algunas tarjetas exigen la presencia de otras. Esto significa que si va a añadir una de estas tarjetas, las
otras que son necesarias también se añaden de forma automática. Por otra parte, si anula una tarjeta
cuya presencia es exigida por otra, esta otra también se anula. La Figura 6-9 muestra estas
dependencias.
CT-Objeto
Resistencia devanado sec.

requiere
Excitación
requiere
Relación
requiere
Magnetismo residual
requiere
Resistencia devanado prim.

requiere
Carga
requiere
Evaluación
requiere
Comentario
requiere
Figura 6-9: Dependencias de tarjetas de prueba
Pulse la tecla configurable Atrás para guardar su selección y volver al menú de ajustes. Pulse la tecla
ESC para volver al menú de ajustes sin guardar la selección.
OMICRON 75
6.8.3 Ajustes varios

Cómo acceder:
Pulse la tecla configurable
tarjeta de prueba
Menú Principal:
- Ajustes
Tecla configurable
Selecc.
Menú Ajustes:
Figura 6-10: Página Otros Ajustes - Otros Ajustes
Tecla configurable
Selecc.
En la página Otros Ajustes se pueden definir los siguientes valores. Estos ajustes
-> Página Otros Ajustes
solo son importantes para el modo de prueba avanzada de TC.
Tabla 6-2: Opciones Otros Ajustes
Evaluaciones En función del estándar seleccionado y del tipo de TC, algunos parámetros
y datos (por ejemplo, la carga nominal) son necesarios para obtener una
Verif. ajustes "*" antes evaluación correcta del TC. Si el usuario no especifica estos datos antes
de inicio de la prueba, la función de evaluación automática del CT Analyzer
Mostrar aviso antes posiblemente realizará la evaluación basándose en los valores
de iniciar determinados para el TC durante la prueba, y no en los datos nominales
del TC indicados en la placa del nombre.
"Verif. ajustes '*' antes de inicio"
Si esta opción está activada, el CT Analyzer comprueba si el usuario ha
introducido todos los datos y valores necesarios para realizar una
evaluación automática antes de que la prueba dé comienzo. Los
parámetros correspondientes se marcan con un asterisco ("*") en la
tarjeta CT-Objeto. Si el usuario no ha introducido datos para al menos
uno de estos parámetros obligatorios, la evaluación automática no se
efectuará y el CT Analyzer mostrará el mensaje "Evaluación: no
disponible" cuando la prueba haya finalizado.
Esta opción se puede usar para evitar una evaluación automática si el
usuario no ha introducido todos los parámetros necesarios y datos del TC
antes de la prueba.
"Mostrar aviso antes de iniciar"
Esta opción únicamente es relevante si la opción "Verif. ajustes '*' antes
de inicio" está activada. Se activa automáticamente cuando se activa la
opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio", pero se puede desactivar
manualmente.
Si se activa la opción "Mostrar aviso antes de iniciar", se muestra el
mensaje de aviso correspondiente antes de que la prueba dé comienzo,
si el usuario no ha introducido los datos de al menos uno de los
parámetros obligatorios necesarios para la evaluación.
76 OMICRON
Tabla 6-2: Opciones Otros Ajustes (continuación)
Medida de carga continua Normalmente, el CT Analyzer detiene automáticamente la prueba de
carga tan pronto como obtiene valores de medición estables para la carga
conectada.
Si esta opción está activada, la medición de carga no se detendrá
automáticamente sino que se ejecutará de manera continua hasta que el
usuario la detenga manualmente pulsando la tecla .
Factor de multiplicación Se puede definir el valor por defecto del factor multiplicador de clase. Este
de clase valor por defecto se usa al encender el CT Analyzer o si en el menú
principal se selecciona una nueva prueba de TC.
El factor multiplicador de clase aumenta el nivel de evaluación de la
prueba de relación. Por ejemplo, un multiplicador de clase de 0,5 significa
que la tolerancia máxima aceptada para el error de relación es solo la
mitad de la tolerancia estándar.
Valores posibles: 0,25 a 1,00. Valor por defecto: 1,00
Modo de prueba del TC Utilice las teclas configurables para definir el modo de medición por
de BT defecto del CT Analyzer:
Modo alternancia: Modo de medición normal del CT Analyzer. Aplica
señales de prueba de distintas magnitudes y frecuencias al TC para medir
las características de excitación.
Modo seno: Aplica señales de prueba sinusoidales de frecuencia
nominal al TC para medir las características de excitación. El modo de
medición seno podría especificarse para probar TCs muy pequeños con
tensiones del punto de inflexión muy bajas.
Decisión TC 1A/5A Si la función de reconocimiento automático está activa, el equipo utiliza la
resistencia de devanado medida para decidir si el TC es un TC de 1 A o
5 A. Este valor establece el umbral de decisión.
Valores posibles: 0,5 a 2 Ω. Valor por defecto: 1 Ω.
Si la resistencia de devanado medida es mayor que el valor definido, la
función de reconocimiento automático decide que la corriente secundaria
nominal del TC es de 1 A. En caso contrario, la corriente secundaria es
de 5 A.
Decisión TC P/M Si la función de reconocimiento automático está activa, el equipo utiliza la
tensión de punto de inflexión medida para decidir si el TC medido es un
TC de protección o un TC de medición. Este valor establece el umbral de
decisión.
Si la tensión del punto de inflexión es mayor que el valor definido, la
función de reconocimiento automático decide que el TC medido es un TC
de protección. En caso contrario, se trata de un TC de medición.
• "1 A: TC Prot., si V-kn >"
Valores posibles: 50 a 300 V. Valor por defecto: 100 V.
• "5 A: TC Prot., si V-kn >"
Valores posibles: 15 a 60 V. Valor por defecto: 20 V.
OMICRON 77
6.9 Herramientas (funciones de actualización)

Desde la página Menú Herramientas puede acceder a las funciones de Cómo acceder:
actualización del CT Analyzer. Pulse la tecla
configurable Principal en
cualquier tarjeta de
prueba
Menú Principal:
- Herramientas
Tecla configurable
Selecc.
-> Página
Menú Herramientas
Figura 6-11: Página Menú Herramientas
6.9.1 Opciones disponibles
Tabla 6-3: Opciones del menú Herramientas
Actualizar Texto Con esta opción se puede instalar un nuevo archivo de idioma de la interfaz
de usuario.
La página del sistema de archivos que se abre después de seleccionar la
función Actualizar Texto solo muestra archivos con la denominación
CTUser_*.bin.
Consulte la sección 6.9.2 en la página 79.
Actualizar Firmware Con esta opción se puede actualizar el firmware del CT Analyzer.
La página del sistema de archivos que se abre después de seleccionar la
función Actualizar Firmware solo muestra archivos con la denominación
CTAnalyzer.bin.
Actualizar Licencias Esta función permite ver el alcance de las licencias disponibles actualmente
en el CT Analyzer y añadir licencias adicionales al CT Analyzer.
78 OMICRON
6.9.2 Actualizar función de texto

Nota: En lugar de usar la función Actualizar texto del CT Analyzer, puede utilizar Cómo acceder:
también el software operativo CT Analyzer Suite o el software opcional Pulse la tecla configurable
CT Analyzer Remote Control. Si desea información detallada, consulte el sistema Principal en cualquier
tarjeta de prueba
de ayuda del software CT Analyzer Suite o el manual de programación del
Menú Principal:
software CT Analyzer Remote Control. - Herramientas
Tecla configurable
Con esta función se puede instalar un nuevo archivo de idioma de la interfaz de Selecc.
usuario. El nuevo idioma instalado se podrá seleccionar entonces en la página Menú Herramientas:
Idioma. - Actualizar texto
-> Tarjeta del sistema de
archivos
Figura 6-12: Tarjeta del sistema de archivos para seleccionar un archivo de idioma nuevo
Para instalar un nuevo idioma, seleccione el correspondiente archivo CTUser_xxx.bin en la carpeta

A:\OMICRON\ de la tarjeta Compact Flash por medio de las teclas de cursor y pulse la tecla
configurable Selecc.
El inglés está presente en el firmware y no requiere un archivo de idioma del usuario.
NOTIFICACIÓN
Posibilidad de daños en los equipos o pérdida de datos
► No instale un archivo de idioma que no pertenezca al mismo paquete que la versión del firmware
instalada. La interfaz de usuario puede resultar ilegible.
► Instale únicamente archivos de idioma que figuren en el paquete de la versión del firmware
instalada.
Consulte los idiomas disponibles en la página Web de OMICRON o pida a su distribuidor el archivo de
un idioma especial.
Si el proceso de actualización del texto se interrumpe o falla, el equipo muestra un mensaje de error y
restablece automáticamente el idioma de fábrica (inglés) en la interfaz de usuario al volver a encenderlo.
Pulse Anular para volver a la página Menú Herramientas sin instalar un nuevo idioma.
OMICRON 79
6.9.3 Actualizar función de firmware

Nota: En lugar de usar la función Actualizar firmware del CT Analyzer, puede Cómo acceder:
utilizar también el software operativo CT Analyzer Suite o el software opcional Pulse la tecla configurable
tarjeta de prueba
Menú Principal:
Tecla configurable
Con esta función, puede instalar el firmware de nuevos dispositivos. Selecc.
Menú Herramientas:
- Actualizar firmware
-> Tarjeta del sistema de
archivos
Figura 6-13: Tarjeta del sistema de archivos para seleccionar un nuevo archivo de firmware
Para realizar una actualización de firmware, el archivo de firmware CTAnalyzer.bin correspondiente

debe estar disponible en el directorio A:\OMICRON\ de la tarjeta Compact Flash.
Para actualizar el firmware, seleccione el correspondiente archivo de firmware CTAnalyzer.bin con las
teclas de cursor y pulse la tecla configurable Actualizar Firmw..
Nota: El proceso de actualización del firmware puede llevar varios minutos. Si el proceso de
actualización se interrumpe o falla, apague y vuelva a encender la unidad de prueba CT Analyzer. El
dispositivo intentará realizar de nuevo la actualización del firmware.
Nota:
También es posible instalar un firmware más antiguo. En este caso, el texto de la interfaz de usuario
se elimina y el equipo pasa automáticamente a la interfaz de usuario en inglés. Una vez instalada una
versión anterior del firmware, también tiene que instalar el archivo del idioma de la interfaz de usuario
presente en ese paquete de firmware (más antiguo).
Al instalar firmware nuevo, el idioma de la interfaz de usuario pasa automáticamente al idioma de
fábrica (inglés), si el texto de la interfaz de usuario que se ha instalado deja de ser compatible. Si en
la interfaz de usuario va a utilizar un idioma distinto al inglés, instale el correspondiente archivo de
idioma nuevo que se suministra con el firmware nuevo.
Pulse Cancelar para volver a la página Menú Herramientas sin actualizar el firmware.
80 OMICRON
6.9.4 Función Actualizar licencias

Nota: En lugar de usar la función Actualizar licencias del CT Analyzer, puede Cómo acceder:
utilizar también el software operativo CT Analyzer Suite o el software opcional Pulse la tecla configurable
tarjeta de prueba
Menú Principal:
Tecla configurable
Esta función permite ver el alcance de las licencias disponibles actualmente en el Aceptar
CT Analyzer y añadir licencias adicionales al CT Analyzer. Menú Herramientas:
- Actualizar licencias
• Las licencias ilimitadas en el tiempo del CT Analyzer aparecen con una
-> Página Licencias
marca de verificación.
• Las licencias provisorias del CT Analyzer aparecen con una
marca de verificación seguida de un asterisco. La fecha de expiración de las licencias se
muestra en la cabecera de la página.
• Las licencias provisorias caducadas aparecen marcadas con una X seguida de un asterisco.
Figura 6-14: Página Licencias

Actúe como se indica a continuación:
► Pulse la tecla configurable Actualizar licencia para añadir nuevas licencias mediante la lectura de
un archivo de licencias almacenado en la tarjeta Compact Flash del CT Analyzer. Un archivo de
licencias puede contener licencias ilimitadas en el tiempo y licencias provisorias. Todas las licencias
provisorias de un archivo de licencias tienen la misma fecha de expiración.
Nota: Se muestra un aviso si las licencias provisorias contenidas en el archivo de licencias tienen
una fecha de expiración distinta a la de las licencias provisorias instaladas que existen actualmente
en el CT Analyzer. Al instalar las nuevas licencias provisorias del archivo de licencias, en primer
lugar se quitarán todas las licencias provisorias existentes disponibles en el CT Analyzer y luego se
instalarán las nuevas licencias provisorias con la nueva fecha de expiración.
► Utilice la tecla configurable Nueva licencia para añadir una nueva licencia manualmente
especificando una clave de licencia.
► Si desea información sobre cómo recibir nuevas licencias, póngase en contacto con el servicio de
asistencia técnica de OMICRON (consulte "Asistencia" en la página 204).
OMICRON 81
6.10 Manejo de archivos

En la página Menú Archivo puede acceder a todas las funciones de manejo de Cómo acceder:
archivos seleccionando la entrada con las teclas de cursor y pulsando Pulse la tecla configurable
luego la tecla configurable Selecc. Principal en cualquier
tarjeta de prueba
Menú Principal:
- Manejo de archivos
Tecla configurable
Selecc.
-> Página Menú Archivo
Figura 6-15: Página Menú Archivo
6.10.1 Funciones disponibles

Tabla 6-4: Funciones de manejo de archivos
Función Descripción
Cargar informe Permite cargar un informe o archivo de ajustes ya existente desde la
tarjeta Compact Flash.
También se puede cargar un archivo pulsando la tecla configurable
Cargar de la tarjeta CT-Objeto.
Guardar como Permite guardar el archivo actual en la tarjeta Compact Flash.
El proceso de almacenamiento de un archivo se describe con detalle en
la página 84.
Eliminar archivo Permite eliminar una carpeta o un archivo seleccionado de la tarjeta
Compact Flash.
Solo es posible eliminar carpetas vacías. Si se intenta eliminar una
carpeta que contenga archivos o subcarpetas, se mostrará un mensaje
de error.
Para seleccionar simultáneamente varios archivos contiguos, mantenga
pulsada la tecla mientras selecciona los archivos o las carpetas con
las teclas de cursor .
Renombrar archivo Permite cambiar el nombre de un archivo seleccionado en la tarjeta
Compact Flash.
Solo se pueden cambiar los nombres de los archivos. No es posible
cambiar el nombre de las carpetas en el CT Analyzer.
Copiar / Cortar / Pegar Permite copiar o cortar un archivo de la tarjeta Compact Flash y pegarlo
archivo(s) en otra ubicación de dicha tarjeta.
El proceso de copiar/cortar y pegar un archivo se describe con detalle en
la página 84.
Formatear tarjeta CF Permite formatear la tarjeta Compact Flash. Se perderán todos los datos
de la tarjeta Compact Flash.
Nota: En el sistema de archivos del CT Analyzer, el directorio raíz puede contener 240 archivos como
máximo, y la longitud del nombre (incluyendo la ruta) solo puede ser de 240 caracteres.
82 OMICRON
6.10.2 Cómo trabajar en el sistema de archivos

Tras seleccionar una de las funciones de operaciones de archivos disponibles en Cómo acceder:
el Menú Archivo, se mostrará la tarjeta del sistema de archivos con la ruta actual Pulse la tecla configurable
en la barra de título y los elementos del sistema de archivos en la parte de la tarjeta Principal en cualquier
tarjeta de prueba
Menú Principal:
- Manejo de archivos
Desplazamiento en el sistema de archivos Tecla configurable
Selecc.
► Para abrir una carpeta, seleccione la entrada (consulte la Figura 6-16, Menú Archivo:
izquierda) con las teclas de cursor y, a continuación, pulse la tecla - Cargar informe o
- Guardar como o
. - Eliminar archivo o
- Renombrar archivo o
► Para subir un nivel en la estructura del directorio, seleccione la entrada "subir - Copiar archivo(s) o
un nivel" y, a continuación, pulse la tecla . - Cortar archivo(s) o
- Pegar archivo(s)
Figura 6-16: Tarjeta del sistema de archivos para cargar un informe
Creación de una nueva carpeta

La creación de una carpeta nueva solo es posible para las funciones Guardar Cómo acceder:
como y Pegar archivo(s) del Menú Archivo. Pulse la tecla configurable
Para crear una nueva carpeta en el sistema de archivos, seleccione Guardar tarjeta de prueba
como o Pegar archivo(s) en el menú Archivo y, a continuación, desplácese a la Menú Principal:
ubicación del sistema de archivos donde desea crear la carpeta nueva. Luego - Manejo de archivos
Tecla configurable
pulse la tecla configurable Nueva Carpeta. Se creará una carpeta nueva con el Selecc.
nombre vacío. Introduzca un nombre para la carpeta y pulse la tecla . Menú Archivo:
- Guardar como o
- Pegar archivo(s)
Figura 6-17: Tarjeta del sistema de archivos después de crear una carpeta nueva
Nota: En el sistema de archivos del CT Analyzer, un directorio puede contener 240 archivos como
máximo, y la longitud máxima del nombre de los archivos es de 240 caracteres. El CT Analyzer no
permite cambiar el nombre de las carpetas.
OMICRON 83
Cómo guardar un archivo

1. Abra el Menú Archivo y seleccione Guardar como. Cómo acceder:
Nota: También se puede guardar un archivo pulsando las teclas configurables Pulse la tecla configurable
Guardar o Guardar como de la tarjeta CT-Objeto. tarjeta de prueba
Menú Principal:
2. Desplácese hasta la carpeta correspondiente del sistema de archivos en la - Manejo de archivos
que desea guardar el archivo: Tecla configurable
Selecc.
► Si desea guardar el archivo con el mismo nombre, pulse la tecla Menú Archivo:
configurable Guardar. Aparecerá una ventana emergente de aviso en la - Guardar como
que se le preguntará si se debe sobrescribir o no el archivo existente.
► Si desea usar un nombre de archivo similar a otro de la carpeta seleccionada, seleccione este
archivo con las teclas de cursor y pulse la tecla configurable Guardar como o la tecla
. Se añadirá una nueva entrada de archivo *.xml con el nombre de archivo seleccionado.
Edite este nombre de archivo y luego vuelva a pulsar Guardar, Guardar como o la tecla .
Nota: Los ajustes y resultados de todas las pruebas que se iniciaron en el CT Analyzer y concluyeron
con el estado "Prueba: correcta" se almacenan automáticamente en OMICRON\AutoSave\
CTAnalyzer.xml, en la tarjeta Compact Flash. El archivo CTAnalyzer.xml existente se sobrescribe con
todas las pruebas que se realicen correctamente. Las pruebas que no concluyan correctamente o que
el usuario cancele no se almacenan y, por lo tanto, no sobrescriben el archivo CTAnalyzer.xml existente.
Las pruebas ejecutadas desde el software CT Analyzer Suite no se guardan automáticamente en el
CT Analyzer y, por lo tanto, no se sobrescriben en el archivo CTAnalyzer.xml.
Cómo copiar/cortar y pegar un archivo en la tarjeta Compact Flash

Nota: La operación de copiar/cortar y pegar carpetas no está disponible en el Cómo acceder:
CT Analyzer. Pulse la tecla
configurable Principal en
1. Abra el Menú Archivo y seleccione Copiar archivo(s) o Cortar archivo(s). cualquier tarjeta de
prueba
2. Aparecerá la tarjeta del sistema de archivos. Desplácese hasta el archivo que
Menú Principal:
desea copiar o cortar. - Manejo de archivos
3. Resalte el archivo y luego pulse la tecla configurable Copiar (o Cortar). Tecla configurable
Selecc.
Para volver al menú principal sin copiar o cortar ningún archivo, pulse Anular. Menú Archivo:
- Copiar archivo(s) o
Nota: Para seleccionar simultáneamente varios archivos contiguos, - Cortar archivo(s)
mantenga pulsada la tecla mientras selecciona los archivos con las
teclas de cursor .
4. La tarjeta del sistema de archivos se cerrará, y aparecerá el Menú Archivo. Seleccione
Pegar archivo(s).
5. Aparecerá otra vez la tarjeta del sistema de archivos. Desplácese hasta la ubicación
correspondiente del sistema de archivos en la que desea pegar el archivo.
6. Pulse la tecla configurable Pegar para pegar el archivo.
Al efectuar una operación de cortar/pegar, el archivo no se eliminará de su antigua ubicación
mientras no se pegue en la nueva.
84 OMICRON
6.11 Sistema de ayuda del CT Analyzer

El CT Analyzer ofrece un sistema de ayuda sensible al contexto. Pulsando la tecla ? se muestra una
página de ayuda cuyo contenido depende del elemento que estaba resaltado antes de pulsar la tecla
? .
Por ejemplo:
► Si el foco se ha situado en la ficha de la tarjeta CT-Objeto, al pulsar el botón ? , aparecerá una
página de ayuda en la que se mostrará el cableado de una prueba del TC.
► Si el foco se ha situado en la ficha de la tarjeta Carga, al pulsar el botón ? , aparecerá una página
de ayuda en la que se mostrará el cableado de una prueba de carga.
► Si se ha seleccionado con el cursor un campo de parámetro de la tarjeta CT-Objeto o de la tarjeta
Evaluación, al pulsar el botón ? , se mostrará una página de ayuda con textos explicativos del
parámetro en cuestión.
Figura 6-18: Visualización en el sistema de ayuda del diagrama de cableado de una prueba del TC
(izquierda) y texto descriptivo de un parámetro (derecha)
Cuando se muestre el sistema de ayuda, puede utilizar las teclas configurables Página siguien. y
Página anterior para desplazarse por las páginas de ayuda disponibles. Al pulsar la tecla configurable
Acerca de se abre una página con información acerca del hardware del CT Analyzer, la versión del
firmware instalado, el número de serie, etc.
6.12 Uso del CT Analyzer desde un ordenador

También es posible controlar el CT Analyzer de forma remota desde un ordenador utilizando el software
CT Analyzer Suite.
Si desea obtener más información, consulte el capítulo 11.1 en la página 179 y la ayuda de
CT Analyzer Suite.
OMICRON 85
7 Tarjetas de prueba para el modo de prueba

de TC
7.1 Descripción general de las tarjetas de prueba
disponibles en el modo de prueba de TC
En la siguiente tabla, encontrará una descripción general de las tarjetas de prueba disponibles para el
modo de prueba de TC del CT Analyzer.
Tabla 7-1: Descripción general de las tarjetas de prueba disponibles en el modo de prueba de TC
Tarjeta de prueba Descripción

CT-Objeto Esta tarjeta contiene los datos del TC. Consulte la página 87.
Resultados de la Esta tarjeta muestra los resultados de la prueba del TC. Consulte la página 90.
prueba
Comentario En esta tarjeta puede introducir cualquier texto (por ejemplo, notas adicionales
relativas a la prueba). Consulte la página 94.
86 OMICRON
Tarjetas de prueba para el modo de prueba de TC
7.2 Tarjeta CT-Objeto

La tarjeta CT-Objeto del modo de prueba de TC presenta todos los ajustes necesarios para la prueba.
Pulse para abrir el menú principal
Figura 7-1: Tarjeta CT-Objeto con ajustes por defecto después de inicializar una nueva prueba del TC
7.2.1 Teclas configurables disponibles

Tabla 7-2: Teclas configurables de la tarjeta CT-Objeto
Tecla Descripción
configurable
Borra los resultados de la prueba anterior y permite iniciar una nueva prueba. Las
entradas de "Ubicación" y "Objeto" permanecen inalterables.
Guarda los resultados y ajustes de la prueba en el archivo de informe del

CT Analyzer que está cargado en ese momento. Si los resultados de la prueba aún
no se han guardado, se abre el cuadro de diálogo Guardar como. El proceso para
guardar un archivo se describe en la página 84.
Guarda los resultados y los ajustes de la prueba en un nuevo archivo .xml. El
proceso para guardar un archivo se describe en la página 84.
Permite cargar una prueba previamente realizada en el modo de prueba de TC y

almacenada en la tarjeta Compact Flash para verificar sus resultados o para utilizar
sus ajustes para una nueva prueba.
Cuando se carga una prueba almacenada en el modo de prueba avanzada de TC, el
CT Analyzer cambiará automáticamente al modo de prueba avanzada de TC.
7.2.2 Campos de información que debe llenar el usuario
Figura 7-2: Edición de los ajustes de ubicación en la tarjeta CT-Objeto
Los campos de texto "Ubicación" y "Objeto" solo se usan a efectos de elaboración de informes y
documentación. El usuario puede llenarlos una vez finalizada la prueba. Estos campos aportan
información sobre la ubicación del TC y sobre el propio TC. El contenido de estos campos está definido
en las páginas Ajustes de ubicación y Ajustes de objeto, respectivamente.
OMICRON 87
Para abrir estas páginas de ajustes, sitúe el cursor en los campos "Ubicación" u "Objeto" y luego pulse
la tecla configurable Detalles o la tecla .
Tabla 7-3: Página Ajustes de objeto y de ubicación
Página Descripción
Página La página de ajustes Ubicación incluye los campos de texto que figuran
Ajustes de ubicación a continuación. Cada campo puede contener como máximo 40 números o
letras.
Compañía, País, Estación, Alimentador:
Información sobre el lugar donde está instalado el TC.
Fase: fase a la que se conecta el TC.
ID IEC: ID IEC del TC o información de libre configuración.
Página La página de ajustes Objeto ofrece los campos de texto que figuran a
Ajustes de objeto continuación. Cada campo puede contener como máximo 40 números o
letras.
Fabricante: fabricante del TC sometido a prueba.
Tipo: número de tipo o descripción del TC sometido a prueba.
N.° de serie: número de serie del TC sometido a prueba.
Núcleo: número del núcleo probado.
Toma: descripción de la toma (p. ej. 1S1-1S3, X1-X4...).
Opcional 1: campo opcional de libre utilización.
7.2.3 Parámetros y ajustes utilizados

El proceso de prueba utiliza los campos que se describen en esta sección.
Figura 7-3: Edición de la tarjeta CT-Objeto
Nota: Los parámetros marcados con un asterisco "*" en la interfaz de usuario del CT Analyzer son
parámetros obligatorios. La ejecución de la prueba no es posible si no se especifican datos para esos
parámetros. Todos los demás parámetros pueden estar asignados con valores por defecto definidos en
los ajustes de dispositivo (Menú Principal -> Ajustes) y deben adaptarse en consonancia.
88 OMICRON
Tabla 7-4: Parámetros y ajustes de la tarjeta CT Objeto para el modo de prueba de TC
Valores posibles: 1 a 99000 A o teclas configurables 200A, 400A, 600A, 800A o
1000A.
Valores posibles: De 0.05 a 25 A o teclas configurables 1.0A, 2.0A, 5.0A, 1.0A/√3,
2.0A/√3, 5.0A/√3.
Valor por defecto: Definido en los ajustes del dispositivo (Menú Principal -> Ajustes ->
Estándar por defecto).
Valores posibles: Teclas configurables IEC 60044-1, IEC 60044-6, IEEE C57.13 o
IEC 61869-2
Valor por defecto: Estándar definido en los ajustes del dispositivo (Menú Principal ->
Ajustes -> Estándar por defecto).
Nota: Utilizar la norma IEEE C.57.13 con transformadores con núcleos separados
puede dar lugar a resultados incorrectos.
Valores posibles: Valor entero entre 16 y 400 Hz o teclas configurables 16.7Hz, 50Hz,
60Hz o 400Hz.
Valor por defecto: Frecuencia nominal definida en los ajustes de dispositivo (Menú
Principal -> Ajustes -> Frecuencia nominal).
P/M Definición del tipo de TC: TC de protección o medición.
Valores posibles: Teclas configurables Prot. TC, Med. TC o ?.
Clase Clase de exactitud del TC.
Valores posibles: Según la norma seleccionada.
OMICRON 89
7.3 Tarjeta Resultados de la prueba

En la tarjeta Resultados de la prueba del modo de prueba de TC se muestran los resultados de la
prueba del TC cargada o realizada previamente.
Figura 7-4: Tarjeta Resultados de la prueba del modo de prueba de TC

Tabla 7-5: Teclas configurables de la tarjeta Resultados de la prueba
Tecla Descripción
configurable
Muestra los resultados de la prueba de resistencia del devanado secundario.
Consulte la sección 7.3.3 a continuación.
Muestra el gráfico de excitación calculado a partir de los resultados de la prueba.

Consulte la sección 7.3.4 a continuación.
7.3.2 Resultados de prueba mostrados

Los siguientes resultados de la prueba se muestran directamente en la tarjeta Resultados de la
prueba.
Tabla 7-6: Resultados de la prueba mostrados en la tarjeta Resultados de la prueba
Resistencia del Resistencia del devanado secundario medida del TC.
devanado
secundario
Tensión del punto Tensión del punto de inflexión medida.
de inflexión
Relación del Relación actual del TC a una corriente primaria nominal y una carga de 0 VA.
TC@Ipn (0 VA)
ε Solo está disponible para normas IEC. Error en % con la corriente primaria
nominal y una carga de 0 VA.
RCF Solamente disponible para IEEE C57.13. Factor de corrección de relación.
Fase Desfase con la corriente primaria nominal y una carga de 0 VA.
90 OMICRON
Tabla 7-6: Resultados de la prueba mostrados en la tarjeta Resultados de la prueba
Pol. Correcta: polaridad correcta, el ángulo de fase está comprendido en el rango
0° ± 45°.
Incorrecto: polaridad incorrecta del TC o polaridad incorrecta de los cables de
medición.
F Hay dos parámetros adicionales disponibles para los TCs de protección
IEC 60044-1 e IEC 61869-2 que permiten visualizar el error compuesto para
y
diferentes múltiplos de la corriente secundaria nominal Isn.
εc@Ipn*F
Utilice el parámetro "F" para especificar el factor (por ejemplo, 1 x, 5 x o 10 x Isn)
y lea el error compuesto resultante del campo "εc@Ipn*F".
7.3.3 Detalles de la medición de la resistencia del devanado

secundario
Pulse la tecla configurable Prueba de resistencia del devanado de la tarjeta Resultados de la
prueba para visualizar los detalles de medición de la resistencia del devanado secundario.
Figura 7-5: Detalles de la medición de la resistencia del devanado
Tabla 7-7: Resultados de la prueba para la medición de la resistencia del devanado secundario
I-CC Corriente utilizada para la medición. Seleccionada de forma automática, no
modificable por el usuario.
Si Isn es 0.2 A o superior, ICC se ajusta automáticamente como Isn.
Si Isn es inferior a 0.2 A, ICC se ajusta automáticamente en 0.2 A.
Valor máximo: 5 A.
V-CC Tensión medida.
R-med Resistencia medida a temperatura ambiente.
R-ref Resistencia de referencia (resistencia con compensación de temperatura,
compensada conforme a Tref).
OMICRON 91
T-med Temperatura del devanado del TC en el momento de la medición.
Valor utilizado:
Temperatura ambiente definida en los Ajustes (menú principal).
Si esta temperatura no se ajusta correctamente, el valor de resistencia de referencia
(Rref) a la temperatura de referencia no se calculará correctamente.
T-ref Temperatura de referencia, es decir, la temperatura para la que está indicado el TC.
Valor utilizado:
Temperatura de referencia definida en los Ajustes (menú principal).
La resistencia del devanado a la temperatura de referencia se calcula a partir de la
resistencia del devanado medida a la temperatura ambiente (Tmed) y a la
temperatura de referencia especificada.
7.3.4 Gráfico de excitación

Pulse la tecla configurable Gráf. Excit. de la tarjeta Resultados de la prueba para visualizar el gráfico
de excitación calculado a partir de los resultados de la prueba. El gráfico muestra la tensión eficaz en
terminal/núcleo correspondiente a la corriente eficaz/pico según la norma seleccionada.
En la parte inferior derecha del diagrama se muestran los valores de tensión, corriente e inductancia
correspondientes al punto seccionado del gráfico. El punto del gráfico seleccionado en ese momento se
señala por medio de una línea discontinua horizontal y otra vertical.
Figura 7-6: Gráfico de excitación
Definición de los ejes del gráfico de excitación según distintas normas
Tabla 7-8: Definición de los ejes del gráfico de excitación
Norma Eje vertical Eje horizontal

IEC 60044-1 Tensión eficaz en terminal Corriente eficaz de excitación
IEC 60044-6 Tensión eficaz e.m.f. Corriente pico de excitación
IEC 61869-2 1
Tensión media corregida en terminal Corriente eficaz de excitación
IEEE C57.13 Tensión eficaz e.m.f. Corriente eficaz de excitación
1. Calibrado a valor eficaz
92 OMICRON
Teclas configurables disponibles
Tabla 7-9: Teclas configurables disponibles para el gráfico de excitación
Tecla Descripción
configurable
Mueve el cursor hacia arriba en el gráfico de excitación.
Mueve el cursor hacia abajo en el gráfico de excitación.
Desactiva la visualización de valores en la parte inferior derecha del diagrama. Si ha

desactivado los valores, esta tecla configurable cambia a Texto On para activar de
nuevo la visualización de los valores.
Cierra el gráfico de excitación para volver a la tarjeta Excitación.
Pulsando una de estas teclas configurables se puede ver el gráfico de excitación

medida y el punto de inflexión conforme a la norma correspondiente.
IEEE C57.13 muestra el punto de inflexión para la tangente de 45°. Después de
presionar esta tecla configurable, su etiquetado cambia a IEEE C57.13 (30°) para
activar la visualización del punto de inflexión para la tangente de 30°. 30° es lo
recomendable para núcleos con gap en IEEE C37.110, capítulo 4.3.
Nota: El informe de la prueba solo contiene el gráfico correspondiente a la norma
seleccionada en la tarjeta CT-Objeto.
Visualización de los valores medidos correspondientes a distintos puntos del

gráfico
Por defecto, los valores del punto de inflexión se muestran tras abrir la página del gráfico de excitación.
No obstante, también es posible ver los valores de tensión, corriente e inductancia correspondientes a
cualquier punto del gráfico. Para seleccionar un determinado punto del gráfico,
► use las teclas configurables (Cursor arriba, Cursor abajo)
► o introduzca un determinado valor de tensión o corriente utilizando el teclado:
► Seleccione el campo de edición con las teclas de cursor .
► Introduzca el valor correspondiente de tensión o corriente con el teclado.
► Pulse la tecla para aplicar el valor introducido y leer los valores correspondientes en los
campos respectivos (p. ej., "V-med" y "L-med" si ha introducido una corriente "I-med").
Figura 7-7: Introducción de un valor de corriente para ver sus valores correspondientes de tensión e
inductancia en el gráfico de excitación
OMICRON 93
7.4 Tarjeta Comentario

Utilice la tarjeta Comentario del modo de prueba de TC para introducir notas adicionales en relación
con la prueba.
Figura 7-8: Tarjeta Comentario
94 OMICRON
Tarjetas de prueba para el modo de prueba avanzada de TC
8 Tarjetas de prueba para el modo de

prueba avanzada de TC
8.1 Descripción general de las tarjetas de prueba
disponibles en el modo de prueba avanzada de TC
En la siguiente tabla, encontrará una descripción general de todas las tarjetas de prueba disponibles
para el modo de prueba avanzada de TC del CT Analyzer. El conjunto de tarjetas de prueba que
estén disponibles en su CT Analyzer dependerá de las licencias que haya adquirido.
Nota: Para obtener información actualizada sobre las licencias disponibles para el CT Analyzer,
consulte el sitio web de OMICRON o póngase en contacto con el representante de ventas de
OMICRON.
Tabla 8-1: Descripción general de las tarjetas de prueba disponibles en el modo de prueba avanzada de
TC
Tarjeta de prueba Descripción

CT-Objeto Esta tarjeta contiene los datos básicos del TC y siempre es necesaria para
realizar una prueba del TC. Consulte la página 96.
Carga Esta tarjeta se usa para medir la carga secundaria de un transformador de
corriente con CA. Consulte la página 116.
Magnetismo res. Esta tarjeta se usa para medir el magnetismo residual de los TCs. Consulte la
página 118.
Resistencia Esta tarjeta se usa para medir la resistencia del devanado secundario y la
resistencia del devanado principal del TC. Consulte la página 122.
Excitación Esta tarjeta se usa para trazar la curva de excitación del transformador de
corriente y para determinar otros parámetros específicos del TC. Consulte la
página 125.
Relación Esta tarjeta se usa para medir la relación de corriente del TC teniendo en cuenta
la carga externa o la carga nominal, y para determinar el error de relación de
corriente y el desplazamiento de fase. Consulte la página 136.
Evaluación Esta tarjeta presenta la evaluación automática de los parámetros sometidos a
prueba de conformidad con la norma seleccionada. En ella, también se puede
efectuar una evaluación manual. Consulte la página 141.
Comentario En esta tarjeta puede introducir cualquier texto (por ejemplo, notas adicionales
relativas a la prueba). Consulte la página 148.
OMICRON 95
8.2 Tarjeta CT-Objeto

La tarjeta CT-Objeto del modo de prueba avanzada de TC es la tarjeta más importante, y se necesita
siempre en todo tipo de pruebas. En esta tarjeta se hacen todos los ajustes necesarios para efectuar
una prueba. Varios ajustes de los que figuran en la tarjeta CT-Objeto se muestran también en otras
tarjetas a efectos informativos.
Nota: La tarjeta CT-Objeto es el nivel superior de la interfaz de usuario. Si pulsa varias veces la tecla
ESC , volverá a la tarjeta CT-Objeto.
Figura 8-1: Tarjeta CT-Objeto con ajustes por defecto después de inicializar una nueva prueba
avanzada de TC
Tecla Descripción
configurable
Borra los resultados de la prueba anterior y permite iniciar una nueva prueba. Se
borran los resultados de todas las mediciones, así como todos los parámetros
determinados anteriormente con la función de reconocimiento automático. Las
entradas de "Ubicación" y "Objeto" permanecen inalterables.
Guarda los resultados y ajustes de la prueba en el archivo de informe del
CT Analyzer que está cargado en ese momento. Si los resultados de la prueba aún
no se han guardado, se abre el cuadro de diálogo Guardar como. El proceso para
guardar un archivo se describe en la página 84.
Guarda los resultados y los ajustes de la prueba en un nuevo archivo .xml. El proceso
para guardar un archivo se describe en la página 84.
Permite cargar una prueba previamente realizada en el modo de

prueba avanzada de TC y almacenada en la tarjeta Compact Flash para verificar sus
resultados, calcular de nuevo los resultados con ajustes distintos o usar sus ajustes
para una nueva prueba.
Cuando se carga una prueba almacenada en el modo de prueba de TC, el
CT Analyzer cambiará automáticamente al modo de prueba de TC.
Nota: Un nuevo cálculo de los resultados de la prueba del TC existentes para verificar
el comportamiento del TC con distintas cargas o corrientes primarias se puede
efectuar cambiando el valor de carga que figura en la tarjeta CT-Objeto o la corriente
primaria que figura en la tarjeta Relación. Los resultados procedentes del nuevo
cálculo se pueden volver a almacenar como si se tratara de una prueba normal.
96 OMICRON
Tecla Descripción
configurable
Abre la página Selec.Tarjet para seleccionar las tarjetas de prueba para la prueba
actual. La página Selec.Tarjet se describe en la página 75.
Nota: Al cargar una nueva prueba del TC desde el menú principal (con la entrada
"Nueva prueba avanzada de TC"), se utilizará la selección por defecto de tarjetas de
prueba establecida en los ajustes de dispositivo para esta prueba nueva. Entonces, se
descartará la selección de tarjetas efectuada en la tarjeta CT-Objeto.
8.2.2 Campos de información que debe llenar el usuario
Figura 8-2: Edición de los ajustes de ubicación en la tarjeta CT-Objeto
Los campos de texto "Ubicación" y "Objeto" solo se usan a efectos de elaboración de informes y
documentación. El usuario puede llenarlos una vez finalizada la prueba. Estos campos aportan
información sobre la ubicación del TC y sobre el propio TC. El contenido de estos campos está definido
en las páginas Ajustes de ubicación y Ajustes de objeto, respectivamente.
Para abrir estas páginas de ajustes, sitúe el cursor en los campos "Ubicación" u "Objeto" y luego pulse
la tecla configurable Detalles o la tecla .
Tabla 8-3: Página Ajustes de objeto y de ubicación
Página Descripción
Página Ajustes de La página de ajustes Ubicación incluye los campos de texto que figuran
ubicación a continuación. Cada campo puede contener como máximo 40 números o
letras.
• Compañía, País, Estación, Alimentador:
Información sobre el lugar donde está instalado el TC.
• Fase: fase a la que se conecta el TC.
• ID IEC: ID IEC del TC o información de libre configuración.
Página Ajustes de La página de ajustes Objeto ofrece los campos de texto que figuran a
objeto continuación. Cada campo puede contener como máximo 40 números o
letras.
• Fabricante: fabricante del TC sometido a prueba.
• Tipo: número de tipo o descripción del TC sometido a prueba.
• N.° de serie: número de serie del TC sometido a prueba.
• Núcleo: número del núcleo probado.
• Toma: descripción de la toma (p. ej. 1S1-1S3, X1-X4...).
• Opcional 1: campo opcional de libre utilización.
OMICRON 97
8.2.3 Parámetros y ajustes que utiliza o determina el proceso de

prueba
El proceso de prueba utiliza y/o determina los campos que se describen en esta sección.
Figura 8-3: Edición de la tarjeta CT-Objeto
Nota: Si la opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio" está activada en los ajustes del dispositivo (consulte
la sección 6.8.3 "Ajustes varios" en la página 76), no será posible realizar una evaluación automática si
no introduce los datos de un parámetro que sea relevante para la evaluación. Estos parámetros están
marcados con un asterisco "*" en la interfaz de usuario del CT Analyzer y en las tablas siguientes.
Parámetros y ajustes comunes que se muestran para la totalidad de normas,

tipos de TC y clases
En la tabla que figura a continuación se indican todos los parámetros y ajustes que se muestran para la
totalidad de normas, tipos de TC y clases.
Además de estos parámetros comunes, en la tarjeta CT-Objeto se muestran otros parámetros
específicos según la norma seleccionada, el tipo de TC (TC de protección o medición) y la clase. Para
obtener información sobre estos parámetros específicos, consulte las tablas de las páginas 101 a 114.
Tabla 8-4: Parámetros y ajustes que se muestran para la totalidad de normas, tipos de TC y clases
Valores posibles: 1 a 99000 A o tecla configurable ?1. Valor por defecto: ?.
Valores posibles: De 0,05 a 25 A o teclas configurables 1.0, 2.0, 5.0, 1.0 A/√3, 2.0 A/√3,
5.0 A/√3 o ?1.
Valor por defecto: ?.
Valores posibles: Teclas configurables IEC 60044-1, IEC 60044-6, IEEE C57.13 o
IEC 61869-2
Si se selecciona una configuración de evaluación personalizada en los ajustes (Menú
Principal -> Ajustes -> Seleccionar evaluación personalizada) (consulte la página 73), la
tecla configurable adicional Personalizar se coloca a su disposición para permitir la
selección de esta norma de evaluación personalizada.
Valor por defecto: Estándar definido en los ajustes del dispositivo (Menú Principal ->
Ajustes -> Estándar por defecto).
Nota: Utilizar la norma IEEE C.57.13 con transformadores con núcleos separados puede
dar lugar a resultados incorrectos.
98 OMICRON
P/M * Definición del tipo de TC: TC de protección o medición.
Valores posibles: Teclas configurables Prot. TC, Med. Medida o ?1.
No es posible reconocer automáticamente este parámetro. Para realizar una evaluación
automática, se debe introducir un valor.
Clase * Clase de exactitud del TC.
Valores posibles: Según la norma seleccionada o ?1.
Este parámetro solo se mostrará una vez que el CT Analyzer haya definido o
determinado los parámetros "Norma" y "P/M". En función de estos parámetros, se podrán
utilizar teclas configurables para seleccionar los parámetros de la clase de TC.
La clase será seleccionada mediante las teclas configurables o será determinada por el
CT Analyzer durante la prueba. La determinación automática durante la prueba funciona
únicamente para los TCs de medición IEC 61869-2 o IEC 60044-1 e IEEE C57.13. Si se
ha introducido el signo de interrogación para el parámetro "P/M", el usuario no podrá
definir la "Clase", sino que el CT Analyzer la determinará automáticamente.
Solo para TCs de medición de la norma IEEE C57.13:
Una tecla configurable Evaluar en VA y un campo "Designación de carga" adicionales
están disponibles para los TCs de medición de acuerdo con la norma IEEE C57.13.
Utilice la opción Evaluar en VA si la clase de exactitud del TC solo se aplica a una carga
o un rango de carga específicos.
La evaluación de TC se realiza normalmente para la carga máxima especificada y todas
las cargas más bajas definidas en la norma. Ejemplo: Si la carga especificada es B-0.9,
la evaluación se realizará para las cargas B-0.9, B-0.5, B-0.2 y B-0.1 y para las cargas
electrónicas E-0.2 y E-0.04.
Si selecciona la opción Evaluar en VA y el ajuste de clase, el CT Analyzer realizará la
evaluación solo del valor de carga o el rango de carga especificado en el campo
"Designación de carga". La tabla de relación y la tabla de fases de la tarjeta Relación
solo mostrarán el error para la carga o el rango de carga específicos (consulte la sección
8.7.5 en la página 140).
Cuando se seleccione Evaluar en VA, la tecla configurable pasará a Evaluar todo VA
para habilitar la desactivación de esta opción.
Consulte la sección "Parámetros y ajustes específicos que se muestran para los TCs de
medición de la norma IEEE C57.13" en la página 114 para obtener información sobre el
campo "Designación de carga" e instrucciones detalladas sobre el uso de la opción
Evaluar en VA.
OMICRON 99
VA * Carga nominal del TC, utilizada para calcular el comportamiento del TC con la carga
Cos ϕ nominal.
Valores posibles: 0 a 400 VA o teclas configurables 1.0VA a 30VA o ?1.
Según la carga y la norma de prueba seleccionada, se utilizará el cos ϕ correspondiente
(cos ϕ no editable por el usuario).
Si se selecciona la norma IEEE C57.13 con el tipo "TC de protección" (clase C, K o T),
los parámetros VA y Cos ϕ no son accesibles para el usuario. En este caso, el usuario
debe introducir la tensión en terminal Vb. La potencia se calculará conforme a la tabla 13
de la norma IEEE C57.13 ( 2016). Consulte "Parámetros y ajustes específicos que se
muestran para los TCs de protección de la norma IEEE C57.13" en la página 113.
Carga "Carga" y "Cos ϕ" se utilizan para definir la carga funcional conectada al TC. Estos
Cos ϕ parámetros se usan para calcular el comportamiento del TC con la carga funcional
(carga conectada) y el cos ϕ correspondiente.
Valores posibles de "Carga": 0 a 400 VA o teclas configurables 1.0VA a 30VA o ?1.
Valores posibles de "Cos ϕ": 0 a 1.
Estos parámetros también se pueden cambiar después de la prueba o en un informe de
prueba cargado para verificar el comportamiento del TC con distintos valores de carga.
Si se selecciona la norma IEEE C57.13 con el tipo "TC de medición", el CT Analyzer
ofrece teclas configurables con cargas estándar para la alimentación (por ejemplo, E-0.1,
B-0.1, B-0.2, etc.). Si se usan dichas teclas configurables, la potencia se calculará
conforme a la de la norma IEEE C57.132. Si la corriente nominal no es de 5 A, la
resistencia y la inductancia de la tabla se multiplicarán por el siguiente factor:
5 2
α =  ------------
 I rated
Valores posibles: Valor entero entre 16 y 400 Hz o teclas configurables 16.7Hz, 50Hz,
60Hz o 400Hz.
Valor por defecto: Frecuencia nominal definida en los ajustes de dispositivo (Menú
Principal -> Ajustes -> Frecuencia nominal).
Rprim Resistencia del devanado primario especificada (solo disponible si está activada la
medición de la resistencia del devanado primario para la prueba).
Valores posibles: 0 a 3000 ohmios o tecla configurable ?1.
Factor Multiplic. Factor multiplicador de clase.
Clase Este factor aumenta el nivel de evaluación de la prueba de relación. Por ejemplo, un
multiplicador de clase de 0,5 significa que la tolerancia máxima aceptada para el error de
relación es solo la mitad de la tolerancia estándar.
Valores posibles: 0,25 a 1,00 o tecla configurable 1,0.
Otros Ajustes).
100 OMICRON
Compensación Factor de corrección de la medida de relación. Este factor permite medir la relación de
delta los TCs instalados en el interior de un transformador con devanado en delta.
Valores posibles: Teclas configurables Relación 1, Relación 2/3 o Relación 1/3.
Valor por defecto: Relación 1.
Elija "Relación 1" si no se precisa corrección.
Elija "Relación 2/3", si la entrada PRIM está conectada a los dos terminales del
devanado de un transformador a los que el TC está conectado en serie.
Elija "Relación 1/3", si la entrada PRIM está conectada a los terminales del devanado de
un transformador a los que el TC no está conectado en serie.
Modo de prueba Utilice este parámetro a fin de cambiar el modo de medición para probar TCs muy
del TC de BT pequeños con tensiones del punto de inflexión muy bajas.
Modo alternancia: Modo de medición normal del CT Analyzer. Aplica señales de prueba
de distintas magnitudes y frecuencias al transformador de corriente para medir la
característica de excitación.
Modo seno: Aplica señales de prueba sinusoidales de frecuencia nominal al TC para
medir la característica de excitación.
Otros Ajustes).
1. Si se introduce el signo de interrogación para este parámetro y se inicia una nueva prueba, el CT Analyzer intentará determinar
el valor automáticamente utilizando su función de reconocimiento automático integrada (consulte el capítulo 9 en la página
149).
2. IEEE C57.13 (2008): Tabla 9.
IEEE C57.13 (2016): Tabla 10 para los TCs de medición y Tabla 13 para los TCs de protección.
* Este parámetro es importante para la evaluación. Si la opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio" está activada en los ajustes del
dispositivo (consulte la sección 6.8.3 "Ajustes varios" en la página 76), no será posible realizar una evaluación automática si
no introduce los datos de este parámetro. Tales parámetros están marcados con un asterisco "*" en la interfaz de usuario del
CT Analyzer.
Parámetros y ajustes específicos que se muestran para los TCs de protección

de la norma IEC 60044-1
Los siguientes parámetros solo se muestran en la tarjeta CT-Objeto si se selecciona la norma
IEC 60044-1 con el tipo "TC Protección".
Tabla 8-5: Parámetros y ajustes para los TCs de protección de la norma IEC 60044-1
Parám. Descripción Disponible para los TCs de

protección de IEC 60044-1,
clase
2P, 3P, 2PR, 3PR, PX
4P, 5P, 4PR, 5PR,
6P, 10P 6PR, 10PR
ALF Factor límite de la exactitud según la norma IEC 60044-1.
Valores posibles: Valor entero entre 1 y 300 o teclas
x x
configurables ?1, 5, 10, 15, 20 o 30.
OMICRON 101
Tabla 8-5: Parámetros y ajustes para los TCs de protección de la norma IEC 60044-1 (continuación)

protección de IEC 60044-1,
clase
2P, 3P, 2PR, 3PR, PX
4P, 5P, 4PR, 5PR,
6P, 10P 6PR, 10PR
Rct Resistencia del devanado secundario especificada.
Valores posibles: 0 a 3000 ohmios o tecla configurable ?1. x x
Valor por defecto: ?
Ts Constante de tiempo secundario especificada.
Valores posibles: 0,000 a 100,0 s o tecla configurable ?1. x
Kx Factor de dimensionamiento según IEC 60044-1, PX.
Valores posibles: 1 a 300 o tecla configurable ?1. x
Ek e.m.f. nominal del punto de inflexión
Valores posibles: 0 a 40000 V o tecla configurable? 1. x
Ie Corriente límite de la exactitud según la norma IEC 60044-1,
PX.
Valores posibles: 0,03 mA a 30000 mA o tecla configurable x
? 1.
E1 e.m.f. definido por el usuario para verificar la corriente de
excitación en este e.m.f. específico.
x
Valores posibles: 0,1 a 40000 V o tecla configurable ?2.
Ie1 Corriente de excitación máxima permitida en E1.
Valores posibles: 0,03 mA a 30000 mA o tecla configurable
x
?3.
149).
2. Si se introduce el signo de interrogación, se usa la mitad de la tensión introducida o medida para Ek.
3. Si se introduce el signo de interrogación, el CT Analyzer usará la corriente de excitación medida con el valor de tensión
definido en E1. En este caso, la evaluación de este parámetro es correcta.
102 OMICRON
Parámetros y ajustes específicos que se muestran para los TCs de medición de

la norma IEC 60044-1
IEC 60044-1 con el tipo "TC Medición".
Tabla 8-6: Parámetros y ajustes para los TCs de medición de la norma IEC 60044-1
Parám. Descripción Disponible para los TCs

de medición de
IEC 60044-1, clase
0.1, 0.2, 0.2s 0.5, 0.5s, 1,
3, 5
FS Factor de seguridad del instrumento según la norma
IEC 60044-1.
Valores posibles: Valor entero entre 1 y 30 o teclas
configurables n/a, ?1, FS1, FS1.5, FS2, FS5, FS10, FS20 o
FS30.
x x
Valor por defecto: n/a.
De acuerdo con la norma, la consideración de este parámetro
para la evaluación es algo opcional. Por consiguiente, utilice el
ajuste por defecto "n/a" para "no evaluar" o especifique un
factor para evaluar el parámetro.
ext. Ipn Corriente nominal extendida.
Valores posibles: 100 a 400 % o teclas configurables 120%,
x x
150%, 200%, 300%, 400%.
Valor por defecto: 120 %.
ext. VA Rango de carga extendido para la evaluación del error de
relación y del desplazamiento de fase de acuerdo con la norma
IEC 60044-1.
La evaluación del error de relación y del desplazamiento de
fase se realiza por lo general con una carga de 25 % de la
carga nominal. Si el parámetro "ext. VA" está ajustado en "on", x
la evaluación se realiza para un rango extendido con una carga
de 1 VA2 si el límite de 25 % da lugar a una carga superior a
1 VA2.
Valores posibles: Teclas configurables Act. o Des..
Valor por defecto: On.
1. Si se introduce el signo de interrogación para este parámetro y se inicia una nueva prueba, el CT Analyzer intentará
determinar el valor automáticamente utilizando su función de reconocimiento automático integrada (consulte el capítulo 9 en
la página 149).
2. El valor depende del ajuste de la opción "VA mín. en Isn 5 A de núcleos M" en los ajustes del dispositivo (Menú Principal ->
Ajustes -> Restricciones de carga nominal; consulte la sección 6.8 en la página 71).
OMICRON 103
Parámetros y ajustes específicos que se muestran para la norma IEC 60044-6

IEC 60044-6.
Tabla 8-7: Parámetros y ajustes para la norma IEC 60044-6
Parám. Descripción Disponible para la

norma IEC 60044-6,
clase
TPS TPX TPY TPZ
Valores posibles: 0 a 3000 ohmios o tecla configurable ?1. x x x x
Kssc Factor de corriente simétrica nominal de cortocircuito.
Valores posibles: 1 a 300 o teclas configurables ?1, 3, 5, 7,5, 10, x x x x
12,5, 15, 17,5, 20, 25, 30, 40 o 50.
Tp Constante de tiempo primario.
Valores posibles: 0,000 a 5,000 s o teclas configurables 20ms,
40ms, 60ms, 80ms, 100ms o 120ms. x x x x
K–1
Tp depende de K de la siguiente manera: T p = -------------
ω
K Factor de dimensionamiento.
Valores posibles: 1 a 1572.
x
K depende de Tp como se ha explicado anteriormente en relación
con Tp.
V-al Tensión secundaria nominal equivalente de limitación de excitación.
Valores posibles: 0 a 9999 V o tecla configurable ?1. x
I-al Corriente secundaria de excitación de limitación de exactitud.
Valores posibles: 0,03 mA a 30000 mA o tecla configurable ?1. x
Ktd Factor de dimensionamiento nominal de transitorios.
Valores posibles: 1,0 a 2043 o tecla configurable ?1. x x x
Valores posibles: 0,000 a 100,0 s o tecla configurable ?1. x x
Servicio Ciclo de servicio especificado.
Con las teclas configurables se pueden seleccionar dos ciclos de
x x
energización: C-O o C-O-C-O.
Valor por defecto: C-O.
104 OMICRON
Tabla 8-7: Parámetros y ajustes para la norma IEC 60044-6 (continuación)
Parám. Descripción Disponible para la

norma IEC 60044-6,
clase
TPS TPX TPY TPZ
t-al1 Tiempo permitido para límite de exactitud del primer período de
energización del ciclo de servicio.
x x
Valores posibles: 0,000 a 5,000 s o tecla configurable 40ms.
Valor por defecto: 0,04 s.
t-al2 Tiempo permitido para límite de exactitud del segundo período de
energización del ciclo de servicio.
Solo se muestra si "Servicio" es C-O-C-O. x x
tfr Tiempo muerto entre primera apertura y recierre.
Solo se muestra si "Servicio" es C-O-C-O.
x x
Cálculo Ktd Método de cálculo para el factor de dimensionamiento de
transitorios Ktd.
Seleccione un método de cálculo con las teclas configurables:
según la norma IEC 60044-6 (el cálculo se hace exactamente de
acuerdo con la norma), según OMICRON (el cálculo tiene en
x x
cuenta la remanencia del TC) o según la norma GB 16847 (de
acuerdo con la norma de China GB 16847).
Valor por defecto: Definido en los ajustes del dispositivo
(Menú Principal -> Ajustes -> Estándar por defecto, consulte
"Estándar por defecto" en la sección 6.8.1 en la página 71).
la página 149).
OMICRON 105

de la norma IEC 61869-2
IEC 61869-2 con el tipo "TC Protección".
Tabla 8-8: Parámetros y ajustes para los TCs de protección de la norma IEC 61869-2

protección de IEC 61869-2, clase
protección protección de
transitorios
...P ...PR PX PXR TPX TPY TPZ
ALF Factor límite de la exactitud según la norma
IEC 61869-2.
Valores posibles: Valor entero entre 1 y 300 o x x
teclas configurables ?1, 5, 10, 15, 20 o 30.
Rct Resistencia del devanado secundario
especificada.
Valores posibles: 0 a 3000 ohmios o x x x x x x
tecla configurable ?1.
Valores posibles: 0,000 a 100,0 s o
x x
Valor por defecto: 100 s.
Kx Factor de dimensionamiento según IEC 61869-2.
Valores posibles: 1 a 300 o tecla configurable ?1. x x
Ek e.m.f. nominal del punto de inflexión
Valores posibles: 0 a 40000 V o tecla
x x
configurable? 1.
E1 e.m.f. definido por el usuario para verificar la
corriente de excitación en este e.m.f. específico.
Valores posibles: 0,1 a 40000 V o tecla x x
configurable ?2.
Ie Corriente límite de la exactitud según la norma
IEC 61869-2.
Valores posibles: 0,03 mA a 30000 mA o x x
tecla configurable ? 1.
106 OMICRON

transitorios
Ie1 Corriente de excitación máxima permitida en E1.
Valores posibles: 0,03 mA a 30000 mA o
x x
Kssc Factor de corriente simétrica nominal de
cortocircuito.
Valores posibles: 1 a 300 o teclas configurables
x x x
?1, 3, 5, 7,5, 10, 12,5, 15, 17,5, 20, 25, 30, 40 o
50.
OMICRON 107

transitorios
Espec. La evaluación de la clase de exactitud debe
realizarse para los requisitos de protección
específicos para los que se ha creado el TC.
Según la norma, estos requisitos vienen
señalados por el ciclo de servicio y las constantes
de tiempo.
No obstante, en algunos casos la elección de un
ciclo de servicio o constante de tiempo específicos
no puede describir todos los requisitos de
protección. Por ello, el CT Analyzer ofrece la
posibilidad de especificar "requisitos más
generales" (que cubren los requisitos de diversos
ciclos de servicio y constantes de tiempo)
introduciendo en su lugar el Ktd.
Utilice las teclas configurables para elegir si desea
especificar los requisitos de protección empleados
para la evaluación de la clase de exactitud;
► para ello, especifique el ciclo de servicio y las
constantes de tiempo necesarias x x x
(por Servicio, especificación estándar según
la norma IEC 61869-2; el CT Analyzer calcula
el Ktd automáticamente a partir de los valores
introducidos)
► o, como alternativa, especifique el Ktd del factor
de dimensionamiento nominal de transitorios
señalado en la placa con nombre del TC
(por Ktd, especificación alternativa según la
norma IEC 61869-2).
El ajuste de este parámetro muestra u oculta los
parámetros Ktd y Tp, Servicio y tal1 (consulte las
descripciones de parámetros a continuación).
Valores posibles: Teclas configurables
por Servicio o por Ktd.
Valor por defecto: Definido en los ajustes del
dispositivo (Menú Principal -> Ajustes -> Estándar
por defecto).
108 OMICRON

transitorios
Ktd * Factor de dimensionamiento nominal de
transitorios según la placa de características.
Solo se muestra si el parámetro "Espec." es
"por Ktd".
Valores posibles: 1,0 a 2043 o tecla configurable
x x x
?1.
Valor por defecto: ? o ?*.
No es posible reconocer automáticamente este
parámetro. Para realizar una evaluación
Tp * Constante de tiempo primario.
"por Servicio".
Valores posibles: 0,000 a 5,000 s o teclas
configurables 20ms, 40ms, 60ms, 80ms, 100ms
o 120ms.
Tp depende de K de la siguiente manera: x x x
K–1
T p = -------------
ω
Servicio Ciclo de servicio especificado.
"por Servicio".
Con las teclas configurables se pueden x x x
seleccionar dos ciclos de energización: C-O o
C-O-C-O.
Valor por defecto: C-O.
OMICRON 109

transitorios
t-al1 * Tiempo permitido para límite de exactitud del
primer período de energización del ciclo de
servicio.
"por Servicio".
Valores posibles: 0,000 a 5,000 s y máx. t1 o tecla x x x
configurable 40ms.
t1 * Duración del primer flujo de corriente. El límite de
exactitud especificado no se debe alcanzar dentro
del intervalo de tiempo tal1.
"por Servicio" y "Servicio" es "C-O-C-O".
Valores posibles: 0,000 a 5,000 s o tecla x x x
configurable 100ms.
tfr * Tiempo muerto entre primera apertura y recierre.
Valores posibles: 0,00 a 5,00 s o tecla
configurable 300ms. x x x
110 OMICRON

transitorios
t-al2 * Tiempo permitido para límite de exactitud del
segundo período de energización del ciclo de
servicio.
Valores posibles: 0,000 a 5,000 s o tecla x x x
configurable 40ms.
la página 149).
2. Si se introduce el signo de interrogación, se usa la mitad de la tensión introducida o medida para Ek.
3. Si se introduce el signo de interrogación, el CT Analyzer usará la corriente de excitación medida con el valor de tensión
definido en E1. En este caso, la evaluación de este parámetro es correcta.
* Este parámetro es importante para la evaluación. Si la opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio" está activada en los ajustes
del dispositivo (consulte la sección 6.8.3 "Ajustes varios" en la página 76), no será posible realizar una evaluación automática
si no introduce los datos de este parámetro. Tales parámetros están marcados con un asterisco "*" en la interfaz de usuario
del CT Analyzer.
OMICRON 111

IEC 61869-2 con el tipo "TC Medición".
Tabla 8-9: Parámetros y ajustes para los TCs de medición de la norma IEC 61869-2
Parám. Descripción Disponible para

los TCs de
medición de
IEC 61869-2,
clase
0.1, 0.2, 0.2s, 0.5,
0.5s, 1, 3, 5
FS Factor de seguridad del instrumento según la norma IEC 61869-2.
Valores posibles: Valor entero entre 1 y 30 o teclas configurables ?1, x
FS1, FS1.5, FS2, FS5, FS10, FS20 o FS30.
ext. Ipn Corriente nominal extendida.
Valores posibles: 100 a 400 % o teclas configurables 120%, 150%,
x
200%, 300%, 400%.
ext. VA Rango de carga extendido para la evaluación del error de relación y del
desplazamiento de fase de acuerdo con la norma IEC 61869-2.
La evaluación del error de relación y del desplazamiento de fase se
realiza por lo general con una carga de 25 % de la carga nominal. Si el
parámetro "ext. VA" está ajustado en "on", la evaluación se realiza para x
un rango extendido con una carga de 1 VA2 si el límite de 25 % da lugar
a una carga superior a 1 VA2.
Valores posibles: Teclas configurables Act. o Des..
Valor por defecto: On.
149).
2. El valor depende del ajuste de la opción "VA mín. en Isn 5 A de núcleos M" en los ajustes del dispositivo (Menú Principal ->
Ajustes -> Restricciones de carga nominal; consulte la sección 6.8 en la página 71).
112 OMICRON

de la norma IEEE C57.13
IEEE C57.13 con el tipo "TC Prot."
Tabla 8-10: Parámetros y ajustes para los TCs de protección IEEE C57.13

IEEE C57.13, clase
C T X K1
Vb * Tensión nominal en terminal secundario.
Si se selecciona la norma IEEE C57.13 con el tipo "TC de
protección" (clase C, K o T), los parámetros VA y Cos ϕ no son
accesibles para el usuario. En este caso, el usuario debe introducir
la tensión en terminal Vb.
x x x
Valores posibles: Valores enteros de 10 a 2000 V o teclas
configurables ?2, 10V, 20V, 50V, 100V, 200V, 400V, 800V o 1600V
No es posible reconocer automáticamente este parámetro. Para
realizar una evaluación automática, se debe introducir un valor.
Designación Después de seleccionar la tensión en el terminal secundario Vb
de carga (véase arriba) con una de las teclas configurables disponibles, este
campo muestra la designación de carga de la norma
correspondiente; por ejemplo B-1.0. El CT Analyzer calcula
x x x x
automáticamente la designación de carga. Si introduce un valor de
Vb que las teclas configurables no ofrecen, se mostrará
PERSONAL. en este campo para indicar que la carga
seleccionada no está definida en la norma.
RE(20*Isn) Error de relación en 20 * Isn.
Valores posibles: Valores enteros de 1 % a 20 %. x
Vk3 Punto de medición definido por el usuario.

Punto de medición 1 definido por el usuario.
Vk13 x x
Valores posibles: 0,1 V a 20,000 V o tecla configurable ?2.
Ik Punto de medición definido por el usuario.
Ik1 Punto de medición 1 definido por el usuario.
x x
Valores posibles: 0,03 mA a 30,000 mA o tecla configurable ?2.
OMICRON 113
Tabla 8-10: Parámetros y ajustes para los TCs de protección IEEE C57.13 (continuación)

IEEE C57.13, clase
C T X K1
Valores posibles: 0 a 3000 ohmios o tecla configurable ?2. x
1. Según IEEE C57.13 (2008)
la página 149).
3. Se ha cambiado el nombre a Ek y Ek1 en IEEE C57.13 (2016).
* Este parámetro es importante para la evaluación. Si la opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio" está activada en los ajustes
del dispositivo (consulte la sección 6.8.3 "Ajustes varios" en la página 76), no será posible realizar una evaluación automática
si no introduce los datos de este parámetro. Tales parámetros están marcados con un asterisco "*" en la interfaz de usuario
del CT Analyzer.

la norma IEEE C57.13
IEEE C57.13 con el tipo "TC Medición".
Tabla 8-11: Parámetros y ajustes para los TCs de medición de la norma IEEE C57.13

TCs de medición
IEEE C57.13, clase
0.15, 0.15S, 0.15N,
0.3, 0.3S, 0.6, 1.2,
2.4, 4.8
RF Factor nominal de corriente continua.
Valores posibles: Valor de 1,0 a 4,0 o teclas configurables RF1.5,
x
RF2, RF3 o RF4.
Valor por defecto: 2.
114 OMICRON
Tabla 8-11: Parámetros y ajustes para los TCs de medición de la norma IEEE C57.13 (continuación)

TCs de medición
IEEE C57.13, clase
0.15, 0.15S, 0.15N,
0.3, 0.3S, 0.6, 1.2,
2.4, 4.8
Designación Utilice este para especificar la carga funcional de los TCs de
de carga medición de IEEE C57.13. Para ello, seleccione una designación de
carga definida en la norma mediante las teclas configurables (en
lugar de usar el parámetro "VA").
Si utiliza el parámetro "VA" para especificar la carga funcional, el
campo "Designación de carga" muestra la designación de carga
estándar (por ejemplo, B-0.1) correspondiente a este valor de carga
(si el valor de carga especificado es una carga estándar) o
PERSONAL., si el valor de carga especificado en el campo "VA" no
está definido en la norma.
Valores posibles: Teclas configurables ?, E-0.04, E-0.2, B-0.1, B-0.2,
B-0.5, B-0.9 o B-1.8.
El uso de la opción Evaluar en VA para el parámetro "Clase" permite
realizar la evaluación solo de una carga o un rango de carga
específicos, en lugar de hacerla de la carga máxima especificada y
las cargas inferiores definidas en la norma (consulte también las
explicaciones relativas a los TCs de medición de IEEE C57.13
especificados para el parámetro "Clase" en la página 99). x
Realice el procedimiento siguiente para evaluar solo una carga o un
rango de carga específico mediante la opción Evaluar en VA:
► Seleccione el campo "Clase".
► Pulse la tecla configurable Evaluar en VA y elija la clase mediante
las teclas configurables (por ejemplo, Clase 0,15).
► Seleccione el campo "Designación de carga" y elija una carga
estándar mediante las teclas configurables (por ejemplo, B-0.9)
para especificar el valor de carga o el límite inferior del rango de
carga.
► Para especificar un rango de carga, pulse la tecla configurable
Rango - y elija el límite superior del rango mediante las teclas
configurables disponibles.
► El campo "Designación de carga" muestra la carga estándar o el
rango de carga seleccionados para su evaluación (por ejemplo,
B-0.9 - B1.8). La tabla de relación y la tabla de fases de la tarjeta
Relación solo mostrarán el error para la carga o el rango de carga
específicos.
OMICRON 115
8.3 Tarjeta Carga

La tarjeta Carga del modo de prueba avanzada de TC solo se puede utilizar si está activada en la
página Selec. Tarjet (Selección de tarjeta de prueba por defecto o tecla configurable Selec. Tarjet de
la tarjeta CT-Objeto).
Mediante la tarjeta Carga se puede medir la impedancia de carga secundaria de un transformador de
corriente con la corriente secundaria seleccionada (Isn) a la frecuencia nominal. Si se debe utilizar una
corriente distinta de Isn para probar la carga, la corriente de prueba correspondiente se puede introducir
en el campo de parámetro "I-pru".
Con la tarjeta Carga no se pueden utilizar teclas configurables.
Figura 8-4: Tarjeta Carga
Si el CT Analyzer es incapaz de alcanzar la correspondiente corriente de prueba Ipru, un mensaje de

sobrecarga se muestra en la esquina derecha de la línea de estado.
8.3.1 Ajustes de la prueba

En la tarjeta Carga se pueden hacer los siguientes ajustes.
Tabla 8-12: Ajustes de la prueba en la tarjeta Carga
I-pru Corriente de prueba utilizada para medir la carga externa.
Después de borrar los resultados de la prueba o al iniciar una nueva prueba del TC, se
selecciona la corriente de prueba automáticamente, de la siguiente manera:
Valor para I-sn Valor para I-pru Corriente de prueba

en la tarjeta en la tarjeta Carga utilizada para la prueba
CT-Objeto de carga
"?" ninguno 1A
p. ej. "?" p. ej. 5 A 5 A (valor de I-pru)
p. ej. 5 A ninguno 5 A (valor de I-sn)
p. ej. 5 A p. ej. 1 A 1 A (valor de I-pru)
Es posible sobrescribir la corriente de prueba por defecto utilizando el teclado (0,1 a 5 A).
Verifique siempre los ajustes de corriente de prueba antes de iniciar la prueba para
evitar daños en el TC u otros equipos.
116 OMICRON
8.3.2 Resultados de la prueba

En la parte inferior de la tarjeta Carga figuran los resultados de la prueba de carga una vez finalizada
la prueba.
Tabla 8-13: Resultados de la prueba en la tarjeta Carga
I-med Corriente medida durante la prueba.
V-med Tensión medida en la carga durante la prueba.
Carga / Cos ϕ Carga y cos ϕ calculados a partir de las cantidades medidas.
Si se desconoce la corriente secundaria nominal, en el campo resultado se indicará
únicamente "n/a" mientras no se defina Isn.
Z Impedancia de la carga calculada a partir de las cantidades medidas.
8.3.3 Conexión de la carga y ejecución de la prueba de carga

1. Pulse la tecla configurable Selec. Tarjet en la tarjeta CT-Objeto para abrir la página Selec. Tarjet.
Active la tarjeta de prueba Carga en la página Selec. Tarjet. Pulse la tecla configurable Atrás para
aplicar su selección de tarjeta de prueba y volver a la tarjeta CT-Objeto.
Figura 8-5: Se activa la página Selec. Tarjet con tarjeta de prueba Carga
2. En la tarjeta Carga, utilice la corriente de prueba por defecto o introduzca la corriente de prueba que
desee en el parámetro "I-pru".
3. Ejecute la prueba de carga como se describe en la sección 5.2.3 en la página 62.
Posibles pasos de la prueba tras la prueba de carga:

► Medición del magnetismo residual; consulte la sección 8.4.2 en la página 119.
► Medición de la resistencia de primario; consulte la sección 5.2.3, pasos 4. & 5. en la página 63.
► Prueba TC; consulte la sección 5.2.3, pasos 7 al 11. en la página 64 y las secciones 5.2.4 en la
página 65 y 5.2.5 en la página 66.
OMICRON 117
8.4 Tarjeta Magnetismo residual

Nota: Magnetismo residual es una función opcional. Las funciones descritas a continuación solo están
disponibles si ha adquirido la licencia correspondiente. Para obtener más información, póngase en
contacto con el representante de ventas de OMICRON o con la oficina de OMICRON más próxima.
La tarjeta Magnetismo residual del modo de prueba avanzada de TC solo se puede utilizar si está
activada en la página Selec. Tarjet (Selección de tarjeta de prueba por defecto o tecla configurable
Selec. Tarjet de la tarjeta CT-Objeto).
Las altas corrientes transitorias o corrientes CC aplicadas en el lado principal de un TC pueden producir
efectos de saturación dentro del TC, con un posible desplazamiento del punto de funcionamiento en la
curva de excitación del TC. El TC tendrá en tal caso un flujo magnético residual en su núcleo aunque
no se aplique corriente al lado primario. El TC tiene magnetismo residual.
El magnetismo residual de los TCs puede ocasionar activaciones erróneas o impedir la activación del
relé de protección conectado porque el comportamiento del TC no es el especificado y esperado.
Por medio de la tarjeta Magnetismo residual es posible medir el magnetismo residual de los TCs.
El CT Analyzer realiza la desmagnetización del TC al finalizar la prueba. Tenga en cuenta que el
nivel de magnetismo residual que tenía el TC antes de la prueba se pierde al realizarse la prueba.
Figura 8-6: Tarjeta Magnetismo residual
Nota: El cableado para la medición del magnetismo residual es idéntico al cableado de una prueba del
TC normal (consulte la sección 3.4.1 en la página 28).
Nota: Los núcleos separados normalmente tienen un magnetismo residual muy bajo. El CT Analyzer
posiblemente no podrá determinar el punto de inflexión de los núcleos separados.
118 OMICRON
8.4.1 Ajustes y resultados de prueba

Los siguientes ajustes y resultados de prueba se visualizan en la tarjeta Magnetismo residual.
Tabla 8-14: Ajustes y resultados de prueba en la tarjeta Magnetismo residual
I-sn Corriente nominal secundaria del TC introducida en la tarjeta CT-Objeto.
El Isn del TC debe especificarse antes de la ejecución de la medición del
magnetismo residual. En caso contrario, se visualizará un mensaje.
Flujo residual Valor absoluto [en V] del flujo magnético residual en el TC determinado por el
CT Analyzer.
El flujo residual se visualiza siempre después de la medición, aunque el
CT Analyzer no haya podido determinar el magnetismo residual.
Magnetismo residual Magnetismo residual [en %] del TC, calculado a partir del flujo residual y el flujo
máximo del TC.
No se visualiza ningún valor si el CT Analyzer no ha podido alcanzar el punto de
inflexión de la curva de excitación.
8.4.2 Ejecución de una medición del magnetismo residual

Active la tarjeta de prueba Magnetismo residual en la página Selec. Tarjet. Pulse la tecla
configurable Atrás para aplicar su selección de tarjeta de prueba y volver a la tarjeta CT-Objeto.
Figura 8-7: Se activa la página Selec. Tarjet con tarjeta de prueba Magnetismo residual
2. Si todavía no ha especificado el Isn del TC en la tarjeta CT-Objeto, hágalo ahora.
OMICRON 119

conectar el CT Analyzer. El cableado para la medida del magnetismo residual es idéntico al
cableado para la prueba del TC.
Figura 8-8: Diagrama del cableado para la medida del magnetismo residual y la prueba TC
4. Inicie la prueba pulsando la tecla 1.
AVISO
cables, etc.).
tensión o a un comportamiento erróneo del CT Analyzer, no toque la configuración
de prueba hasta que haya pasado un tiempo y la energía almacenada en el
entorno eléctrico conectado se haya disipado.
5. Si se activa la prueba de carga, se detiene la prueba y el CT Analyzer muestra el mensaje

correspondiente, solicitándole si desea verificar el cableado para la prueba de carga. Conecte la
carga y ejecute la prueba de carga como se describe en la sección5.2.3, pasos 2. & 3. en la
página 62.
6. Una vez terminada la medición de la carga, la prueba se detiene para permitir de nuevo el cableado
para la medición del magnetismo residual. Compruebe que el LED rojo del CT Analyzer esté
apagado y vuelva a conectar el TC como se describe en el paso 3 anterior.
7. Continúe la prueba pulsando la tecla configurable Inicio de la prueba.
8. El CT Analyzer mide el magnetismo residual.
120 OMICRON
9. Si se activa la medición de resistencia de primario, la prueba se detiene y el CT Analyzer

muestra el mensaje correspondiente, pidiéndole comprobar el cableado para la prueba. Conecte el
CT Analyzer y ejecute la medición de la resistencia del devanado primario, como se describe en la
sección 5.2.3, pasos 4. & 5. en la página 63.
10. Una vez terminada la medición de la resistencia de primario, la prueba se detiene para permitir de
nuevo el cableado para la prueba del TC. Conecte el CT Analyzer y realice la prueba del TC como
se describe en la sección 5.2.3, pasos del 6 al 11. en la página 64.
OMICRON 121
8.5 Tarjeta Resistencia

La tarjeta Resistencia del modo de prueba avanzada de TC solo se puede utilizar si la medición de
resistencia del devanado está activada en la página Selec. Tarjet (Selección de tarjeta de prueba por
defecto o tecla configurable Selec. Tarjet de la tarjeta CT-Objeto).
La página Selec. Tarjet permite seleccionar dos tipos diferentes de mediciones de resistencia del
devanado:
► Medición de la resistencia del devanado principal (solo es necesaria si se percibe resistencia del
devanado principal, es decir, si el devanado principal consta de varios ciclos). Para obtener más
información, consulte la sección 8.5.1 en la página 123.
► Medición de la resistencia del devanado secundario (siempre es necesaria para pruebas del TC
en determinados cálculos de la prueba de relación y excitación). Para obtener más información,
consulte la sección 8.5.2 en la página 123.
En función de la selección realizada en la página Selec. Tarjet, la tarjeta Resistencia muestra los
parámetros y resultados de la medición de resistencia del devanado principal o secundario, o bien
ambas mediciones.
Figura 8-9: Tarjeta Resistencia con los parámetros y resultados de la medición de resistencia del
devanado principal y secundario
Figura 8-10: Tarjeta Resistencia con tan solo la medición de resistencia del devanado secundario
(izquierda) y con tan solo la medición de resistencia del devanado principal (derecha)
122 OMICRON
8.5.1 Medición de la resistencia del devanado principal

Solo es necesario medir la resistencia del devanado principal si se percibe resistencia del devanado
principal; es decir, si el devanado principal consiste en varios ciclos.
La medición de la resistencia del devanado principal se realiza antes de la prueba del TC y necesita un
cableado especial.
Nota: Si no se realiza una prueba del TC después de la prueba de resistencia del devanado principal,
tras la prueba se efectúa un ciclo de desmagnetización para garantizar la total desmagnetización del
TC.
Ejecución de la medición de la resistencia del devanado principal

Active la medición de Resistencia del devanado primario en la página Selec. Tarjet. Pulse la tecla
configurable Atrás para aplicar su selección y volver a la tarjeta CT-Objeto.
Figura 8-11: Página Selec. Tarjet con la medición de Resistencia del devanado primario activada
2. Ejecute la prueba como se describe en la sección 5.2.3 en la página 62.
AVISO
Esta medida se realiza con corriente CC.
► Pulse la tecla del CT Analyzer y espere hasta que se apague el LED rojo para abrir
8.5.2 Medición de la resistencia del devanado secundario

Durante la prueba del TC, es necesario realizar una medición de la resistencia del devanado secundario
porque se necesita la resistencia del devanado del TC para realizar determinados cálculos en la prueba
de relación y excitación. La medición se ejecuta de manera totalmente automática.
Nota: Si solo se selecciona la prueba de resistencia del devanado secundario, después de la prueba se
efectúa un ciclo de desmagnetización para garantizar la total desmagnetización del TC.
OMICRON 123
8.5.3 Ajustes y resultados de prueba

Para efectuar una prueba de resistencia del devanado son necesarios los siguientes ajustes.
Tabla 8-15: Ajustes de la prueba para la medición de la resistencia del devanado secundario
T-med Temperatura del devanado del TC en el momento de la medición.
Valor utilizado:
Temperatura ambiente definida en los Ajustes (menú principal).
Si esta temperatura no se ajusta correctamente, el valor de resistencia de referencia
(Rref) a la temperatura de referencia no se calculará correctamente.
T-ref Temperatura de referencia, es decir, la temperatura para la que está indicado el TC.
Valor utilizado:
Temperatura de referencia definida en los Ajustes (menú principal).
La resistencia del devanado a la temperatura de referencia se calcula a partir de la
resistencia del devanado medida a la temperatura ambiente (Tmed) y a la temperatura de
referencia especificada.
Los siguientes parámetros muestran los resultados de la prueba de resistencia del devanado una vez
finalizada la prueba.
I-CC Corriente utilizada para la medición. Seleccionada de forma automática, no modificable
por el usuario.
Solo medición de la resistencia del devanado secundario:
Si Isn es 0,2 A o superior, ICC se ajusta automáticamente como Isn.
Si Isn es inferior a 0,2 A, ICC se ajusta automáticamente en 0,2 A.
Valor Máximo: 5 A.
Solo medición de la resistencia del devanado principal:
Valor Máximo: 10 A.
V-CC Tensión medida.
R-med Resistencia medida a temperatura ambiente.
R-ref Resistencia de referencia (resistencia con compensación de temperatura, compensada
conforme a Tref).
124 OMICRON
8.6 Tarjeta Excitación

La tarjeta Excitación del modo de prueba avanzada de TC solo se puede utilizar si está activada en la
La prueba de excitación se usa para trazar la curva de excitación del transformador de corriente y para
determinar muchos de los parámetros específicos del TC (consulte los resultados de la prueba más
adelante). La prueba se efectúa de manera totalmente automática hasta una corriente máxima de
aproximadamente 5 Arms.
Los TCs con núcleos cerrados se pueden probar hasta una tensión de punto de inflexión de 30 kV. En
el caso de los TCs con núcleos separados, se limitan la tensión y corriente máximas de prueba según
la potencia máxima de salida del dispositivo. Los valores típicos de corriente y tensión máximas para
núcleos TPZ son 9 Aef a 1200 Vef.
Los ajustes de la prueba de excitación se especifican en la tarjeta CT-Objeto. Para una mejor
comprensión de los resultados de la prueba, los ajustes más importantes de la tarjeta CT-Objeto se
muestran en la parte superior de la tarjeta Excitación.
Los resultados de la prueba que se muestran en la parte inferior de la tarjeta Excitación dependen de
la norma seleccionada en la tarjeta CT-Objeto. Con las teclas configurables, el usuario puede elegir
entre distintos grupos de resultados. Si se pulsa la tecla configurable Resultado con carga nom., en
la página se muestran los resultados relacionados con la carga nominal (parámetro "VA" de la tarjeta
CT-Objeto). Si se pulsa la tecla configurable Resultado con carga funcional, en la página se muestran
los resultados relacionados con la carga funcional (parámetro "Carga" de la tarjeta CT-Objeto).
Si se pulsa la tecla configurable Gráf. excit., se abre una página con el gráfico de excitación (consulte
la página 132).
Al pulsar la tecla configurable Gráfico Error LE, se abre una página con un gráfico que indica la
corriente primaria máxima posible (K * Ipn) que puede circular por encima de una determinada carga sin
sobrepasar el límite de la exactitud (5 % o 10 %).
Figura 8-12: Tarjeta Excitación con valores relacionados con la carga nominal
Si el CT Analyzer muestra una sobrecarga en la tarjeta Excitación, no se ha podido alcanzar el punto

de inflexión deseado o bien no se han podido tomar todos los puntos de medición necesarios (p. ej., en
la zona del punto de inflexión, no se han podido medir suficientes puntos para efectuar un cálculo
adecuado del punto de inflexión).
OMICRON 125
Tabla 8-17: Teclas configurables de la tarjeta Excitación
Tecla Descripción
configurable
Muestra los resultados relacionados con la carga nominal del TC.
o
Muestra los resultados relacionados con la carga funcional del TC.
Abre la página del gráfico de excitación (consulte la sección 8.6.4 en la página 132).
Abre la página del gráfico de error LE (consulte la sección 8.6.5 en la página 134).
Este gráfico forma parte de las normas chinas e indica la corriente primaria máxima
posible (K * Ipn) que puede circular por encima de una determinada carga sin sobrepasar
el límite de exactitud.

La parte superior de la tarjeta Excitación muestra los ajustes de prueba efectuados en la tarjeta
CT-Objeto.

Los resultados de la prueba se muestran en la parte inferior de la tarjeta Excitación. La visualización
de los resultados de la prueba depende de lo siguiente:
• La norma definida en la tarjeta CT-Objeto, la clase y el tipo de TC (TC de medición o protección).
Las siguientes tablas ofrecen una descripción general de los resultados de prueba (parámetros) que
se muestran para cada norma.
• La carga seleccionada con la tecla configurable (Resultados con carga nom. o Resultados con
carga funcional).
Dependiendo de la carga seleccionada, en la tarjeta Excitación se muestran los resultados
calculados con la carga nominal (Resultados con carga nom.) o con la carga funcional
(Resultados con carga funcional).
Las páginas que se muestran son idénticas en gran medida, salvo en la denominación del campo
del parámetro de carga ("VA" en caso de carga nominal y "Carga" en caso de carga funcional) y en
los valores de los resultados.
126 OMICRON
Resultados de la prueba visualizados en la tarjeta Excitación para la norma

IEC 60044-1
Tabla 8-18: Resultados de la prueba para la norma IEC 60044-1
Parám. Descripción Resultados mostrados para

TCs de TCs de
protección medición
...P ...PR PX
V-kn Tensión del punto de inflexión (conforme a la norma) del punto
x x x x
de inflexión más alto que se encuentre.
I-kn Corriente del punto de inflexión (conforme a la norma) del punto
x x x x
de inflexión más alto que se encuentre.
Ls Inductancia saturada. x x x x
Lm Inductancia no saturada. x x x x
Ts Constante de tiempo secundario. x x x x
Kr Factor de remanencia. x x x x
εi Error indirecto en ALF según la norma IEC 60044-1. x x
εci Error compuesto indirecto en ALF según la norma IEC 60044-1. x x
ALF Factor límite de la exactitud según el método de medición
directa de IEC 60044-1, calculado para carga nominal y x x
funcional.1
ALFi Factor límite de la exactitud según el método de medición
indirecta de IEC 60044-1, calculado para carga nominal y x x
funcional.1
εi Error indirecto en FS según la norma IEC 60044-1. x
εci Error compuesto indirecto en FS según la norma IEC 60044-1. x
FS Factor de seguridad del instrumento según el método de
medición directa de IEC 60044-1, calculado para carga nominal x
y funcional.1
FSi Factor de seguridad del instrumento según el método de
medición indirecta de IEC 60044-1, calculado para carga x
nominal y funcional.1
Kx Factor de dimensionamiento (según clase PX de IEC 60044-1)
x
al límite de exactitud con la carga seleccionada.
Ek Tensión límite de exactitud según la clase PX de IEC 60044-1
(el punto del gráfico de excitación en el que un aumento de la
x
tensión eficaz e.m.f. (flujo del núcleo) del 10 % provoca un
aumento de la corriente eficaz del 50 %).
Ie Corriente límite de exactitud según la clase PX de IEC 60044-1
x
(a Ek).
OMICRON 127
Tabla 8-18: Resultados de la prueba para la norma IEC 60044-1 (continuación)

TCs de TCs de
...P ...PR PX
E1 E.m.f. definido por el usuario para verificar la corriente de
x
excitación en este e.m.f.
Ie1 Corriente de excitación máxima permitida en E1. x
1. Si el CT Analyzer no es capaz de medir hasta el valor real, se muestra el prefijo ">" para indicar que el valor de medición es
mayor que el valor que se ve en pantalla.

IEC 60044-6
Parám. Descripción Resultados

visualizados para
IEC 60044-6, clase
TPS TPX TPY TPZ
V-kn Tensión del punto de inflexión conforme a la norma. x x x x
I-kn Corriente del punto de inflexión conforme a la norma. x x x x
Ls Inductancia saturada. x x x x
Lm Inductancia no saturada. x x x x
Ts Constante de tiempo secundario. x x x x
Kr Factor de remanencia. x x x x
Kssc Factor de corriente simétrica nominal de cortocircuito al límite de
x x x x
exactitud con la carga seleccionada.1
Ktd Factor de dimensionamiento de transitorios teórico. x x x
V-al Tensión límite de exactitud según la clase TPS de IEC 60044-6 (el
punto del gráfico de excitación en el que un aumento de la tensión
x
eficaz e.m.f. (flujo del núcleo) del 10 % provoca un aumento del pico
de corriente del 100 %).
I-al Corriente límite de exactitud según la clase TPS de IEC 60044-6 (a Val). x
E-max Tensión e.m.f. máxima.
Este parámetro permite determinar el punto en proceso del gráfico de x x x
excitación que se alcanzaría con los ajustes introducidos.
^
ε Error instantáneo pico con tensión Emax. x x
^
εac Error instantáneo de pico de componente de corriente alternativa
x
según la norma.
128 OMICRON

IEC 61869-2

TCs de protección,
de medición
clase
...PR
PXR
TPX
TPY
TPZ
TCs
...P
PX
V-kn Tensión del punto de inflexión conforme a la norma. x x x x x x x x
I-kn Corriente del punto de inflexión conforme a la norma. x x x x x x x x
Ls Inductancia saturada. x x x x x x x x
Lm Inductancia no saturada. x x x x x x x x
Ts Constante de tiempo secundario. x x x x x x x x
Kr Factor de remanencia. x x x x x x x x
εi Error indirecto en ALF según la norma IEC 61869-2. x x
εci Error compuesto indirecto en ALF según la norma
x x
IEC 61869-2.
ALF Factor límite de la exactitud según el método de medición
directa de IEC 61869-2, calculado para carga nominal y x x
funcional.1
ALFi Factor límite de la exactitud según el método de medición
indirecta de IEC 61869-2, calculado para carga nominal y x x
funcional.1
εi Error indirecto en FS según la norma IEC 61869-2. x
εci Error compuesto indirecto en FS según la norma
x
IEC 61869-2.
FS Factor de seguridad del instrumento según el método de
medición directa de IEC 61869-2, calculado para carga x
FSi Factor de seguridad del instrumento según el método de
medición indirecta de IEC 61869-2, calculado para carga x
Kx Factor de dimensionamiento (según la norma IEC 61869-2)
x x
al límite de exactitud con la carga seleccionada.
Ek Tensión límite de exactitud según la norma IEC 61869-2 (el
punto del gráfico de excitación en el que un aumento de la
x x
tensión eficaz e.m.f. (flujo del núcleo) del 10 % provoca un
aumento de la corriente eficaz del 50 %).
Ie Corriente límite de exactitud según la norma IEC 61869-2
x x
(a Ek).
OMICRON 129
Tabla 8-20: Resultados de la prueba para la norma IEC 61869-2 (continuación)

TCs de protección,
de medición
clase
...PR
PXR
TPX
TPY
TCs
TPZ
...P
PX
E1 E.m.f. definido por el usuario para verificar la corriente de
x x
excitación en este e.m.f.
Ie1 Corriente de excitación máxima permitida en E1. x x
Kssc Factor de corriente simétrica nominal de cortocircuito al
x x x
límite de exactitud con la carga seleccionada.1, 2
Ktd Factor de dimensionamiento de transitorios teórico.3 x x x
E-max Tensión e.m.f. máxima.
Este parámetro permite determinar el punto en proceso del x x
gráfico de excitación que se alcanzaría con los ajustes
introducidos.
^ε Error instantáneo pico con tensión Emax. x x
^
εac Componente de error alterno del pico según la norma. x
2. Si el parámetro "Espec." está establecido en "por Servicio" en la tarjeta CT-Objeto (consulte la página 108), no se realiza el
cálculo para este parámetro si el usuario no ha especificado valores para Tp y tal1 en la tarjeta CT-Objeto antes de la prueba.
3. Este parámetro se muestra solamente si el parámetro "Espec." está establecido en "por Servicio" en la tarjeta CT-Objeto
(consulte la página 108). No se realiza el cálculo para este parámetro si el usuario no ha especificado valores para Tp y tal1
en la tarjeta CT-Objeto antes de la prueba.
130 OMICRON
Resultados de la prueba visualizados en la tarjeta Excitación para IEEE C57.13

Tabla 8-21: Resultados de la prueba para la norma IEEE C57.13
Parám. Descripción Resultados

visualizados para
IEEE C57.13
TCs de TCs de
V-kn Tensión del punto de inflexión conforme a la norma. x x
I-kn Corriente del punto de inflexión conforme a la norma. x x
Ls Inductancia saturada. x x
Lm Inductancia no saturada. x x
Ts Constante de tiempo secundario. x x
Kr Factor de remanencia. x x
Vs (10 % RE)1 Tensión en terminal secundario con error de relación del
10 %. x1
Vs (% RE def. por el Tensión en terminal secundario con el porcentaje de

usuario)2 error de relación definido por el usuario para el x2
parámetro RE(20*Isn) en la tarjeta CT-Objeto.
FS Factor de seguridad del instrumento (método de
medición directa), calculado para carga nominal y x
funcional.3
FSi Factor de seguridad del instrumento (método de
medición indirecta), calculado para carga nominal y x
funcional.1
1. Para la norma IEEE C57.13, clases C, T y K.
2. Solo para IEEE C57.13 clase X.
OMICRON 131
8.6.4 Gráfico de excitación

La página del gráfico de excitación muestra el gráfico calculado a partir de los resultados de la prueba.
Para ver el gráfico de excitación, pulse la tecla configurable Gráf. Excit. en la tarjeta Excitación. El
gráfico muestra la tensión eficaz en terminal/núcleo correspondiente a la corriente eficaz/pico según la
norma seleccionada.
En la parte inferior derecha del diagrama se muestran los valores de tensión, corriente e inductancia
correspondientes al punto seccionado del gráfico. El punto del gráfico seleccionado en ese momento se
señala por medio de una línea discontinua horizontal y otra vertical.
En esta página es posible cargar el gráfico de excitación de una prueba ya guardada en la tarjeta
Compact Flash, a fin de compararlo con el gráfico de la prueba actual.
Figura 8-13: Gráfico de excitación
Definición de los ejes del gráfico de excitación según distintas normas
Tabla 8-22: Definición de los ejes del gráfico de excitación
Norma Eje vertical Eje horizontal

IEC 60044-1 Tensión eficaz en terminal Corriente eficaz de excitación
IEC 60044-6 Tensión eficaz e.m.f. Corriente pico de excitación
IEC 61869-2 Tensión media corregida1 en terminal Corriente eficaz de excitación
IEEE C57.13 Tensión eficaz e.m.f. Corriente eficaz de excitación

1. Calibrado a valor eficaz
Tabla 8-23: Teclas configurables disponibles para el gráfico de excitación
Tecla Descripción
configurable
Mueve el cursor hacia arriba en el gráfico de excitación.
Mueve el cursor hacia abajo en el gráfico de excitación.
Desactiva la visualización de valores en la parte inferior derecha del diagrama. Si ha

desactivado los valores, esta tecla configurable cambia a Texto On para activar de
nuevo la visualización de los valores.
132 OMICRON
Tabla 8-23: Teclas configurables disponibles para el gráfico de excitación (continuación)
Tecla Descripción
configurable
Cierra el gráfico de excitación para volver a la tarjeta Excitación.
Mueve el cursor hasta el punto de inflexión del gráfico conforme a la norma

seleccionada.
Si en el gráfico figuran dos o más puntos de inflexión, esta tecla configurable se
denomina de manera alterna Punto Inflex 1 o Punto Inflex 2, según el punto de
inflexión en el que esté situado el cursor en ese momento. Pulsando la tecla
configurable puede cambiar entre el punto de inflexión 1 y el punto de inflexión 2.
Al abrir el gráfico de excitación, el cursor indica el punto de inflexión más alto (punto
de inflexión 1) y la tecla configurable se denomina Punto Inflex 2.
Mueve el cursor hasta el punto de inflexión del gráfico de referencia. Esta tecla
configurable solo se puede utilizar si se carga un gráfico de referencia.
Si el gráfico de referencia cargado tiene dos o más puntos de inflexión, esta tecla
configurable se denomina de manera alterna Punto Inflex Ref. 1 o
Punto Inflex Ref. 2, según el punto de inflexión en el que esté situado el cursor en
ese momento. Pulsando la tecla configurable puede cambiar entre el punto de
inflexión 1 y el punto de inflexión 2.
Al cargar el gráfico de referencia, el cursor indica el punto de inflexión más alto (punto
de inflexión 1) y la tecla configurable se denomina Punto Inflex Ref. 2.
Abre la tarjeta del sistema de archivos para seleccionar una prueba anterior a fin de
cargar la curva de excitación de dicha prueba como curva de referencia y compararla
con la actual.
La curva de referencia se muestra como una línea de puntos añadida a la curva de
excitación de la prueba. Si se carga una curva de referencia, se muestran los valores
Vref, Iref y Lref, además de los valores medidos.
Desactiva la curva de referencia de la pantalla. Si ha desactivado la curva de
referencia, la tecla configurable cambia a Ref. On para activar de nuevo la curva de
referencia.
Esta tecla configurable solo se puede utilizar si se ha cargado una curva de
referencia.
Pulsando una de estas teclas configurables se puede ver el gráfico de excitación
medida y el punto de inflexión conforme a la norma correspondiente.
IEEE C57.13 muestra el punto de inflexión para la tangente de 45°. Después de
presionar esta tecla configurable, su etiquetado cambia a IEEE C57.13 (30°) para
activar la visualización del punto de inflexión para la tangente de 30°. 30° es lo
recomendable para núcleos con gap en IEEE C37.110, capítulo 4.3.
Nota: El informe de la prueba solo contiene el gráfico correspondiente a la norma
OMICRON 133

gráfico
Por defecto, los valores del punto de inflexión se muestran tras abrir la página del gráfico de excitación.
No obstante, también es posible ver los valores de tensión, corriente e inductancia correspondientes a
cualquier punto del gráfico. Para seleccionar un determinado punto del gráfico,
► use las teclas configurables (Cursor arriba, Cursor abajo, Punto Inflex)
► o introduzca un determinado valor de tensión o corriente utilizando el teclado:
► Seleccione el campo de edición con las teclas de cursor .
► Introduzca el valor correspondiente de tensión o corriente con el teclado.
► Pulse la tecla para aplicar el valor introducido y leer los valores correspondientes en los
campos respectivos (p. ej., "V-med" y "L-med" si ha introducido una corriente "I-med").
Figura 8-14: Introducción de un valor de corriente para ver sus valores correspondientes de tensión e
inductancia en el gráfico de excitación
8.6.5 Gráfico de error de limitación de exactitud*

* Según las "Normas eléctricas para TCs de protección de China".
Para ver el gráfico de error LE, pulse la tecla configurable Gráfico Error LE de la tarjeta Excitación.
Nota: La función "Gráfico Error LE" se puede activar o desactivar en los ajustes del dispositivo (Menú
Principal -> Ajustes -> Gráfico de error de limitación de exactitud). Si se desactiva, el gráfico de error LE
no se incluye en el informe de la prueba.
Se admiten todas las normas, salvo IEC 60044-6 clase TPZ.
Figura 8-15: Gráfico error LE
134 OMICRON

Tabla 8-24: Teclas configurables disponibles para el gráfico de error de limitación de exactitud
Tecla Descripción
configurable
Mueve el cursor hacia arriba en el gráfico de error.
Mueve el cursor hacia abajo en el gráfico de error.
Desactiva la visualización de valores en la parte superior derecha del diagrama. Si

ha desactivado los valores, esta tecla configurable cambia a Texto On para activar
de nuevo la visualización de los valores.
Cierra el gráfico de error LE para volver a la tarjeta Excitación.
Mueve el cursor al punto del gráfico de error que corresponde al valor de carga
nominal definido en el campo "VA" de la tarjeta CT-Objeto (valor que introduce el
usuario o determina el CT Analyzer).
Mueve el cursor al punto del gráfico de error que corresponde al valor de carga
funcional definido en el campo "Carga" de la tarjeta CT-Objeto (valor que introduce
el usuario o determina el CT Analyzer).

gráfico
Por defecto, al abrir esta página el cursor se sitúa en los valores de carga nominal.
Para seleccionar un determinado punto del gráfico:
► Seleccione el correspondiente campo de edición "Valor K" o "Carga" con las teclas de cursor
e introduzca el valor correspondiente con el teclado.
► Pulse la tecla para aplicar el valor introducido y leer el valor correspondiente en el campo
respectivo.
OMICRON 135
8.7 Tarjeta Relación

La tarjeta Relación del modo de prueba avanzada de TC solo se puede utilizar si está activada en la
página Selec. Tarjetas (Ajustes de dispositivo o tecla configurable Selec. Tarjetas de la tarjeta
CT-Objeto).
La prueba de relación mide la relación de corriente del TC teniendo en cuenta la carga funcional
(parámetro "Carga" de la tarjeta CT-Objeto) o la carga nominal (parámetro "VA" de la tarjeta
CT-Objeto).
Los resultados de la prueba de relación figuran en 3 páginas:
• La tarjeta Relación (consulte la Figura 8-16) muestra la polaridad, el error de relación y el
desplazamiento de fase correspondientes a la corriente primaria y a la carga definida en la tarjeta
CT-Objeto.
Si se pulsa la tecla configurable Resultado con carga nom., en la página se muestran los
resultados relacionados con la carga nominal (parámetro "VA" de la tarjeta CT-Objeto). Si se pulsa
la tecla configurable Resultado con carga funcional, en la página se muestran los resultados
relacionados con la carga funcional (parámetro "Carga" de la tarjeta CT-Objeto).
• En la tabla de relación se muestra el error de la relación de corriente (200 % hasta 1 % de la
corriente nominal) con diferentes valores de carga (en función de la norma seleccionada; consulte
las secciones 8.7.4 en la página 139 y 8.7.5 en la página 140).
• En la tabla de fases se muestra el desplazamiento de fase para diferentes corrientes con
diferentes valores de carga (en función de la norma seleccionada; consulte las secciones 8.7.4 en
la página 139 y 8.7.5 en la página 140).
Para una mejor comprensión de los resultados de la prueba, los ajustes más importantes de la tarjeta
CT-Objeto se muestran una vez más en la parte superior de la tarjeta Relación.
Nota: Si bien la prueba no se efectúa con la corriente real, los resultados de la prueba reflejan la
relación de corriente y no la relación de tensión.
Figura 8-16: Tarjeta Relación
136 OMICRON
Tabla 8-25: Teclas configurables de la tarjeta Relación
Tecla Descripción
configurable
Muestra los resultados relacionados con la carga funcional del TC.
o
Muestra los resultados relacionados con la carga nominal del TC.
Muestra la tabla de relación (consulte las secciones 8.7.4 en la página 139 y 8.7.5 en
la página 140). En la tabla de relación es posible mostrar los valores relacionados con
la carga nominal o funcional del TC.
Muestra la tabla de fases (consulte las secciones 8.7.4 en la página 139 y 8.7.5 en la
página 140). En la tabla de fases es posible mostrar los valores relacionados con la
carga nominal o funcional del TC.

En la tarjeta Relación se pueden hacer los siguientes ajustes.
Tabla 8-26: Ajustes de la prueba en la tarjeta Relación
I-p Corriente primaria para calcular el error de relación y el desplazamiento de fase con la
carga (carga funcional) definida en la tarjeta CT-Objeto.
Una vez finalizada la prueba, es posible cambiar el valor de la corriente primaria. A
continuación, el error de relación y/o el error de fase se vuelven a calcular y a mostrar
en pantalla. Al guardar los resultados de la prueba, se guardan los resultados de la
medición que figuran en pantalla en ese momento.
El cambio de este valor influye únicamente en los resultados que se muestran en la
tarjeta Relación (valores relacionados con la carga funcional). No afecta a los valores
que se muestran en las páginas independientes correspondientes a las tablas de
relación y fase (valores relacionados con la carga nominal).
Valor por defecto: Valor de Ipn
OMICRON 137

Los resultados de la prueba que figuran a continuación se muestran en la parte inferior de la tarjeta
Relación. Además de los resultados que se muestran en la tarjeta Relación, puede ver las páginas de
las tablas de relación y fases descritas en las secciones 8.7.4 en la página 139 y 8.7.5 en la página 140.
Tabla 8-27: Resultados de prueba de la tarjeta Relación
Relación Error de relación de corriente (en %) con la corriente primaria (Ip) y carga
especificadas.
Pol. Correcta: Polaridad correcta, el ángulo de fase está comprendido en el rango 0° ± 45°.
Incorrecto: polaridad incorrecta del TC o polaridad incorrecta de los cables de
medición.
εC Error compuesto en % con la corriente primaria (Ip) y carga funcional especificadas.
Este parámetro solo se muestra si la norma IEC 60044-1 o IEC 61869-2 está
Fase Desplazamiento de fase (en minutos) con la corriente primaria (Ip) y carga
especificadas.
N Relación de ciclo del devanado.
εt Error de relación de transformación según
• IEC 60044-6 o IEC 61869-2 clase TPS o
• IEC 60044-1 o IEC 61869-2 clase PX.
RCF Factor de corrección de relación.
Este parámetro solo se muestra si la norma IEEE C57.13 está seleccionada en la
tarjeta CT-Objeto.
TCF Factor de corrección de transformador.
Este parámetro solo se muestra si la norma IEEE C57.13 está seleccionada en la
tarjeta CT-Objeto.
RE@(20*Isn) Error de relación en 20 * Isn.
Este parámetro solo se muestra si la norma IEEE C57.13 con la clase C, T o X está
138 OMICRON
8.7.4 Tabla de relación y tabla de fases para IEC 60044-1,

IEC 60044-6 e IEC 61869-2
Para ver la tabla de relación o la tabla de fases, pulse las teclas configurables Tabla Relac. o
Tabla Fases de la tarjeta Relación.
Si la norma seleccionada es IEC 60044-1, IEC 60044-6 o IEC 61869-2, estas tablas muestran el error
de relación y el desplazamiento de fase
• para distintos valores de corriente entre 1 % y 200 % de la corriente nominal, y
• al 100 %, 50 %, 25 % y 12,5 % de la carga funcional definida en la tarjeta CT-Objeto (parámetro
"Carga"), y
• al 100 %, 50 %, 25 % y 12,5 % de la carga nominal definida en la tarjeta CT-Objeto (parámetro
"VA") o a 1 VA si uno de estos porcentajes da lugar a una carga nominal inferior a 1 VA.
Pulse la tecla configurable Result. Carga funcional o Resultado con carga nom., se muestran los
resultados relacionados con la carga funcional (parámetro "Carga" de la tarjeta CT-Objeto) o
relacionados con la carga nominal (parámetro "VA" de la tarjeta CT-Objeto).
La tabla de relación y la tabla de fases contienen todos los puntos de medición definidos en las normas
IEC 60044-1, IEC 60044-6 e IEC 61869-2.
Use las teclas de cursor para desplazarse por las columnas de las tablas (de 1 % de la corriente
nominal a 200 % de la corriente nominal).
Figura 8-17: Visualización de la tabla de relación y de la tabla de fases de la tarjeta Relación (para
IEC 60044-1, IEC 60044-6 e IEC 61869-2)
Nota: Los valores que provocaron errores en la evaluación se resaltan con un fondo negro en las tablas.
Los valores sin el prefijo "!" tienen una exactitud garantizada. La exactitud de los valores señalados en
las tablas con una "!" es inferior en un factor de 2.
Nota: Para los TCs de medición de la norma IEC 60044-1 con Isn = 5 A, es posible aumentar la carga
nominal mínima empleada para la evaluación a 3,75 VA en los ajustes del dispositivo
(Menú Principal -> Ajustes -> Restricciones de carga nominal -> parámetro "VA mín. en Isn 5 A de
núcleos M"). En este caso, el valor de carga nominal más bajo que se muestra en la tabla de relación y
en la tabla de fases es 3,75 VA en lugar de 1 VA. Tenga en cuenta que esto solo se aplica si los
resultados se muestran con la carga nominal. No tiene efecto si los resultados de la tabla de relación y
de la tabla de fases se muestran con la carga funcional.
OMICRON 139
8.7.5 Tabla de relación y tabla de fases para IEEE C57.13

Para ver la tabla de relación o la tabla de fases, pulse las teclas configurables Tabla Relac. o
Tabla Fases de la tarjeta Relación.
Si la norma seleccionada es IEEE C57.13, estas tablas muestran el error de relación y el
desplazamiento de fase
• para distintos valores de corriente entre 1 % y 200 % de la corriente nominal.
• en la carga especificada en la tarjeta CT-Objeto y todos los valores de carga definidos en la norma
IEEE C57.13 que son inferiores a la carga especificada.
Si la opción Evaluar en VA se ha seleccionado para el parámetro "Clase" de un TC de medición de
IEEE C57.13 en la tarjeta CT-Objeto, las tablas solamente muestran el error de relación y el
desplazamiento de fase para el valor de carga o el rango de carga especificados en la tarjeta
CT-Objeto.
Pulse la tecla configurable Result. Carga funcional o Resultado con carga nom., se muestran los
resultados relacionados con la carga funcional o relacionados con la carga nominal.
Nota: Si se dispone de una licencia de gran exactitud para IEEE C57.13, las cargas de medición
incluyen también las cargas electrónicas.
La tabla de relación y la tabla de fases contienen todos los puntos de medición definidos en la norma
IEEE C57.13.
Use las teclas de cursor y para desplazarse por las columnas de las tablas (de 1 % de
la corriente nominal a 200 % de la corriente nominal) y por las líneas de las tablas (valores de carga).
Nota: Los valores que provocaron errores en la evaluación se resaltan con un fondo negro en las tablas.
Los valores sin el prefijo "!" tienen una exactitud garantizada. La exactitud de los valores señalados en
las tablas con una "!" es inferior en un factor de 2.
Figura 8-18: Visualización de la tabla de relación y de la tabla de fases en la tarjeta Relación (para
IEEE C57.13)
140 OMICRON
8.8 Tarjeta Evaluación

La tarjeta Evaluación del modo de prueba avanzada de TC solo se puede utilizar si está activada en la
Según la norma y el tipo de TC (TC de protección o medición) se mostrarán los parámetros
correspondientes.
La columna de evaluación automática ("Auto") se cumplimenta automáticamente una vez finalizada la
prueba. Son posibles las siguientes evaluaciones:
• Evaluación correcta:
El resultado medido para el parámetro cumple los requisitos que establece la norma seleccionada y
los parámetros de la tarjeta CT-Objeto.
La evaluación de prueba general correcta se asigna si todos los parámetros se pueden medir y se
encuentran dentro de las tolerancias.
• Evaluación incorrecta:
El resultado medido para el parámetro no cumple los requisitos.
La evaluación de prueba general Incorrecta se asigna si como mínimo un parámetro evaluado es
Incorrecto.
• Evaluación n/a:
La evaluación no es posible para el parámetro por uno de los siguientes motivos:
• La comparación con el parámetro de entrada no es posible.
• La evaluación no tiene sentido por polaridad incorrecta o valor de medición no válido.
• El parámetro no se ha podido determinar debido a una limitación de salida del CT Analyzer
(ejemplo: el CT Analyzer no puede suministrar suficiente corriente).
La evaluación de prueba general n/a se asigna si como mínimo un parámetro evaluado es n/a
(aunque todos los demás parámetros evaluados muestren Correcto).
También se puede efectuar una evaluación manual de parámetros individuales. Para ello, seleccione el
parámetro a evaluar con las teclas de cursor y aplique la evaluación con las teclas
configurables Correc, Incorr. o ?.
Utilice la tecla configurable Mostrar solo incorrecto y n/a para aplicar el filtro de visualización
correspondiente. La tarjeta Evaluación solo muestra los parámetros con esta evaluación. Pulse
Mostrar todo para visualizar de nuevo todos los parámetros.
Figura 8-19: Tarjeta Evaluación (ejemplo)
Nota: Una evaluación correcta y fiable según la norma solo se garantiza si todos los datos de TC (datos
de la placa del nombre) necesarios se especifican antes de la prueba. Si introduce ? para uno o más
parámetros a fin de que la función de reconocimiento automático del CT Analyzer los determine, la
evaluación automática podría resultar incorrecta si los valores medidos/determinados para estos
OMICRON 141
parámetros difieren de los valores nominales que el TC debería tener según la placa del nombre. En
otras palabras: Si el CT Analyzer reconoce un parámetro, la evaluación del TC automática se basará
en parte en sus valores reales, en lugar de en sus valores nominales y, por tanto, podría ser incorrecta.
Nota: La evaluación automática del comportamiento del TC solo se efectúa con la carga nominal. No
se efectúa ninguna evaluación automática del comportamiento del TC con la carga funcional.
Nota: La evaluación automática del CT Analyzer se basa en una exactitud del 100 % de la unidad de
prueba. No tiene en cuenta posibles inexactitudes existentes de la unidad de pruebas u otras
incertidumbres de la medición. Esto significa que para los puntos de medición que ofrecen resultados
muy cercanos al límite de tolerancia, la evaluación automática podría arrojar "incorrecto" o "correcto" de
forma errónea si el exceso (o la insuficiencia) del límite de tolerancia es en realidad causado por
inexactitudes de la unidad de prueba u otras incertidumbres de medición y no el TC sometido a prueba.
En otras palabras, un TC sometido a prueba podría funcionar "correctamente" aunque el CT Analyzer
haya arrojado una evaluación "incorrecta' (o viceversa) si el TC no logra cumplir con los requisitos de
exactitud. Si tiene alguna duda, compruebe los resultados de la medición en función de este marco y,
si es necesario, corrija la evaluación automática manualmente bajo su propia responsabilidad.
Personalización de la evaluación automática

La evaluación automática utiliza normas de evaluación predefinidas basadas en las definiciones de
clase mencionadas en las normas IEC e IEEE por defecto. El CT Analyzer ofrece la posibilidad de
utilizar las normas de evaluación personalizadas definidas en CT Analyzer Suite en lugar de las normas
de evaluación predefinidas. Consulte la ayuda de CT Analyzer Suite para obtener información sobre
cómo crear conjuntos de reglas de evaluación personalizadas. Consulte la opción del Menú Ajustes
Seleccionar evaluación personalizada de la página 73 para obtener información sobre cómo
seleccionar y aplicar reglas de evaluación personalizadas en el CT Analyzer.
8.8.1 Detalles de la evaluación

También se pueden visualizar los detalles relacionados con la evaluación automática de un parámetro
en la tarjeta Evaluación:
► Seleccione la evaluación Auto de un parámetro mediante las teclas de dirección y luego pulse la
tecla ? para visualizar la información de la evaluación general de dicho parámetro.
► O bien, seleccione la evaluación Auto de un parámetro mediante las teclas de dirección y luego
pulse la tecla configurable Detalles para visualizar los detalles relacionados con la evaluación de
dicho parámetro. La vista de detalles de la tarjeta Evaluación depende de la norma y del parámetro
específico seleccionado. Por ejemplo, muestra el valor medido determinado por el CT Analyzer, el
valor nominal que debe cumplirse para una evaluación con el estado "Correcto" y, si procede, el
motivo de una evaluación con el resultado "Incorrecto" o "n/a" de un parámetro.
142 OMICRON
8.8.2 Parámetros evaluados

Parámetros evaluados para la norma IEC 60044-1
Tabla 8-28: Parámetros evaluados para los TCs de protección de IEC 60044-1
Parám. Descripción Parámetro evaluado para los TCs de

protección de IEC 60044-1
clases estándar extensión
OMICRON
5P 10P 5PR 10PR PX 2P, 3P, 2PR, 3PR,
4P, 6P 4PR, 6PR
Clase Clase de exactitud conforme a la norma. x x x x x x x
Δϕ Desviación de fase. x x x x
ε Error de relación de corriente. x x x x x x
ALF Factor límite de la exactitud (error
(εci@ALF) indirecto en ALF según la norma x x x x x x
IEC 60044-1).
εt Error de relación de ciclo (incl. en clase). x
Kr Factor de remanencia x x x
Ts Constante de tiempo secundario. x x x
Ek e.m.f. nominal del punto de inflexión x
Kx Factor de dimensionamiento (según clase
x
PX de IEC 60044-1).
Ie Corriente secundaria de excitación de
x
limitación de exactitud.
Ie1 Corriente de excitación secundaria
x
máxima permitida en E1.
Rct Resistencia del devanado secundario. x x x x
Rprim Resistencia del devanado principal. x x x x x x x
Tabla 8-29: Parámetros evaluados para los TCs de medición de IEC 60044-1
Parám. Descripción Parámetro evaluado

para los TCs de
medición de
IEC 60044-1
0.1, 0.2, 0.2s, 3, 5
0.5, 0.5s, 1
Clase Clase de exactitud conforme a la norma. x x
Δϕ Desviación de fase. x
ε Error de relación de corriente. x x
FSi Factor de seguridad del instrumento (método de medición indirecta). x x
Rprim Resistencia del devanado principal. x x
OMICRON 143
Tabla 8-30: Parámetros evaluados para la norma IEC 60044-6

para la norma
IEC 60044-6
TPS TPX TPY TPZ
Clase Clase de exactitud conforme a la norma. x x x x
Δϕ Desviación de fase. x x x
ε Error de relación de corriente. x x x
εt Error de relación de ciclo (incluido en clase). x
^
^
εac Error instantáneo de pico de componente de corriente
x
alternativa según la norma.
Kr Factor de remanencia. x x
Ktd * Kssc Factor de dimensionamiento de transitorios (Ktd) multiplicado
por el factor de corriente simétrica nominal de cortocircuito x x x
(Kssc).
K * Kssc Factor de dimensionamiento (K) multiplicado por el factor de
x
corriente simétrica nominal de cortocircuito (Kssc).
V-al Tensión secundaria nominal equivalente de limitación de
x
excitación.
I-al Corriente secundaria de excitación de limitación de exactitud. x
Rct Resistencia del devanado secundario. x x x x
Rprim Resistencia del devanado principal. x x x x
144 OMICRON
Tabla 8-31: Parámetros evaluados para los TCs de protección de IEC 61869-2
Parám. Descripción Parámetro evaluado para los TCs de protección de

IEC 61869-2
clases estándar extensión
OMICRON
5P 10P 5PR 10PR PX PXR 2P, 3P, 2PR, 3PR,
4P, 6P 4PR, 6PR
Clase Clase de exactitud conforme a la
x x x x x x x x
norma.
Δϕ Desviación de fase. x x x x
ε Error de relación de corriente. x x x x x x
ALF Factor límite de la exactitud (error
(εci@ALF) indirecto en ALF según la norma x x x x x x
IEC 61869-2).
εt Error de relación de ciclo (incl. en
x x
clase).
Kr Factor de remanencia x x x x
Ts Constante de tiempo secundario. x x x
Ek e.m.f. nominal del punto de inflexión x x
Kx Factor de dimensionamiento (según
x x
la norma IEC 61869-2).
Ie Corriente secundaria de excitación
x x
de limitación de exactitud.
Ie1 Corriente de excitación secundaria
x x
máxima permitida en E1.
Rct Resistencia del devanado
x x x x x
secundario.
Rprim Resistencia del devanado principal. x x x x x x x x
OMICRON 145
Tabla 8-32: Parámetros evaluados para los TCs de protección de transitorios de IEC 61869-2

para los TCs de
protección de
transitorios de
IEC 61869-2
TPX TPY TPZ
Clase Clase de exactitud conforme a la norma. x x x
Δϕ Desviación de fase. x x x
ε Error de relación de corriente. x x x
Ktd * Kssc Factor de dimensionamiento de transitorios (Ktd) multiplicado por
x x x
el factor de corriente simétrica nominal de cortocircuito (Kssc).
^
^
εac Componente de error alterno del pico según la norma. x
Kr Factor de remanencia x x
Rct Resistencia del devanado secundario. x x x
Rprim Resistencia del devanado principal. x x x
Tabla 8-33: Parámetros evaluados para los TCs de medición de IEC 61869-2

para los TCs de
medición de
IEC 61869-2
0.1, 0.2, 0.2s, 3, 5
0.5, 0.5s, 1
Clase Clase de exactitud conforme a la norma. x x
Δϕ Desviación de fase. x
ε Error de relación de corriente. x x
FSi Factor de seguridad del instrumento (método de medición
x x
indirecta).
Rprim Resistencia del devanado principal. x x
146 OMICRON
Parámetros evaluados para IEEE C57.13
Tabla 8-34: Parámetros evaluados para IEEE C57.13
Parámetro Descripción Parámetros evaluados para

IEEE C57.13 IEEE
C57.13.6
TCs de TCs de TCs de
protección medición medición
de alta
exactitud
0.3, 0.3S,
0.6, 1.2, 0.15, 0.15S
C T X K1 2.4, 4.8 0.15N
Clase Clase de exactitud conforme a la norma. x x x x x x
Δϕ Desviación de fase. x x
RCF Factor de corrección de relación. x x
RE en Isn Error de relación de corriente a la corriente
x x x x
secundaria Isn.
RE en 20 * Isn Error de relación de corriente a 20 veces la
x x x x
corriente secundaria Isn.
Vknee Tensión de punto de inflexión. x
Vk / Ik Punto de medición definido por el usuario. x x
Vk1 / Ik1 Punto de medición 1 definido por el usuario. x x
Rct Resistencia del devanado secundario. x
Rprim Resistencia del devanado principal x x x x x x
1. Según IEEE C57.13 (1993)
OMICRON 147
8.9 Tarjeta Comentario

La tarjeta Comentario del modo de prueba avanzada de TC solo se puede utilizar si está activada en
la página Selec. Tarjet (Selección de tarjeta de prueba por defecto o tecla configurable Selec. Tarjet
de la tarjeta CT-Objeto).
Utilice la tarjeta Comentario para introducir notas adicionales en relación con la prueba.
Figura 8-20: Tarjeta Comentario
148 OMICRON
Uso de la función de reconocimiento automático
9 Uso de la función de reconocimiento

automático
Solo se aplica al modo de prueba avanzada de TC (y a la prueba avanzada de MR).
En este capítulo se ofrece una descripción detallada sobre cómo realizar una prueba de TC usando la
función de reconocimiento automático del CT Analyzer. Siga las secciones de la 9.2 a la 9.5 en este
mismo orden.
Por motivos de simplicidad, el siguiente ejemplo solo tiene en cuenta una prueba avanzada de TC
directa sin realizar ni una prueba de carga, ni una medida de la resistencia del devanado primario
ni una medida del magnetismo residual.
AVISO
cables, etc.).
AVISO
tensiones potencialmente letales o dejar inservible el CT Analyzer o el TC conectado.
OMICRON 149
AVISO
9.1 Acerca de la función de reconocimiento automático

La función de reconocimiento automático del CT Analyzer ha sido diseñada para ayudar al usuario a
descubrir los datos de una placa con nombre desconocido de un TC. Por ejemplo, en los casos en los
que la placa del nombre sea ilegible. Si hay suficientes datos de la placa del TC disponibles, que hayan
sido especificados por el usuario, esta función podrá definirse con los datos del TC ausentes, como, por
ejemplo, Iprim, Isec, clase o relación.
Los parámetros que reconoce el CT Analyzer se marcan con un signo de interrogación en la interfaz de
usuario de la tarjeta CT-Objeto antes de la prueba. Para que el CT Analyzer reconozca un parámetro,
seleccione la tecla configurable ? en lugar de especificar un valor para este parámetro. Durante la
prueba, el CT Analyzer sustituye el signo de interrogación por el valor reconocido.
Al usar esta función, tenga en cuenta que las evaluaciones realizadas con uno o más parámetros
reconocidos pueden diferir de una evaluación basada en los datos exactos de la placa del
nombre. Una evaluación absolutamente fiable solo se garantiza si todos los datos del TC
necesarios se especifican antes de la prueba.
La función de reconocimiento automático no puede liberar al usuario de la responsabilidad de
especificar los datos de la placa del TC antes de la prueba. Especifique siempre todos los datos del TC
que pueda para aumentar la fiabilidad de los valores reconocidos por el CT Analyzer.
Nota:
Los datos y valores determinados por el CT Analyzer con la función de reconocimiento automático no
están garantizados y deben ser comprobados por el usuario.
Es posible configurar la función de reconocimiento automático del CT Analyzer de modo que

compruebe si el usuario ha introducido todos los datos y valores necesarios relevantes para la
evaluación automática antes de que comience la prueba. Los parámetros correspondientes se marcan
con un asterisco (*) en la tarjeta CT-Objeto. Si el usuario no ha introducido datos para al menos uno de
estos parámetros, la evaluación automática no se efectuará y el CT Analyzer mostrará el mensaje
"Evaluación: no disponible" cuando la prueba haya finalizado.
Esta opción puede usarse para evitar una evaluación automática si el CT Analyzer ha reconocido
parámetros importantes y el usuario no los ha introducido. Es posible seleccionar este comportamiento
a través de la opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio" en los ajustes del dispositivo (Menú Principal ->
Ajustes -> Ajustes varios, consulte la sección 6.8.3 "Ajustes varios" en la página 76). En la página de
ajustes correspondiente también se ofrece una solución para activar la visualización de un mensaje
correspondiente antes de comenzar la prueba.
150 OMICRON
Tabla 9-1: Marcadores de parámetros al usar la función de reconocimiento automático
Marcador Descripción
? Es posible reconocer automáticamente el parámetro. Evaluación automática posible.
?* Es posible reconocer automáticamente el parámetro. Si se realiza el reconocimiento
automático, sin embargo, la evaluación automática no es posible.
* No es posible reconocer automáticamente el parámetro. La evaluación automática no es
posible.
La disponibilidad de la evaluación automática depende de la configuración de la opción "Verif. ajustes

'*' antes de inicio" en los ajustes del dispositivo (Menú Principal -> Ajustes -> Ajustes varios):
– Si la opción está habilitada, se deben introducir todos los parámetros marcados por un asterisco (?*
o *). En caso contrario, la evaluación automática no es posible.
– Si la opción está deshabilitada, se lleva a cabo la evaluación automática para todos los parámetros
introducidos antes de realizar la prueba, excepto para los parámetros que ha predicho el
CT Analyzer. Una evaluación de prueba general solo se lleva a cabo si se han introducido todos los
parámetros antes de la prueba.
Nota: La función de reconocimiento automático no está disponible si utiliza una configuración de
evaluación personalizada en vez de un estándar (consulte "Seleccione la evaluación personalizada" en
la página 73).
9.2 Instalación y conexión del CT Analyzer

1. Instale el CT Analyzer como se describe en la sección 3.2 en la página 26.
9.3 Preparación y configuración de la prueba

nueva prueba avanzada de TC.
finalizado.
► En el menú principal, seleccione "Nueva prueba avanzada de TC" y pulse la tecla configurable
Aceptar para iniciar una nueva prueba avanzada de TC.
OMICRON 151
9.4 Ejecución de una prueba

1. Después de encender el CT Analyzer o de iniciar una prueba nueva desde el menú principal, se
mostrará la tarjeta CT-Objeto por defecto.
Figura 9-1: Tarjeta CT-Objeto vacía tras inicializar una nueva prueba
2. Introduzca todos los datos de la placa que tenga. El ajuste completo de los datos de TC incluye:
Ipn, Isn, estándar, tipo TC (P/M), clase y potencia nominal del TC (VA).
Nota: Si está habilitada la opción "Verif. ajustes '*' antes de inicio" en los ajustes del dispositivo
(Menú Principal -> Ajustes -> Ajustes varios, consulte la sección 6.8.3 "Ajustes varios" en la
página 76), no será posible realizar una evaluación automática si no introduce los datos de un
parámetro que sea relevante para la evaluación. Estos parámetros están marcados con un asterisco
"*".
3. Ejecute la prueba TC como se describe en la sección 5.2.3 en la página 62.
Si está habilitada la opción "Mostrar aviso antes de iniciar" en los ajustes del dispositivo (Menú
Principal -> Ajustes -> Ajustes varios, consulte la sección 6.8.3 "Ajustes varios" en la página 76), se
muestra un aviso si no han introducido los datos de un parámetro marcado con un asterisco "*".
Figura 9-2: El aviso "No hay evaluación" se muestra si no han introducido los datos de un parámetro
relevante para la evaluación
Pulse Cont. Prueba para continuar la prueba sin una evaluación automática. O pulse Cancelar
prueba e introduzca los datos de todos los parámetros marcados con un asterisco "*" en la tarjeta
CT-Objeto y vuelva a iniciar la prueba.
9.5 Una vez finalizada la prueba

Una vez finalizada la prueba, la tarjeta CT-Objeto mostrará los datos del TC determinados durante la
prueba. Para obtener más información, consulte la sección 5.2.4 en la página 65.
152 OMICRON
9.6 Desconexión
Una vez finalizada la prueba de TC, desconecte el TC sometido a prueba del CT Analyzer.
AVISO
cables, etc.).
medición.

OMICRON 153
10 Uso de la función Prueba Quick

Prueba Quick es una característica opcional. Las funciones descritas en este capítulo solo están
disponibles si ha adquirido la licencia correspondiente. Para obtener más información, póngase en
contacto con el representante de ventas de OMICRON o con la oficina de OMICRON más próxima.
La función Prueba Quick no puede utilizarse cuando la caja de conexiones CT SB2 se conecta a
la interfaz de control remoto de CT Analyzer.
Las mediciones realizadas con la Prueba Quick no serán detenidas automáticamente por
CT Analyzer. Dichas mediciones deben detenerse manualmente.
CT Analyzer desactivará automáticamente su salida tras funcionar a su máxima potencia de salida
durante un periodo largo (> 15 minutos) para evitar la sobrecarga térmica del dispositivo.
10.1 Notas de seguridad y notas sobre el uso de la

Prueba Quick
AVISO
Para la medición de la Relación TT, la salida de CT Analyzer se debe conectar al lado
primario del TT. La conexión accidental de la salida de CT Analyzer al lado secundario
del TT ocasionará tensiones peligrosas en el lado primario.
► Para la medición de relaciones TT con Prueba Quick, asegúrese siempre de conectar
la salida de CT Analyzer al lado primario del TT.
AVISO
Puede ser peligroso utilizar el modo de corriente continua CC del tipo de medida
Avanzado. En este modo, no es posible interrumpir el circuito con un relé estándar o
con un interruptor de potencia estándar. Debido al arco, se requiere una separación
entre contactos de hasta 10 mm para cortar la corriente.
► No use un relé estándar ni un interruptor de potencia estándar para interrumpir la
corriente en este modo.
► Use siempre un dispositivo de conmutación con una separación entre contactos
suficiente de > 10 mm para interrumpir la corriente o detener la salida de corriente de
CT Analyzer.
AVISO
Suministrar una inductancia con corriente continua CC cargará la inductancia.
CT Analyzer no realiza la descarga automática de la inductancia después de las
medidas con la Prueba Quick.
cualquier conexión o desconectar los cables de medición de CT Analyzer.
154 OMICRON
Uso de la función Prueba Quick
NOTIFICACIÓN
Al utilizar la Prueba Quick, la entrada SEC de CT Analyzer puede medir tensiones de hasta 150 Vef.
► No conecte tensiones por encima de 150 V ni tensiones eléctricas a las entradas de CT Analyzer.
Dañaría CT Analyzer.
NOTIFICACIÓN
Saturación del TC posible
Al realizar mediciones en TC con Prueba Quick, tenga en cuenta que CT Analyzer no realiza la
desmagnetización automática del TC.
► Si es necesario, ejecute una prueba de TC normal con un ciclo de desmagnetización automática
que siga las mediciones de la Prueba Quick para un TC.
10.2 Introducción a la Prueba Quick

Es posible usar la Prueba Quick para utilizar CT Analyzer como multímetro versátil con fuente de
alimentación incluida, o realizar comprobaciones de polaridad usando el comprobador de polaridad
CPOL2 de OMICRON.
Algunos de los campos de aplicación de la Prueba Quick son:
• Realizar una medición rápida y sencilla de la resistencia, por ejemplo, pruebas de cableado en el
lado secundario de los TC.
• Llevar a cabo pruebas rápidas de relación de tensión en los TT.
• Realizar una medición de valores de carga, por ejemplo, para determinar el nuevo valor de carga
después de modificar el equipo de relé. Esto permite a CT Analyzer recalcular los resultados de la
prueba de TC para el nuevo valor de carga, con lo que deja de ser necesario ejecutar una nueva
prueba de TC para determinar el comportamiento de TC con la nueva carga.
• Hacer verificaciones rápidas del cableado con el comprobador de polaridad CPOL2 de OMICRON.
Si utiliza CPOL2 junto con la señal de prueba específica proporcionada por la función Prueba Quick
de CT Analyzer, podrá verificar una serie de puntos de prueba (por ejemplo, los terminales de
conexión del cableado de carga) para obtener una polaridad correcta.
La interfaz de usuario de la Prueba Quick incluye dos tarjetas de prueba, la tarjeta CT-Quick, que
contiene los parámetros de medida, y la tarjeta Resultados, que muestra los resultados de la medida.
En la Figura 10-1 se muestra un ejemplo de ambas tarjetas en una medida de resistencia.
Figura 10-1: Tarjeta de prueba CT-Quick (izquierda) y tarjeta de prueba Resultados (derecha) para
una medida de resistencia
OMICRON 155
Nota: Para obtener una descripción general de la interfaz de usuario de CT Analyzer y de los
procedimientos básicos de control de CT Analyzer y de la Prueba Quick, consulte el capítulo 6 en la
página 67.
Para seleccionar un tipo de medida, utilice la tecla de cursor para mover el cursor hasta el campo
Tipo de medida de la ficha CT-Quick y, a continuación, pulse la tecla configurable correspondiente al
tipo de medida. En la Prueba Quick están disponibles los siguientes tipos de medida.
Tabla 10-1: En la Prueba Quick están disponibles las siguientes medidas
Tipo de med. Uso

Avanzado Ofrece completas funciones de medición de multímetro y permite ajustar con total
libertad todas las cantidades de medición, por ejemplo, salida de señal CA o CC,
tensión o salida de corriente, frecuencia de salida y modo de medida para la entrada
(CC, valor eficaz o selectiva en frecuencia), etc.
Si desea más información, consulte la sección 10.4 en la página 158.
Verificación de Tipo predefinido, concebido especialmente para verificaciones de polaridad. La
la polaridad única cantidad de medida ajustable es la corriente de salida.
Es necesario el comprobador de polaridad CPOL2 de OMICRON.
Relación TC Tipo predefinido, concebido especialmente para una medición rápida de relaciones
TC. Los valores de medición ajustables son la tensión y la frecuencia de la señal de
salida y la resistencia e inductancia del TC que se va a medir.
Relación TT Tipo predefinido, concebido especialmente para una medición rápida de relaciones
TT. Los valores de medición ajustables son la tensión y la frecuencia de la señal de
salida.
Resistencia Tipo predefinido, concebido especialmente para una medición rápida de
resistencias. El único valor de medición ajustable es el valor de la corriente de
salida.
Impedancia Tipo predefinido, concebido especialmente para una medición rápida de
impedancias. Los valores de medición ajustables son la amplitud y la frecuencia de
la señal de salida de corriente.
Reactancia Tipo predefinido, concebido especialmente para una medición rápida de reactancias.
Los valores de medición ajustables son la tensión y la frecuencia de la señal de
salida.
156 OMICRON
10.3 Cómo realizar medidas con la Prueba Quick

Las mediciones realizadas con la Prueba Quick no serán detenidas Cómo acceder:
automáticamente por CT Analyzer. El usuario deberá pararlas manualmente. Pulse la tecla configurable
Para realizar medidas con la función Prueba Quick, siga este procedimiento: tarjeta de prueba
1. Seleccione Nueva prueba rápida en el menú principal y pulse la tecla Menú Principal:
- Nueva prueba rápida
configurable Aceptar para abrir la Prueba Quick. La pantalla mostrará la Tecla configurable
tarjeta CT-Quick. Aceptar
-> Tarjeta CT-Quick
Figura 10-2: Tarjeta CT-Quick
2. Seleccione el tipo de medida y conecte el objeto de prueba al CT Analyzer según corresponda

(consulte las secciones 10.4 a 10.10 a continuación).
3. Defina los valores de medición.
4. Para iniciar y detener la medida, pulse la tecla .
5. Una vez iniciada la medida, se mostrará automáticamente la tarjeta Resultados, que indica los
resultados de la medida.
OMICRON 157
10.4 Tipo de medida Avanzado

El tipo de medida Avanzado ofrece completas funciones de medición de Cómo acceder:
multímetro y permite ajustar con total libertad todas las cantidades de medición, Pulse la tecla configurable
por ejemplo, salida de señal CA o CC, tensión o salida de corriente, frecuencia de Principal en cualquier
tarjeta de prueba
salida y modo de medida para la entrada (CC, valor eficaz o selectiva en
Menú Principal:
frecuencia), etc. - Nueva prueba rápida
Tecla configurable
El tipo de medida Avanzado también permite utilizar la entrada SEC de Aceptar
CT Analyzer como voltímetro para la medida de tensiones externas de hasta Tarjeta CT-Quick:
150Vef con frecuencias de hasta 4kHz. Tipo de medida:
Avanzado
NOTIFICACIÓN
Al utilizar la Prueba Quick, la entrada SEC de la unidad de prueba CT Analyzer puede medir
tensiones de hasta 150 Vef.
► No conecte tensiones por encima de 150 V ni tensiones eléctricas a las entradas de CT Analyzer.
Dañaría CT Analyzer.
Figura 10-3: Tarjeta CT-Quick y tarjeta Resultados para el tipo de medida Avanzado
En el tipo de medida Avanzado, los usuarios pueden ajustar todos los valores de medida disponibles en
la tarjeta CT-Quick.
Tenga en cuenta lo siguiente al usar el modo de salida CC:
AVISO
Al usar el modo de salida CC:
► No abra el circuito de medida mientras circule corriente continua.
► Pulse la tecla de CT Analyzer y espere hasta que se apague el LED rojo para
abrir el circuito de medición.
AVISO
Suministrar una inductancia con corriente continua CC cargará la inductancia.
CT Analyzer no efectúa la descarga automática de la inductancia.
158 OMICRON
AVISO
Puede ser peligroso utilizar el modo de corriente continua CC. En este modo, no
es posible interrumpir el circuito con un relé estándar o con un interruptor de potencia
estándar. Debido al arco, se requiere una separación entre contactos de hasta 10 mm
para cortar la corriente.
► No use un relé estándar ni un interruptor de potencia estándar para interrumpir la
corriente en este modo.
► Use siempre un dispositivo de conmutación con una separación entre contactos
suficiente de > 10 mm para apagar la corriente o detener la salida de corriente de
CT Analyzer.
Para este tipo de medida, la tarjeta CT-Quick incluye las siguientes cantidades de medida:
Tabla 10-2: Parámetros para el tipo de medida Avanzado
Salida Tipo de señal de salida CA o CC o señal de salida desconectada.
Valores posibles: CA, CC o Apagado. Valor por defecto: CA.
U/I Modo operativo del generador de señales interno: fuente de tensión o de corriente.
Valores posibles: U (tensión) o I (corriente). Valor por defecto: Tensión
Amplitud Tensión eficaz o valor de corriente de la señal de salida.
Valores posibles:
Modo "CA" y "Tensión": 0 a 40V
Modo "CC" y "Tensión": 0 a 120V
Modo "CA" y "Corriente": 0 a 5A
Modo "CC" y "Corriente": 0 a 10A
Valor por defecto: 1,00V o 1,00A.
f Frecuencia de la señal de salida. Solo disponible para tensión CA o para salida de
corriente.
Valores posibles: Cualquier valor entre 5,0 y 400,0Hz o teclas configurables 16,7Hz,
50Hz, 60Hz o 400Hz.
Valor por defecto: 50Hz
OMICRON 159
Tabla 10-2: Parámetros para el tipo de medida Avanzado (continuación)
Modo de Modo de medida.
medición Valores posibles: CC, Valor eficaz o Filtro con selección de frecuencia. Valor por
defecto: Valor eficaz
Medición de CC:
Solo mide la parte de CC de la señal.
Medición de valor eficaz:
Realiza una medición de valor eficaz estándar de la señal.
Medición selectiva en frecuencia:
Permite medir con gran precisión la onda fundamental de una señal aplicada. En
todas las frecuencias situadas por debajo o por arriba de la frecuencia de salida
más/menos el ancho de banda se suprimen unos 110 dB. El modo de medida se
desactiva para el tipo de señal de salida CC.
Véase también "A. banda" a continuación.
A. banda Ancho de banda del filtro para la medición selectiva en frecuencia. Solo disponible
para el modo de medida Filtro sel. frec..
Valores posibles: 3Hz a 20Hz. Valor por defecto: 6Hz
El tiempo de medición puede variar considerablemente en función del ancho de
banda del filtro seleccionado. El tiempo habitualmente necesario para una medición
selectiva en frecuencia depende del ancho de banda del filtro de la siguiente manera:
Ancho de banda del filtro Tiempo de medida
3Hz aprox. 5 segundos
6Hz aprox. 4 segundos
Cargar Solo disponible para salida de señal CA.
Si se establece el parámetro Carga en "on" y se especifican la resistencia del
devanado y la inductancia sin saturación en los campos R y L, se evita la saturación
del TC conectado.
De esta forma, el generador de salida de CT Analyzer mantiene la parte CC de la
corriente de salida a cero mediante un regulador de corriente.
Valores posibles: On u Off. Valor por defecto: Desactivado
R, L Solo disponible si Carga está establecida en "on".
Resistencia del devanado (R) e inductancia sin saturación (L) del TC, utilizadas por
el regulador de salida interno para evitar la saturación del TC conectado (véase
"Carga", arriba).
Valores posibles: 0 a 1000 Ω o 0 a 1000H.
Valor por defecto: 1,00 Ω paraR y 50,00H para L
Si los valores no se establecen correctamente para el TC conectado, este acabará
saturándose antes o después, en función de la imprecisión de los valores utilizados.
160 OMICRON
La parte superior de la tarjeta Resultados avanzados (Figura 10-4) muestra los valores medidos:
Tabla 10-3: Valores medidos para el tipo de medida Avanzado
Valor Descripción
Salida Valor de corriente medida de forma interna y fase de la señal de salida.1
Sec Tensión medida en la entrada SEC.1
Tensión máx. de entrada: 150VRMS
La medida se realiza según el modo de medida seleccionado en la tarjeta CT-Quick.
Esta entrada se considera como la fase de referencia, por tanto, la fase es siempre 0.
Prim Valor y fase de la tensión medida en la entrada PRIM.1
Tensión máx. de entrada: 30VRMS
La medida se realiza según el modo de medida seleccionado en la tarjeta CT-Quick.
1. Seleccione el modo de visualización para el valor de corriente o tensión con las teclas configurables: Valor eficaz, CC, Pico+
(valor pico positivo más alto) o Pico- (valor pico negativo más alto).
La parte inferior de la tarjeta Resultados avanzados (Figura 10-4) muestra los valores de medida
calculados a partir de los valores medidos. En esta sección se puede definir qué resultado debe mostrar
cada campo.
La Figura 10-4 muestra la tarjeta Resultados avanzados con la selección por defecto de los campos
de resultados.
Figura 10-4: Tarjeta Resultados avanzados con la selección por defecto para los resultados
mostrados
En la tabla siguiente se enumeran los resultados calculados que están disponibles para el tipo de
medida Avanzado. Utilice las teclas de cursor para mover el cursor hasta un campo y, a continuación,
seleccione el resultado que desea mostrar en él mediante las teclas configurables disponibles.
Tabla 10-4: Resultados para el tipo de medida Avanzado
Resultado Descripción
N Relación calculada a partir de los valores medidos en las entradas SEC y PRIM.
Z Impedancia, calculada a partir de la amplitud y del ángulo de fase de la señal de salida
y de la tensión medida en la entrada SEC.
Rp, Rs Utilice la tecla configurable Rp/Rs para cambiar entre Rp y Rs.
Resistencia en paralelo (Rp) o en serie (Rs) calculada a partir de la señal de salida y de
la tensión medida en la entrada SEC.
OMICRON 161
Tabla 10-4: Resultados para el tipo de medida Avanzado (continuación)
Resultado Descripción
Xp, Xs Utilice la tecla configurable Xp/Xs para cambiar entre Xp y Xs.
Reactancia en paralelo (Xp) o en serie (Xs) calculada a partir de la señal de salida y de
la tensión medida en la entrada SEC.
cos ϕ Factor de potencia de la impedancia medida.
Lp, Ls o Utilice la tecla configurable Lp/Ls (o Cp/Cs) para cambiar entre Lp (Cp) y Ls (Cs).
Cp, Cs
Inductancia en paralelo o en serie o bien capacitancia del equipo en prueba, calculadas
a partir de la señal de salida y de la tensión medida en la entrada SEC.
CT Analyzer detecta automáticamente si el equipo en prueba es una inductancia o
capacitancia en función del ángulo de fase.
f Frecuencia medida en la entrada SEC.
Cresta Sal., Factor de cresta de la señal de salida o señal medida en la entrada SEC o en la
Cresta Sec, entrada PRIM.
Cresta Prim
El factor de cresta es la relación pico/rms de una forma de onda. Para una forma de
onda sinusoidal, el factor de cresta es 1,414 (√2). El factor de cresta puede indicar una
posible distorsión de la señal.
Encontrará información detallada en https://en.wikipedia.org/wiki/Crest_factor.
Nota: Los resultados de Rp, Xp y Lp (Cp) se calculan con el diagrama de circuito equivalente paralelo;
los resultados de Rs, Xs y Ls (Cs) se calculan con el diagrama de circuito equivalente en serie.
Utilice el siguiente cableado (ejemplos):
Figura 10-5: Ejemplos de cableado para el tipo de medida Avanzado
162 OMICRON
10.5 Comprobación de polaridad

Este tipo de medida está concebido exclusivamente para hacer las Cómo acceder:
verificaciones de polaridad con el comprobador de polaridad CPOL2, tal y Pulse la tecla configurable
como se describe a continuación. No utilice este modo para ninguna otra Principal en cualquier
tarjeta de prueba
medida.
Menú Principal:
Nota: Para el tipo de medida Verif. Polaridad, es necesario el comprobador de - Nueva prueba rápida
Tecla configurable
polaridad CPOL2 de OMICRON. Aceptar
El tipo de medida Verif. Polaridad es un tipo de medida predeterminado, concebido Tarjeta CT-Quick:
Tipo de medida:
especialmente para verificar una serie de puntos de prueba (por ejemplo, los Verificación de la
terminales de conexión del cableado de carga) con el fin de obtener la polaridad polaridad
correcta. Para ello, CT Analyzer inyecta una señal con una forma de onda
especial, similar a la señal de diente de sierra con una inclinación diferente para la pendiente
ascendente y la descendente. El comprobador de polaridad CPOL2 de OMICRON verifica la polaridad
de la señal inyectada y proporciona una indicación clara sobre si la polaridad es o no correcta.
Es mucho más rápido verificar la polaridad con el tipo de medida Verif. Polaridad que con los métodos
convencionales; además, una única persona puede hacerlo con total facilidad.
Para seleccionar el tipo de medida Verif. Polaridad, use la tecla de cursor para mover el cursor
hasta el campo Tipo de medida de la tarjeta CT-Quick; a continuación, pulse la tecla configurable
Verif. Polaridad.
Figura 10-6: Tarjeta CT-Quick y tarjeta Resultados para el tipo de medida Verif. Polaridad
Para el tipo de medida Verif. Polaridad, la tarjeta CT-Quick incluye las siguientes cantidades de
medida:
Tabla 10-5: Parámetros para el tipo de medida Verificación de la polaridad
Salida El tipo de señal de salida está fijado en "CA".
Fijado en "Corriente".
Amplitud Valor de corriente de la señal de verificación de la polaridad. Ajustable por el usuario.
Valores posibles: 0 a 7A. Valor por defecto: 1,00A.
OMICRON 163
En la parte superior de la tarjeta Resultados verificación Polaridad (Figura 10-7) se muestran los
siguientes valores:
Tabla 10-6: Valores mostrados del tipo de medida Verificación de la polaridad
Valor Descripción
Salida Valor de corriente medida de forma interna y fase de la señal de salida.1
Sec Tensión medida en la entrada SEC.1
Cuanto más alta sea la resistencia del cableado que se ha comprobado o el ajuste de la
amplitud de corriente en CT Analyzer, más alta será la tensión de terminal generada
por la señal de corriente inyectada.
Prim Valor y fase de la tensión medida en la entrada PRIM.1
La entrada PRIM no se usa para el tipo de medida Verif. Polaridad.
1. Seleccione el modo de visualización para el valor de corriente o tensión con las teclas configurables: Valor eficaz, CC, Pico+
(valor pico positivo más alto) o Pico- (valor pico negativo más alto).
En la parte inferior de la tarjeta Resultados verificación Polaridad (Figura 10-7) se muestran algunas
cantidades de la señal de verificación de la polaridad inyectada. En esta sección se puede definir qué
cantidad debe mostrar cada campo.
La Figura 10-7 muestra la tarjeta Resultados verificación Polaridad con la selección por defecto para
los campos.
Figura 10-7: Tarjeta Resultados verificación Polaridad con selección por defecto para las cantidades
mostradas
Utilice las teclas de cursor para mover el cursor hasta un campo y, a continuación, seleccione la
cantidad que desea mostrar en él mediante las teclas configurables disponibles. Consulte la página 161
(tipo de medida Avanzado) para obtener una descripción detallada de las cantidades disponibles (teclas
configurables).
164 OMICRON
Utilice el siguiente cableado para la comprobación de polaridad (ejemplo):
S1 S1
TC S2 S2
Carga
 
CPOL2 CPOL2
Figura 10-8: Ejemplo de cableado para la comprobación de polaridad
Nota: CT Analyzer mide la tensión de la señal inyectada a través de la entrada SEC. Por tanto, se
recomienda conectar siempre esta entrada cuando se use el tipo de medida Verif. Polaridad. Cuanto
más alta sea la resistencia del cableado que se ha comprobado (por ejemplo, el cableado de carga) o
el ajuste de la amplitud de corriente en CT Analyzer, más alta será la tensión de terminal generada por
la señal de corriente inyectada.
Proceda como se explica a continuación para realizar una verificación de la

polaridad
1. Compruebe que el cableado que se va a comprobar esté desconectado del lado no puesto a tierra
del TC (consulte la Figura 10-8).
2. Conecte las tomas OUTPUT y la entrada SEC de CT Analyzer al cableado que desea comprobar
3. Abra la función de medición Prueba Quick de CT Analyzer.
4. Seleccione el tipo de medida Verif. Polaridad y ajuste la amplitud de la señal de verificación de la
polaridad de manera apropiada.
5. Inicie la comprobación de polaridad pulsando la tecla de CT Analyzer.
6. La tarjeta Resultados verificación Polaridad muestra los valores medidos mientras está activa la
medida.
OMICRON 165
7. Utilice el comprobador de polaridad CPOL2 para verificar la polaridad del cableado (consulte la
Figura 10-8).
► Si CPOL2 detecta la misma característica de señal en un punto de prueba, considera correcta la
polaridad y el LED verde se enciende.
► Si la característica de la señal está invertida, CPOL2 considera incorrecta la polaridad y el LED
rojo se enciende.
AVISO
Si detecta una polaridad incorrecta en la ruta de la señal:
► No desconecte los terminales mientras CT Analyzer inyecta la señal de
comprobación de polaridad.
► Detenga la medida (consulte el paso 8) y primero apague CT Analyzer. Solo
entonces desconecte los terminales.
► Si CPOL2 no detecta ninguna señal (por ejemplo, debido a una magnitud de señal demasiado
pequeña), ambos LED se encenderán al mismo tiempo.
► Si el cableado que se va a comprobar está abierto (desconectado o interrumpido), CT Analyzer
indica que no hay flujo de corriente de salida con un pitido intermitente.
Si no está seguro de si la medición es correcta, puede confirmarlo invirtiendo las sondas de CPOL2.
En ese caso, el otro LED debería encenderse.
8. Pulse de nuevo la tecla de CT Analyzer para detener la medida.
Nota: Consulte el manual del usuario de CPOL2 para obtener información detallada acerca del
comprobador de polaridad CPOL2.
166 OMICRON
10.6 Medida de la relación de TC

La medida de la relación de TC es un tipo predefinido concebido específicamente Cómo acceder:
para la medida rápida de relaciones de TC. Pulse la tecla configurable
Nota: No es una prueba de TC completa. Solo determina la relación de corriente tarjeta de prueba
de los TC. Menú Principal:
Para seleccionar el tipo de medida Relación TC, use la tecla de cursor para Tecla configurable
Aceptar
mover el cursor hasta el campo Tipo de medida de la tarjeta CT-Quick y, a Tarjeta CT-Quick:
continuación, pulse la tecla configurable Relación TC. Tipo de medida:
Relación TC
Figura 10-9: Tarjeta CT-Quick y tarjeta Resultados para el tipo de medida de relación de TC
Para el tipo de medida Relación TC, la tarjeta CT-Quick incluye las siguientes cantidades de medida:
Tabla 10-7: Parámetros del tipo de medida Relación TC
Fijado en "Tensión".
Amplitud Tensión eficaz de la señal de salida. Ajustable por el usuario.
Valores posibles: 0 a 40V.
Valor por defecto: 1,00V.
f Frecuencia de la señal de salida. Ajustable por el usuario.
Valores posibles: 5,0 a 400,0Hz o teclas configurables 16,7Hz, 50Hz, 60Hz o 400Hz.
Cargar Fijado en "On".
Si se establece el parámetro Carga en "on" y se especifican la resistencia del
devanado y la inductancia sin saturación en los campos R y L, se evita la saturación del
TC conectado.
De esta forma, el generador de salida de CT Analyzer mantiene la parte CC de la
corriente de salida a cero mediante un regulador de corriente.
R, L Resistencia del devanado (R) e inductancia sin saturación (L) del TC, utilizadas por el
regulador de salida interno para evitar la saturación del TC conectado (consulte Carga
inductiva más arriba).
Valores posibles: 0 a 1000 Ω o 0 a 1000H.
Valor por defecto: 1,00 Ω paraR y 50,00H para L
Si los valores no se establecen correctamente para el TC conectado, este acabará
saturándose antes o después, en función de la imprecisión de los valores utilizados.
OMICRON 167
En la tarjeta Resultados de relación TC se muestran estos valores:
Tabla 10-8: Valores mostrados del tipo de medida Relación TC
Valor Descripción
Salida Valor de corriente de valor eficaz medida de forma interna y fase de la señal de salida.
Sec Valor eficaz de la tensión medida en la entrada SEC.
Prim Valor eficaz y fase de la tensión medida en la entrada PRIM.
N Relación de corriente del TC calculada a partir de las tensiones medidas en las
entradas SEC y PRIM.
Utilice el siguiente cableado para la medida de relación TC (ejemplo):
Figura 10-10: Ejemplo de cableado para la medida de la relación de TC
168 OMICRON
10.7 Medición de la relación del TT

Este tipo de medida es un tipo predefinido concebido específicamente para la Cómo acceder:
medida rápida de relaciones de TT. Pulse la tecla configurable
Nota: No es una prueba de TT completa. Esta medición solo determina la relación tarjeta de prueba
de tensión de los TT. Menú Principal:
Para seleccionar el tipo de medida Relación TT, use la tecla de cursor para Tecla configurable
Aceptar
mover el cursor hasta el campo Tipo de medida de la tarjeta CT-Quick y, a
Tarjeta CT-Quick:
continuación, pulse la tecla configurable Relación TT. Tipo de medida:
Relación TT
Figura 10-11: Tarjeta CT-Quick y tarjeta Resultados para la medida de la relación de TT
Para el tipo de medida Relación TT, la tarjeta CT-Quick incluye las siguientes cantidades de medida:
Tabla 10-9: Parámetros para el tipo de medida Relación TT
En la tarjeta Resultados de relación TT se muestran estos valores:
Tabla 10-10: Valores mostrados del tipo de medida Relación TT
Valor Descripción
Prim Valor eficaz y fase de la tensión medida en la entrada PRIM.
N Relación de tensión del TP calculada a partir de las tensiones medidas en las entradas
SEC y PRIM.
OMICRON 169
Proceda de la siguiente manera para efectuar una medición de la relación de TP:

1. Conecte las tomas OUTPUT y la entrada SEC de CT Analyzer al lado primario del TP y la entrada
PRIM de CT Analyzer al devanado secundario del TP (consulte la Figura 10-12).
Figura 10-12: Ejemplo de cableado para la medida de relación TT
AVISO
La conexión accidental de la salida de CT Analyzer al lado secundario del TT
ocasionará tensiones peligrosas en el lado primario.
► Asegúrese siempre de conectar la salida de CT Analyzer al lado primario del TT.
2. Abra la función de medición Prueba Quick de CT Analyzer o inicie la herramienta de

CT Analyzer Prueba Quick del software CT Analyzer Suite.
3. Seleccione el tipo de medida Relación TT. Defina la amplitud en la tensión de salida máxima de
40V y la frecuencia en la frecuencia de red. Consulte la Figura 10-13.
Nota: Si es necesario suprimir interferencias de la frecuencia de red, utilice el tipo de medida
Avanzado con una frecuencia de, por ejemplo, 3Hz por encima de la frecuencia de red (en este
caso, 53Hz), y elija el modo de medida de selección de frecuencia con un ancho de banda del filtro
de 6Hz. Las interferencias de la frecuencia de red se suprimirán en 120 dB.
Ajustes de medida
Figura 10-13: Tarjeta de prueba CT-Quick con los ajustes para la medida de la relación de TP
4. Inicie la medición pulsando la tecla de CT Analyzer o haciendo clic en el botón de encendido

de la pestaña Relación de TP de la herramienta de CT Analyzer Prueba Quick. Se visualizarán los
valores medidos y se actualizarán de forma permanente mientras permanezca activa la medida.
170 OMICRON
5. Detenga la medición pulsando la tecla en CT Analyzer de nuevo o haciendo clic en el botón de

apagado de la pestaña Relación de TP de la herramienta de software de
CT Analyzer Prueba Quick.
Visualización de los valores

medidos en tiempo real
Visualización de la relación
TT en tiempo real
Figura 10-14: Tarjeta de prueba Resultados para la medida de la relación TT
OMICRON 171
10.8 Medición de resistencia

medida rápida de resistencias. Pulse la tecla configurable
Para seleccionar el tipo de medida Resistencia, use la tecla de cursor para tarjeta de prueba
mover el cursor hasta el campo Tipo de medida de la tarjeta CT-Quick y, a Menú Principal:
continuación, pulse la tecla configurable Resist.. Tecla configurable
Aceptar
Tarjeta CT-Quick:
Tipo de medida:
Resistencia
Figura 10-15: Tarjeta CT-Quick y tarjeta Resultados para el tipo de medida Resistencia
Para el tipo de medida Resistencia, la tarjeta CT-Quick incluye las siguientes cantidades de medida:
Tabla 10-11: Parámetros para el tipo de medida Resistencia
Salida El tipo de señal de salida está fijado en "CC".
Amplitud Amplitud de la corriente de salida. Ajustable por el usuario.
Valores posibles: 0 a 10A. Valor por defecto: 1,00A.
AVISO
Esta medida se realiza con corriente CC.
► Pulse la tecla de CT Analyzer y espere hasta que se apague el LED rojo para abrir
AVISO
Esta medida se realiza con corriente CC. Suministrar una inductancia con corriente
continua CC cargará la inductancia. CT Analyzer no efectúa la descarga automática de
la inductancia.
172 OMICRON
En la tarjeta Resultados de resistencia se muestran estos valores:
Tabla 10-12: Valores mostrados del tipo de medida Resistencia
Valor Descripción
Salida Corriente de salida medida de forma interna.
Sec Tensión medida en la entrada SEC.
Prim No se utiliza para la medición de resistencia.
Rs Resistencia en serie, calculada a partir de la corriente de salida y de la tensión medida
en la entrada SEC.
Nota: La medición de resistencia utiliza un diagrama de circuito equivalente en serie para el cálculo de
resultados.
Utilice el siguiente cableado para la medida de resistencia (ejemplo):
Figura 10-16: Ejemplo de cableado para la medida de resistencia
Proceda de la siguiente manera para efectuar una medición de la resistencia de

devanado:
1. Conecte las tomas OUTPUT y la entrada SEC de CT Analyzer al devanado que desea medir
2. Abra la función de medición Prueba Quick de CT Analyzer o inicie la herramienta de
CT Analyzer Prueba Quick del software CT Analyzer Suite.
3. Seleccione el tipo de medida Resistencia y defina la amplitud de la corriente de salida CC según
corresponda. Consulte la Figura 10-17.
NOTIFICACIÓN
Las corrientes demasiado altas destruirían el devanado.
► Utilice únicamente corrientes bajas de, por ejemplo, 100 mA al medir el lado primario de los TT.
Ajustes de medida
Figura 10-17: Tarjeta de prueba CT-Quick con los ajustes para la medida de la resistencia
OMICRON 173
4. Inicie la medición pulsando la tecla de CT Analyzer o haciendo clic en el botón de encendido

de la pestaña Resistencia de la herramienta de CT Analyzer Prueba Quick. Se visualizarán los
valores medidos y se actualizarán de forma permanente mientras permanezca activa la medida.
5. Detenga la medición pulsando la tecla en CT Analyzer de nuevo o haciendo clic en el botón de
apagado de la pestaña Resistencia de la herramienta de software de CT Analyzer Prueba Quick.
Visualización de la
resistencia del devanado
en tiempo real
Figura 10-18: Tarjeta de prueba Resultados para la medida de la resistencia
174 OMICRON
10.9 Medida de impedancia

medida rápida de impedancias. Pulse la tecla configurable
Para seleccionar el tipo de medida Impedancia, use la tecla de cursor para tarjeta de prueba
continuación, pulse la tecla configurable Imped.. Tecla configurable
Aceptar
Tarjeta CT-Quick:
Tipo de medida:
Impedancia
Figura 10-19: Tarjeta CT-Quick y tarjeta Resultados para el tipo de medida de impedancia
Para el tipo de medida Impedancia, la tarjeta CT-Quick incluye las siguientes cantidades de medida:
Tabla 10-13: Parámetros para el tipo de medida Impedancia
V/I Modo operativo del generador de señales interno: fuente de tensión o de corriente.
Amplitud Valor eficaz de la corriente de salida. Ajustable por el usuario.
Valores posibles: 0 a 5A.
Valor por defecto: 1,00A.
En la tarjeta Resultados de impedancia se muestran estos valores:
Tabla 10-14: Valores mostrados del tipo de medida Impedancia
Valor Descripción
Salida Valor del valor eficaz medido de forma interna y fase de la corriente de salida.
Prim No se utiliza para la medición de impedancia.
Z Impedancia medida, calculada a partir de la magnitud y del ángulo de fase de la señal
de salida y de la tensión medida en la entrada SEC.
cos ϕ Factor de potencia de la impedancia medida.
OMICRON 175
Utilice el siguiente cableado para la medida de impedancia (ejemplo):
Figura 10-20: Ejemplo de cableado para la medida de impedancia
176 OMICRON
10.10 Medida de reactancia

medida rápida de reactancias. Pulse la tecla configurable
Para seleccionar el tipo de medida Reactancia, use la tecla de cursor para tarjeta de prueba
continuación, pulse la tecla configurable React.. Tecla configurable
Aceptar
Tarjeta CT-Quick:
Tipo de medida:
Reactancia
Figura 10-21: Tarjeta CT-Quick y tarjeta Resultados para el tipo de medida de reactancia
Para el tipo de medida Reactancia, la tarjeta CT-Quick incluye las siguientes cantidades de medida:
Tabla 10-15: Parámetros para el tipo de medida Reactancia
En la tarjeta Resultados de reactancia se muestran estos valores:
Tabla 10-16: Valores mostrados del tipo de medida Reactancia
Valor Descripción
Prim No se utiliza para la medición de reactancia.
Rs Resistencia en serie, calculada a partir de la señal de salida y de la tensión medida en
la entrada SEC.
Xs Reactancia en serie, calculada a partir de la magnitud y del ángulo de fase de la señal
de salida y de la tensión medida en la entrada SEC.
OMICRON 177
Tabla 10-16: Valores mostrados del tipo de medida Reactancia (continuación)
Valor Descripción
Ls o Cs Capacitancia o inductancia en serie del objeto de prueba, calculadas a partir de los
valores medidos.
CT Analyzer detecta automáticamente si el equipo en prueba es una inductancia o
capacitancia en función del ángulo de fase.
Nota: La medición de reactancia utiliza un diagrama de circuito equivalente en serie para el cálculo de
resultados.
Utilice el siguiente cableado para la medida de reactancia (ejemplo):
Figura 10-22: Ejemplo de cableado para la medida de reactancia
178 OMICRON
Control remoto a través del ordenador
11 Control remoto a través del ordenador

También es posible controlar el CT Analyzer de forma remota desde un ordenador. Para ello,
OMICRON ofrece dos paquetes de software: el software operativo CT Analyzer Suite y el software
opcional CT Analyzer Remote Control.
11.1 CT Analyzer Suite

CT Analyzer Suite se proporciona con el CT Analyzer. CT Analyzer Suite proporciona funciones
exhaustivas para trabajar con el CT Analyzer en un ordenador1:
• Ejecución de nuevas pruebas de TC y carga de pruebas existentes (almacenadas previamente)
para TCs de relación simple o relación múltiple en el modo de prueba de TC o modo de
prueba avanzada de TC.
• Ejecución de una simulación para simular el comportamiento de un TC con cambio de ajustes o
condiciones.
• Cómo realizar mediciones de multímetro y comprobaciones de polaridad (Prueba Quick).
• Creación de conjuntos de reglas de evaluación individuales para la personalización de la evaluación
automática.
• Creación de informes imprimibles de archivos de prueba anteriormente almacenados, incluida la
creación de plantillas de informes individuales.
• Comparación conveniente entre varias pruebas realizadas y almacenadas antes.
• Actualización del firmware y las licencias del dispositivo disponibles en el CT Analyzer e instalación
de un nuevo idioma de la interfaz de usuario en la unidad de prueba CT Analyzer.
• Actualización e instalación de licencias de software de CT Analyzer Suite en el ordenador.
• Diversas funciones adicionales para mostrar los manuales del CT Analyzer disponibles y comprobar
si hay actualizaciones de software y noticias de OMICRON.
Si desea información detallada sobre el software CT Analyzer Suite, inicie CT Analyzer Suite y haga clic
en el botón de ayuda de la parte superior de la ventana de inicio de CT Analyzer Suite.
11.1.1 Requisitos del sistema

CT Analyzer Suite está pensado exclusivamente para su utilización con unidades de prueba
CT Analyzer equipadas con una versión de firmware 5.00 o posterior.
CT Analyzer Suite requiere uno de los siguientes sistemas operativos instalados en su ordenador:
Windows 7 de 32 o 64 bits, Windows 8 de 64 bits, Windows 8.1 de 64 bits, Windows 10 de 32 o 64 bits.
1. La descripción cubre el alcance operativo completo. El alcance operativo actualmente disponible depende de las licencias
adquiridas.
OMICRON 179
11.1.2 Instalación de CT Analyzer Suite

El software CT Analyzer Suite y su programa Asistente para la instalación van incluidos en el CD-ROM
"CT Analyzer Suite" que acompaña al CT Analyzer. Siga el procedimiento que se especifica a
continuación para instalar CT Analyzer Suite:
1. Salga de los demás programas que estén ejecutándose en el ordenador.
2. Inserte el CD-ROM CT Analyzer Suite en la unidad de CD-ROM del ordenador. El asistente para la
instalación se iniciará automáticamente.
Nota: Si el asistente para la instalación no se inicia automáticamente unos segundos después de
insertar el CD en la unidad de CD-ROM, vaya al Explorador de Windows y haga doble clic en el
archivo setup.exe, que se encuentra en el CD ROM "CT Analyzer Suite".
3. Siga las instrucciones que se muestran en pantalla para instalar el software.
11.1.3 Vista de inicio de CT Analyzer Suite

Al iniciar CT Analyzer Suite, se abrirá la vista de inicio de CT Analyzer Suite. La vista de inicio ofrece
una descripción general de todas las características y funciones disponibles. Al hacer clic en un botón,
la vista de inicio muestra la vista correspondiente o ejecuta la función específica.
Pulse la tecla F1 de su teclado o haga clic en el botón y seleccione Ayuda para mostrar el sistema
de ayuda que proporciona información detallada sobre CT Analyzer Suite.
La siguiente imagen muestra la vista de inicio de CT Analyzer Suite.
Figura 11-1: Vista de inicio de CT Analyzer Suite
180 OMICRON
Control remoto a través del ordenador
11.2 Software CT Analyzer Remote Control

CT Analyzer Remote Control es opcional y requiere contar con una licencia de control remoto en la
unidad de prueba CT Analyzer.
El software CT Analyzer Remote Control es un componente remoto que se instala en un ordenador.
Funciona como un servidor de Modelo de objeto común (COM) y ofrece una serie de interfaces de
acceso a la unidad de prueba CT Analyzer con varias funciones para controlar el CT Analyzer.
El software CT Analyzer Remote Control en sí mismo no ofrece una interfaz de usuario gráfica. Puede
usarse en todos los lenguajes de programación comunes, por ejemplo, Visual Basic (VB), Visual Basic
for Applications (VBA), .NET (C#), C++, etc.
Mediante programas de aplicaciones, es posible controlar íntegramente y de forma remota una unidad
de prueba CT Analyzer conectada y/o automatizar procedimientos de pruebas realizados con el
CT Analyzer.
Si desea obtener más información sobre el software CT Analyzer Remote Control, consulte el manual
de programación del software CT Analyzer Remote Control.
11.2.1 Requisitos del sistema

Para ejecutar el software CT Analyzer Remote Control, su ordenador debe cumplir los siguientes
requisitos mínimos:
• Interfaz serial o interfaz USB (USB 1.1 o 2.0).
• Sistema operativo Windows (Windows 7, 8 o 10).
• Entorno de programación del lenguaje de programación deseado instalado (por ejemplo, Visual
Basic (VB), Visual Basic for Applications (VBA), C, C++, C#, VB.Net, etc.).
• El editor de Visual Basic de Microsoft Excel debe ejecutar los programas de ejemplo incluidos en el
CD-ROM del software CT Analyzer Remote Control.
OMICRON 181
12 Datos técnicos
Los datos garantizados corresponden a una temperatura ambiente de 23 °C ± 5 ° (73 °F ± 9 °), una
alimentación eléctrica de 115/230 VCA y a un tiempo de calentamiento superior a 15 minutos.
Los datos garantizados son válidos por un período de un año tras el ajuste en fábrica.
12.1 Alimentación eléctrica de la red
Tabla 12-1: Alimentación eléctrica de la red
Característica Valor nominal

Conexión Conector conforme a IEC 60320
Tensión de red 100 a 240 VCA / 50/60 Hz / 6 A
En vez de alimentar el CT Analyzer desde fase - neutro (L1-N, A-N),
puede alimentarse también desde fase - fase (p. ej., L1-L2, A-B). Sin
embargo, la tensión nominal no debe sobrepasar los 240 VCA.
Fusibles de la red 2 x T6 AH 250 V, (fusible de alta capacidad de interrupción de
5 x 20 mm)
12.2 Especificaciones de salida y entrada

Si es posible, utilice siempre los cables coaxiales de medición suministrados por OMICRON. Acorte
siempre todo lo posible los cables de medición para reducir la influencia del ruido. Respete las
longitudes máximas de los cables y las instrucciones que aparecen en la sección 3.7 "Mejora de la
calidad de los resultados de la medida" en la página 47.
Longitud de cable permitida para OUTPUT y la entrada SEC: 3 m máx.
Longitud de cable permitida para la entrada PRIM: 100 m máx.
12.2.1 Salida del generador
Tabla 12-2: Datos de salida del generador (OUTPUT)

Corriente / tensión de CA: 40 Vrms / 5 Arms máx.
salida CC: 120 V / 5 A (15 Apico)
Potencia de salida 400 VArms máx.
182 OMICRON
Datos técnicos
12.2.2 Entradas de medición
Tabla 12-3: Entrada de medición SEC

Rangos de tensión 0 ... 0,3 / 3 / 30 / 300 VAC (rango automático)
Exactitud 0,1 % (garantizada)
Aislamiento Aislamiento reforzado (R) del resto de los circuitos
Tabla 12-4: Entrada de medición PRIM

Rangos de tensión 0 ... 0,03 / 0,3 / 3 / 30 VAC (rango automático)
Exactitud 0,1 % (garantizada)
Aislamiento Aislamiento reforzado (R) del resto de los circuitos
12.3 Exactitud de medición de la resistencia del

devanado
Tabla 12-5: Exactitud de medición de la resistencia del devanado

Resolución 1 mΩ
Exactitud 0,05 % (típica)
0,1 % + 1 mΩ (garantizada)
12.4 Exactitud de la medida de relación y fase

Los valores indicados en la tabla que figura a continuación son válidos únicamente en las siguientes
condiciones:
• Todas las líneas eléctricas del lado primario del TC están desconectadas.
• Un terminal del lado primario del TC se conecta a la conexión a tierra de protección (PE).
• Se utilizan los cables originales de medición suministrados por OMICRON para el CT Analyzer.
• El TC sometido a prueba es un TC con núcleo no separado.
• La tensión del punto de inflexión de conformidad con la norma IEEE C57.13 es > 3 V.
Si existen interferencias, la exactitud del dispositivo experimentará una reducción.
La exactitud de los valores que figuran sin el prefijo "!" en la tabla de relación de la tarjeta Relación está
garantizada. La exactitud de los valores señalados en la tabla con una "!" es inferior en un factor de 2.
OMICRON 183
Tabla 12-6: Exactitud de medición de la relación de TCs de 1 A a la corriente nominal

Relación de TC Isn Potencia nominal1 Exactitud típica Exactitud
garantizada
0,2 ... 1 1A 1,0 ... 30 VA 0,05 % 0,1 %
> 1 ... 2000 1A 0 ... 30 VA 0,02 % 0,05 %
> 2000 ... 5000 1A 0 ... 30 VA 0,03 % 0,1 %
> 5000 ... 10000 1A 0 ... 30 VA 0,05 % 0,2 %
1. Carga nominal del TC.
Tabla 12-7: Exactitud de medición de la relación de TCs de 5 A a la corriente nominal

Relación de TC Isn Potencia nominal1 Exactitud típica Exactitud
garantizada
0,2 ... 1 5A 1,0 ... 75 VA 0,05 % 0,1 %
> 1 ... 2000 5A 0 ... 75 VA 0,02 % 0,05 %
> 2000 ... 5000 5A 0 ... 75 VA 0,03 % 0,1 %
> 5000 ... 10000 5A 0 ... 75 VA 0,05 % 0,2 %
1. Carga nominal del TC.
Tabla 12-8: Exactitud de la medida de fase a la corriente nominal

Resolución 0,01 min
Exactitud (cos ϕ 0,8 ... 1) 1 mín. (típica)
3 mín. (garantizada)
Tabla 12-9: Exactitud de la medida de la relación de ciclos

Resolución 0,01 ciclos
Exactitud 0,05 % (típica)
0,1 % (garantizada)
12.5 Interfaz de tarjetas Compact Flash
Tabla 12-10: Interfaz de tarjetas Compact Flash

Tipo de tarjeta CF tipo 1
Tamaño de memoria 16 MB - 2 GB
permitido
184 OMICRON
Datos técnicos
12.6 Interfaz de control remoto

La interfaz de control remoto del CT Analyzer está destinada exclusivamente a la conexión del
CT Analyzer a un ordenador (p. ej. con la ejecución del software CT Analyzer Suite) o a la caja de
conexiones CT SB2 opcional (para la medición del TC de relación múltiple).
El CT Analyzer a partir del número de serie JHxxxx incluye una interfaz USB y una interfaz RS232.
Nota: El usuario debe seleccionar la interfaz que desea usar en los ajustes del CT Analyzer antes de
conectar el CT Analyzer a un ordenador (consulte la sección 3.3 en la página 27). El CT Analyzer solo
se comunicará a través de la interfaz seleccionada. El ordenador no la identificará si los ajustes del
CT Analyzer no coinciden con la interfaz utilizada para la conexión.
12.6.1 Interfaz RS232

La interfaz RS232 se puede usar para conectar el CT Analyzer a un ordenador o a la caja de conexiones
CT SB2 opcional.
Conector SUB-D de 9 polos, macho

En la figura se ofrece una vista exterior
de los contactos del CT Analyzer.
1 nc
6 nc
2 RxD (entrada de datos / recibir)
7 RTS (salida)
3 TxD (salida de datos / transmitir)
8 CTS (entrada)
4 nc
9 +5V
5 GND (puesta a tierra de la señal)
¡No conectar!
¡Solo para uso interno!
Carcasa: apantallamiento
(puesta a tierra)
Figura 12-1: Asignación de patillas para la interfaz de control remoto RS232
Cable de módem nulo o con cruzamiento

de 9 polos (DB9), hembra, 2 unidades
Conexiones necesarias:
1 2 3 4 5 6 7 8 apantallamiento
1 2 3 4 5 6 7 8 apantallamiento
Figura 12-2: Cable de conexión para la interfaz de control remoto RS232
OMICRON 185
12.6.2 Interfaz USB

Se puede usar la interfaz USB para conectar el CT Analyzer a un ordenador. La comunicación mediante
USB es considerablemente más rápida que mediante RS232.
Interfaz USB
(conector de tipo B)
Figura 12-3: Interfaz de control remoto USB (conector de tipo B estándar)
12.7 Condiciones ambientales
Tabla 12-11: Condiciones ambientales

Temperatura de funcionamiento –10…+50 °C (14…122 °F)
Almacenamiento y transporte –25 … +70 °C (–13 … 158 °F)
Altitud máx. de funcionamiento 2000 m
12.8 Datos mecánicos
Tabla 12-12: Datos mecánicos

Peso < 8 kg (17,6 lbs) sin accesorios
Dimensiones 360 x 285 x 145 mm (14,2 x 11,2 x 5,7")
(anchura x altura x profundidad)
186 OMICRON
Datos técnicos
12.9 Normas
Tabla 12-13: Normas

EMC, seguridad
IEC/EN 61326-1 (entorno electromagnético industrial)
CEM
FCC, subparte B de parte 15, clase A
Seguridad IEC/EN/UL 61010-1
Otro
Golpes IEC/EN 60068-2-27 (15 g/11 ms, semisinusoide, 3 golpes en cada eje)
IEC/EN 60068-2-6 (rango de frecuencia de 10 Hz a 150 Hz, aceleración de 2 g
Vibraciones
continua (20 m/s2/65 ft/s2), 20 ciclos por eje)
IEC/EN 60068-2-78 (humedad relativa del 5 al 95 %, sin condensación),
Humedad
probado a 40 °C/104 °F durante 48 horas
Clase de protección IP20 según EN 60529
OMICRON 187
13 Mantenimiento por parte del usuario

13.1 Cuidado y limpieza
El CT Analyzer no requiere mantenimiento o cuidados especiales. Limpie el dispositivo de vez en
cuando o cuando sea necesario con un paño humedecido con agua o isopropanol. Desconecte siempre
el CT Analyzer antes de la limpieza.
13.2 Cambio de fusibles

1. Apague el CT Analyzer y desenchufe el cable de alimentación.
2. Conecte a tierra el equipo en prueba, y desconéctelo del CT Analyzer. Al desconectarlo se evita que
un equipo en prueba potencialmente defectuoso realimente el CT Analyzer.
3. Localice el fusible fundido en el panel lateral del CT Analyzer y cámbielo por un fusible del mismo
tipo: T6,3H 250 V (fusible de acción lenta y alta capacidad de interrupción de 6,3 A y 5 x 20 mm).
El CT Analyzer tiene dos fusibles del mismo tipo. Actúe como se indica a continuación:
► Use un destornillador pequeño para desbloquear las dos lengüetas de fijación de una en una tal
como se muestra en la Figura 13-1.
► Extraiga el soporte de fusibles y localice el fusible fundido.
► Cambie el fusible fundido por un fusible del mismo tipo.
► Inserte el soporte de fusibles y presiónelo en la base hasta que las dos lengüetas de fijación
encajen de forma audible.
Figura 13-1: Desbloqueo de las lengüetas de fijación del soporte de fusibles
13.3 Calibración del CT Analyzer

OMICRON ofrece un TC de referencia (TC de calibración VEHZ0649) para verificar la calibración del
CT Analyzer. Dicho TC de referencia se entrega junto con un certificado de calibración de un laboratorio
de pruebas nacional.
El TC de calibración tiene una relación de 2000:1 y 2000:5. Su clase es 0.02.
Para verificar la calibración del CT Analyzer, es necesario medir ambas relaciones (2000:1 y 2000:5).
El CT Analyzer cumplirá las especificaciones si todos los resultados de las mediciones se encuentran
dentro de la clase 0.02.
188 OMICRON
Mantenimiento por parte del usuario
Si los resultados de la medida no se encuentran dentro de la clase 0.02, se recomienda enviar el

CT Analyzer a OMICRON para su calibración con el fin de garantizar un funcionamiento correcto y de
conformidad con la normativa.
OMICRON 189
14 Mensajes de error y de aviso

001.xxx Error [001] Software del TC no válido.
Motivo: El software de la memoria flash del dispositivo no es válido o la suma de comprobación es
incorrecta.
Solución: Inserte una tarjeta Compact Flash con software válido (CTAnalyzer.bin) en el directorio
Omicron y apague y encienda otra vez el CT Analyzer.
002.xxx Error [002] No se puede abrir el archivo.
Motivo: El firmware no puede leer el archivo CTAnalyzer.bin de la tarjeta Compact Flash porque
falta la tarjeta o el archivo.
003.xxx Error [003] Error en descarga.
Motivo: El software descargado está dañado.
100.xxx Aviso [100.xxx] Resistencia TC > 3000 ohmios.
Motivo: La resistencia medida durante la prueba de resistencia del devanado principal o
secundario es > 3000 Ω.
Solución: La prueba no puede proseguir. Verifique las conexiones con el TC. Si las conexiones son
correctas, la resistencia del TC es > 3000 Ω. Los TCs de esas características no se
pueden probar con el CT Analyzer.
101.xxx Aviso [101.xxx] Timeout durante la medida. Imposible determinar resistencia constante del
devanado en 10 s.
Motivo: El CT Analyzer no puede determinar una resistencia constante del devanado en
10 segundos durante la medida de resistencia del devanado principal o secundario.
Solución: La prueba no puede proseguir. Verifique las conexiones con el TC.
110.xxx Aviso [110.xxx] La impedancia del TC es demasiado alta.
Motivo: La impedancia del TC o la carga es demasiado alta para alcanzar la frecuencia mínima de
alternancia de 0,2 Hz / 0,8 Hz.
Solución: La prueba no puede proseguir. Verifique las conexiones con el TC. Si son correctas, este
TC no se puede probar debido a que su inductancia es excesivamente alta.
111.xxx Aviso [111.xxx] Inductancia de la carga demasiado baja.
Motivo: La frecuencia de medida es demasiado alta y no se puede reducir debido a la inductancia
excesivamente baja del TC.
Solución: La prueba no puede proseguir. Verifique las conexiones con el TC. Si son correctas, este
TC no se puede probar debido a que su inductancia es excesivamente baja.
112.xxx Aviso [112.xxx] Error de medida. Reduzca el nivel de ruido.
Motivo: No es posible obtener resultados de medida estables debido a un cableado incorrecto, un
cortocircuito en el cableado, una carga conectada o interferencias externas.
Solución: Verifique el cableado. El lado primario del TC no debe estar cortocircuitado. Desconecte
el lado primario del TC de las líneas de transmisión, conecte un terminal del lado primario
a la conexión a tierra de protección y abra el otro. Para la medida, use los cables coaxiales
originales suministrados (consulte la sección 3.7.2 "Técnicas de reducción de señales
parásitas" en la página 48). Compruebe que no hay ninguna carga conectada al lado
secundario del TC. Este error puede indicar también un cortocircuito en el devanado del
TC.
113.xxx Aviso [113.xxx] Prueba sin éxito. No se encontró el punto de inflexión.
Motivo: No se ha encontrado el punto de inflexión correspondiente al estándar especificado.
Solución: No se puede suministrar la corriente necesaria para alcanzar el punto de inflexión
correspondiente al estándar especificado. El TC no se puede probar hasta la tensión del
punto de inflexión.
190 OMICRON
Mensajes de error y de aviso
114.xxx Aviso [114.xxx] Se ha detectado baja inductancia durante la medida de la curva de magnetización.
Motivo: Se ha medido una baja inductancia durante la prueba de excitación.
Solución: Verifique que el lado primario del TC no esté cortocircuitado.
Este aviso también puede producirse para TCs con pérdida de excitación muy baja y alta
capacitancia parásita.
115.xxx Aviso [115.xxx] Medida de pérdida parásita no válida.
Motivo: No es posible la determinación fiable de las pérdidas parásitas.
Solución: Verifique el cableado y repita la prueba. Si el mensaje de error se muestra repetidamente,
significa que actualmente no es posible probar este TC con el CT Analyzer.
116.xxx Aviso [116.xxx] ¡Tensión de codo demasiado baja! No son compatibles TCs con tensión de codo
inferior a 1 V.
Motivo: La tensión del punto de inflexión es inferior a 1 V.
Solución: Actualmente no es posible verificar TCs con un punto de inflexión tan bajo mediante el
CT Analyzer.
121.xxx Aviso [121.xxx] ¡Prueba inválida! Polaridad invertida. Compruebe el cableado y repita la medida.
Motivo: La polaridad medida es incorrecta.
Solución: Invierta la polaridad de los cables de medida en el lado primario o secundario del TC.
130.xxx Aviso [130.xxx] Impedancia de carga > 1kOhm.
Motivo: Impedancia de carga > 1 kΩ.
Solución: La prueba no puede proseguir. Verifique las conexiones con la carga.
131.xxx Aviso [131.xxx] Sobrecarga durante la medida de carga.
Motivo: No es posible alcanzar la corriente de prueba necesaria, ni siquiera a la tensión de salida
máxima.
Solución: El CT Analyzer no puede suministrar suficiente corriente. Reduzca la corriente de prueba
o la impedancia de la carga. Compruebe que los contactos del cableado son correctos; es
posible que una conexión sea incorrecta.
140.xxx Aviso [140.xxx] Timeout durante la prueba de remanencia. El flujo magnético medido es
inestable. Reduzca el nivel de ruido.
Motivo: El flujo magnético durante la medida de la remanencia no es estable.
Solución: La prueba no puede proseguir. Verifique las conexiones con el TC. Intente reducir el nivel
de ruido para la medida.
200.xxx Aviso [200.xxx] ¡Compruebe la conexión! Compruebe el correcto cableado de la carga.
Motivo: La tensión de entrada medida difiere más de 5 V de la tensión de entrada esperada
durante la prueba de carga.
Solución: Compruebe si la salida del generador ("Output") y la entrada de medida "Sec" están
conectadas correctamente.
200.xxx Aviso [200.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: El terminal CTA OUTPUT
y/o BURDEN puede estar desconectado.
Motivo: La tensión de entrada medida difiere más de 5 V de la tensión de entrada esperada
durante la prueba de carga con la caja de conexiones CT SB2.
Solución: Verifique que los conectores hembra BURDEN OUT y BURDEN IN de CT SB2 estén
conectados correctamente.
201.xxx Aviso [201.xxx] ¡Compruebe la conexión! Relación medida > 50000:1.
Motivo: Posiblemente la entrada de medida "Prim" no está conectada correctamente.
Solución: Compruebe si la entrada de medida "Prim" de lado primario está conectada
correctamente.
202.xxx Aviso [202.xxx] ¡Compruebe la conexión! La polaridad de entrada SEC y salida de potencia no
coinciden.
Motivo: Las polaridades de la entrada "Sec" y de "Output" no coinciden.
conectadas debidamente y con la polaridad correcta.
OMICRON 191
203.xxx Aviso [203.xxx] ¡Compruebe la conexión! La entrada Vsec puede estar desconectada.
Motivo: La señal de entrada de la entrada "Sec" no es la esperada.
conectadas adecuadamente.
204.xxx Aviso [204.xxx] ¡Compruebe la conexión! La polaridad de la entrada PRIM y de la salida de
potencia no coinciden.
Motivo: La señal de entrada de la entrada "Prim" no es la esperada: Polaridad inversa en la
entrada "Prim".
Solución: Compruebe si la salida del generador ("Output") y la entrada de medida "Prim" están
conectadas debidamente y con la polaridad correcta.
204.xxx Aviso [204.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: Polaridad incorrecta en
terminal PRIM.
Motivo: La señal de entrada de la entrada "PRIM" no es la esperada: Polaridad inversa en la
entrada "PRIM" de CT SB2.
Solución: Verifique que los conectores hembra PRIM IN de CT SB2 estén conectados
correctamente y tengan la polaridad adecuada. En caso necesario, conéctelos cambiando
la polaridad.
205.xxx Aviso [205.xxx] ¡Compruebe la conexión! La entrada PRIM puede estar desconectada.
Motivo: La señal de entrada de la entrada "Prim" no es la esperada.
Solución: Compruebe si la salida del generador ("Output") y la entrada de medida "Prim" están
conectadas adecuadamente.
205.xxx Aviso [205.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: El terminal PRIM IN puede
estar desconectado.
Solución: Verifique que los conectores hembra PRIM IN de CT SB2 estén conectados
correctamente.
206.xxx Aviso [206.xxx] ¡Compruebe la conexión! Asegúrese de que la salida está conectada al lado del
TC.
Solución: Compruebe que la salida del generador ("Output") está conectada al TC y que el lado
primario del TC está conectado a la entrada "Prim".
206.xxx Aviso [206.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: El terminal CTA OUTPUT
y/o PRIM OUT puede estar desconectado.
Solución: Verifique que los conectores hembra PRIM OUT y PRIM IN de CT SB2 estén conectados
correctamente al lado primario del TC.
207.xxx Aviso [207.xxx] ¡Compruebe la conexión! La SALIDA puede estar desconectada.
Motivo: La señal de corriente no es la esperada.
Solución: Compruebe si la salida del generador ("Output") y la entrada de medida "SEC" están
conectadas debidamente al lado secundario del TC.
210.xxx Aviso [210.xxx] Desbordamiento continuo de datos.
Motivo: Desbordamiento del buffer interno de datos. Los datos no se pudieron recoger con la
suficiente rapidez del buffer interno de datos.
Solución: Intente repetir la medición. Si este error se produce de forma más frecuente, debe ponerse
en contacto con el servicio de asistencia técnica de OMICRON.
211.xxx Aviso [211.xxx] Medida modo seno fuera de tiempo.
Motivo: Medida fuera de tiempo debido a la conmutación de rango frecuente o datos no válidos de
las entradas de medida.
Solución: Verifique el cableado y repita la medición. Intente reducir el ruido para la medición.
220.xxx Aviso [220.xxx] ¡Prueba cancelada!
Motivo: El usuario ha interrumpido la secuencia de la prueba.
Solución: Repita la prueba sin interrumpirla.
192 OMICRON
308.xxx Nota [308.xxx] El valor I-sn debe especificarse en la tarjeta CT-Objeto antes de la prueba de
magnetismo residual.
Motivo: Debe definirse el valor Isn para la prueba de remanencia.
Solución: Introduzca un valor Isn válido antes de comenzar la prueba de remanencia.
309.xxx Aviso [309.xxx] La fecha de caducidad de las licencias provisorias es: <...>.
Motivo: La licencia especificada caducará en la fecha especificada.
Solución: Póngase en contacto con el servicio de asistencia técnica de OMICRON y renueve las
licencias especificadas.
310.xxx Nota [310.xxx] No se encuentra la licencia: <funcionalidad de Estimador>. Debe proporcionar
valores de: I-pn, I-sn, P/M, Clase, FS/ALF.
Motivo: La licencia necesaria para la funcionalidad de estimador de la clase no está disponible.
Solución: Especifique los valores de Ipn, Isn, Class, P/M y FS/ALF antes de iniciar la prueba.
311.xxx Aviso [311.xxx] No se encuentra la licencia: <simulación tras la prueba>.
Motivo: La licencia necesaria para la simulación no está disponible.
Solución: No es posible realizar la simulación de los resultados del cambio de ajustes de la prueba
(p. ej. diferentes valores de carga) después de la prueba. Adquiera la licencia
correspondiente.
312.xxx Aviso [312.xxx] No se encuentra la licencia: <...>.
Motivo: La licencia especificada en el mensaje no está disponible.
Solución: La función incluida en la licencia no está disponible. Adquiera la licencia correspondiente.
313.xxx Aviso [313.xxx] No se encuentra la licencia: <Todos los idiomas>. Sólo se puede realizar la
prueba si está instalado el interfaz con el usuario en idioma Chino.
Motivo: La licencia necesaria para utilizar todos los idiomas no está disponible.
Solución: Efectúe la prueba con la interfaz de usuario en chino o adquiera la licencia
correspondiente.
318.xxx Aviso [318.xxx] No se encuentra la licencia: <Estimador de Carga>. Es necesario introducir los
valores de VA, Carga, Cosϕ.
Motivo: La licencia necesaria para la función de estimador de carga no está disponible.
Solución: Especifique los valores de la carga nominal y funcional (VA, Carga y cosϕ) o adquiera la
licencia correspondiente.
319.xxx Aviso [319.xxx] No se encuentra la licencia: <Prueba Quick>.
Motivo: La licencia necesaria para la función de Prueba Quick no está disponible.
Solución: Compre la licencia correspondiente si desea realizar medidas con la Prueba Quick.
331.xxx Nota [331.xxx] Ipn no válido. El valor debe encontrarse entre los valores de Ipn de las tomas
contiguas.
Motivo: Se ha introducido un valor Ipn no válido en la tarjeta Configuración de MR.
Solución: Introduzca un valor Ipn válido.
332.xxx Nota [332.xxx] Se tiene que especificar I-sn. Vb y VA se calculan basándose en I-sn.
Motivo: Se intentó introducir los valores de Vb o VA sin especificar primero el valor Isn.
Solución: Introduzca un valor Isn válido antes de especificar los valores de Vb y VA.
333.xxx Nota [333.xxx] Defina Ipn para esta toma primero.
Motivo: Se intentó introducir un valor de carga nominal (VA) para una toma sin especificar primero
el Ipn de dicha toma.
Solución: Introduzca un valor de Ipn válido para la toma antes de especificar la carga nominal (VA).
334.xxx Nota [334.xxx] No se puede iniciar la prueba. La carga nominal (VA) debe ser >= 3,75 VA.
Motivo: La carga nominal (VA) introducida es inferior al límite especificado en los ajustes del
dispositivo (parámetro "VA mín. en Isn 5A de núcleos M").
Solución: Introduzca una carga nominal (VA) igual o superior a 3,75 VA.
356.xxx Aviso [356.xxx] No se encuentra la licencia: <Soporte de todas las frecuencias>. Sólo se soporta
una frecuencia nominal de 60 Hz.
Motivo: La licencia necesaria para utilizar todas las frecuencias no está disponible.
Solución: Las medidas solo son posibles a 60 Hz. Compre la licencia correspondiente si desea
realizar una prueba con otras frecuencias.
OMICRON 193
357.xxx Nota [357.xxx] No se encuentra la licencia: <Soporte de núcleos P>. Sólo se puede medir la
medición de TC.
Motivo: La licencia necesaria para realizar pruebas en los núcleos de protección no está
disponible.
Solución: La prueba solo es posible para núcleos de medición. Compre la licencia correspondiente
si desea realizar una prueba en los núcleos de protección.
358.xxx Aviso [358.xxx] No se encuentra la licencia: <Soporte de núcleos M>. Sólo se puede medir la
protección de TCs.
Motivo: La licencia necesaria para realizar pruebas en los núcleos de medición no está disponible.
Solución: La prueba solo es posible para los núcleos de protección. Compre la licencia
correspondiente si desea realizar una prueba en los núcleos de medición.
360.xxx Nota [360.xxx] No se realizarán evaluaciones de clase porque no se ha definido uno o varios de
los ajustes marcados con un asterisco ('?*' o '*') ".
Motivo: No se han definido algunos de los ajustes importantes para la evaluación.
Solución: Compruebe que se han definido todos los ajustes importantes para la evaluación
(marcados con '?' o '*').
400.xxx Aviso [400.xxx] No puede hacer una medición de relación múltiple sin una caja de conmutación
de CT SB2.
Motivo: No hay ningún CT SB2 conectado cuando se inicia la medida de relación múltiple.
Solución: Conecte el CT SB2 al CT Analyzer antes de iniciar la prueba de relación múltiple.
401.xxx Aviso [401.xxx] La caja de conexiones CT SB2 está desconectada.
Motivo: CT SB2 no está conectado correctamente al CT Analyzer.
Solución: Restaure la conexión adecuada entre el CT SB2 y el CT Analyzer, y reinicie la prueba.
402.xxx Aviso [402.xxx] Error de comunicación de la caja de conmutación de CT SB2.
Motivo: No es posible establecer una comunicación entre el CT SB2 y el CT Analyzer.
Solución: Restaure la conexión adecuada entre el CT SB2 y el CT Analyzer, y reinicie la prueba.
403.xxx Aviso [403.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: Es posible desconectar
CTA OUTPUT, TAPS XN o X1.
Motivo: los conectores CTA OUTPUT del CT SB2 no están conectados correctamente a la salida
del CT Analyzer.
Solución: Asegúrese de que los conectores CTA OUTPUT del CT SB2 estén conectados
correctamente al CT Analyzer, y reinicie la prueba.
404.xxx Aviso [404.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: El terminal CTA PRIM y/o
PRIM IN puede estar desconectado.
Motivo: los conectores CTA PRIM del CT SB2 no están conectados correctamente a la entrada
PRIM del CT Analyzer.
Solución: Asegúrese de que los conectores CTA PRIM del CT SB2 estén conectados correctamente
a la entrada PRIM del CT Analyzer, y reinicie la prueba.
405.xxx Aviso [405.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: Es posible desconectar
el terminal CTA SEC, TAPS XN IN o X1.
Motivo: Los conectores CTA SEC del CT SB2 no están conectados correctamente a la entrada
SEC del CT Analyzer.
Solución: Asegúrese de que los conectores CTA SEC del CT SB2 estén conectados correctamente
a la entrada SEC del CT Analyzer, y reinicie la prueba.
406.xxx Aviso [406.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: <el texto dependerá de la
conexión detectada>
Motivo: los conectores CTA SEC del CT SB2 no están conectados correctamente a la entrada
SEC del CT Analyzer.
Solución: Asegúrese de que los conectores CTA SEC del CT SB2 estén conectados correctamente
a la entrada SEC del CT Analyzer, y reinicie la prueba.
194 OMICRON
407.xxx Aviso [407.xxx] Verifique el cableado de la caja de conexiones CT SB2: Polaridad errónea en el
terminal CTA SEC o CTA OUTPUT
Motivo: Polaridad inversa en los conectores CTA SEC o CTA OUTPUT de CT SB2.
Solución: Asegúrese de que los conectores CTA SEC y CTA OUTPUT del CT SB2 estén
conectados correctamente al CT Analyzer, y reinicie la prueba.
conexión perdida detectada>
Motivo: Al menos una de las tomas de TC activadas para la prueba de relación múltiple no está
conectada correctamente a CT SB2.
Solución: Asegúrese de que todas las tomas de TC estén conectadas correctamente a los
terminales TAPS de CT SB2, y reinicie la prueba.
conexión incorrecta detectada>
Motivo: Los cables de al menos dos tomas de TC se han mezclado. Por ejemplo X2 de la toma de
TC está conectado a TAPS X3 de CT SB2 y viceversa.
Solución: Asegúrese de que todas las tomas de TC estén conectadas a los terminales TAPS
adecuados de CT SB2, y reinicie la prueba.
411.xxx Aviso [411.xxx] La descarga del firmware para la caja de conexiones ha fallado. Error: SBErrNo
Motivo: La descarga del firmware de CT SB2 ha fallado.
Solución: Asegúrese de que el CT SB2 esté conectado al CT Analyzer, y repita la descarga de
firmware para el CT SB2.
415.xxx Aviso [415.xxx] No se puede iniciar la medición Quick. Desconecte la caja de conm. CT SB2.
Motivo: Está intentando iniciar una medida Quick con la caja de conexiones CT SB2 aún
conectada al CT Analyzer.
Solución: Las medidas con Prueba Quick no son posibles cuando el CT SB2 está conectado al
CT Analyzer. Extraiga todas las conexiones del CT SB2 y reinicie la medida Quick del
CT Analyzer.
501.xxx No se muestra ningún mensaje en el CT Analyzer. Los mensajes solo aparecen en PC remotos
conectados al CT Analyzer.
Motivo: La interfaz remota no ha podido descifrar el comando.
Solución: Error en la interfaz remota. Compruebe la conexión entre el CT Analyzer y el PC.
Motivo: Error de transmisión de los datos.
Solución: Compruebe la conexión entre el CT Analyzer y el PC.
Motivo: Error de transmisión de los datos.
Motivo: Error en la interfaz remota: No ha sido posible obtener los datos de medida necesarios
porque la medida aún se estaba realizando.
Motivo: Error en la interfaz remota: no ha sido posible descomprimir el bloque de datos
transmitidos.
Motivo: No es posible utilizar el comando de la interfaz remota actual.
Solución: Asegúrese de que el estado actual del CT Analyzer le permita ejecutar comandos.
OMICRON 195
Motivo: Error en la interfaz remota: los comandos remotos fueron enviados con un parámetro no
válido.
Solución: Compruebe el parámetro (índice) enviado con el comando de la interfaz remota.
800.xxx Aviso [800.xxx] Error de acceso a tarjeta Flash. Error interno del sistema de archivos.
Motivo: El sistema de archivos envió un mensaje de error.
Solución: Es posible que la tarjeta Compact Flash esté dañada. Utilice una tarjeta nueva.
801.xxx Aviso [801.xxx] Error de acceso a tarjeta Flash. Nombre o ruta de archivos no válidos.
Solución: Es posible que la tarjeta Compact Flash esté dañada. Trate de guardar los datos en un PC
y formatee la tarjeta CF.
802.xxx Aviso [802.xxx] Error de acceso a tarjeta Flash. Acceso denegado.
Motivo: El sistema de archivos envió un mensaje de error. Intentó abrir un archivo de "solo lectura"
o un directorio especial.
Solución: Acceda a la tarjeta Compact Flash en un PC y extraiga el atributo del archivo de "solo
lectura". Los atributos de los archivos no pueden modificarse con el CT Analyzer.
803.xxx Aviso [803.xxx] Error de acceso a tarjeta Flash. Archivo o carpeta ya existente.
Solución: Introduzca un nombre de carpeta o archivo diferente.
804.xxx Aviso [804.xxx] Error de acceso a tarjeta Flash. Disco lleno.
Solución: Borre algunos archivos de la tarjeta Compact Flash o inserte una nueva.
805.xxx Aviso [805.xxx] Error de acceso a tarjeta Flash. Tarj. Flash ausente o defectuosa.
Motivo: No es posible encontrar una tarjeta CF válida.
Solución: Inserte una tarjeta Compact Flash válida.
806.xxx Aviso [806.xxx] Error de acceso a tarjeta Flash. Estructura de directorios no válida.
Solución: Intente realizar una copia de seguridad de los datos de la tarjeta Compact Flash en un PC
y formatee la tarjeta.
807.xxx Aviso [807.xxx] Nada que pegar.
Motivo: No se ha seleccionado ningún archivo para pegar.
Solución: Seleccione uno o varios archivos con la función Copiar o Cortar e inténtelo de nuevo.
808.xxx Aviso [808.xxx] Renombrar carpetas no está permitido.
Motivo: Esta opción no está disponible.
Solución: El CT Analyzer no permite cambiar el nombre de las carpetas.
809.xxx Aviso [809.xxx] ¿Seguro que desea formatear la tarjeta CF? ¡Se perderán todos los datos!
Motivo: Este aviso siempre aparece antes de formatear la tarjeta Compact Flash, ya que los datos
almacenados en ella se borrarán durante el formateo.
Solución: Pulse Formatear para iniciar el formateo o Cancelar para cancelar la operación sin
formatear la tarjeta Compact Flash.
810.xxx Aviso [810.xxx] El archivo ya existe. ¿Desea sobrescribirlo?
Motivo: El nombre del archivo utilizado para guardar los datos ya existe. Este aviso siempre
aparece antes de sobrescribir los archivos en la tarjeta Compact Flash.
Solución: Introduzca otro nombre, si lo desea.
811.xxx Aviso [811.xxx] ¿Está seguro de que desea eliminar <Nombre del archivo>?
Motivo: Este aviso siempre aparece antes de borrar un archivo de la tarjeta Compact Flash.
Solución: Pulse Sí para borrar el archivo o No para volver a la tarjeta del sistema de archivos sin
borrar el archivo.
812.xxx Aviso [812.xxx] ¿Seguro que desea eliminar todos los archivos seleccionados?
Motivo: Este aviso siempre aparece antes de borrar archivos de la tarjeta Compact Flash.
Solución: Pulse Sí para borrar los archivos o No para volver a la tarjeta del sistema de archivos sin
borrar los archivos.
196 OMICRON
813.xxx Aviso [813.xxx] No se encontró uno o varios parámetros. Algunos cálculos pueden no funcionar.
Motivo: La lectura del archivo de informe .xml de la tarjeta Compact Flash tiene un formato más
nuevo que el que puede generar el dispositivo.
Solución: El archivo cargado no es compatible o la versión del software del CT Analyzer es más
antigua que la versión del software que ha generado el informe. Para activar el
CT Analyzer con el fin de leer este informe, es necesario actualizar el software del
CT Analyzer.
814.xxx Aviso [814.xxx] Ha intentado cargar un informe antiguo. No se encontró uno o más parámetros.
Algunos cálculos pueden no funcionar.
Motivo: No ha sido posible encontrar una o varias entradas en el archivo de informe .xml.
Solución: La versión de software del CT Analyzer es más nueva que la versión utilizada para
generar el informe. El informe no contiene los parámetros compatibles con el nuevo
software del CT Analyzer.
815.xxx Error [815.xxx] La carpeta debe estar vacía. No se puede borrar la carpeta <Nombre de
la carpeta>.
Motivo: La carpeta seleccionada para el proceso de borrado no está vacía. Solo es posible
eliminar carpetas vacías.
Solución: Desplácese a la carpeta que desea borrar. Abra la carpeta y borre los archivos y las
subcarpetas que contenga. A continuación, borre la carpeta vacía.
816.xxx Error [816.xxx] Intentó cargar un informe creado con un <dispositivo>.
Motivo: El archivo .xml no parece tener un informe del CT Analyzer.
Solución: El CT Analyzer no puede cargar el informe.
817.xxx Error [817.xxx] El archivo xml no tiene un estilo de informe OMICRON válido.
Motivo: El archivo .xml no tiene un estilo de informe OMICRON válido.
Solución: El CT Analyzer no puede cargar el informe.
818.xxx Aviso [818.xxx] Mover carpetas no está permitido.
Motivo: El CT Analyzer no permite mover carpetas.
Solución: Seleccione solo los archivos, no las carpetas. Con la tecla Mayús. y las teclas de dirección
arriba y abajo, es posible seleccionar varios archivos de una misma carpeta.
819.xxx Aviso [819.xxx] El nombre del archivo contiene un carácter no válido.
Motivo: Se utilizó un carácter no válido para especificar el nombre del archivo.
Caracteres no válidos: \ / : * ? \ < > |
Solución: Solo se pueden utilizar caracteres válidos para el nombre del archivo.
820.xxx Error [820.xxx] Error en la gestión de la memoria. Póngase en contacto con la asistencia técnica
de OMICRON.
Motivo: Error en la gestión de la memoria.
Solución: Apague el CT Analyzer, espere un momento y vuelva a encenderlo. Si este error se
produce de forma más frecuente, debe ponerse en contacto con el servicio de asistencia
técnica de OMICRON.
821.xxx Error [821.xxx] Imposible actualizar el firmware
Motivo: Se ha producido un error en el software del gestor de arranque.
Solución: Inserte una tarjeta Compact Flash con un software válido (CTAnalyzer.bin) en el
directorio A:\Omicron\ y apague y encienda otra vez el CT Analyzer.
823.xxx Error [823.xxx] Imposible actualizar el texto de usuario
Motivo: Se ha producido un error en el software del gestor de texto del usuario.
Solución: Inserte una tarjeta Compact Flash con un software válido (CTUser_xxx.bin) en el
directorio A:\Omicron\ e inténtelo de nuevo.
824.xxx Error [824.xxx] Se ha producido un error de software interno en la dirección xxxxxxxH. Para
registrar este error, inserte una tarjeta CF y pulse Aceptar. Envíe el archivo \OMICRON\
ErrorLog.xml en la tarjeta CF al servicio de asistencia técnica de OMICRON.
Motivo: Resultado no válido en una operación de punto flotante (NaN).
Solución: Póngase en contacto con el servicio de asistencia técnica de OMICRON.
OMICRON 197
825.xxx Aviso [825.xxx] Tamaño del archivo [nombre del archivo] >= 1 Mbyte.
Motivo: El tamaño del archivo copiado a la tarjeta Compact Flash o al disco virtual del
CT Analyzer es > 1 MB.
Solución: Evite transferir al CT Analyzer archivos con un tamaño superior > 1 MB.
826.xxx Error [826.xxx] El estándar del TC del informe cargado no es compatible con la versión de
firmware actual. Actualice el firmware de CT Analyzer.
Motivo: Está intentando cargar un informe que hace uso de un estándar de TC no compatible con
la versión del firmware actual del CT Analyzer.
Solución: actualice el firmware de su CT Analyzer a la última versión.
829.xxx Aviso [829.xxx] ¡Fechas de expiración distintas! Todas las licencias provisorias instaladas se
eliminarán primero.
Motivo: El archivo de licencias contiene licencias provisorias con una fecha de expiración distinta
a la de las licencias provisorias instaladas actualmente en el CT Analyzer.
Solución: Asegúrese de que el nuevo archivo de licencia "Omicron.lic" seleccionado para la
actualización sea válido y contenga sus licencias requeridas. Seleccione sobrescribir las
licencias provisorias existentes disponibles en el CT Analyzer con las licencias
provisorias disponibles en el archivo de licencias o cancele el proceso de actualización
de licencias.
830.xxx La licencia < ... > no es válida.
Motivo: Se ha encontrado una entrada de licencia no válida en el archivo de licencias
Omicron.lic de la tarjeta CF.
Solución: Especifique una clave de licencia válida.
831.xxx El valor de < ... > no es válida. Se usará el valor por defecto de < ... >.
Motivo: Elemento no válido en el archivo Settings.inf.
Solución: El archivo Settings.inf del directorio Omicron de la tarjeta CF del CT Analyzer ha sufrido
un error de formateo en uno de los parámetros. Borre este archivo y compruebe los
ajustes en Menú Principal -> Ajustes -> Ajustes Varios. Si es necesario, cambie los
ajustes y guarde de nuevo el archivo.
832.xxx Los relés están cerca del fin de su vida útil. Contacte con el servicio de asistencia técnica de
OMICRON para concertar el mantenimiento de su equipo.
Motivo: La vida útil de los relés del CT Analyzer está a punto de terminar (se han realizado más
de un millón de mediciones).
Solución: Concierte una cita con el servicio de hardware para sustituir los relés.
833.xxx Se va a cargar un informe con un código Hash inválido. Algunos valores de medida pueden no
ser auténticos.
Motivo: La suma de comprobación de archivos no es válida.
Solución: Compruebe la autenticidad del archivo de informe cargado.
834.xxx ¡No hay licencia válida para este archivo!
Motivo: No se ha encontrado ninguna licencia válida.
Solución: Verifique el archivo de licencia. La licencia no corresponde con el número de serie del
CT Analyzer.
835.xxx No es permite cambiar a una versión de firmware anterior a la 3.53.
Motivo: Ha intentado cambiar a una versión inferior a la 3.53.
Solución: Compruebe que el número de versión de FW para la actualización/cambio a una versión
anterior no sea inferior a la 3.53.
840.xxx Error [840.xxx] Licencia provisoria no válida.
Motivo: Se ha encontrado una entrada de licencia provisoria no válida en el archivo de licencias
"Omicron.lic" de la tarjeta CF.
Solución: Aplique una clave de licencia válida.
846.xxx Error [846.xxx] Devolución del firmware a una versión anterior bloqueada.
Motivo: No es posible cambiar a la versión anterior del firmware del CT Analyzer seleccionada.
198 OMICRON
850.xxx Error [850.xxx] Límite de desfase de hora del sistema.

Motivo: La diferencia entre la hora real RTC y la hora del sistema del CT Analyzer es superior a
31 días.
Solución: Utilice otra hora del sistema en el CT Analyzer o póngase en contacto con el servicio de
asistencia técnica de OMICRON.
851.xxx Error [851.xxx] Se ha alcanzado el límite de tiempo de la versión de prueba.
Motivo: Ha intentado iniciar una prueba con una versión de firmware del CT Analyzer alfa/beta que
lleva más de 90 días.
Solución: Cambie la versión del firmware por una versión oficial.
900.xxx Error [900.xxx] Error de fuente de alimentación. Apague el dispositivo y espere 1 minuto antes de
encenderlo de nuevo.
Motivo: La potencia de salida era mayor de 350 VA o la alimentación eléctrica está defectuosa.
Solución: Apague el CT Analyzer, espere un minuto y, a continuación, enciéndalo de nuevo. Si este
error se produce de forma más frecuente, debe ponerse en contacto con el servicio de
901.xxx Aviso [901.xxx] Falta conexión de tierra de protección (PE) en cable de fuente de alimentación.
Conecte PE a terminal equipotencial. Puede haber tensión letal en la carcasa y todos los
terminales.
Motivo: El cable de tierra se ha roto. No hay ningún dispositivo o cable de tierra conectado a través
del transformador de aislamiento.
Solución: La alimentación principal no dispone de protección a tierra o la tierra de protección no está
conectada. La alimentación debe tener una conexión galvánica a PE. Si utiliza un
transformador de aislamiento, conecte una línea de alimentación del CT Analyzer a PE.
AVISO
► Asegúrese de que el terminal de puesta a tierra del dispositivo no está conectado
al potencial de tierra de protección. Si no, puede haber tensiones letales en la
carcasa.
NOTIFICACIÓN
El dispositivo puede resultar dañado si la alimentación se aísla de forma galvánica del potencial de
tierra.
Comentario: Si se utiliza una alimentación aislada de forma galvánica, el sistema de aislamiento podría
recibir una tensión excesiva que el dispositivo no podría soportar. En ese caso, la
seguridad ya no está garantizada. Por ello, utilice siempre un cable de alimentación con
un conductor a tierra de protección conectado al PE de la alimentación principal. Conecte
la terminal de tierra del dispositivo a la tierra de protección para evitar las descargas
eléctricas provocadas por las tensiones mortales que pueden estar presentes en la
carcasa. Si se ignora este error, el dispositivo funcionará normalmente, pero la seguridad
ya no estará garantizada.
OMICRON 199
903.xxx Aviso [903.xxx] ¡Inversión de potencia excesiva! No desconecte cables, ni corte la corriente de
red; espere a que se disperse la corriente. ATENCIÓN: tensiones mortales en los terminales de
salida.
Motivo: El dispositivo recibe potencia inversa excesiva, por lo que es preciso reducir la potencia
de salida para evitar la sobrecarga de la fase de salida interna.
Solución: Este error aparece si el CT Analyzer recibe demasiada corriente. El CT Analyzer descarga
el inductor conectado con unos 20 Ws pero, en función de la inductancia conectada, es
posible que el proceso de descarga tarde un tiempo.
Acción de seguridad:
Todas las mediciones se detendrán hasta que la potencia inversa se haya disipado.
AVISO
Pueden producirse tensiones mortales de muchos kV.
► No desconecte ningún cable y no apague el CT Analyzer.

► Espere a que la potencia se haya disipado.
904.xxx Error [904.xxx] Error de alimentación eléctrica. Póngase en contacto con la asistencia técnica de
OMICRON.
Motivo: El límite de temperatura de la alimentación eléctrica secundaria se ha superado.
Solución: No es posible reconocer este error hasta que la temperatura vuelva a los límites de
seguridad. Si se produce este error, póngase en contacto con el servicio de asistencia
Todas las mediciones se detendrán.
905.xxx Error [905.xxx] Temperatura excesiva de la alimentación eléctrica, espere hasta que el dispositivo
se enfríe.
Motivo: La alimentación eléctrica secundaria ha alcanzado el límite de temperatura, y ha entrado
en modo de refrigeración.
Solución: Cuando se reconozca este error mientras esté activo, se cerrará la ventana emergente, y
solo el mensaje de la línea de estado aparecerá activo hasta que la temperatura excesiva
desaparezca. Si el error no se reconoce, la ventana emergente permanecerá activa.
Comentario: La línea de estado muestra el mensaje parpadeante "905.xxx Overtemp.".
Todas las medidas se detendrán y el mensaje de error aparecerá en la línea de estado y
en una ventana emergente. Tras el reconocimiento, el software esperará al menos un
minuto antes de volver a iniciar la prueba.
906.xxx Error [906.xxx] Temperatura excesiva de la alimentación eléctrica, espere hasta que el dispositivo
se enfríe.
Motivo: La alimentación eléctrica de lado primario ha alcanzado el límite de temperatura, y ha
entrado en modo de refrigeración.
Solución: Cuando se reconozca este error mientras esté activo, se cerrará la ventana emergente, y
solo el mensaje de la línea de estado aparecerá activo hasta que la temperatura excesiva
desaparezca. Si el error no se reconoce, la ventana emergente permanecerá activa.
Todas las medidas se detendrán y el mensaje de error aparecerá en la línea de estado y
en una ventana emergente. Tras el reconocimiento, el software esperará al menos un
minuto antes de volver a iniciar la prueba.
200 OMICRON
908.xxx Error [908.xxx] Dispositivo desconectado.

Motivo: Fallo en la potencia interna del módulo de la interfaz de medida.
Solución: El mensaje se mostrará activo mientras la potencia interna de la interfaz de medida falle.
Póngase en contacto con el servicio de asistencia técnica de OMICRON si el error no
desaparece.
911.xxx Error [911.xxx] Error en la alimentación eléctrica, póngase en contacto con el servicio de
asistencia técnica de OMICRON. Tensión deseada xxxx, tensión medida yyyy.
Motivo: La tensión de alimentación de las placas de la interfaz de medida está fuera de tolerancia.
Comentario: Ya no es posible trabajar con el dispositivo.
912.xxx Error [912.xxx] Exceso de temperatura interna; espere hasta que se enfríe el dispositivo.
Motivo: La temperatura interna del dispositivo en la interfaz de medición es de > 75 °C.
Solución: Calor excesivo en el dispositivo. No exponga el dispositivo a los rayos del sol y espere
hasta que se enfríe. Si se produce el error sin una exposición previa a los rayos del sol, es
posible que sea a causa de un error del hardware. Póngase en contacto con la asistencia
Todas las medida se detendrán y el error aparecerá en la línea de estado y en una ventana
emergente. El error permanecerá activo hasta que la temperatura descienda por debajo
de los 60 °C.
929.xxx Error [929.xxx] Error de hardware, póngase en contacto con el servicio de asistencia técnica de
OMICRON.
Motivo: El circuito de disipación de la potencia inversa no funciona correctamente.
Todas las medidas se detendrán y la alimentación eléctrica se desconectará.
930.xxx Error [930.xxx] Entrada Vsec de la medida defectuosa, póngase en contacto con el servicio de
Motivo: La alimentación de la entrada analógica "Sec" es defectuosa.
931.xxx Error [931.xxx] Entrada Vprim de la medida defectuosa, póngase en contacto con el servicio de
Motivo: La alimentación de la entrada analógica "Prim" es defectuosa.
932.xxx Error [932.xxx] Error en los datos.
Motivo: La secuencia de lectura de los canales de entrada analógicos no es correcta.
Solución: Si este error se produce de forma más frecuente, póngase en contacto con el servicio de
933.xxx Error [933.xxx] Error de hardware, póngase en contacto con el servicio de asistencia técnica de
OMICRON.
Motivo: El circuito de detección de la temperatura en el lado secundario está dañado.
Solución: Envíe el dispositivo a OMICRON.
La alimentación eléctrica quedará desconectada y todas las mediciones se desactivarán.
934.xxx Aviso [934.xxx] ¡Inversión de potencia! No desconecte cables, ni corte la corriente de red; espere
a que se disperse la corriente. I = xxxxA.
Motivo: El dispositivo recibe una potencia inversa de > 20 mA.
Solución: Espere hasta que la potencia se haya disipado en el dispositivo y desaparezca el mensaje
de error.
Todas las mediciones se detendrán hasta que la potencia inversa se haya disipado.
OMICRON 201
935.xxx Error [935.xxx] Software de CT Analyzer no válido. Inserte una tarjeta CF con un software válido,
y pulse "Actualizar Firmw.".
Motivo: No es posible encontrar un software del CT Analyzer válido.
Solución: Inserte una tarjeta Compact Flash con un software válido (CTAnalyzer.bin) en el
directorio
A:\Omicron.
936.xxx Aviso [936.xxx] Datos de calibración dañados para las entradas de tensión. En el menú de
herramientas, vuelva a la calibración de fábrica. Hasta que no estén actualizados los datos de
calibración, el dispositivo estará descalibrado.
Motivo: La suma de comprobación de los datos de calibración para las entradas analógicas no es
correcta.
Solución: Intente actualizar la calibración de fábrica con el menú de herramientas. Si esto no
resuelve el problema, póngase en contacto con el servicio de asistencia técnica de
OMICRON.
937.xxx Aviso [937.xxx] Datos de calibración dañados para la salida de alimentación. En el menú de
herramientas, vuelva a la calibración de fábrica. Hasta que no estén actualizados los datos de
calibración, el dispositivo estará descalibrado.
Motivo: La suma de comprobación de los datos de calibración para la salida de potencia no es
correcta.
Solución: Intente actualizar la calibración de fábrica con el menú de herramientas. Si esto no
resuelve el problema, póngase en contacto con el servicio de asistencia técnica de
OMICRON.
938.xxx Aviso [938.xxx] Bloque de datos 1 del MIF dañado.
Motivo: La suma de comprobación de los datos de ajuste de fábrica es errónea.
Solución: Es posible que los datos de licencia o de ajuste del dispositivo estén dañados. Póngase
en contacto con la asistencia técnica de OMICRON.
939.xxx Aviso [939.xxx] Bloque de datos 2 del MIF dañado.
Motivo: La suma de comprobación de los datos de ajuste de fábrica es errónea.
Solución: Es posible que los datos de licencia o de ajuste del dispositivo estén dañados. Póngase
en contacto con la asistencia técnica de OMICRON.
940.xxx Aviso [940.xxx] Bloque de datos CMOS no válido. Verifique ajustes de dispositivo. Pulse Borrar
valores para usar los valores por defecto. Pulse Aceptar para usar ajustes del dispositivo no
válidos.
Motivo: El bloque de datos de los ajustes del dispositivo está dañado.
Solución: Compruebe los ajustes del dispositivo.
941.xxx Error [941.xxx] Datos de calibración de fábrica de entradas tensión no válidos. Póngase en
contacto con la asistencia técnica de OMICRON.
Motivo: El bloque de datos de la calibración de fábrica para las entradas de tensión está dañado.
942.xxx Error [942.xxx] Datos de calibración de fábrica de unidad de potencia no válidos. Póngase en
contacto con la asistencia técnica de OMICRON.
Motivo: Datos de calibración de fábrica dañados.
943.xxx Error [943.xxx] Error al sobrescribir los datos de calibración.
Motivo: No es posible restaurar los datos de calibración de fábrica.
944.xxx Aviso [944.xxx] Texto del usuario no válido. Ir al menú Herramientas y actualizar el texto. Hasta
que se actualice, el dispositivo usará el texto por defecto.
Motivo: La suma de comprobación para los datos de compatibilidad del idioma del usuario no es
válida.
Solución: Copie un archivo de texto del usuario (CTUser_xxx.bin) al directorio A:\Omicron\ de la
tarjeta Compact Flash e intente actualizar los datos de compatibilidad del idioma del
usuario con la función "Actualizar Texto" del menú de herramientas.
202 OMICRON
945.xxx Error [945.xxx] Datos de calibración de fase de unidad de potencia ausentes o no válidos.
Póngase en contacto con la asistencia técnica de OMICRON.
Motivo: Los datos de la calibración de fase están dañados o no están.
OMICRON 203
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ESP 1039 05 04

CT Analyzer User Manual

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Manual del usuario

Versión del manual: ESP 1039 05 04

7.3.3 Detalles de la medición de la resistencia del devanado secundario . . . . . . . . . . . . . . . . 91

10.9 Medida de impedancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175

Acerca de este manual

1.2 Normas y reglas de seguridad

1.2.2 Reglas de seguridad

1.3 Funcionamiento seguro

1.3.2 Integridad del equipo de prueba

1.3.4 Configuración de la prueba y área de trabajo

Área de trabajo Área peligrosa

Figura 1-1: Representación esquemática de la configuración de la prueba que muestra la separación

1.3.5 Realización de pruebas

1.4 Alimentación eléctrica

1.5 Medidas reglamentarias

1.6 Exención de responsabilidad

1.7 Declaraciones de conformidad

FCC compliance (USA)

Declaration of compliance (Canada)

Mediciones de desviación de fase y error de relación con equipo de prueba

2.2 "Reconocimiento" de parámetros

2.3 Componentes funcionales del CT Analyzer

OUTPUT Pantalla Interfaz de control remoto Terminal de

Teclado Ranura para tarjetas

SEC, PRIM Tecla I/0 Unidad de conexión a la red

Figura 2-1: Descripción general del CT Analyzer

2.3.2 Unidad de conexión a la red y puesta a tierra

Conector hembra de la red (IEC 320)

Fusible de la red: 2 x T 6,3 A / 250 V,

Terminal de puesta a tierra

Figura 2-2: Unidad de conexión a la red y terminal de puesta a tierra

2.3.3 Ranura para tarjetas Compact Flash

Tarjeta Compact Flash

Figura 2-3: Ranura para tarjetas Compact Flash

2.3.4 Interfaz de control remoto (conexión de PC)

Figura 2-4: Interfaz de control remoto (RS232 y USB)

2.3.5 Entradas y salidas

Figura 2-5: Entradas y salidas del CT Analyzer

2.3.6 Tecla I/0 con LED de estado

2.3.7 Pantalla con teclas configurables

Campo de edición Campo de visualización Si en el campo de descripción de teclas configurables

Figura 2-6: Pantalla con teclas configurables dependientes del contexto

Los siguientes iconos pueden aparecer en la línea de estado:

Tabla 2-1: Iconos mostrados en la línea de estado

Llave de seguridad. Los datos medidos con el CT Analyzer se pueden almacenar en

Figura 2-7: Teclado

Tabla 2-2: Elementos de teclado

Utilice las teclas de cursor para seleccionar un campo de edición de la interfaz de

Utilice la tecla de cursor para entrar en el modo de edición de una tarjeta

2.4.1 Ámbito funcional según la licencia

2.4.2 Tipos de licencia

2.5 Conjunto de material suministrado en la entrega,

3.2 Instalación del CT Analyzer

3.3 Conexión del CT Analyzer a un ordenador (opcional)

CT Analyzer conectado por USB

Ajustes del CT Analyzer:

CT Analyzer conectado mediante interfaz RS232 y un adaptador RS232/USB en el lado del

Menú principal -> Configuración -> con PC

CT Analyzer conectado por interfaz RS232