Contenido Instrumentacion Industrial
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PROPOSITO GENERAL:
COMPETENCIA GENERAL
UNIDAD 1: GENERALIDADES
1.1 Sistema de medición 1.2 Terminología: Alcance, Error, Rango de medida, Incertidumbre,
Precisión, Exactitud, Zona muerta, Sensibilidad, Histéresis, Elevación de cero, Supresión de
cero, Fiabilidad, Ruido, Linealidad 1.3 Clases de Instrumentos: Ciegos, Indicadores,
Registradores, Transductores, Primarios, Convertidores, Receptores, Controladores, Finales de
control.
UNIDAD 2: FUNDAMENTOS DE LOS SISTEMAS DE MEDICIÓN
2.1 Generalidades de los sistemas de adquisición de datos DAQ´s 2.2 Microcontroladores 2.3
Sensores y transducción 2.4 Sensores resistivos y sensores capacitivos 2.5 Señales análoga y digital
2.6 Acondicionamiento y filtrado de señal 2.7 Lenguajes de programación 2.8 Comunicación serial
y paralela 2.9 Errores en la conversión análogo-digital 2.10 Frecuencia de Nyquist y selección del
microcontrolador 2.11 Diseño de sistemas de medición
3.1 Definición, unidades y escalas de temperatura 3.2 Termometría basada en expansión térmica:
Termómetros bimetálicos y de fluido en vidrio 3.3 Termometría basada en resistencia eléctrica:
Arreglo de Wheatstone y termistores 3.4 Termometría basada en termoelectricidad: Leyes de los
termopares 3.5 Tipos y clasificación de termopares
6.1 Medición de nivel directa 6.2 Medición de nivel basado en presión hidrostática 6.3 Medición
de nivel basado en las características eléctricas del líquido 6.4 Medición de nivel con ultrasonido,
microondas y láser 6.5 Sensores capacitivos y resistivos para medición de nivel
7.1 Tipos de señales y sus magnitudes típicas 7.2 Normas de símbolos de instrumentos 7.3 Reglas
para la identificación de instrumentos 7.4 Esquemas típicos de la industria 7.5 Normativa de
calidad ISO9000:2000 aplicada a la instrumentación
UNIDAD 8: VÁLVULAS
8.1 Generalidades y tipos de válvulas 8.2 Partes de la válvula 8.3 Válvulas con obturador de
movimiento lineal 8.4 Válvulas con obturador de movimiento rotativo 8.5 Características
inherentes y efectivas de las válvulas 8.6 Materiales de las válvulas 8.7 Dimensionamiento de la
válvula y su selección
9.1 Estándares en la medición y su jerarquía 9.2 Procedimiento general de calibración 9.3 Curva de
calibración de un instrumento 9.4 Errores de los instrumentos 9.5 Calibración estática y análisis de
regresión por el método de los mínimos cuadrados 9.6 Distribución t-Student y niveles de
confidencia 9.7 Estimación del valor verdadero de una medida 9.8 Detectando medidas extrañas
en un conjunto de medidas 9.9 Número mínimo de medidas requerido y confidencia
10.1 Diferencia entre error e incertidumbre 10.2 Normas ISO y ANSI para estudio de la
incertidumbre 10.3 Fuente de errores en un sistema de medición 10.4 Incertidumbres aleatoria y
sistemática 10.5 Incertidumbre de diseño de un instrumento 10.6 Propagación del error en
cálculos numéricos
11.1 Instrumento de orden cero 11.2 Sensitividad estática del instrumento de orden cero 11.3
Instrumento de primer orden 11.4 Constante de tiempo y velocidad de respuesta de un
instrumento de primer orden 11.5 Estados transitorio y estable del instrumento de primer orden.
11.6 Instrumento de segundo orden 11.7 Masa, rigidez y amortiguamiento equivalentes de un
instrumento de segundo orden 11.8 Frecuencias natural y amortiguada 11.9 Subamortiguamiento,
sobreamortiguamiento y amortiguamiento crítico 11.10 Respuesta de un instrumento de segundo
orden a la entrada escalón: estados transitorio y estable 11.11 Tiempo de levantamiento, tiempo
de asentamiento, sobrepaso máximo, tiempo pico, tiempo de retardo
12.1 Instrumentación virtual 12.2 Instrumentos virtuales versus instrumentos tradicionales 12.3
Softwares de instrumentación virtual: EPICS y LabVIEW 12.4 Introducción a LabVIEW, entorno
gráfico de adquisición de datos 12.5 Hardware requerido para la implementación de la
instrumentación virtual 12.6 Entorno de LabVIEW 12.7 Estructuras y comandos en LabView 12.8
Interfaz en LabVIEW 12.9 Ejemplos básicos de programas de LabVIEW 12.10 Gráficos en LabVIEW