SFRA Teorico Practico Megger FRAX
SFRA Teorico Practico Megger FRAX
SFRA Teorico Practico Megger FRAX
1
SFRA Historia
1960: Low Voltage Impulse Method. (mtodo de impulso de
bajo voltaje) propuesto por W. Lech & L. Tyminski en Polonia
para detectar deformaciones de bobinas.
1966: Publicacin de resultados; Detecting Transformer
Winding Damage - The Low Voltage Impulse Method, Lech &
Tyminsk, The Electric Review, ERA, UK
1978: Transformer Diagnostic Testing by Frequency
Response Analysis, E.P. Dick & C.C. Erven, Ontario Hydro,
IEEE Transactions of Power Delivery.
1978: La prueba FRA se desarrolla en Ontario Hydro, Canad
2
SFRA Historia (2)
1988 - 1990s : Se realizan pruebas en diferentes compaas
en Europa y la tecnologa se dispersa a nivel mundial a travs
de CIGRE y muchas otras conferencias y reuniones tcnicas
2004: Se publica el primer estndar de SFRA Frequency
Response Analysis on Winding Deformation of Power
Transformers, DL/T 911-2004, The Electric Power Industry
Standard of Peoples Republic of China
2008: Se publica CIGRE reporte 342, Mechanical-Condition
Assessment of Transformer Windings Using Frequency
Response Analysis (FRA)
2011: IEEE contina con la revisin del documento
PC7.149.D8 previa a su aprobacin final como gua de
pruebas FRA.
3
Mecnica del Transformador
Un transformador esta diseado para soportar ciertas cargas
mecnicas.
Los limites de diseo pueden ser excedidos debido a:
Fuerte impacto mecnico
Transporte
Movimientos ssmicos
Fuertes impactos elctricos
Fallas en el sistema
Fallas en los conmutadores
Falla de sincronizacin
La resistencia mecnica del transformador se debilita con el
paso del tiempo
Aminora la capacidad de soportar estrs mecnico
Incrementa el riesgo de fallas por problemas mecnicos
Incrementa el riesgo de problemas de aislamiento
4
Por qu se analiza la condicin mecnica?
5
Deteccin de Fallas con SFRA
Fallas en devanados
Deformacin
Desplazamiento
Corto circuito
Fallas de ncleo
Movimiento
Puesta a tierra
Fallas/ cambios mecnicos
Estructuras de fijacin
Conexiones
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Fundamentos de la Prueba SFRA
Prueba con el equipo fuera de
servicio
El transformador se analiza como
como un circuito de filtro RLC
complejo
La respuesta del circuito de filtro se
mide en un gran numero de
frecuencias sobre un extenso rango
de frecuencias y se lo grafica como
una curva de magnitud de respuesta
Los cambios en el circuito de filtro
pueden detectarse y mediante
comparacin en el tiempo
Este mtodo es nico por su
capacidad para detectar una
variedad de fallas en los devanados
o en el ncleo en una sola prueba
7
SFRA Base Terica
Core
Insulation Insulation
H1 Conductor Conductor X1
bushing bushing
Insulation Insulation
Insulation
HV LV
coil coil
Insulation Insulation
Conductor Conductor
H2 X2
bushing Insulation Insulation bushing
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Qu se esta midiendo?
Cambios en
Cambios
= la Magnitud
Elctricos
de la
Respuesta
Capacitancia Interdevanados
Transformer Tank
Capacitancia entre Devanados y
Ncleo
Capacitancia entre Devanados y
la cuba
Inductancia de la Bobina
Resistencia de la Bobina
Insulation
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Condicin Normal del Circuito
Core
Configuracin
Mecnica
Normal
HV
coil
LV
coil
Vmedido
Magnitud =
Insulation
Vaplicado
10
Desviacin Mecnica en el Circuito
Core
HV
coil
LV
coil
Variacin
Elctrica
Vmedido
Magnitud =
Insulation
Vaplicado
11
Seal aplicada = 10 V
Conexiones Seal Medida =
V de respuesta
Cables co-axiales
apantallados
Datos
Tierra
Transformador
Bobina
12
SFRA De dnde proviene la Grafica ?
APLICA 10 Volts a una frecuencia a un terminal de la bobina
MIDE la respuesta de Voltaje al otro extremo de la bobina
MAGNITUD de RESPUESTA a una frecuencia es la relacin entre Vmedido /
V aplicado
REPITA a 1000s de frecuencias en el rango (0.1 Hz -25 MHz), con 10 V
GRAFICO, x=Frecuencia vs. y=Magnitud de la Respuesta
Represente de manera logartmica, 20 log (medido / aplicado)
M easured V M easured V
20 Hz 50,000 Hz
10 Vaplicado V medido
Response = 10 V
M easured V
Response = 10 V
M easured V
70 Hz 100,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
Magnitud (V/V)
M easured V M easured V
100 Hz 200,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
500 Hz 500,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
1000 Hz 800,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
2000 Hz 1,000,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
5000 Hz 1,500,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
Vmedido 10,000 Hz
Response = 10 V
2,000,000 Hz
Response = 10 V
Magnitud =
20 Hz 1000 Hz 10,000 Hz 100,000 kHz 1,000,000 Hz 2,000,000 Hz
Vaplicado Frecuencia (Hz)
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SFRA Caracterstica de la Grfica
Magnitud de la Respuesta de Barrido de Frecuencia
Modelo elctrico del transformador = circuito RLC
Cada frecuencia tiene una impedancia efectiva
Dominio
Inductivo
Dominio
Capacitivo
10 Vaplicado V medido 20 Hz Response
Resonancias
14
Rangos de frecuencia para medicin SFRA
CIGRE 342
Comparacin de mediciones
anteriores y/o mtodos/practicas que < 50 Hz 500 kHz
no se cien at estndar de CIGRE
15
Rangos de frecuencia para medicin SFRA
Ejemplos
ABB 10 Hz 2 MHz
16
SFRA Resultados Regiones de Frecuencia
Problemas en el transformador
pueden detectarse en diferentes
rangos de frecuencia
Bajas frecuencias
Problemas en el ncleo
Devanados abiertos/corto
circuito
Winding
Malas conexiones/incremento and tap
resistencia leads
Cambios en la impedancia de
Corto-circuito Winding
interaction and
Media frecuencia
deformation
Deformaciones en los
devanados Core + windings
Desplazamiento de devanados
Altas frecuencias
Movimiento de los devanados y
conexionado del conmutador
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Regiones de Frecuencia segn IEEE
10
0
Winding
-10
Core structure
-20 influence influence
Magnitude, dB
-30
-40
-50
-60 Earthing
Interaction leads
-70 A phase between influence
B phase windings
-80
C phase
-90
1 2 3 4 5 6 7
10 10 10 10 10 10 10
Frequency, Hz
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Comparativo de diferentes tcnicas de
diagnostico (CIGRE 342)
Diagnostic technique Advantages Disadvantages
Magnetizing (exciting) current Requires relatively simple equipment. Not sensitive to winding deformation.
Can detect core damage Measurement strongly affected by core
residual magnetism
Impedance (leakage reactance) Traditional method currently specified in Very small changes can be significant.
short-circuits test standards. Reference Limited sensitivity for some failure modes
(nameplate) values are available (best for radial deformation)
Frequency Response of Stray Losses Can be more sensitive than impedance Not a standard use in the industry
(FRSL) measurement.
Almost unique to detect short circuits
between parallel strands
Winding capacitance Can be more sensitive than impedance Limited sensitivity for some failure modes
measurements. (best for radial deformation).
Standard equipment available Relevant capacitance may not be
measurable (e.g. Between
series/common/tap windings for auto
transformers)
Low Voltage Impulse (LVI) (time domain) Recognized as very sensitive Specialist equipment required.
Difficult to achieve repeatability.
Difficult to interpret
Frequency Response Analysis Better repeatability than LVI with the Standardization of techniques required.
same sensitivity. Guide to interpretation required
Easier to interpret than LVI (frequency
instead of time domain). Increasing
number of users
19
Pruebas Comparativas
Transformador A Basado en Diseo
Basado en
Tiempo
Transformador A Transformador B
Basado en el Tipo
Constructivo
20
Comparaciones
21
Comparacin de Transformadores Similares
(mismo fabricante)
La comparacin entre unidades idnticas de produccin
en serie puede ser sencilla ya que todas las bobinas se
fabrican de la misma manera
22
Comparacin de Transformadores Similares
(diferente fabricante)
Transformadores con similar especificacin pero
diferentes fabricantes difiere por tipo de materiales
y diseo. 2 X 115/34.5 7.5MVA
23
Comparacin de Transformadores Rebobinados
La comparacin es tpicamente complicada puesto
que cada bobina puede tener su caracterstica nica
de construccin.
24
Filosofa de las Mediciones SFRA
Entra en Servicio
25
SFRA Ejemplo de Comparacin
Transformador trifsico 2 devanados mismo transformador, misma fase
26
Cundo se realizan las mediciones SFRA?
Pruebas de Fabrica
Control de Calidad en el proceso de manufactura
Verificacin de la unidad despus de la prueba de
corto-circuito
Antes del envo
Instalacin/puesta en servicio
Reubicacin
Luego de una falla pasante en el sistema
Parte de las pruebas de diagnostico de rutina
Eventos catastrficos
Movimientos ssmicos
Huracanes / Tornados
En pruebas por alarmas de la unidad
Buchholz
DGA
Alta Temperatura
Antes-despus de mantenimiento correctivo
27
Deteccin de Fallas en el
Transformador
28
Deteccin de Desplazamiento de Bobinas
29
Importancia de cada Prueba
Type of Test Transformer Characteristic @ 60 Hz
1.) OPEN Circuit Self Admittance
VR
Looks at W inding AND
OPEN Core characteristics Similar to Excitation Test
VM
30
Configuraciones de Medicin SFRA
31
SFRA configuracin
32
Circuito de Medicin
33
Tipos de Pruebas- Admitancia de circuito
abierto (CA)
Se realiza entre los extremos o
terminales de un mismo
devanado, con todos los
dems terminales flotantes.
La impedancia de
magnetizacin del
transformador es el principal
parmetro que caracteriza la
respuesta de baja frecuencia
(bajo la primera resonancia) en
esta configuracin
Comnmente se la usa por su
simplicidad y la facilidad de
analizar cada devanado por Configuracin de la Prueba SFRA en circuito abierto
separado
34
Admitancia de Circuito Abierto- Ejemplo
Bajas Frecuencias
Puede variar entre mediciones por efecto de magnetizacin
Respuesta tpica de doble-hundimiento en fases simtricas
Fase B normalmente aparece por debajo de las fases A y C (Y)
35
Tipos de Pruebas- Admitancia de
cortocircuito (CC)
Se realiza entre los extremos o terminales de un mismo devanado, mientras el
devanado de bajo voltaje es cortocircuitado.
La influencia del ncleo desaparece por debajo de aproximadamente 10-20 kHz
porque la respuesta de baja frecuencia se caracteriza por la impedancia de
cortocircuito / reactancia de fuga en lugar de la inductancia de magnetizacin
La respuesta en altas frecuencias es similar a la prueba de admitancia en circuito
abierto.
36
Admitancia de cortocircuito (CC) - Ejemplo
Bajas Frecuencias
Todas las fases deben ser muy similares. Variaciones > 0.25 dB sugieren
problemas de reactancia de fuga/resistencia de devanados/ conexionado/
conmutadores
37
Tipos de Pruebas Capacitivo interdevanados
(ID)
39
Tipo de Pruebas Admitancia transferida (VT):
Se realiza desde una fase de uno de los devanados a la misma fase de
otro devanado, con sus respectivos extremos aterrizados. Los dems
terminales que no estn bajo prueba deben permanecer flotantes.
El rango de baja frecuencia se define por la relacin de transformacin
de los devanados
40
Admitancia Transferida (VT)
41
Comparacin de resultados de Prueba
Ncleo Aterrizado
42
Ejemplo de Repetitividad
105 MVA, Transformador monofsico Elevador
(GSU)
Mediciones SFRA con FRAX 101 antes y despus
de un severo corto-circuito en el generador
Dos unidades de prueba diferentes
Dos tcnicos distintos
Prueba realizada en fechas distintas
43
Antes (2007-05-23) y post-falla (2007-08-29)
Bobina BT
Bobina AT
44
105 MVA, Monofasico GSU
Las mediciones antes y despus del evento
resultaron virtualmente idnticas
Excelente correlacin entre la referencia y la
medicin post-falla.
Conclusin:
No existe indicativos de danos mecnicos internos en el
transformador
El transformador puede ser puesto en servicio
45
Factores que Influyen la calidad de la
medicin
46
Mala conexin
Mala conexin se refleja en la distorsin a mayores frecuencias
47
Terminales de conexin
48
La Conexin de Puesta a tierra asegura la
repetitividad de la prueba en altas frecuencias
49
Influencia del tipo de Puesta a Tierra
50
Calidad del Equipo de Pruebas
Los transformadores tienen alta impedancia en su
primera resonancia
El ruido interno del equipo es principalmente el
limitante mas critico, no el ruido de la subestacin
Verifique el piso de ruido de su instrumento
realizando una prueba de puntas abiertas
51
Nivel de Ruido Interno Piso de ruido
52
Ejemplo de problema de ruido interno
53
Por que se require por lo menos -100 dB..?
54
Influencia del ncleo
55
Prueba de resistencia de devanados
H1-H2 [open]
Luego de prueba de resistencia de devanados
Luego de la
desmagnetizacin
56
SFRA Efecto del cambiador de tomas
57
Efecto del Voltaje Aplicado
H1-H0 [open]
0.1 V peak-to-peak
58
Voltaje de Medici on variable
59
Calidad de la Medicin y Repetitividad
60
SFRA Anlisis
61
Herramientas de anlisis para SFRA
62
Respuest Tipica de un Transformador en buen estado
HV [cortocircuito]
identico entre fases
LV [abierto] segun
lo esperado para
un trans-r Y
Minima desviacion entre
fases en todas las
pruebas no hay
defectos de devanados
HV [abierto] segun lo
esperado para un
trans-r Y Doble
endidura
63
Transformador con serios Problemas
64
Transformador con espiras del devanado
en corto
Es la falla mas sencilla de reconocer con SFRA
Tpicamente se produce por una falla de corriente pasante
Las espiras adyacentes pierden papel y se fusionan
resultando en una vuelta solida alrededor del ncleo
SFRA provee un diagnostico claro de la espira en corto
La respuesta de SFRA por cortos de espiras no requiere
de referencia pues su variacin en las bajas frecuencias
es evidente
65
Espira en Corto Circuito
Rango de Corto Circuito entre espiras
Frecuencia Considerando que no existan otras fallas:
20 Hz 10 kHz Prueba de Circuito Abierto:
La falla de corto circuito remueve el efecto de la reluctancia del ncleo de la
prueba de circuito abierto. La respuesta de FRA en circuito abierto toma un
comportamiento similar al de la prueba de corto circuito. La bobina afectada
muestra la mayor variacin. Este tipo de falla afecta tambin aunque de menor
manera las respuestas de otras bobinas.
Prueba de Corto Circuito:
Los resultados no son comparables con datos anteriores o entre fases. La
bobina afectada esta generalmente fuera del trazado.
5 kHz 100 kHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
En este rango se produce un desplazamiento o nuevos puntos de resonancia.
66
Transformador con espiras en Corto
10 100 1000 10000 100000 1000000
0
-10
-20
Response (dBs)
-30
-40
-50
-60
-70
-80
Fre que ncy (Hz)
HV [open]; fase-B (rojo) debe tener una menor respuesta en comparacion con las
fases A y C pero presenta mayor magnitud / menor impedancia
67
Corto circuito entre Espiras
68
Deformacin Radial de la Bobina
Rango de Deformacin Radial de la Bobina
Frecuencia Considerando que no existen otras fallas:
20 Hz 10 kHz Prueba de Circuito Abierto:
Esta regin (ncleo) generalmente no se ve afectada por deformacin radial.
Prueba de Corto Circuito:
Resulta en un incremento de impedancia. El trazado de FRA por la fase afectada
generalmente muestra una ligera atenuacin en la zona inductiva.
5 kHz 100 kHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
El rango que representa las bobinas puede desplazarse o se pueden producir
otros nuevas resonancias dependiendo de la severidad del problema. De todas
formas, esta variacin es difcil de identificar. Los cambios son mayores en la
bobina afectada, pero es posible observar cambios en la bobina opuesta. Esta
respuesta debe usarse como evidencia secundaria para corroborar el anlisis.
50 kHz 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
La deformacin radial de la bobina es mas evidente en este rango. Puede
desplazarse o producir nuevas resonancias dependiendo de la severidad de la
deformacin. Los cambios son mayores en la bobina afectada, pero es posible
observar cambios en la bobina opuesta.
> 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Este rango generalmente no se ve afectado, aunque una deformacin muy severa
puede reflejarse en este rango.
69
Deformacin Radial de la Bobina...
Cambios de Resonancia en
las frecuencias medias y
altas en la prueba de
Circuito Abierto
70
Deformacin Axial de la Bobina
71
Defromacion Axial de la Bobina...
Cambios de Resonancia en
las frecuencias medias y altas
en la prueba de Circuito
Abierto
72
Defectos del Ncleo
73
Defectos del Ncleo
Rango de Defecto del Ncleo
Frecuencia Considerando que no existan otras fallas:
20 Hz 10 kHz Prueba de Circuito Abierto:
Este tipo de fallas afectan la regin de baja frecuencia, generalmente <10
kHz. Los defectos del ncleo a menudo cambian la forma de la resonancia
primaria del ncleo. Defectos del ncleo pueden esconderse tras el efecto de
magnetizacin residual.
Prueba de Corto Circuito:
Esta regin normalmente no se ve afectada por defectos del ncleo. Todas
las fases deben ser similares.
5 kHz 100 kHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Este rango puede desplazarse o producir nuevas resonancias.
50 kHz 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Generalmente este rango se mantiene sin cambios. Pero si la falla se debe a
un problema de aterrizaje del ncleo, cambios de la capacitancia CL puede
causar desplazamiento de las resonancias en la porcin superior de este
rango.
> 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Si la falla se debe a un problema de aterrizaje del ncleo, cambios de la
capacitancia CL puede causar desplazamiento de las resonancias.
74
Defectos del Ncleo - Ejemplo
75
Defectos del Ncleo...
Variaciones importantes
en el circuito magntico
en la primera resonancia
en la prueba de circuito
abierto
76
FRAX
Unidad de Medicin SFRA
77
FRAX 101 Frequency Response Analyzer
78
FRAX 101 Frecuencia Response Analizar
Alimentacin
11-16VDC,
Batera incorporada
(FRAX 101)
Carcasa de aluminio
protegida
79
SFRA configuracin
Generador y
Referencia
Medicin
80
Bsqueda en la base de Datos
Archivos de datos guardados en formato XML
La funcin de indexacin guarda la informacin relevante en una pequea
base de datos
La funcin de bsqueda despliega y administra los archivos en diferentes
ubicaciones
81
Formatos de Importacin
82
Anlisis de Correlacin
83
SFRA Ejemplos de Aplicacin
84
Ejemplo Comparacin basada en
Tiempo
85
Ejemplo Comparacin basada en Tiempo
86
Ejemplo Comparacin basada en Tiempo (reparado)
88
Comparacin de Unidades Gemelas
- Ejemplo
89
Comparacin de Unidades Gemelas 3x HV [open]
90
Comparacin de Unidades Gemelas 3x HV [short]
91
Comparacin de Unidades Gemelas 3x LV [open]
92
Comparacin en Base a Diseo
93
Comparacin en Base a Diseo- Ejemplo
94
Comparacin en Base a Diseo HV [open]
95
Comparacin en Base a Diseo HV [short]
96
Comparacin en Base a Diseo LV [open]
97
Comparacin en Base a Diseo
Luego de una posible Falla
98
Comparacin en Base a Diseo
Luego de una posible Falla
10 100 1000 10000 100000 1000000
0
-10
-20
Response (dBs)
-30
-40
-50
-60
-70
-80
Fre que ncy (Hz)
AT-0, BT abierto
Fases A y C OK, desviacin pronunciada en la fase B
(espira en corto?)
99
Comparacin en Base a Diseo
Luego de una posible Falla
10 100 1000 10000 100000 1000000
0
-10
-20
Response (dBs)
-30
-40
-50
-60
Fre que ncy (Hz)
100
Y como se vea la columna intermedia?
Casquillo de aislamiento
Bobina BT
101
Anlisis de la Respuesta de Barrido de
Frecuencia
Referencias Tcnicas
102
SFRA Guas y Recomendaciones
103
Por que se requiere al menos -100 dB...
104
Comparacin del rango de medicin
-100 dB medicin
(CIGRE estndar)
Negro FRAX-101
Rojo Otra marca SFRA
105
Verificacin del Equipo
Calibracin
FRAX: Mnimo cada 3 aos
106
Prueba de Integridad del Sistema
107
Conclusiones
108
109