Difracción de Rayos X

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Difracción de Rayos X

Difracción de Rayos X (XRD)


La difracción de rayos X (XRD) de TGT Gamas es una técnica espectroscópica para el análisis

de materiales cristalinos que permite su identificación en relación a una respuesta entre la

interacción con los rayos X, las propiedades cristalinas y la composición química del material, en

este caso de los minerales.

El alcance del servicio de XRD se basa en movilizar las muestras que se requieran analizar desde

la locación del pozo hasta el laboratorio de TGT Gamas en la ciudad de Tocancipá –

Cundinamarca, donde se procesarán las muestras y posteriormente se realizarán logs y análisis de

los datos para construir un informe final.


TGT Gamas ofrece el servicio de Difracción de Rayos X en tres tipos de
análisis:
Análisis mineralógico por Difracción de Rayos X (XRD), identificación
y cuantificación. - rutina en polvo
El procedimiento de laboratorio consiste en la toma de una muestra la cual es pulverizada

mediante un mortero de ágata con el fin de evitar impurezas de otros materiales, esta fracción es

tamizada y se toman alrededor de 2gr de la fracción < a 70 μm. Esta fracción en polvo es adquirida

en un rango de barrido entre 2,5 y 70 °2θ con la ayuda del equipo Rigaku Miniflex 6G. Este rango

de barrido permite la identificación de la gran mayoría de los planos cristalinos presentes en casi

todos los minerales conocidos.

Análisis mineralógico por difracción de rayos X (DRX) – Polvo y


Rutina de láminas orientadas para minerales arcillosos (Natural -
Etilenglicol - 500º). Identificación y Cuantificación:
Se realiza el procedimiento de análisis mineralógico por Difracción de Rayos X (DRX),

identificación y cuantificación. - rutina en polvo y se combina con la rutina de láminas orientadas

la cual es una técnica dirigida a la orientación preferencial de filosilicatos y a la selección de las

fracciones arcillosas < 2 μm

El tratamiento de láminas orientadas permite la fácil identificación de minerales arcillosos debido

a los distintos comportamientos frente a los procedimientos sometidos.

Análisis de minerales arcillosos por DRX en preparación de láminas


orientadas (Natural - Etilen glicol - 500º). Determinación de
condiciones diagenéticas a partir de minerales arcillosos. (Indice de
Kübler y Riechweita):
Adicional a los procedimientos anteriores se realiza la medición de cristalinidad en minerales

arcillosos. A través de las medidas de cristalinidad, es posible la obtención de parámetros

diagenéticos como el Índice de Kübler (IK) o la relación Illita/Esmectita (I/Sm), ambas medidas
se encuentran ligadas directamente con la profundidad del sedimento y se consideran buenos

indicadores de temperatura.

La medida de Cristalinidad de las Caolinitas (ICC) permite establecer correlaciones con los

ambientes de depósito y la proveniencia de los sedimentos.

Beneficios del servicio de Difracción de Rayos X (XRD) de TGT Gamas:

• Poca cantidad de muestra (10 gr).

• Identificación precisa de minerales arcillosos.

• Determinación de estado diagenético por índice de Kübler en illitas y relación

illita/esmectita (maduración termal).

• Cristalinidad de caolinitas y su relación con los medios de depósito y la proveniencia de

los sedimentos.

• Posibilidad de identificar eventos episódicos guía como volcanismo.

• Correlación con otras técnicas como TOC, Ro, Coloración de conodontos, etc

Caracterización y Análisis de arcillas por Difracción de Rayos X


Como consecuencia de la estructura de los minerales de la arcilla la difracción de rayos
X es dependiente de los planos basales, ya que las intensidades de los máximos
difractados por dichos planos son las más altas.

Para un mismo mineral de la arcilla, las distancias entre las capas cristalinas basales y la
intensidad de la difracción dependerá además del catión de cambio que las satura y de
la naturaleza y cantidad del líquido absorbido entre esas capas.

Dependiendo de la naturaleza de los cationes interlaminares, estos se coordinan con


cierto número específico de moléculas de agua, que constituyen el agua de hidratación,
y por ello se requiere que la arcilla se encuentre saturada con sólo una especie de
cationes (homoiónica). Ello asegura que la expansión, como función del sorbato, sea
uniforme para los cristales de una misma especie.

El catión de saturación debe minimizar las fluctuaciones del agua contenida en el


espacio interlaminar producidas por variación de la humedad relativa, ya que
generalmente se analizan muestras secas al aire. A menudo se utilizan como cationes de
saturación los elementos alcalinotérreos Ca2+ y Mg2+, que posibilitan la adsorción más o
menos uniforme del agua en el espacio

Análisis mineralógico por Difracción de rayos X con énfasis de arcillas


En el análisis mineralógico de minerales arcillosos por difracción de rayos
X (ADRX), se determina la mineralogía global, que incluye la especificación
de los minerales de arcillas, presentes en la muestra.

El proceso de análisis comprende las siguientes evaluaciones:

• Muestra sobre polvo aleatorio.


• Muestra bajo el proceso de separación granulométrica y
preparación de muestra orientada.
• Muestra orientada bajo el tratamiento con exposición a vapores
orgánicos.
• Muestra orientada bajo el proceso de tratamientos térmicos.
• Mediante este método se realiza la cuantificación de todos los
minerales, y de las arcillas.

Análisis morfológicos y químicos mediante Microscopía Electrónica de Barrido


(SEM)

Gracias a la obtención de imágenes a grandes magnificaciones (~100.000 veces


aproximadamente), es posible realizar análisis morfológicos y químicos con gran
resolución espacial. Para esto, el equipo posee un detector de electrones
secundarios (SE), un detector de electrones retrodispersados (BSE, “Back-Scattered
Electrons”), un detector EDS o EDX (”Energy-dispersive X-ray”) para el análisis
químico de elementos mayores (> 1% en concentración) y un detector de cátodo-
luminiscencia (CL) que permite ver zonaciones en color para los minerales que
presenten esta propiedad.

Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)

Desde el año 2012 el Departamento de Laboratorios del Servicio Nacional de


Geología y Minería cuenta en sus dependencias con un microscopio electrónico de
barrido Marca Zeiss modelo EVO-MA10. Este equipo se encuentra dotado de
detectores capaces de realizar diversos análisis enfocados en el estudio
morfológico a escala micrométrica, microanálisis químico EDS como también
análisis topográfico de Cátodo-luminiscencia en minerales.

Gracias a la versatilidad de análisis que capaz de realizar, sus servicios son


requeridos por diversas áreas del Servicio y empresas privadas. Para nuestro
servicio podemos mencionar el apoyo analítico que realiza a la Red Nacional de
Vigilancia Volcánica en el estudio de cenizas y rocas con el fin de monitorear los
volcanes de nuestro territorio. La Unidad de Hidrogeología en el estudio de
sedimentos y el transporte de minerales por medio de las cuencas hídricas. El Plan
Nacional de Geología (PNG) para la obtención de imágenes CL con el propósito de
realizar dataciones radiométricas U-Pb en circones con el fin de generar de los
mapas geológicos del territorio nacional, entre otros. Por otro lado, sus servicios
también son requeridos por empresas mineras con el fin de analizar muestras
vinculadas a la prospección minera, o cualquier soporte a quien necesite del estudio
de muestras que involucre el análisis químico y morfológico en escalas
micrométricas.

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