El documento describe las funciones del programa EVA, que permite evaluar datos de difracción de rayos X. EVA puede identificar picos, background y áreas de muestras. También puede importar archivos .raw y .brlm, realizar búsquedas automáticas y manuales de fases, y comparar análisis químicos de muestras con fases identificadas. El documento incluye ejemplos de cómo usar EVA para identificar fases en un archivo y comparar los resultados con un análisis químico.
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El documento describe las funciones del programa EVA, que permite evaluar datos de difracción de rayos X. EVA puede identificar picos, background y áreas de muestras. También puede importar archivos .raw y .brlm, realizar búsquedas automáticas y manuales de fases, y comparar análisis químicos de muestras con fases identificadas. El documento incluye ejemplos de cómo usar EVA para identificar fases en un archivo y comparar los resultados con un análisis químico.
El documento describe las funciones del programa EVA, que permite evaluar datos de difracción de rayos X. EVA puede identificar picos, background y áreas de muestras. También puede importar archivos .raw y .brlm, realizar búsquedas automáticas y manuales de fases, y comparar análisis químicos de muestras con fases identificadas. El documento incluye ejemplos de cómo usar EVA para identificar fases en un archivo y comparar los resultados con un análisis químico.
El documento describe las funciones del programa EVA, que permite evaluar datos de difracción de rayos X. EVA puede identificar picos, background y áreas de muestras. También puede importar archivos .raw y .brlm, realizar búsquedas automáticas y manuales de fases, y comparar análisis químicos de muestras con fases identificadas. El documento incluye ejemplos de cómo usar EVA para identificar fases en un archivo y comparar los resultados con un análisis químico.
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Ing.
Diego Benites Aplicación del programa EVA 2.1 Lic. Yezeña Huaypar Acerca del programa…
El programa EVA es un software que permite evaluar los
datos de medición de difracción de rayos X. Este programa contiene herramientas que permite evaluar picos, background y áreas.
La extensión de los archivos que reconoce el programa
es .raw ó .brlm
El archivo que se genera, luego de la identificación de
fases, es de extensión .eva Entorno del programa EVA
1. Barra de Título 5. Vista del Panel de Control
2. Barra de Menú 6. Vista de Ventanas 3. Barra de Herramientas 7. Datos/Vista del panel de secuencias 4. Panel de Comando de Datos 8. Datos/Vista del panel de comandos Importando un archivo .raw …/…
Importando…. de uno a mas archivos
Operación de búsqueda
1. Instalar la Base de datos (ICDD, COD). Cada vez que se
abre un nuevo archivo de trabajo se tiene que cargar la base de datos seleccionada.
2. Iniciar la búsqueda con el comando Search / Match.
3. Seleccionar la ficha patrón que contenga la mejor
coincidencia con los picos del difractograma, según los criterios de identificación y de la calidad de ficha patrón. …/…
1. Click en Search/Match (scan)
en el panel de comando de Datos.
2. Modos de selección para
la búsqueda:
Modo Whole Range:
Realizar la búsqueda en todo el rango Modo Sub Range: Realizar la búsqueda en un rango definido. …/…
Estatus y calidad de las fichas patrón.
Primary: Patrones recomendados por el PDF.
Alternate: Patrón de una calidad razonable, el cual ha sido marcado como un duplicado de un patrón primario. Deleted: Patrón que tiene un mejor reemplazo ( un patrón primario). Su uso es no recomendado por el PDF. Búsqueda Automática
1. Click en Search/Match (scan) en el panel de comando de Datos.
…/…
1. Establecer los parámetros
de búsqueda.
2. Seleccionar el cuadro Auto
3. Click el boton Match
Búsqueda por nombre
1. Click en Search/Match (scan) en el panel de comando de Datos.
…/…
2. Click en Search by name para acceder a la búsqueda por nombre.
Corrigiendo el X-Offset
1. Seleccionar el difractograma de su interés del árbol de datos.
2. Click derecho sobre el difractograma y luego click en Tool. Click X- Offset en el submenú: El cuadro de dialogo de X-Offset se mostrará:
3. Usa el Slider para ajustar el X-offset.
Análisis Residual 1. Click en Residual scan: En la barra de herramientas el botón Apply to all visible scans.
2. Seleccione las zonas que serán removidas.
1. Click en Residual scan: En la barra de herramientas el botón
Restore all visible scans. Verificación Instrumental
Se realiza midiendo un material de referencia (Corundum NIST SRM 1976)
con las condiciones instrumentales dadas por el fabricante. Modos de verificación:
Verificación de un solo pico principal:
Angulo inicial de Angulo final de Paso de barrido (°) Tiempo por paso barrido 2 θ (°) barrido 2 θ (°) de barrido (s) 34.5 35.7 0.006 0.5
Verificación de los tres picos principales:
Angulo inicial de Angulo final de Paso de barrido (°) Tiempo por paso de barrido 2 θ (°) barrido 2 θ (°) barrido (s) 25 26 0.006 0.5 34.5 35.7 0.006 0.5 88.5 89.5 0.006 0.5 …/…
Se realizan los siguientes pasos:
1. Se importa el archivo de medida en el programa EVA.
2. Se selecciona el primer barrido y se hace zoom sobre la
región de la primera reflexión.
3. Se selecciona en la caja de herramientas la función “Strip
KA2” y luego “Replace” tal como se muestra en la Figura 1.
4. Se selecciona el botón “Create Area” en la caja de
herramientas y se establece la zona de evaluación del pico. …/…
Figura 1. Selección del área del pico medido y se sustrae el pico generado por la radiación kα2. …/…
Figura 2. Selección del área del pico para la obtención de los valores Obs. Max., FWHM y Net Area. …/…
Se realizan los pasos anteriores a los otros picos, dependiendo
del modo de verificación.
Para cada uno de los barridos se registran los datos obtenidos,
los parámetros son: Obs. Max corresponde a 2 theta (obs) en Precisión angular, Net Area corresponde a I (obs) en respuesta de instrumentación y FWHM corresponde a FWHM (obs) en resolución instrumental.
A continuación se muestran las tablas de los valores registrados:
…/…
Tablas de los registros de las verificaciones de las
Se debe verificar que los valores se encuentren dentro de las
tolerancias especificadas para el instrumento considerando:
En el caso de las posiciones angulares (2Theta obs) la diferencia
con los ángulos teóricos (2Theta exp) debe tener un margen de diferencia de ±0.01º.
La intensidad relativa (Irel) se calcula dividiendo la intensidad de
cada pico (Iobs) entre la norma del Iobs entre Iexp. Se considera como margen de diferencia permisible ±10%.
El ancho de pico a media altura FWHM (obs) no deben exceder
los valores del FWHM (exp). Importación de análisis químico para la evaluación de fases 1. Click en Import XRF Results en el panel de comando de Datos …/…
2. Realizando la comparación …/… Ejemplo: 1. Creando un nuevo documento EVA e importando xxxx.RAW
2. Realizar la operación de búsqueda
…/…
3. Comparación de resultados con análisis químicos …/…
4. Vista Semi-cuantitativo del análsis de las fases
Ejemplo 1
1. IMPORTAR EL ARCHIVO: M2016-001-009-OT-041-TU-16.raw
Ing. Diego Benites
…/…
2. Cargar la base de datos
Ing. Diego Benites
…/…
3. Identificación de fases
Ing. Diego Benites
Evaluación
Con el siguiente archivo OTL-PROY1.raw, realice:
1. Identificación de fases. 2. Compare los análisis químicos (archivo file1.txt) y semi- cuantifique las fases identificadas. Mostrar su distribución.
