Chapitre 4 : Diffraction des rayons X

• Introduction
• Généralités sur les Rayons X
• Principe
• Le spectre de Rayons X
• Les tubes de rayon X
• Interactions Rayons X / Matière
• Méthodes d'investigation utilisant les Rayons X
• La Radiocristallographie
• Historique
• Diffraction des rayons X : La loi de Bragg
• Analyse de l'intensité des taches de diffraction
 Chapitre 4 : Diffraction des rayons X

• Les Principales Méthodes Expérimentales

• La méthode de Laue
• La méthode du cristal tournant
• La méthode de Debbye-Sherrer ou méthode des poudres
• La méthode utilisant un diffractomètre à compteur
• Quelques Applications des Méthodes de Radiocristallographie
• Conclusion
 Introduction

Les rayons X sont utilisés pour déterminer:

 la structure des cristaux : arrangements atomiques et moléculaires des solides
pour analyser les différentes phases en présence dans un matériau,
 pour déterminer les textures des cristaux.
C’est une technique très importante dans la mise au point de nouveau matériaux
On exploite la propriété qu'ont les cristaux de diffracter le rayonnement X.
 Généralités sur les Rayons X

Le rayonnement X, tout comme la lumière visible ou le

rayonnement γ, est un rayonnement électromagnétique. De
longueur d'onde très courte comprise entre 0,1 et 50 A °, et
dotées d'une grande énergie.
Ces longueurs d'onde de l'ordre de l'Angström (10-10 m), sont
proches des distances interatomiques, ce qui permet le
passage du rayonnement à travers la matière, alors qu'un
rayonnement de plus grande longueur d'onde se trouve
réfléchi par la surface du matériau étudié.
 Théorie ondulatoire

• Vitesse de propagation de la lumière

o Dans le vide
c 2,99792458108 m.s  1
• c : célérité de propagation de la lumière dans le vide

o Dans un milieu d’indice de réfraction n :

•

c
v
n
Exemple : dans le verre de silice d’indice de réfraction n =1.5,
la vitesse de propagation est v =2.108 m/s
 Théorie ondulatoire

• Chaque onde lumineuse est caractérisée par :

 fréquence  (ou sa période T ) 1

T

c
 Sa longueur d’onde  , dans le vide telle que :  cT 


• Les grandeurs théoriques k
et  sont liées aux grandeurs pratiques  et  :

2 2
.   et  2 
k T
 Aspect corpusculaire de la lumière
Modèle du photon (Einstein, 1905)

• Une onde électromagnétique monochromatique est constituée de particules : les photons.

• Chaque photon transporte un seul quantum d’énergie hn. On dit que l’énergie transportée par
les ondes électromagnétique est quantifiée.
• Un électron qui absorbe un photon de fréquence n voit son énergie augmenter de hn
• Un électron qui émet un photon de fréquence n voit son énergie diminuer de hn.
 Photon

La longueur d’onde

 cT
le vecteur d’onde  2 
k u

la fréquence 1

T
la pulsation
 2
La quantité de mouvement d’un photon est

h
P k 
c
 Spectre électromagnétique

• Le spectre électromagnétique est la décomposition du rayonnement

électromagnétique selon ses différentes composantes en terme de fréquence,
d‘énergie des photons ou encore de longueur d’onde associée. Les trois grandeurs
ν (fréquence), E (énergie) et λ (longueur d'onde) étant liées deux à deux par la
constante de Planck h et la vitesse de la lumière c, selon les formules.

c
Photon  Energie E   h   h h c 

Spectre électromagnétique
 Spectre électromagnétique

a
 Principe de Rayon x

Les rayons X sont produits

par l'interaction d'électrons
avec une cible métallique.
Les électrons sont émis par
un filament chauffé par effet
Joule (électrons thermiques).
Ces électrons sont accélérés
par une différence de
Schéma de principe de la production des potentiel et dirigés vers une
rayons X Les Tubes de Rayons cible métallique (anode ou
anticathode ex :Molybdène).
 Principe de Rayon x

Le rendement de production des rayons X est faible, typiquement de

l'ordre de 0,2% ; le reste de l'énergie se dissipe sous forme de chaleur.
Il est donc nécessaire d'évacuer cette chaleur (nécessité d'un système de
refroidissement) et d'utiliser des matériaux de cible bons conducteurs
thermiques et de point de fusion élevé (métaux réfractaires : tungstène,
molybdène ou très bons conducteurs : cuivre).
 Tube de rayon X

Schéma d'un tube de rayons X

 Les raies caractéristiques

Longueurs d'onde des raies caractéristiques :

Si un électron est éjecté d'un niveau d'énergie W 1 et est remplacé par un électron d'un
niveau
d'énergie W2 < W1, le photon X émis aura une énergie
 Les raies caractéristiques

Les deux métaux couramment utilisés pour l'anode sont le cuivre, qui produit des rayons X de
longueur d'onde λ = 1,54 Å et le molybdène, λ = 0,709 Å. Comment choisir le matériau ? Pour
avoir une diffraction optimale, il faut utiliser un rayonnement de longueur d'onde du même
ordre de grandeur que la taille du réseau, ici l'espace interatomatique.

C'est pourquoi les sources à base de molybdène sont adaptées à la résolution de structure sur
monocristal de petites molécules. On utilise le cuivre dans le cas des macromolécules (comme
une protéine) et pour les analyses de poudres car il permet une meilleure séparation des taches
de diffraction.
 Interactions Rayons X / Matière

Les différents types d'interaction entre le faisceau de

rayons X et un matériau sont décrits sur la figure suivante.
• transmis sans changer de direction : on parle
de radiographie X que l'on utilise pour la
détection de porosités ou de fissures
•transmis en changeant de direction (selon
un angle 2θ) ou diffusés ; la diffusion
pouvant se faire :
sans perte d'énergie : on parle alors de
diffusion élastique, elle est à l'origine de la
Mécanismes d'interaction entre rayons X diffraction des rayons X par les cristaux,
et matériau avec perte d'énergie (une partie de l'énergie
est cédée à un électron) : on parle alors de
diffusion inélastique, elle est à l'origine de
l'effet Compton.
 Interactions Rayons X / Matière

• absorbés par les atomes : sous l'action du

rayonnement incident, un électron d'un atome de
l'échantillon peut être éjecté de la couche électronique
qu'il occupait, c'est l'effet photoélectrique, l'électron
éjecté étant appelé photo-électron. L'électron éjecté
peut être remplacé par un électron d'une couche
supérieure. Ce saut électronique s'accompagne d'un
rayonnement X appelé rayonnement de fluorescence,
il est utilisé pour l'analyse chimique des cristaux.
• enfin, notons que tous ces phénomènes
s'accompagnent d'un dégagement de chaleur.
Mécanismes d'interaction entre
rayons X et matériau
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

L'expérience de Friedrich et Knipping 1912

 Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

Figure 3. Réflexion des rayons X par une famille de plans réticulaires

espacés d'une distance d

N.B L'angle θ (angle de Bragg) détermine l'incidence d'un faisceau parallèle de

rayons X sur ces plans réticulaires. Notez que θ est le complémentaire de
l'angle d'incidence usuel en optique
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

La différence de chemin optique entre les deux rayons lumineux particuliers

représentés vaut δ= 2 dhkl sinθ.
Ils interfèrent de manière constructive lorsque la différence de marche est
égale à un nombre entier n de longueur d'onde. C'est la loi de Bragg :
 Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

• La condition de diffraction d’un plan (hkl) est donnée par la loi de Bragg:

2 dhkl sinq = n l

l longueur d’onde,
dhkl distance interarticulaire des plans (hkl)
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

• Conclusion
En résumé, pour une longueur d'onde λ et une famille de plans réticulaires (hkl)
telle que 2.dhkl ≤λ, il existe n orientations de cette famille de plans par rapport au
faisceau incident susceptibles de donner un faisceau diffracté. Les directions de
ces faisceaux diffractés par rapport aux plans (hkl) sont déterminées par l'angle θ
vérifiant la loi de Bragg.
 Technique de diffraction

2 dhkl sinq = n l
Règles d'extinction pour la diffraction des rayons X : listes des plans diffractant pour
les différents réseaux de Bravais de la structure cubique (marqué d'un X)
 Technique de diffraction

Les méthodes de diffraction utilisent soit le spectre continu (λ

variable), soit les raies monochromatiques ou (λ fixe). La
diffraction apparaît lorsque la loi de Bragg est vérifiée : il en
résulte deux types de méthodes présentées dans le tableau
suivant.

Méthodes expérimentales
Techniques de diffraction

Schéma d’un diffractomètre

de rayon x, où
T= source des rayons X.
E = échantillon,
C = détecteur,
et 0 = axe de rotation de
l’échantillon et de détecteur.
 Techniques de diffraction

méthode du cristal tournant

Cette méthode consiste à placer un échantillon monocristallin au centre
d'une chambre cylindrique de telle sorte qu'il puisse tourner autour d'un
axe donné. L'échantillon est bombardé par un faisceau de rayons X
monochromatique perpendiculaire à l'axe de rotation. La variation de
l'angle θ amène des plans cristallographiques différents en position de
diffraction.
On fait tourner le cristal jusqu'à ce qu'un faisceau diffracté
soit reçu par le film photographique cylindrique placé sur la
paroi de la chambre ou sur un compteur placé à l'extrémité
de la platine dans une direction faisant un angle 2θ
avec le faisceau transmis.
 Techniques de diffraction

La méthode de Debbye-Sherrer ou méthode des poudres

La chambre est la même que dans le cas du cristal tournant
mais l'échantillon est ici polycristallin. L'échantillon est réduit
en une fine poudre constituée de particules orientées
aléatoirement si bien qu'un élément de volume, même petit,
contient toujours un certain nombre de cristaux d'une
orientation arbitraire donnée afin d'augmenter encore le
nombre d'orientations offertes aux rayons X incidents
Spectre de diffraction de rayon X
Matériau amorphe
Spectre de diffraction de rayon X
 Techniques de diffraction

La diffraction des rayons X permet l’identification de la

structure cristallin
Les positions angulaires des pics de diffractions permets de
mesurer la distance interréticulaire d'une famille de plans
donnée ainsi que la géométrie et la taille de la maille
élémentaire.
L’arrangement des atomes au sein de la maille élémentaire
est associé à la l’intensité relative de ces pics.
 Conclusion

La diffraction des rayons X sert à déterminer la structure et l’espacement

interplanaire d’un cristal . Selon la loi de Bragg : 2 dhkl sinq = n l
L’espacement interplanaire est fonction des indices de Miller, des
paramètres du réseau et de la structure cristallin.