Difracción de Rayos X

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DIFRACCIÓN DE RAYOS X (XRD)

La difracción de rayos X (XRD) permite la rápida identificación de materiales particulados,


arcillas y otros minerales. Proporciona información detallada acerca de la estructura
cristalográfica de sus muestras, que puede utilizarse para identificar las fases presentes.
XRD es especialmente útil para la identificación de fases de grano fino que son difíciles de
identificar por otros métodos como la microscopia óptica, el microscopio electrónico de
barrido/espectrómetro por dispersión de energía (SEM/EDS) o la evaluación cuantitativa
de materiales por microscopia electrónica de barrido (QEMSCAN™).

El análisis XRD puede determinar las fases de minerales específicos presentes en


una muestra. SGS provee análisis especializados de especiación para determinar:

 mineralogía de la arcilla
 sílice libre frente a sílice respirable

Sistemas como la XRD son meras herramientas;– la mineralogía de alta definición


es el producto. SGS es líder en mineralogía de alta definición para la industria
minera mundial y otros sectores de mercado que necesitan caracterizaciones
detalladas de materiales, productos o residuos. Los expertos en mineralogía de
SGS aseguran un producto de calidad y ofrecen un importante valor interpretativo
desde la exploración de base hasta la asistencia en la producción.

La difracción de rayos-X es una técnica que permite determinar de forma cualitativa los
minerales presentes en las rocas.

La difracción de rayos-x es un método de alta tecnología no destructivo para el


análisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales,
polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de
capa fina, cerámicas y semiconductores. La aplicación fundamental de la
Difracción de Rayos X es la identificación cualitativa de la composición
mineralógica de una muestra cristalina

Otras aplicaciones son el análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la


determinación de tamaños de cristales, la determinación del coeficiente de
dilatación térmica, así como cálculos sobre la simetría del cristal y en especial la
asignación de distancias a determinadas familias de planos y la obtención de los
parámetros de la red.

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