RT Nivel II Capítulo 1
RT Nivel II Capítulo 1
RT Nivel II Capítulo 1
i. Principios bsicos
La inspeccin radiogrfca se emplea bsicamente para detectar
discontinuidades en la estructura interna de materiales de ingeniera.
El principio fsico en el que se basa la inspeccin radiogrfca es la
interaccin entre la materia y la radiacin electromagntica de
longitud de onda muy corta y de alta energa, los rayos X y los
rayos ama.
ii. Antecedentes histricos
En !"#$ el cientfco %lemn &il'em (onrad )oentgen, descubri un
nue*o tipo de radiacin, los rayos X, llamados as por su naturale+a
desconocida.
)oentgen demostr que esos rayos eran capaces de producir
imgenes, como si fuera posible *er a tra*s de materiales slidos.
%dems, )oentgen determin que los rayos X causaban
,uorescencia en *arios tipos de componentes, y descubri los efectos
de ennegrecimiento que produca la radiacin sobre placas
fotogrfcas.
El descubrimiento de )oentgen fue aplicado inmediatamente en el
campo de la medicina y abri las puertas para ser aplicado en
muc'as otras reas de la ciencia, incluyendo las aplicaciones como la
radiografa industrial. )oentgen es considerado como el primer
radigrafo.
En !"#- el fsico .rancs /enri 0ecquerel, y ms adelante 1arie y
2ierre (urie, descubri que algunos minerales que contenan uranio
emitan un tipo de radiacin similar a los rayos X, los rayos ama
34, ya que eran capaces de ennegrecer placas fotogrfcas sin
e5poner. 0ecquerel identifco el fenmeno y le dio el nombre de
radiacti*idad.
1s tarde, los (urie descubrieron dos nue*os elementos radiacti*os,
el polonio y el radio.
iii. Aplicaciones
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !8
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
<a radiacin electromagntica de longitud de onda muy corta y de
alta energa, rayos X y rayos ama, en general, puede ser
aplicada en= la industria, la medicina y la in*estigacin.
)e*isin de los principios de radiografa
racias a que puede penetrar materiales slidos 3por sus longitudes
de onda muy cortas4, se utili+a en el control de calidad, para la
deteccin de discontinuidades internas tales como grietas,
penetracin incompleta, fusin incompleta, etc.> en productos
soldados, fundidos, for?ados, etc.
iv. Ventajas
<as *enta?as ms notables de la inspeccin por radiografa industrial
son=
2uede aplicarse para la inspeccin de di*ersos tipos de
materiales>
;e obtiene una imagen *isual del interior del material>
;e obtiene un registro permanente de la inspeccin>
@escubre los errores de fabricacin y ayuda a establecer
acciones correcti*as.
v. Limitaciones
<as principales limitaciones de la inspeccin por radiografa industrial
son=
7o es recomendable aplicarse en pie+as de geometra
complicada>
7o debe emplearse cuando la orientacin de la radiacin sobre el
ob?eto a inspeccionar sea inoperante, ya que no se podr
obtener una defnicin adecuada>
<as pie+as a inspeccionar deben tener acceso, al menos, por dos
lados opuestos>
;u empleo requiere el cumplimiento de estrictas medidas de
seguridad>
)equiere personal altamente capacitado y con e5periencia>
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !A
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)equiere de instalaciones especiales, como son el rea de
e5posicin, equipo de seguridad y un cuarto oscuro para reali+ar
el proceso de re*elado.
<as discontinuidades de tipo laminar no pueden ser detectadas
por este mtodo.
<a inspeccin por radiografa es de alto costo.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !B
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)e*isin de los principios de radiografa
vi. Procedimiento bsico para obtener una radiografa
!. (onocer el tipo de material, el espesor y la geometra de la pie+a
a inspeccionar.
8. ;eleccionar la energa de la radiacin que ser utili+ada.
A. ;eleccionar el tipo y tamaCo de pelcula a utili+ar.
B. ;eleccionar el 6ndicador de (alidad de 6magen.
$. @eterminar las distancias fuenteDpelcula y ob?etoDpelcula.
-. (argado de la pelcula en el c'asis o portaDpelcula.
E. Elaboracin de la plantilla de identifcacin.
". (lculo del tiempo de e5posicin.
#. <imitacin de las reas de radiacin.
!F. %rreglo de la pelcula y el ob?eto, y la ubicacin de la fuente de
radiacin.
!!. E5posicin.
!8. )e*elado de la pelcula.
!A. ;ecado de la pelcula.
!B. 6nterpretacin y e*aluacin de la radiografa y de los resultados.
!$. Elaboracin del reporte de resultados.
vii. Consideraciones de seguridad
@ebido a que la radiacin electromagntica de longitud de onda muy
corta y de alta energa no puede ser detectada por nuestros sentidos,
se requiere de un estricto apego a los requisitos de seguridad
establecidos.
<a radiacin puede causar daCo y destruccin de las clulas de los
te?idos *i*os, por lo cual, es esencial que el personal tcnico que
reali+a inspecciones por el mtodo de radiografa industrial, est
consiente del peligro que implica el uso de este tipo de radiacin y
que sea conocedor de las regulaciones de seguridad.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !$
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)e*isin de los principios de radiografa
viii. Obteniendo una radiografa
(omo sabemos, los rayos X y ama tienen la capacidad de
penetrar los materiales, pero, durante el paso de los rayos a tra*s
de un material, se presenta un efecto llamado absorcin, o
atenuacin.
<a absorcin es la 'abilidad de un material para obstruir el paso de
los rayos X y ama a tra*s del mismo. %s entonces, durante la
e5posicin radiogrfca, la energa de los rayos X o ama es
absorbida o atenuada al atra*esar el material, esta atenuacin es
proporcional a la densidad, el espesor y la confguracin del material,
as como, a la energa del rayo.
<a radiacin electromagntica que logra atra*esar el material puede
ser registrada por medio de la impresin en una placa o papel
fotosensible, que posteriormente se somete a un proceso de re*elado
para obtener la imagen del rea inspeccionada, o por medio de una
pantalla ,uorescente o un tubo de *ideo, *er la fgura 7o. !.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !-
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
.uente de
)adiacin
2elcula
1uestra
Greas Hbscuras
3@espus del
2rocesado4
@iscontinuidad
.igura 7o. != E5posicin radiogrfca
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !E
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)e*isin de los principios de radiografa
<a radiacin usada en la inspeccin radiogrfca produce la imagen de un
material, tal y como puede ser producida la sombra de un
ob?eto con una fuente de lu+ y una pantalla, como se muestra
en la fgura 7o. 8.
.igura 7o. 8= .ormacin de la imagen de un material
<os rayos X y ama ennegrecen una pelcula fotogrfca por su
'abilidad para ioni+ar la materia. (uando la radiacin penetra la
pelcula, produce un ennegrecimiento, ya que los rayos ioni+an los
granos de bromuro de plata de la emulsin. <a ioni+acin de la
emulsin de la pelcula forma una imagen latente, la cual es re*elada
durante un procesado posterior.
Ina dosis de radiacin puede penetrar el ob?eto para formar una
imagen latente, pero, demasiados rayos sobre e5ponen la pelcula.
(uando una pelcula es procesada 3re*elada4, la +ona e5puesta a la
radiacin cambia a obscura, mientras la +ona no e5puesta tendr un
tono claro.
<a formacin de una imagen en la pelcula depende de la cantidad de
radiacin recibida, en las diferentes secciones o +onas de la pelcula.
(omo se muestra en la fgura 7o. A a continuacin, una
discontinuidad, tal como un 'ueco o *aco en el material, representa
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !"
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
.uente de
)adiacin
Hb?eto
.uente
de <u+
Hb?eto
2antalla
una diferencia de espesor en la muestra, por lo que aparecer una
manc'a negra en la pelcula re*elada.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 !#
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)e*isin de los principios de radiografa
;i la discontinuidad fuera una inclusin ms densa que el material,
entonces, la imagen en la pelcula seria una manc'a ms clara, ya
que los rayos 'abran sido absorbidos por la inclusin densa.
.igura 7o. A= 6magen radiogrfca
i. !nteraccin de la radiacin con la materia
<os rayos X y ama penetran con mayor facilidad los materiales
ligeros, ms que los materiales densos. <os materiales densos o
pesados presentan una mayor resistencia al paso de los rayos X y
ama.
<a energa de los fotones no desaparece, se transforma mediante un
proceso conocido como ioni+acin.
Ina de las leyes bsicas de la naturale+a es la conser*acin de la
energa, que nos indica que la energa no puede ser creada ni
destruida, solo se transforma en diferentes tipos de energa.
<a ioni+acin es la produccin de iones. In 6on es un tomo, grupo de
tomos o partculas atmicas cargadas positi*a o negati*amente.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8F
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
1uestra
2elcula
@iscontinuidad
)adiacin
.uente
de
)adiaci
n
)e*isin de los principios de radiografa
;i se desprende un electrn de un tomo, este tomo tiene una carga
de J!, por lo tanto es un 6on positi*o> mientras, el electrn tiene
una carga de D!, por lo tanto es un 6on negati*o.
<os iones se producen cuando un fotn de rayo X o ama colinda
3c'oca4 con un electrn de cualquier material y lo despla+a de su
posicin. <os electrones libres producidos por ioni+acin absorben
parte de la energa del fotn y se mue*en con diferentes *elocidades
y en diferentes direcciones.
E5isten B tipos principales de interaccin posible entre un fotn y la
materia=
!. El efecto fotoelctrico
;e defne como el proceso por el cual un fotn de energa E
0
despla+a
y transfere totalmente su energa a un electrn locali+ado en su
posicin orbital, como se muestra en la fgura 7o. B.
<a energa del fotn puede ser solamente la sufciente para mo*er al
electrn desde una rbita a otra, o puede ser tal que el electrn sea
remo*ido para que el tomo quede ioni+ado.
El efecto fotoelctrico ocurre con fotones de ba?a energa,
prcticamente de !F a $FF Ke*.
)adiacin
Electromagntica
de ba?a energa E0
Electrn
despla+ado
Gtomo con peso atmico alto
.igura 7o. B= El efecto fotoelctrico
(abe recordar que un fotn no es una partcula, sin embargo, puede
actuar como tal.
8. <a dispersin (ompton
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8!
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
9ambin conocida como dispersin inco'erente. <a dispersin
(ompton puede ocurrir con fotones de energas de entre F.! y !.F
1e*.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 88
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)e*isin de los principios de radiografa
En este proceso el fotn no pierde toda su energa al c'ocar con un
electrn orbital, solamente parte de su energa es transferida al
electrn despla+ado de su posicin orbital, fgura 7o. $. (omo
resultado se tiene un fotn dispersado, de menor energa y a un
ngulo diferente al del fotn original.
)adiacin )adiacin
Electromagntica Electromagntica
de energa media resultante
3$$F Ke*4 3LLLL Ke*4
Electrn
despla+ado
3"F Ke*4
Gtomo con cualquier peso atmico
3energa de enlace !8 Ke*4
.igura 7o. $= El efecto (ompton
En el e?emplo anterior, se asume que el fotn tiene una energa de
$$F Ke*. 9ambin, que remue*e a un electrn de su rbita, el cual,
tiene una energa de enlace o amarre de !8 Ke* y le transfere una
energa de mo*imiento de "F Ke*, Mcul es la energa del nue*o
fotnN
)espuesta= $$F D !8 D "F O B$" Ke*
Esta dispersin puede repetirse 'asta que la energa del fotn sea
absorbida totalmente en el efecto fotoelctrico. % continuacin, en la
fgura 7o. -, se ilustra la dispersin de un fotn debido a dos
diferentes procesos de interaccin de la radiacin con la materia.
)ayo X
.igura 7o. -= @ispersin de un fotn
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8A
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
Efecto
(ompton
Efecto
(ompton
-
-
-
-
Efecto
(ompton
Efecto
.otoelctric
o
6on
6on
6on
6on
)e*isin de los principios de radiografa
A. <a dispersin )ayleig'
;i un fotn no sufre la prdida de su energa cuando es dispersado, a
este proceso se le conoce como dispersin co'erente. Es referido
como dispersin )ayleig'. ;e produce solamente con fotones de
energas ba?as.
(uando un fotn entra a un espacio atmico, los electrones atmicos
oscilan y actPan como una fuente comPn, emitiendo el mismo fotn
con la misma energa y frecuencia, pero a un ngulo diferente al de
incidencia, *er la fgura 7o. E.
)adiacin
Electromagntica
de ba?a energa
.igura 7o. E= <a dispersin )ayleig'
B. <a produccin de pares inicos
Es un proceso por medio del cual el fotn es con*ertido en materia,
un electrn 3e
D
4 y un positrn 3e
J
4 dentro del campo elctrico del
nPcleo atmico, *er fgura 7o. ".
;e presenta cuando los fotones que interactPan tienen muy alta
energa 3!.F8 1e* y mayor4.
Electrn 3D4
)adiacin
Electromagntica
de alta energa
!.F8 1e*
2ositrn 3J4
.igura 7o. "= <a produccin de pares inicos
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8B
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)e*isin de los principios de radiografa
%dems de los efectos predominantes de absorcin, se puede
presentar un proceso en el que un fotn es capturado por el nPcleo,
el cual, pierde una o ms de las partculas que lo constituyen. Este
efecto se presenta, solamente, con energas de !F a 8F 1e* y se
conoce como .otodesintegracin.
<a fgura 7o. # ilustra el proceso de .otodesintegracin.
)adiacin
Electromagntica
de muy alta energa
!F a 8F 1e*
.igura 7o. #= <a .otodesintegracin
<a fgura 7o. !F siguiente, muestra un posible ciclo de interaccin de
la radiacin con la materia.
.igura 7o. !F= (iclo de la interaccin de la radiacin con la materia
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8$
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
.otn de
rayo X
;illa
2apel
2ared
)e*isin de los principios de radiografa
Absorcin de partculas cargadas "electrones de alta
velocidad#
<a energa cintica 3mo*imiento4 de los electrones libres producidos
por los procesos de interaccin de la radiacin con la materia
3fotoelctrico y (ompton4, se absorbe de 8 formas diferentes=
!. 6oni+acin
<os electrones libres c'ocan con electrones orbitales creando
electrones libres adicionales.
<os electrones colisionados y despla+ados de su rbita absorben
parte de la energa del electrn que los colision. Este proceso
continPa 'asta que la energa remanente del electrn libre es muy
pequeCa.
8. 2roceso 0remsstra'lung 3frenado4
En el proceso 0remsstra'lung se reduce o detiene completamente el
electrn libre de alta energa.
In electrn libre puede sufrir una desaceleracin dentro del campo
elctrico del nPcleo atmico. <a energa que es absorbida por el
nPcleo es e5cesi*a de acuerdo con la necesidad real del tomo,
debido a esto, la energa es inmediatamente liberada en forma de un
rayo X, de igual o menor energa que la absorbida por el nPcleo,
fgura 7o. !! siguiente.
Electrn con
energa remanente
de 8FF Ke*
7Pcleo
Electrn con )ayo X
Energa de BFF Ke* con energa de 8FF Ke*
.igura 7o. !!= El proceso 0remsstra'lung
;i el electrn es parado completamente, el rayo X tendr ms
energa, igual a la energa cintica total del electrn.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8-
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
-
+
+
+
+
+
+
+
)e*isin de los principios de radiografa
El proceso 0remsstra'lung puede generar otros rayos X 3de ba?a
energa4, los cuales, pueden producir efectos fotoelctricos y
(ompton adicionales.
$adiacin secundaria
<a radiacin que es parte de un rayo X o ama original es
llamada radiacin primaria.
<a radiacin dispersa es un trmino general que se refere a la
radiacin resultante del rayo X o ama primaria, debido a la
interaccin de la radiacin con la materia, la ioni+acin o el proceso
0remsstra'lung, y se le conoce como radiacin secundaria.
@ebido a que los rayos X son generados por electrones libres que
c'ocan con la materia, se tiene como consecuencia que se produce
radiacin secundaria o dispersa.
. Clculos de eposicin
$elacin de miliamperaje "fuer%a de la fuente#& distancia '
tiempo
(on un Qilo*olta?e dado de radiacin X o con la radiacin ama,
de un istopo particular, los tres factores que gobiernan la e5posicin
son el miliampera?e 3para rayos X4 o la fuer+a de la fuente 3para
rayos ama4, el tiempo y la distancia fuenteDpelcula. <as relaciones
numricas entre estas tres *ariables se demuestran a continuacin,
aplican para rayos X y para rayos ama, pero en este caso se
debe proporcionar el nPmero de (uries de la fuente en lugar del *alor
de miliampera?e.
<os clculos necesarios para cualquier cambio en la distancia fuenteD
pelcula 3@4, miliampera?e 314 o tiempo 394 son materia de aritmtica
simple.
a4 )elacin 1iliampera?eD@istancia
El miliampera?e empleado en cualquier tcnica de e5posicin debera
aplicarse conforme con las proporciones establecidas por el
fabricante del tubo de rayos X. ;in embargo, en la mayora de
aplicaciones es usado un *alor constante, adoptado por
con*eniencia.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8E
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)egla= El miliampera?e 314 requerido para una e5posicin dada es
directamente proporcional al cuadrado de la distancia fuenteDpelcula
3@4. <a ecuacin se e5presa como sigue=
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8"
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
)e*isin de los principios de radiografa
O 1
!
@
8
8
O 1
8
@
!
8
b4 )elacin 9iempoD@istancia
)egla= El tiempo de e5posicin 394 requerido para una e5posicin
dada es directamente proporcional al cuadrado de la distancia
fuenteDpelcula 3@4. Esto es=
O 9
!
@
8
8
O 9
8
@
!
8
c4 )elacin 1iliampera?eD9iempo
)egla= El miliampera?e 314 requerido para una e5posicin dada es
in*ersamente proporcional al tiempo 394=
O 1
!
9
!
O 1
8
9
8
@e la segunda e5presin, se puede decir que el producto del
miliampera?e por el tiempo es constante para el mismo efecto
fotogrfco. <o anterior es comPnmente conocido como la <ey de la
)eciprocidad.
Le' del inverso cuadrado de la distancia
(uando se mantiene constante la salida de un tubo de rayos X o
cuando es usada una fuente de rayos ama, la intensidad de
radiacin que alcan+a un espcimen est gobernada por la distancia
entre el tubo o la fuente y el espcimen, *ariando in*ersamente
proporcional con el cuadrado de la distancia. <a e5plicacin se basa
en el comportamiento de la lu+, pero tambin aplica a los rayos X y
ama.
(onforme a las leyes de la lu+, los rayos X y ama sufren de
di*ergencia cuando son emitidos desde el nodo o la fuente. (on el
aumento de distancia desde la fuente, se incrementa el rea que
cubren, aunque con menor intensidad.
Este principio se ilustra en la fgura 7o. !8. En esta fgura se asume
que la intensidad de la radiacin emitida es constante, que alcan+a la
primera superfcie de registro 3!4 a la distancia @
!
cubriendo un rea
de cuatro cuadros.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 8#
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
1
!
@
!
8
1
8
@
8
8
9
!
@
!
8
9
8
@
8
8
1
!
9
8
1
8
9
!
)e*isin de los principios de radiografa
;uperfcie de ;uperfcie de
registro ! registro 8
.uente
@!
@8
.igura 7o. !8= <ey del in*erso cuadrado de la distancia
(uando la superfcie de registro se ale?a a la distancia @
8
, que
corresponde al doble de la distancia @
!
desde la fuente, la radiacin
cubre un rea de !- cuadros, un rea cuatro *eces mayor que a la
distancia @
!
. Esto nos dice que la radiacin por unidad cuadrada,
sobre la superfcie de registro 384 a la distancia @
8
, corresponde a
solamente un cuarto de la radiacin 38$R4 por unidad cuadrada,
sobre la superfcie de registro, de la distancia @
!
.
(on base en lo anterior, se establece que la e5posicin adecuada a la
distancia @
!
debe incrementarse por cuatro *eces con el fn de
producir una radiografa de igual densidad a la distancia @
8
.
En la prctica, el incremento de e5posicin puede 'acerse
aumentando el tiempo, o en el caso de rayos X el miliampera?e.
Entonces, la ley del in*erso cuadrado de la distancia establece que
la intensidad de la radiacin es in*ersamente proporcional al
cuadrado de la distancia.
<a ley del in*erso cuadrado de la distancia puede ser e5presada
matemticamente como sigue=
O
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 AF
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
6
!
@
8
8
6
8
@
!
8
)e*isin de los principios de radiografa
@onde= 6
!
O Es la intensidad conocida a una distancia dada 3@
!
4
@
!
O Es la distancia conocida desde la fuente
6
8
O Es la intensidad desconocida a una segunda
distancia
@
8
O Es la distancia desde la fuente a la cual se desea
conocer la intensidad
2or supuesto, las mismas consideraciones se aplican si se est ms
cerca de la fuente en lugar de ms le?os. %l reducir la distancia a la
mitad, la intensidad de la radiacin se incrementar cuatro *eces,
por lo que, la e5posicin para producir radiografas de igual densidad
debe reducirse a solo un cuarto.
@ebemos mencionar que la ley del in*erso cuadrado aplica
Pnicamente para la radiacin en reas abiertas, en ausencia de
materiales slidos que dispersen o absorban radiacin.
%dems, esta ley supone que toda la radiacin *ia?a en lnea recta, lo
cual, se podra decir que no siempre sucede. Esto se debe a que la
dispersin de la radiacin puede causar un aumento signifcati*o en
los ni*eles de radiacin.
El efecto de la ley del in*erso cuadrado de la distancia tiene gran
importancia en aspectos de seguridad radiolgica.
(actor de eposicin
El factor de e5posicin es una cantidad que combina el
miliampera?e 3para rayos X4 o la fuer+a de la fuente 3para rayos
ama4, el tiempo y la distancia. 7umricamente el factor de
e5posicin es igual a=
2ara rayos X
2ara rayos ama
En algunas ocasiones, las tcnicas de e5posicin radiogrfca son
dadas en trminos de Qilo*olta?e y factor de e5posicin, o istopo
radiacti*o y factor de e5posicin.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 A!
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
1iliamperios 5 9iempo
@istancia
8
(uries 5 9iempo
@istancia
8
)e*isin de los principios de radiografa
En tales casos, solo es necesario multiplicar el factor de e5posicin
por el cuadrado de la distancia a ser usada, con el fn de encontrar,
por e?emplo, el miliampera?eDminutos o los curiesD'ora requeridos.
)r*cas de eposicin para ra'os +,-
Ina carta de e5posicin es una grfca que muestra la relacin entre
el espesor del material, el Qilo*olta?e y la e5posicin. En su forma
ms comPn una carta de e5posicin se ilustra en la fgura 7o. !A. ;on
adecuadas para determinar e5posiciones en la radiografa de placas
uniformes, pero sir*en solamente como guas para ob?etos que tienen
*ariaciones amplias de espesor, como en fundiciones complicadas.
<as cartas de e5posicin normalmente son proporcionadas por el
fabricante del equipo de rayos X. Esto se debe a que no pueden ser
usadas para diferentes mquinas a menos que se apliquen factores
de correccin.
!FF
"F
-F
BF
8F
!F
"
-
B
8
!
F F.8$ F.$F F.E$ !.FF !.8$ !.$F
2ulgadas en acero
.igura 7o. !A= rfca de e5posicin para rayos X
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 A8
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
!FF K* !8F K*
88F K*
8FF K*
!"F K* !-F K* !BF K*
E
5
p
o
s
i
c
i
n
e
n
m
i
l
i
a
m
p
e
r
i
o
s
D
m
i
n
u
t
o
s
)e*isin de los principios de radiografa
(ada grfca de e5posicin aplica a un con?unto especfco de
condiciones. Estas condiciones f?as son=
Ina cierta maquina de rayos X
Ina cierta distancia fuenteDpelcula 3@.24
In tipo de pelcula en particular
<as condiciones especifcas del proceso de re*elado usado
In *alor de densidad, en la cual se basa la grfca
El tipo de pantallas que son usadas
(omo se obser*a en la fgura 7o. !A, la e5posicin es grafcada en
una escala logartmica, para reducir la carta en direccin *ertical.
En la escala *ertical, del lado i+quierdo de la grfca, se encuentra la
e5posicin en miliamperiosDminutos 31%14, y en la escala 'ori+ontal,
la parte inferior, el espesor del material.
2ara usar este tipo de grfcas se parte del espesor del material, se
sigue *erticalmente 'asta la lnea correspondiente a los Ke*
in*olucrados, y despus 'ori+ontalmente se encuentra la e5posicin
correcta en 1%1, que corresponde al factor de e5posicin, con lo
cual se puede calcular el tiempo necesario para la e5posicin de
acuerdo con la siguiente ecuacin=
1iliamperiosDminuto
1iliamperios
)r*cas de eposicin ' reglas de clculo para ra'os +)ama-
Ina grfca de e5posicin tpica es mostrada en la fgura 7o. !B. Es
algo similar a una grfca de e5posicin para rayos X. ;in embargo,
con rayos ama no es *ariable el factor correspondiente al
Qilo*olta?e. 2or lo anterior, una grfca de e5posicin para rayos
ama contienen una o *arias lneas paralelas, cada una de las
cuales corresponde a un tipo de pelcula particular, densidad o
distancia fuenteDpelcula.
El uso de una grfca de e5posicin para rayos ama es un poco
ms comple?o que el uso de la grfca de e5posicin para rayos X,
ya que las fuentes radiacti*as pierden acti*idad en forma constante.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 AA
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
9iempo de e5posicin O
)e*isin de los principios de radiografa
$
A
8
!
.$
.B
.A
.8
F ! 8 A
2ulgadas en acero
.igura 7o. !B= rfca de e5posicin para rayos ama
El factor de e5posicin para una fuente de rayos ama se defne en
trminos de la intensidad de la fuente en (uries, el tiempo de
e5posicin en minutos y el cuadrado de la distancia fuenteDpelcula
en pulgadas.
6 5 9 (uriesDminutos
@
8
@
8
2ara poder usar la grfca de e5posicin para rayos ama, el
radigrafo debe conocer la acti*idad del istopo radiacti*o. <a
acti*idad de un istopo radiacti*o o radioistopo en cualquier
momento, depende de la acti*idad original y de su *ida media.
<a forma ms simple para determinar la acti*idad del istopo
radiacti*o, en cualquier momento, es consultando la grfca de
decaimiento que debe ser proporcionada por el fabricante ?unto con
la fuente radiacti*a.
In e?emplo de una carta de decaimiento se muestra en la fgura 7o.
!$ a continuacin.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 AB
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
.
a
c
t
o
r
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e
5
p
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@ensidad
8.$
@ensidad
8.F
@ensidad
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.actor de e5posicin
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)e*isin de los principios de radiografa
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!FF 8FF AFF BFF $FF -FF EFF
9iempo en das
.igura 7o. !$= (arta de decaimiento de un istopo radiacti*o
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 A$
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
@E(%616E79H @E
6)
!#8
.
)
%
(
(
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S
7
)
E
1
%
7
E
7
9
E
)e*isin de los principios de radiografa
E5isten otras guas de e5posicin para rayos ama, las cuales se
encuentran disponibles en forma de reglas de clculo lineales. Estas
contienen escalas sobre las cuales pueden a?ustarse *arios factores
como el espesor del espcimen, la fuer+a de la fuente y la distancia
fuente pelcula. ;obre la regla puede leerse directamente el tiempo
de e5posicin.
Las curvas caractersticas
<a cur*a caracterstica, algunas *eces referida como cur*a
sensitomtrica o cur*a / y @ 3/urter and @riTeld4, e5presa la
relacin entre la e5posicin aplicada a la pelcula radiogrfca y la
densidad fotogrfca resultante.
Estas cur*as indican las densidades que son producidas al aplicar
diferentes e5posiciones sobre una *ariedad de pelculas diferentes.
Entonces, son la relacin entre la densidad contra el logaritmo de
e5posicin relati*o. <a fgura 7o. !- ilustra un e?emplo de cur*as
caractersticas.
)ecordemos que la densidad se defne como el grado de
ennegrecimiento de la pelcula radiogrfca como resultado de la
e5posicin. @esde otro punto de *ista, la densidad es la cantidad de
lu+ que puede pasar a tra*s de una pelcula radiogrfca.
Es difcil para el o?o 'umano distinguir rpida y fcilmente las
diferencias de pequeCas densidades en una pelcula radiogrfca. <as
cur*as caractersticas aparentan que mientras se incrementan la
e5posicin y la densidad, tambin se incrementa el contraste de la
pelcula.
%unque las grfcas de e5posicin son e5celentes 'erramientas para
uso radiogrfco, sin embargo, estn limitadas a aplicarse solamente
con base en un ?uego especfco de condiciones. (uando cambian
algunas de estas condiciones, en muc'os casos, puede calcularse un
factor de correccin 'aciendo uso de la cur*a caracterstica de la
pelcula in*olucrada o de la ley del in*erso cuadrado de la distancia.
%unque las cur*as caractersticas son adecuadas para muc'os
propsitos, siempre debe tenerse presente que la forma de la cur*a y
la *elocidad de la pelcula, con relacin a otra, dependen
fuertemente de las condiciones de re*elado.
<a e5actitud alcan+ada cuando se utili+a una cur*a est gobernada
grandemente por la similitud entre las condiciones de re*elado
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 A-
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
utili+adas en la produccin de las cur*as y aquellas para las pelculas
cuyas densidades son e*aluadas.
)e*isin de los principios de radiografa
B.F
A.$
A.F
8.$
8.F
!.$
!.F
F.$
F F.$ !.F !.$ 8.F 8.$ A.F
<H%)691H @E EX2H;6(6S7 )E<%96U%
)e*elado manual de $ minutos a -" V.. E5posicin con rayos X a 8FF Kilo*oltios
y pantallas de plomo. <as cur*as para otros rayos X y ama son de la misma
forma pero con espacios diferentes a lo largo del e?e del logaritmo de e5posicin
relati*a.
)adiografa 6ndustrial 7i*el 66 AE
%plicaciones 9ecnologicas y %seguramiento de (alidad : %9%( ;%(
@
E
7
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6
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%
@
2elcula
%
2elcula
0
2elcula
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2elcula
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2elcula