El Transistor de Efecto de Campo
El Transistor de Efecto de Campo
El Transistor de Efecto de Campo
se ver) para dar lugar a configuraciones de amplificadores de seal, sin embargo no son las
nicas aplicaciones, por ejemplificar algunas otras se tienen la configuracin para formar
osciladores, interruptores controlados, resistores controlados, etc.
Obsrvese cmo en esta curva aparecen tanto tensiones negativas de V GS (trabajo en modo de
empobrecimiento), como positivas (trabajo en modo de enriquecimiento). La corriente ms
elevada se consigue con la tensin ms positiva de V GS y el corte se consigue con tensin
negativa de VGS(apag).
De esta familia de curvas se puede obtener la curva de transconductancia, que nos indica la
relacin que existe entre VGS e ID. sta posee la forma que se muestra en la siguiente curva abajo
a la derecha:
Obsrvese cmo esta curva aparece dibujada en los dos cuadrantes del eje de tensiones. Esto es
debido a que el MOSFET puede operar tanto con tensiones positivas como negativas. Por esta
razn, la corriente IDSS, correspondiente a la enterseccin de la curva con el eje I D, ya no es la de
saturacin.
Como ocurra con el JFET, esta curva de trasconductancia es parablica y la ecuacin que la
define es tambin:
Tipo de enriquecimiento
Este tipo de MOSFET est diseado de tal manera que slo adminte la forma de trabajo en
modo de enriquecimiento. La aplicacin fundamental de este transistor se realiza en circuitos
digitales, microprocesadores, etc.
En las siguientes figura (a), se muestran un ejemplo de las curvas de drenador y en la (b) las de
transconductancia de este tipo de MOSFET.
Como se podr observar en las curvas caractersticas, este transistor slo conduce cuando son
aplicadas tensiones positivas al drenador, por lo que normalmente estar en no conduccin o
apagado.
El smbolo que representa al MOSFET de enriquecimiento son los que se indican en las
siguientes figuras, siendo el (a) de enriquecimiento y canal N y en el (b) MOSFET de
enriquecimiento y canal P.
Observa cmo la lnea del canal en estos transistores se representa como una lnea punteada.
Proteccin de los MOSFET
Tanto los MOSFET de empobrecimiento como los de enriquecimiento, poseen una capa
extremadamente delgada de aislante que separa la puerta del canal. Esta capa se destruye con
suma facilidad si se aplica una tensin V GS por encima de la mxima soportable. Por esta razn,
nunca debe operarse con una tensin superior a la V GS(max)prescrita en las caractersticas del
MOSFET.
An as, dicha capa aislante es tan delicada que puede destruirse por otras causas, como pueden
ser las sobretensiones provocadas al insertar o retirar un MOSFET del circuito sin haber
desconectado la fuente de alimentacin. Tambin puede ocurrir, en ciertos casos, que al tocar
con las manos los terminales de un MOSFET se produzca una descarga electrosttica entre
ellos, que los destruya. Por esta razn los MOSFET se almacenan con un conductor que
cortocircuita sus terminales. Este conductor se retira una vez conectado el MOSFET a su
circuito.
Consideraciones sobre el MOSFET
En un transistor de unin de efecto campo, se aplica al canal un campo elctrico a travs de un
diodo p-n. Empleando un electrodo de puerta metlico separado del canal semiconductor por
una capa de xido, como se muestra en la figura, se obtiene el efecto de un campo bsicamente
distinto. La disposicin Metal-xido-Semiconductor (MOS) permite que un campo bsicamente
distinto afecte al canal si se aplica una tensin externa entre puerta y sustrato, y sto, tambin
posee un efecto negativo sobre el comportamiento del MOSFET.
porque los MOS no pueden trabajar a 5 V, puesto que quedara un margen de ruido muy
pequeo para su trabajo.
Se puede buscar entonces, reducir esa tensin umbral para la compatibilidad de las dos familias
de dispositivos, y se ataca este problema en la fase de fabricacin del dispositivo, teniendo en
cuenta que la tensin umbral se debe a:
El espesor del SiO2: A ms espesor, menos campo aplicado.
A los espacios de registro de la puerta. El contacto de puerta, en su fabricacin, no
cubre el 100% de la capa, por lo que baja su efectividad.
Para reducir la tensin umbral del dispositivo, hemos de atacar estos dos conceptos, en la fase
de fabricacin de estos dispositivos, por ejemplo, mediante fabricacin con la tcnica SATO.
Adems, los dispositivos MOS, presentan otro problema: las capacidades asociadas al contacto
de puerta y los contactos de drenador y surtidor por el hecho de estar solapados. Esta capacidad,
introduce cortes o polos a altas frecuencias. Si disminuimos las capacidades, el transistor, podr
trabajar a ms altas frecuencias, sobre todo dirigido para aplicaciones digitales y
computacionales
un circuito sobre un rango de valores. Esto es, Multisim simula el circuito varias veces
barriendo valores CD dentro de un rango predeterminado.
Para conocer ms a detalle el Anlisis de Barrido de CD en Multisim lo utilizaremos como una
herramienta para graficar el comportamiento de un diodo Zener:
El circuito anterior es un simple regulador Zener donde el diodo mantiene una salida constante a
pesar de que la corriente a travs de el cambie. En este caso, el diodo 1N4462 tiene un voltaje
Zener (Vz) de 7.5V y una tolerancia del 5%. Los valores de entrada de voltaje mnimo y
mximos que pueden ser regulados por este diodo son 7.41 V y 26.41 V, respectivamente.
Comprobaremos lo anterior utilizando el Anlisis de Barrido de CD en Multisim en un rango de
0 V a 40 V.
En Multisim seleccionemos Simular>>Anlisis>>Barrido de CD y configuremos los
parmetros de anlisis como se indica:
Lo anterior indica que vamos a variar V1 (la fuente independiente) desde 0 V hasta 40 V con
incrementos de 1 V. El botn Cambiar Filtro puede desplegar variables ms avanzadas (por
ejemplo: nodos dentro de un modelo BJT). Tambin existe la opcin de agregar una segunda
fuente independiente, esto es til para realizar un barrido anidado.
Ahora vamos a la pestaa Salida y agreguemos V(2), el voltaje en el nodo 2, como la variable
seleccionada para anlisis:
De la figura anterior podemos observar que la salida es estable alrededor de 7.5 V, lo cual es el
voltaje Zener nominal del 1N4462. Tambin podemos ver que el rango de de trabajo del diodo
Zener concuerda con lo establecido anteriormente.
En la siguiente entrada utilizaremos nuevamente el Anlisis de Barrido de CD en Multisim para
trazar las curvas caractersticas de un MOSFET.