Rasterelektronemikroskop
|
Dësen Artikel ass eréischt just eng Skizz. Wann Dir méi iwwer dëst Theema wësst, sidd Dir häerzlech invitéiert, aus dëse puer Sätz e richtegen Artikel ze schreiwen. Wann Dir beim Schreiwen Hëllef braucht, da luusst bis an d'FAQ eran. |
E Rasterelektronemikroskop (REM) ass en Elektronemikroskop, bei deem en Elektronestral an engem virdefinéierte Muster iwwer en Objet gefouert (gerastert) gëtt, dat vergréissert gewise soll ginn. D'Wiesselwierkunge vun den Elektrone mam Objet ginn dann ausgenotzt, fir en dräidimensionaalt Bild ze produzéieren.
Biller, déi mat engem Rasterelektronemikroskop gemaach ginn, si méi schaarf an hunn eng méi grouss Déifteschäerft wéi där mat engem optesche Mikroskop. De maximalen theoreetesche Vergréisserungsfacteur läit bei zirka 1.000.000:1.
D'Erfindung vum Rasterelektronemikroskop geet op d'Aarbechte vum Max Knoll a vum Manfred von Ardenne an den 1930er Joren zeréck. An den 1960er Joren huet dem Charles Oatley säi Laboratoire, op der Universitéit vu Cambridge bei der Entwécklung vum REM gehollef, sou datt 1965 d'Cambridge Instrument Co. déi éischt dovun op de Maart konnt bréngen.
Haut gëtt de Rasterelektronemikroskop a ville Beräicher agesat, vun der Biologie bis zu der Materialfuerschung, a vill Constructeure bidden haut Mikroskoper mat der Detektiounsméiglechkeet vun der sekundärer Emissioun vun den Elektronen un, déi eng Opléisung vun 0,4 bis 20 Nanometer hunn.
Literatur
[änneren | Quelltext änneren]- Joseph Goldstein et al.: Scanning Electron Microscopy and X-ray microanalysis. Springer, New York. 2003 - 3. Oplo (en.) - ISBN 978-0-306-47292-3
- Flegler, Heckman, Klomparens: Elektronenmikroskopie - Grundlagen, Methoden, Anwendungen, Spektrum Akademischer Verlag 1995 (de.), 279 S., ISBN 3-86025-341-7
- Ludwig Reimer, Gerhard Pfefferkorn: Raster - Elektronenmikroskopie. 282 S. - Springer, Berlin. 1999 - 2., erw. Aufl. (de) ISBN 3-540-08154-2.
Um Spaweck
[änneren | Quelltext änneren]| Commons: Rasterelektronemikroskopen – Biller, Videoen oder Audiodateien |
- Biller vun engem Rastersekundärelektronemikroskop, (mat „SEM“ markéiert); remf.dartmouth.edu
- Biller vu Mineraler mat engem REM