Monografia
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FISICA 4
Profesor:
LUCAS ARNALDO ALVARADO PINEDO
Alumno:
Lima – Perú
2021– Il
TABLA DE CONTENIDO
Refracción
Concepto ………………………………………………………………………… (1)
Índice de refracción ………………………………………………………………………… (2)
Ley de Snell …………………………………………………………………………. (3)
Interferencia
Interferometria
Índice de refracción:
Es la relación entre la velocidad de propagación de la onda en un medio de referencia (por
ejemplo el vacío para las ondas electromagnéticas) y su velocidad en el medio del que se
trate (siguiendo con el ejemplo de las ondas electromagnéticas, el índice de
refracción n viene dado por n=c/v donde c es la velocidad de la luz en el vacío y v la
velocidad de la luz en el medio).
Por ejemplo, la velocidad de la luz en el vacío es de 300.000 km/s, mientras que en el aire
es ligeramente inferior (en torno a 299.900 km/s), y en el agua está por debajo de ambas:
cerca de 250.000 km/s. El índice de refracción (n) se calcula al relacionar la velocidad de la
luz en el vacío (c) con la velocidad de la luz en el medio (v). Pero, más allá de la teoría, te
invitamos a realizar este experimento en casa y descubrir por tu cuenta el ‘misterio’ de la
refracción de la luz.
Ley de Snell
La ley Snelliuss de refracción (también conocida como ley Snelliuss, ley Snell) establece
que una onda (por ejemplo, un rayo de luz) cambia su dirección -se dice que se refracta-
cuando pasa de un medio transparente a otro medio transparente con una velocidad de fase
diferente.La ley se aplica a todos los tipos de ondas. Sólo indica la dirección en la que se
desvía la onda, pero no la cantidad de onda transmitida o reflejada en la transición entre los
dos medios. En el caso de la reflexión total, la ley real de refracción es inválida. A
continuación, se deben realizar cálculos complejos. La cantidad de luz transmitida o reflejada
depende de las fórmulas fresnelianas.La ley de refracción parece haber sido mencionada
por primera vez por Ibn Sahl en el siglo X. En 1601 fue redescubierto por Thomas Harriot,
pero no publicado. En 1618 fue descrito por el holandés Willebrord van Roijen Snell y casi
al mismo tiempo por René Descartes.La Ley de Snell para los ángulos de incidencia, y caso
especial con índice refractivo «negativo».
Nota: Los ángulos de incidencia o refracción se dan en la unión de dos medios. Sin embargo,
como aquí no se dibuja la dirección de la luz. Una parte del haz de luz se refleja en la
superficie, el resto entra bajo cambio de dirección (rotura) y pasa allí bajo el ángulo 2 contra
la superficie. Este proceso se describe como la Ley de Snell.
Concepto:
En física, la interferencia es un fenómeno en el que dos o más ondas se superponen para
formar una onda resultante de mayor, menor o igual amplitud. El efecto de interferencia
puede ser observado en todos los tipos de onda, como ondas de luz, radio, sonido, entre
otros. La ecuación de la onda es la suma algebraica de las funciones de las ondas que se
están superponiendo.
Para este caso, nosotros consideraremos para el caso en que los vectores de campo
eléctrico E individuales son paralelos, este caso será válido para luz no polarizada, en cual
el campo puede ser representado por dos componentes ortogonales (fases al azar). En este
caso la teoría escalar puede ser aplicada a cada componente y en la contraparte paralela
de las ondas superpuestas.
Interferometria
Concepto:
La 'interferometría' es un método de medición que aplica el fenómeno de interferencia de las
ondas (generalmente, ondas de luz, radio o sonido). Las mediciones pueden incluir otras
determinadas características de las propias ondas y los materiales por los que se propagan.
Además, la interferometría se utiliza para describir las técnicas que utilizan ondas de la luz
para estudiar los cambios de desplazamiento. La interferometría de medición de
desplazamiento se utiliza ampliamente en la calibración y el control de movimiento en la fase
mecánica del mecanizado de precisión.
Mediante dos rayos de luz (normalmente, un rayo desdoblado en dos), se forma un patrón
de interferencia donde se superponen los dos rayos. Puesto que la longitud de onda del rayo
visible es muy corta, pueden detectarse pequeños cambios en las diferencias de las
trayectorias ópticas (distancia recorrida) entre los dos rayos (ya que las diferencias producen
cambios notables en el patrón de interferencia). Por consiguiente, la interferometría óptica
ha sido una técnica de medición muy valiosa desde hace más de cien años. Su precisión se
ha mejorado con la aparición del láser.
En 1887, Albert A. Michelson desarrolló el primer interferómetro y demostró el uso del
principio de la interferencia de la luz como herramienta de medición. Aunque la tecnología
(y la precisión de medición) ha avanzado mucho con el paso de los años, el principio básico
del interferómetro de Michelson aún subyace en el núcleo de la interferometría.
Interferometría aplicada
Para generar un patrón de interferencia con alta precisión (bordes distintos), es muy
importante disponer de una fuente de longitud de onda muy estable, y esto se consigue en
el láser XL-80 laser.Existen varias configuraciones diferentes basadas en el principio de
Michelson, no obstante, la configuración lineal es el tipo más fácil de explicar.
En el sistema láser XL-80, los dos espejos (utilizados en el interferómetro de Michelson) son
retrorreflectores (prismas que reflejan la luz incidente de vuelta en sentido paralelo a la
dirección de llegada). Uno de ellos se sujeta al desdoblador del haz para formar el brazo de
referencia. El otro retrorreflector forma el brazo de medición de longitud variable, ya que su
distancia varía respecto al desdoblador del haz.El haz láser (1) sale del cabezal láser XL-80
y se divide en dos rayos (que se reflejan [2] y transmiten [3]) en el desdoblador del haz
polarizador. Los haces se reflejan de vuelta desde los dos retrorreflectores y se vuelven a
combinar en el desdoblador del haz antes de llegar al detector. El uso de retrorreflectores
asegura que los rayos que vuelven desde los brazos de referencia y medición son paralelos
cuando se combinan en el desdoblador del haz. Los haces combinados llegan al detector,
donde interfieren entre ellos, de forma constructiva o destructiva. Durante la interferencia
constructiva, los dos haces están en fase y los picos de ambos se refuerzan entre sí y
producen una franja brillante, mientras que, durante la interferencia destructiva, los haces
están desfasados y los picos de uno son anulados por el paso del segundo, lo que genera
una franja oscura.
El procesamiento de señales óptico del detector, permite observar la interferencia de los dos
haces. El desplazamiento del brazo de medición, provoca el cambio en la fase relativa de
los dos haces. Este ciclo de interferencia destructiva y constructiva hace que la intensidad
de la luz de los haces combinados sufra una variación cíclica. Cada vez que se mueve el
brazo de medición/retrorreflector 316,5 nm, se genera un ciclo de variación de intensidad de
oscuro a iluminado, que equivale a la mitad de la longitud de onda del láser (ya que este
movimiento genera una trayectoria óptica de cambio de 633 nm, que es la longitud de onda
del láser). Por tanto, para calcular el movimiento, se mide el número de ciclos mediante la
siguiente fórmula:
Donde d es el desplazamiento (en micras), λ es la longitud de onda del láser (0,633 micras)
y N es el número de bordes pasados. La resolución más alta de 1 nm se alcanza mediante
la interpolación de fases entre estos ciclos.
Independientemente de la calidad de la unidad láser (es decir, su precisión y estabilidad) la
exactitud de las mediciones de posición lineal depende de la precisión con la que se detecta
la longitud de onda del haz. La longitud operativa del haz láser depende del índice de
refracción del aire que atraviesa, y esta se altera con la temperatura, la presión y la humedad
relativa del aire. Por tanto, es necesario alterar (compensar) la longitud de onda del haz para
incorporar los cambios en estos parámetros.
Compensación ambiental
Sin una compensación fiable y precisa de la
longitud de onda, serían frecuentes los errores de
lectura de medición lineal entre 20 y 30 ppm al
combinar las variaciones temperatura, humedad y
presión de los valores nominales (incluso si las
condiciones del ensayo permanecen estables). Es
posible reducir estos errores utilizando una unidad
de compensación ambiental (XC-80), que garantiza
la precisión de las mediciones en el sistema XL-80
en condiciones muy variadas. El siguiente gráfico,
a la derecha, muestra un ejemplo del error en un
sistema de interferometría sin compensar y el
origen de los errores.
El compensador XC-80 mide la temperatura, presión y humedad del aire y luego calcula el
índice de refracción de este (y, por ende, la longitud de onda del láser). Luego, la lectura del
láser se ajusta automáticamente para compensar cualquier variación que se produzca en la
longitud de onda del láser. La ventaja de un sistema automático es que no interviene el
usuario y que la compensación se actualiza frecuentemente.
Nota: Con el sistema láser de Renishaw NO se necesita compensación ambiental para
mediciones angulares o de rectilinealidad. Esto se debe a que las compensaciones se
calculan comparando las diferencias entre dos haces colocados a muy corta distancia,
donde los factores ambientales no causan desviaciones. Al igual que en los ejes rotatorios,
las mediciones de cuadratura y planitud se basan también en estas mediciones, que
tampoco requieren compensación ambiental.