Poly - TP Optique Version Finale 2018

Travaux Pratiques d’Optique Ondulatoire (SMP S4) Mustapha ABARKAN
OPTIQUE ONDULATOIRE
TRAVAUX PRATIQUES
PR. MUSTAPHA ABARKAN
EDITION 2018
Université Sidi Mohamed Ben Abdallah de Fès - Faculté Polydisciplinaire de Taza

Filière Sciences de la Matière Physique
1
SOMMAIRE
 Avant Propos……………………………………………………………………………………………………3
 Précautions à Prendre............................................................................................4
 Etude des caractéristiques d’un laser ....................................................................4
 Etude de la Polarisation de la Lumière : Vérification de la Loi de Malus - Influence
des Lames Quart-onde et Demi-onde et des Différents Types de
Polarisation.............................................................................................................9
 Diffraction de la Lumière Par Plusieurs Obstacles................................................14
 Interférence de la Lumière Par des Fentes d’Young………………………………………20
 Interférences de la Lumière Par le Montage de Michelson…………………………..26
2
AVANT PROPOS
Dans le cadre de l’optique géométrique, la propagation de la lumière est interprétée en terme de
rayons, ensembles de points indiquant la trajectoire suivie par la lumière (la propagation se fait dans un
espace de dimensions supérieures à la longueur d’onde). Par exemple, dans un milieu homogène isotrope
et transparent, la lumière se propage de façon rectiligne et les rayons lumineux sont des droites. Cette
vision de la lumière, comme un ensemble de « particules » se propageant le long de trajectoires, est
suffisante pour décrire un certain nombre de phénomènes notamment la réflexion et la réfraction vus en
optique géométrique.
Cependant, de nouveaux phénomènes attirent l’attention des scientifiques : lorsque la propagation se
fait dans un espace de dimensions inférieures à la longueur d’onde. Par exemple à travers un trou percé
dans un obstacle opaque, la propagation de la lumière donne naissance à des interférences et/ou à la
diffraction. Ces phénomènes ne se plient pas à la vision classique de la nature « particulaire » de la lumière.
Elle est expliquée par la mécanique ondulatoire : propagation de la lumière sous forme d’une vibration
ondulatoire.
3
PRECAUTIONS A PRENDRE
Sécurité :
Les lasers utilisés en TP sont de classe II ou III selon le classement de danger. Diriger toujours le laser
vers un écran. Attention aux réflexions sur les faces des lentilles. Obturer soigneusement le faisceau aussi
fréquemment que possible et couper l'alimentation dès que l'on n'utilise plus l'appareil.
Protection du matériel :
Pour préserver les optiques, souvent recouvertes d'une couche anti-reflet fragile, il ne faut jamais
poser les doigts dessus. Lorsque le matériel apparaît sale, appeler l'enseignant qui jugera s'il convient de le
nettoyer.
Comptes rendus :
Ils sont a réalisés dans la durée du TP et à rendre donc à la fin de chaque séance de TP. Les absences sont à
justifier auprès du responsable du module 48h après la séance de TP. Toute absence non justifiée est
sanctionnée.
4
Etude des Caractéristiques d’un Laser
1. Introduction
Le laser, qui rendit plus facile la production de lumière cohérente, constitue aujourd’hui une aide
indispensable tant à l’optique qu’à d’autres domaines. On est capable à présent de créer de la lumière
cohérente depuis l’infrarouge lointain jusqu’au proche ultraviolet. Les lasers ne peuvent plus être exclus des
techniques de mesures optiques et des techniques de l’information. Ils sont utilisés au sein de dispositifs
gigantesques dans les recherches sur la fusion (laser mégajoule LMJ), ils servent de source lumineuse de la
taille d’une tête d’épingle pour les lecteurs de CD et de bistouris de chirurgie, et ils permettent de couper et
de percer des matériaux de toutes sortes.
Le but du TP est d'étudier la répartition d'intensité à travers une section droite du faisceau lumineux
d’un laser HeNe émettant à la longueur d’onde 632,8 nm, sa directivité et d'effectuer une mesure de la
largeur du faisceau (waist) et sa puissance. Enfin nous déterminons la direction de polarisation du faisceau
étudié.
2. Présentation du LASER = Light Amplifier by Stimulated Emission of Radiation
Un laser est composé de trois éléments : un résonateur (Fabry-Pérot), un milieu actif dans le résonateur et qui
fonctionne en amplificateur de lumière, et une source d’énergie pour exciter le milieu actif. L’ensemble constitue un
oscillateur auto-entretenu, le résonateur déterminant les fréquences de la lumière émise.
Figure 1: Schéma du laser He-Ne usuel
La relation lumière - matière peut se traduire de trois manières : absorption, émission stimulée ou émission
spontanée. Nous supposons que deux états d’un atome, d’énergies E1 et E2 interviennent dans ces interactions. Lors
de l’absorption, un photon d’énergie hν rencontre un atome du matériau laser d’énergie E1, et disparaît. Son énergie
sert à faire passer le système atomique dans l’état d’énergie E2 plus élevé. Bien entendu le photon ne peut être
absorbé que si E2 est tel que E2−E1= hν, afin de vérifier la loi de conservation de l’énergie. S’il n’existe pas de niveau E2
approprié, il ne se produit pas d’absorption et le matériau est transparent pour cette énergie de photon.
Figure 2 : Illustration des processus pour le fonctionnement du laser

Si l’atome est déjà dans son niveau d’énergie supérieur E2, alors il peut se désexciter en restituant l’énergie hν, et
en émettant un deuxième photon de même état quantique, c’est-à-dire de même énergie, de même impulsion et de
même phase que le photon incident. Ce processus s’appelle l’émission stimulée. Dans ce cas, deux photons ayant les
mêmes propriétés, ressortent de l’atome. Il y a amplification de lumière.
5
Dans le laser He-Ne, le milieu actif fonctionne essentiellement avec trois niveaux d’énergie. La transition radiative
se produit entre les niveaux E2 et E1 du Néon dans le rouge, à λ = 632,8 nm. Le niveau d’énergie E3 de l’Hélium a une
durée de vie très faible, car il transfert rapidement son énergie après un choc avec un atome de Néon.
Figure 3: Schéma de principe du laser à gaz Hélium Néon
3. Géométrie du LASER = Light Amplifier by Stimulated Emission of Radiation :

3.1. Comportement spatial du laser :
Il s’agit d’étudier la répartition de

l’amplitude du laser dans le plan (x,y) en
fonction de z pour le mode transverse
fondamental du faisceau. Le front d'onde
du faisceau laser est similaire en beaucoup
d'aspects à une onde plane. Cependant, la
répartition de l'intensité n'est pas
uniforme mais concentrée près de l'axe de
propagation en un profil gaussien (figure I0/e2
4). La largeur de ce profil dépend de la
distance z. w(z) mesure la taille du faisceau
: w(z) est la distance à l'axe pour laquelle Figure 4 : Répartition d'intensité pour un profil gaussien le long d'une section droite
l'intensité est réduite d'un facteur 1/e2
(figure 4). Le faisceau se contracte jusqu'à une taille minimale, le "waist", de diamètre 2 w0, où le front de phase est
plan.
Cette méthode a comme inconvénient qu'il faut travailler dans les ailes de la gaussienne, ce qui peut entraîner de
grandes incertitudes de mesure du waist. Quand on a besoin d'une meilleure résolution spatiale (pour étudier des
faisceaux de faible taille), on utilise la méthode du bord d'écran translaté (dite de couteau de Foucault). On se place
assez loin du laser. Le faisceau dirigé selon Oz est coupé par un bord d'écran, que l'on déplace point par point dans la
direction Ox avec un micromètre.
Lentille
Figure 5. Méthode de couteau de Foucault
On mesure avec un détecteur de large surface l'intensité totale transmise

en fonction de x. On peut montrer que la dérivée de cette courbe
représente le profil gaussien du faisceau (Figure 6).
Si on prend l’origine des z au niveau du waist, la relation entre w(z) et w 0
est donnée par :
2
λz
[ ( )]
w 2 ( z )=w20 1+
πw 20
6
où λ est la longueur d'onde du laser. Le rayon de courbure R(z) du front d'onde est :
2
πw20
[
R( z)=z 1+ ( )]
λz
Figure 6. Répartition d'intensité obtenue en
déplaçant un écran devant le faisceau précédent. La
courbe obtenue est l'intégrale de la répartition
Autour du waist on définit le domaine de Rayleigh dans lequel la section du faisceau gaussienne
est à peu près
(figure 4).
constante et où l’onde peut être considérée comme plane. Ce domaine s’étend de -a tel que
w (ar )=w0 √2 soit
2
πw 0 z
ar = w (z )≈w0
λ . A l’extérieur de ce domaine, on a
ar
. L’onde se comporte comme une onde sphérique
issue du centre du waist. L’amplitude transverse du faisceau croit linéairement à partir du centre du waist avec l'angle
dw
α=
de divergence α ( dz ):
2λ
α=
πw 0
Figure 7: Rayon caractéristique du faisceau en fonction de z
- Transformation du faisceau par une lentille.

Une lentille peut être utilisée pour focaliser ou pour réaliser un faisceau de front d'onde
déterminé. La lentille ne change pas le caractère gaussien du faisceau mais change les
paramètres R(z) et w(z).
Figure 8 : Transformation d'un faisceau par une lentille
En d2 après la lentille, le faisceau forme un waist de taille égale à w 02. Les fronts d'onde vérifient
de part et d'autre de la lentille :
1 1 1
= −
R2 R1 f
où f est la distance focale de la lentille.
w 01 w02
d 1 =f +
w 02
√ f 2−f 20 et d 2= f +
w01
√ f 2− f 20
7
πw01 w02
f 0=
avec λ
4. Partie Expérimentale
Matériel nécessaire
 1 banc triangulaire de 2 m sur pieds
 5 cavaliers prismatiques
 2 polariseurs de précision (fourni dans le kit)
 1 laser
 1 détecteur avec multimètre
 Lame coupante
 lentille
Figure 8 : Montage expérimental utilisé

4.1. Dispositif expérimental
Le montage expérimental est représenté sur la figure suivante
Aspect spectral :
Qst 1- Déterminer à l’aide des polariseurs disponibles la direction de la polarisation du laser étudié.
Qst2- On peut vérifier la polarisation à l'aide d’un dispositif composé d’une lamelle de microscope placée sous
incidence de Brewster et d’une photodiode mesurant l’intensité lumineuse réfléchie par la lamelle. A l’incidence de
Brewster, envoyer le faisceau réfléchi vers le plafond. Si on arrive à l'éteindre pour une certaine incidence (l'incidence
de Brewster), c'est que la polarisation est verticale.
Qst 3- Mesurer l’intensité lumineuse du faisceau incident. Faite l’expérience avec plusieurs détecteur.
Aspect spatial :
Qst 4- Mesure de la taille et de la position du waist du laser. Effectuer le montage de la figure 5. Remplir le tableau
suivant :
Position de la lame x
Intensité mesurée I
Tableau 1
Qst 5- Refaire la mesure pour plusieurs positions de la lame z (axe des z) (chaque 5 cm). Tracer l’intensité lumineuse
normalisée I(x)/Imax. En déduire le waist w0.
2λ
α=
Qst 6- Pour w0, on pose z=0, tracer w(z). En déduire la divergence α. Vérifier la relation
πw 0 .
Qst 7- Mesure de w(z) après transformation du faisceau par une lentille. On étudie comment la lentille modifie la taille
du faisceau mesurée à la sortie du laser. Calculer les distances d 1 et d2 telles qu'on obtienne un waist w(d2)=1mm à
partir du waist que vous avez calculé pour le laser avec une lentille de focale connue. Faire le montage
expérimental et mesurer la taille du waist w(d 2) expérimental. Comparer les valeurs expérimentale et
théorique de w(d2).
8
Etude de la Polarisation de la Lumière : Vérification de la Loi de Malus - Influence des Lames

Quart-onde et Demi-onde et des Différents Types de Polarisation
Objectif
L’objectif de ce travail pratique est d’étudier la polarisation de la lumière, à travers plusieurs composants
(polariseurs, analyseurs, lames quart d’onde…). Il s’agit également de vérifier la loi de Malus .
1. Partie Théorique
1.1. Introduction et définition
Depuis les travaux théoriques de Maxwell et les expériences de Hertz

à la fin du XIXe siècle, la lumière est décrite par une onde
électromagnétique de haute fréquence ( de 4.3 à 7.5 1014 Hz) et par
conséquent de courte longueur d’onde ( de 700 à 400 nm).
Une onde électromagnétique consiste en la propagation dans

l’espace à la vitesse de la lumière d’un champ électrique E1 et d’un
champ magnétique B, vibrant en phase. Les ondes
électromagnétiques sont transversales : le vecteur du champ électrique E et le vecteur du champ magnétique B sont
perpendiculaires l’un à l’autre et situés dans un plan normal à la direction de propagation. La direction du rayon
lumineux de l’optique géométrique correspond à celle du vecteur vitesse de propagation k.
Les ondes électromagnétiques sont caractérisées par leur fréquence (ou par leur longueur d’onde), par leur vitesse et
par leur intensité (ou par leur amplitude). Etant transversales, elles possèdent une propriété supplémentaire : elles
sont polarisées. Une onde électromagnétique plane est dite polarisée linéairement si, lors de la propagation, les
vecteurs champs électriques restent dans un même plan ; les vecteurs champs magnétiques restent alors également
dans un même plan, perpendiculaire au précédent. Le plan formé par le vecteur E et la direction de propagation
(vecteur k) est appelé plan de polarisation. La direction du vecteur E est prise par convention comme direction de
polarisation de l’onde.
Dans le modèle classique, la direction du champ électrique E d’une onde lumineuse est donnée par la direction
d’oscillation de la charge électrique responsable de l’émission de lumière. Les atomes et les molécules d’une source
macroscopique de lumière oscillent ou rayonnent indépendamment les uns des autres dans toutes les directions. La
lumière qui se propage dans une direction consiste donc en une succession de trains d’ondes indépendants (chacun
étant produit par un oscillateur) dont les plans de polarisation sont orientés aléatoirement autour de la direction de
propagation (émission incohérente).
La durée d’émission d’un oscillateur élémentaire, et par conséquent la durée de vie d’un train d’onde, est d’environ
10−9 secondes. Pour l’œil humain, dont la résolution temporelle n’est que de 0.1 seconde environ, tout se passe
comme si une grande quantité de plans de polarisation existaient simultanément. Ce faisant, lorsque des atomes ou
molécules rayonnent indépendamment les uns des autres, on dit que la lumière émise n’est pas polarisée. Cependant,
pour une durée d’observation ultracourte, toute lumière est intrinsèquement polarisée.
1.2. Polariseur
Il est possible de donner un état de polarisation à une onde primitivement

non polarisée. Certains milieux ne transmettent que les composantes des
trains d’ondes incidents dont le vecteur E vibre parallèlement à une
direction déterminée, direction qui sera la direction de polarisation du
rayon émergent. De tels milieux sont dits polariseurs. Plaçons un second
polariseur, appelé analyseur, à la suite du premier. Si l’amplitude du champ
électrique de la lumière polarisée à la sortie du polariseur est E0,
l’amplitude à la sortie de l’analyseur sera E = E0 cos(α) où α est l’angle entre
les directions de polarisation du polariseur et de l’analyseur.
9
Comme l’intensité est proportionnelle au carré de l’amplitude, l’intensité I à la sortie de l’analyseur sera :
I = I0 cos2(α) (Loi de Malus)
où I0 est l’intensité à la sortie du polariseur. L’intensité sera maximum si les directions de polarisation du polariseur et
de l’analyseur sont parallèles.
1.3. Différents types de polarisation
On souhaite à présent définir les différents types de polarisation existante, pour cela quelques manipulations simples
peuvent être mise en place.
 Rectiligne :
Un polariseur simple permet de polariser rectilignement la source utilisée, afin de pouvoir

vérifier sa polarisation, un analyseur (2 ème polariseur) est nécessaire, en agissant sur son
angle on remarque qu’on atteint l’extinction lorsque les deux polariseurs sont
perpendiculaires l’un par rapport à l’autre (90°) et le maximum de lumière est atteint
lorsque les deux polariseurs sont parallèle (0°). On peut très rapidement mettre en pace un
système qui nous permet de vérifier ceci.
• Placer sur le banc la source laser, les deux polariseurs l’un à la suite de l’autre et le luxmètre en bout de banc (tout les
éléments seront placés sur des cavaliers simple). Le polariseur situé directement après la source laser sert à
sélectionner le sens de polarisation le deuxième sert à analyser la lumière, et donc vérifier sa polarisation.
• Placer le polariseur de façon à avoir directement à sa sortie un maximum de lumière (dans notre exemple précédent
le polariseur devait être à 90°). Placer ensuite l’analyseur à 0°. On constate qu’on obtient l’extinction. Si on met
l’analyseur à 90° on a le maximum de lumière. On a donc une polarisation rectiligne d’axe horizontal dans cet exemple.
 Circulaire :
On a vu que la lame quart-onde permet de transformer une polarisation en polarisation

circulaire. On peut également le vérifier expérimentalement.
• Garder le même montage que précédemment, rajouter seulement une lame quart-onde
entre les deux polariseurs.
• Positionner le 1er polariseur à 90° et la lame quart-onde à 45°, tourner progressivement le
2ème polariseur.
On constate que la position de l’analyseur n’a aucune influence sur la polarisation. On obtient donc une polarisation
circulaire. Il est possible d’obtenir exactement le même résultat en utilisant un polariseur circulaire, celui-ci étant de
toute manière un assemblage des 2 composants précités.
 Elliptique ou aléatoire :
On peut avoir une polarisation elliptique (ou aléatoire) avec une lame quart-onde. Une
polarisation elliptique est une polarisation qui n’est ni circulaire ni rectiligne. On a vu
précédemment que la lame quart-onde polarise circulairement à 45°. Or on peut également
à l’aide d’une lame quart-onde obtenir une polarisation elliptique pour cela.
• Sans démonter le montage précédent placer la lame quart-onde à un angle quelconque (≠

45°), le polariseur étant initialement à 90°. Tourner l’index de l’analyseur.
On remarque que l’on n’a pas l’extinction totale mais seulement un minimum d’intensité, donc la polarisation obtenue
avec cette manipulation est bien elliptique.
A INTRODUIRE LA THEORIE SUR LES LAMES BIREFRINGEANTES
10
 1 banc triangulaire de 2 m sur pieds
 5 cavaliers prismatiques
 2 polariseurs de précision (fourni dans le kit)
 1 diode laser rouge
 1 luxmètre sur tige
 1 lame demi-onde
 1 lame quart-d’onde
2.1. Etude de la polarisation d’une diode
Pour augmenter la précision des mesures, on doit tout d’abord trouver la direction de polarisation de la diode laser
afin de régler le polariseur 1 suivant la même direction de façon à avoir un maximum de lumière à sa sortie.
• Placer la diode laser à une des extrémités du banc et ajouter le luxmètre. Centrer ensuite le faisceau laser sur le
détecteur du luxmètre comme sur la photo ci-contre. Placer alors le polariseur entre le luxmètre et la diode laser. Les 3
éléments seront fixés sur des cavaliers simples.
Remarque : Pour avoir le moins de lumière parasite, il est fortement conseillé de placer le luxmètre dos à toute source
de lumière autre que la source laser (fenêtre, écran d’ordinateur, lampe de bureau …). Idéalement la manipulation doit
se faire dans le noir total pour éviter un maximum de lumière parasite.
Le luxmètre est un capteur qui permet de mesurer l’éclairement réel (l’intensité réelle), son symbole est ‘E’ et son
unité le lux.
• Dans un tableau, relever pour différents angles l’éclairement correspondant. Commencer

à 0° jusqu' à 180° en tournant tout les 10°. Pour effectuer la première mesure l’index du
polariseur doit être à 0°.
Par ailleurs, on peut remarquer qu’en tournant l’index du polariseur, l’intensité lumineuse varie selon
la position de l’index. Une fois que l’index est bien sur le 0°, vérifier que le faisceau du laser est
toujours bien centré sur le luxmètre.
• Si celui-ci est légèrement décalé, pivoter le laser de façon à ce que le faisceau soit centré sur la
cellule du luxmètre, relever alors la valeur de l’éclairement, pour cela il suffit de lire la valeur indiquée
sur le luxmètre.
Faire attention au calibre : si l’afficheur indique « O.L », il faut changer de

calibre et passer au calibre supérieur. Il faut toujours être au calibre le plus
poche de la mesure pour plus de précision.
Tourner ensuite l’index à 10°, relever son éclairement, faire de même jusqu'à
180°.
 Tracer le graphe E= f(α). En déduire alors le sens de polarisation de

la source laser et donc à quel angle il faut placer le polariseur 1.
2.2. Loi de Malus
11
On se propose maintenant de vérifier la loi de Malus.

Le montage à réaliser est le même que précédemment à la seule différence qu’il faut y rajouter un autre polariseur
appelé analyseur, positionné entre le 1er polariseur et le luxmètre.
Remarque : Il n’y a pas de différence de nature entre un polariseur et un analyseur. Le composant est le même, la seul
différence réside dans son utilisation en tant que polariseur ou analyseur. Si le premier polariseur est placé tout de
suite après la source laser, on l’appellera polariseur, en revanche s’il est positionné après le premier polariseur, on
l’appellera alors analyseur.
On se propose maintenant d’observer le phénomène d’extinction (minimum d’intensité). Lorsque l’analyseur et le

polariseur ont un certain angle entre eux, on peut observer ce phénomène.
• Chercher les différents angles pour lequel on aperçoit le phénomène d’extinction. Fixer le polariseur 1 à 90° et
tourner progressivement l’index du polariseur 2 de manière à voir le phénomène d’extinction.
 Qu’observez-vous ? Qu’elles sont les différents angles pour lequel on obtient l’extinction presque totale de
la lumière en sortie ? Comment pouvez-vous expliquez ceci ?
Nous allons maintenant effectuer les mesures nécessaires afin de vérifier la loi de Malus.
• Fixer le polariseur 1 à 90°. Tourner l’analyseur de α = 0°. α est l’angle que font les 2 polariseurs entre eux,
si par exemple le 1er polariseur est à 90° et que le 2ème est à 0° alors α=90°.
• Relever ensuite la valeur de l’intensité lumineuse E du luxmètre, continuer ainsi de 5° en 5° jusqu'à 180°.
Opérer ensuite de 10° en 10° jusqu’au retour à la position d’origine.
 Tracer le graphe E= f(α). Expliquer la forme du graphe obtenu. La loi de Malus est-elle vérifiée ?
 Tracer le graphe E= f(cos(α)2). Expliquer la forme du graphe obtenu. La loi de Malus est-elle vérifiée ?
2.3. Influence des lames quart-onde et demi-onde
Rappel sur les lames à retard : Une lame à retard est un outil optique capable de modifier la polarisation de la lumière
la traversant. Contrairement à un polariseur, l'état de polarisation de la lumière à la sortie de la lame dépend de l'état
à l'entrée. Il existe plusieurs types de ces lames, caractérisées par le déphasage qu'elles produisent entre les deux
composantes de la polarisation :
 Une lame demi-onde, également notée lame λ/2, crée un déphasage de 180°, c'est-à-dire un retard d'une
moitié de longueur d'onde. L'onde sortante d'une telle lame présente une polarisation symétrique de l'onde
entrante par rapport à l'axe optique.
 Une lame quart d'onde, également notée lame λ/4, crée un déphasage de 90°, c'est-à-dire un retard d'un
quart de longueur d'onde. Elle permet de passer d'une polarisation rectiligne à une polarisation elliptique ou
circulaire, et vice-versa.
Grâce à la première manipulation réalisée au paragraphe 1, nous avons

pu trouver le sens de polarisation de la source laser et vérifier la loi de
Malus. Mais il est intéressant de savoir qu’il existe des composants
capables de perturber la polarisation. Nous allons dès à présent étudier
l’effet des lames à retard.
• Insérer au montage précédent une lame demi-onde dans un premier

temps, la lame demi-onde sera placée entre les deux polariseurs. Les
éléments sont tous placés sur des cavaliers simples (Voir photo ci-
contre). Vérifier l’alignement du faisceau laser sur le luxmètre.
• Après avoir mis en place le dispositif, positionner la lame demi-onde à
45° et observer l’influence que celle-ci a sur la polarisation en tournant
l’index de l’analyseur. L’index du polariseur étant toujours à 90°.
12
 Tracer le graphe E= f(α). Que pouvez-vous déduire de l’influence de la lame demi-onde sur la polarisation ?
Comparer avec la manipulation sans la lame demi-onde ?
 Commenter les résultats
Angle d’analyseur (α) 0 10 20 30 45 65 80 90 100 110 120 130 150 160 170 180
=0
Intensité  = 45°
mesurée  ≠0 et 
≠45°
Remplacer alors la lame demi-onde par la lame quart-onde. Reprendre les mêmes manipulations que pour la lame
demi-onde.
Angle d’analyseur (α) 0 10 20 30 45 65 80 90 100 110 120 130 150 160 170 180
=0
Intensité  = 45°
mesurée  ≠0 et 
≠45°
 Tracer le graphe E= f(α). Que pouvez-vous déduire de l’influence de la lame quart-onde sur la polarisation ?
Comparer avec la manipulation sans la lame quart-onde ?
 Commenter les résultats
13
Diffraction de la Lumière Par Plusieurs Obstacles
Objectif
Ce TP permettra de mettre en évidence et d'observer quantitativement et qualitativement le phénomène de

diffraction d'une source lumineuse monochromatique (source laser) par divers dispositifs diffractant. Il permettra
également de comprendre la nature des figures de diffraction observées en fonction de la forme de l’objet diffractant
et d’utiliser ces figures de diffraction pour retrouver, à l’aide de la caméra numérique et du logiciel Ovisio, certaines
grandeurs du montage.
Le phénomène de diffraction se produit lorsqu’une onde lumineuse rencontre lors de sa propagation un obstacle de
faible dimension (de l’ordre de grandeur de la longueur d’onde de l’onde incidente). On peut alors observer derrière
ces obstacles des figures de diffraction dont les caractéristiques dépendent de la forme et de la dimension de
l’obstacle.
Pour expliquer le phénomène de diffraction, on fait appel à l'optique ondulatoire. On considère une source ponctuelle,
monochromatique, émettant un champ électrique plan (c'est le cas par exemple du champ émis par une source laser).
On considère le faisceau émis comme étant cylindrique.
Ce faisceau est envoyé sur une fente de largeur ‘a’ située dans un plan orthogonal à la direction de propagation du
faisceau. Lorsque la largeur de la fente est de l'ordre de grandeur de la longueur d'onde du faisceau incident, le
phénomène de diffraction est observable.
Pour tenter de comprendre le phénomène, on peut suivre la démarche du principe d’Huygens : chaque point éclairé
de la fente se comporte comme une source secondaire qui émet un champ électromagnétique sphérique. Tous les
champs électromagnétiques émis par les sources secondaires sont cohérents entre eux (ils sont à la même fréquence
et le déphasage entre deux des champs est constant en fonction du temps). Les conditions sont donc réunies pour qu'il
y ait interférence entre toutes les composantes. Ces interférences se produisent à l'infini.
Pour observer convenablement la figure de diffraction obtenue, il faut donc se placer à une distance suffisante de
l'objet diffractant. Il est possible de déterminer de manière théorique le profil d'intensité de la figure de diffraction
observée sur un écran placé à une distance suffisante de la fente (écran supposé à l'infini). Ce profil d'intensité, qui est
l'intensité reçue en un point de l'écran en fonction des coordonnées spatiales de ce point, est obtenu en sommant les
contributions de chacune des sources secondaires.
Un point M de l'écran situé à l'infini reçoit un champ électromagnétique qui est la somme des contributions de chacun
des points de la fente et dont il est possible de déterminer l'amplitude complexe. La dimension de la fente étant très
faible par rapport à la distance entre l'écran et la fente, les droites (OM) et (PM) sont considérées comme parallèles et
faisant un angle ‘θ’ avec l'axe Oz. La différence de marche δ entre l'onde émise par le point P et celle émise par le point
O s’écrit donc :
où ‘x’ est la coordonnée selon l'axe Ox du point P.
14
La différence de phase entre les deux ondes est donc :
Soit ‘A’ l'amplitude des ondes émises par les sources secondaires. L'amplitude complexe de l'onde au point M est
obtenue en sommant la contribution de tous les points situés sur la larguer de la fente :
L'intensité au point M étant proportionnelle au carré de l'amplitude de l'onde reçue, l'intensité est proportionnelle
où sinc est la fonction définie par : sin(xm)/xm. xm est la coordonnée du point d’observation sur l’écran dans la direction
de la largeur de la fente. Pour un angle ‘θ‘ suffisamment petit et une distance D suffisamment grande, on peut faire
l’approximation :
On obtient finalement que l’intensité dans le plan de l’écran

et selon la direction de la largeur de la fente est
proportionnelle à
On peut remarquer que l’intensité s’annule lorsque
s’annule et Donc, on observe

une zone sombre pour (avec k un entier relatif non nul).
Le graphe de l'intensité en fonction de la coordonnée ‘x m’ du point d'observation sur l'écran dans la direction de la
largeur de la fente est le suivant :
Le profil d’intensité prend donc la forme d’une succession de pics d'intensité (de plus en plus faible au fur et à mesure
qu'on s'éloigne de la position de l'axe optique sur l'écran) et de zones d'intensité nulle. Sur l'écran, cela correspond à
une succession de tâches de moins en moins intenses au fur et à mesure qu'on s'éloigne de la tâche centrale qui est
située à l'intersection de l'écran et de l'axe Oz et dirigées selon la largeur de la fente (axe Ox). La zone centrale est de
largeur 2D/a , et les autres sont deux fois plus petites.
Diffraction par deux fentes de même largeur : dispositif des fentes d’Young
Cette partie sera plus traitée dans le TP des interférences par les fentes d’Young
Ce profil d’intensité est valable en prenant une fente comme objet diffractant. Il est cependant modifié si on considère
un faisceau laser éclairant simultanément deux fentes. Dans ce cas, on parle de dispositif des fentes d’Young. Le
dispositif est représenté sur le schéma
suivant :
Dans ce cas, le phénomène

d’interférences entre en jeu : les deux
faisceaux diffractés par chacune des
fentes vont interférer dans la zone où ils
se recouvrent. Ce phénomène se produit
si les deux faisceaux sont cohérents
entre eux, c'est-à-dire, si leur fréquence
est identique et si le déphasage entre les
15
deux champs électriques est constant au cours du temps. Ces conditions sont remplies ici car les fentes sont éclairées
par le même faisceau laser.
On peut par le calcul retrouver l’intensité reçue en un point M du plan de l’écran situé sur l’axe Ox’. Comme les deux
sources (ici les fentes éclairées par le faisceau laser) sont cohérentes, on ne peut pas simplement additionner
l’intensité émise par chacune des fentes : il faut additionner les amplitudes du champ électrique émis par chacune des
fentes. L’expression de l’amplitude du champ électrique émis par une fente dans le plan de l’écran a été donnée dans la
partie précédente. Ces calculs (obtenus en sommant les contributions de chacun des points de la fente) peuvent être
repris en modifiant la position de la fente dans le calcul de l’intégrale. Pour la fente centrée en ‘–e/2’, l’amplitude
complexe ‘A1’ du champ électrique émis par la fente est
et celui émis par la fente centrée en ‘e/2’
L’amplitude totale vue au point M est alors obtenue en sommant les deux amplitudes et en effectuant les
changements de variable pour le calcul de ‘A2’, on obtient finalement :
On remarque que l’intégrale est la même que celle donnant l’amplitude du champ électrique obtenu avec la diffraction
par une fente unique. Cette amplitude est modulée par un cosinus, qui est le terme d’interférence. L’intensité est donc
finalement proportionnelle
Le profil d’intensité normalisée prend donc la forme suivante (dans le cas où l’écran est à 1m50 des fentes et avec des
fentes de largeur 50μm, espacée de 200μm) :
Profil d'intensité théorique de la figure de diffraction à une distance D=1,5m, pour une longueur d'onde incidente de
532nm et deux fentes de largeur a=40 µm espacées de e=100 µm
16
L’enveloppe (en rouge) représente le profil d’intensité obtenu lors de la diffraction du même faisceau laser par une
fente de largeur 40μm. Cette enveloppe, dans le cas d’une diffraction par deux fentes, est modulée par le
qui dépend de la distance ‘e’ entre les deux fentes. En supposant que θ est faible, on peut faire
l’approximation où xm est la coordonnée du point M sur l’écran selon l’axe O’x’. Le terme
d’interférence devient donc .
 Banc 2 mètres profilé aluminium anodisé avec
2 pieds réglables
 Un laser vert (classe II) de puissance 1mW
 2 cavaliers simples
 cavalier à réglage latéral crémaillère (+/- 30 mm)
 Jeton 7 fentes et 7 fils (monté sur support)
 jeton microlithographié 3 fentes double
 Jeton avec trous circulaires, carrés…
 Écran 15x15 cm plastique avec une face quadrillée
 Une caméra type ovisio
 Manuel d'expériences
On réalise le montage suivant. Placer la source laser à une extrémité du banc optique sur le cavalier réglable
latéralement, la plaque ref A 3000 (pour l’étude des trous circulaires et carrés) et la plaque ref A 3015 (pour l’étude des
fentes et des fils) sur le cavalier réglable verticalement au centre et l’écran à l’autre extrémité du banc. Eclairer avec la
source laser la fente/trou/fil et former la figure de diffraction du faisceau laser sur l’écran. (Orienter la plaque de
manière à ce que les taches de diffraction soient très bien visibles). Voir montage ci-dessous.
2.1. Diffraction par des trous circulaires

2.1.1. Mesure Manuelle
Dans cette manipulation, on se propose de caractériser la figure de diffraction obtenue avec un trou de diamètre a.
Comme il est mentionné dans la partie théorique, la figure de diffraction obtenue avec un trou circulaire est une tache
centrale circulaire entourée d’une succession d’anneaux concentriques dont l’intensité décroît au fur et à mesure que
le rayon des cercles augmente.
Placer la plaque de référence A 3000. Eclairer le trou de plus grand diamètre. Placer l’écran à environ 1m du barillet.
- Décrire la figure de diffraction observée. A quel problème avez-vous été confronté pour l’observation de
cette figure de diffraction.
- Observer maintenant la figure obtenue avec le trou de diamètre directement inférieur.
- Commentez la modification de la figure obtenue. En particulier, sur quel(s) paramètre(s) influe la variation
du diamètre du trou. Pourquoi est-il plus facile d’observer cette figure de diffraction que la précédente ?
- Faire l’expérience sur plusieurs trous et remplir le tableau suivant.
- Commenter les résultats obtenus.
Détermination du diamètre des trous de diffraction

Distance D (m) Longueur d’onde  Diamètre d de la tache Diamètre a du trou Diamètre a réel en Erreur (%)
en (m) en (m) en (m) (m)
trou 1 1,3
trou 2 1,3
17
trou 3 1,3
trou 2 1,6
trou2 2
2.1.2. Mesure avec la caméra (voir le mode d’emploi de la caméra en annexe)
Nous allons effectuer les mêmes expériences précédentes mais en utilisant une caméra. Pour ceci remplacer l’écran
d’observation par la caméra (appeler le professeur). Brancher la caméra au port USB de l’ordinateur et lancer le
logiciel Ovisio. Quelques secondes sont nécessaires au logiciel pour configurer la caméra numérique. Une fois la
configuration terminée, deux fenêtres apparaissent : la fenêtre « vidéo » montre l’image filmée par la caméra et la
fenêtre « profils et mesures » permet d’afficher l’intensité détectée par la caméra selon un axe préalablement choisi.
Observer l’image donnée par la caméra. Il se peut que les taches de la figure de diffraction soient peu ou trop
lumineuses. Pour régler la luminosité des taches sur l’image, cliquer sur le menu réglage puis source. Modifier alors le
paramètre « exposition » et regarder l’influence du paramètre sur l’image. Une fois le paramètre réglé, il est alors
possible de visualiser les variations d’intensité dans une direction particulière du plan de l’écran, choisie par
l’utilisateur.
Observer la figure de diffraction obtenue avec chaque trou. Pour faciliter la mesure, rapprocher l’ensemble
écran/caméra de la plaque.
- En choisissant une distance et des réglages adaptés, observer le profil d’intensité pour chaque trou et en
déduire une mesure du diamètre des trous. Expliquer pourquoi les mesures pour les trous de faible
diamètre sont entachées d’une telle incertitude. Comparer les résultats obtenus avec et sans caméra.

Distance D (m) Longueur d’onde  Diamètre d de la tache Diamètre a du trou Diamètre a réel en Erreur (%)
en (m) en (m) en (m) (m)
trou 1 1,3
trou 2 1,3
trou 3 1,3
trou 2 1,6
trou2 2

Distance D Longueur Diamètre d de Diamètre acam du Diamètre a réel Erreur (%) Diamètre acam du acam-aman
(m) d’onde  en la tache en (m) trou mesuré par en (m) trou mesuré
(m) la caméra en (m) manuellement
(m)
trou 1 1,3
trou 2 1,3
trou 3 1,3
trou 4 1,6
Trou 5 2
18
3. Etude de la diffraction par des fentes de largeur a et de longueur b variables et par des
fils
3.1.Mesure par caméra
Dans cette manipulation, on se propose de caractériser la figure de diffraction obtenue avec un fil (plaque A3015)
et/ou avec une fente de largeur a et de longueur b (plaque A3000). Comme il est mentionné dans la partie théorique,
la figure de diffraction obtenue est sous forme de taches rectilignes dont la tache centrale possède une largeur deux
fois supérieure à celle des taches secondaires. Placer la plaque A3015.
- Décrire la figure obtenue sur l'écran et vérifier que celle-ci est bien en accord avec la théorie. Dans quelle
direction particulière le faisceau est-il diffracté? Donner une explication.
- Prendre une fente ensuite le fil qui est dans la continuité de la fente et déterminer la longueur d’onde  de
la diode. Remplir le tableau suivant en changeant les différents fils et fentes. Commenter les résultats
obtenus.
- Quelle différence peut-on remarquer entre la figure obtenue avec un fil et celle obtenue avec une fente
rectangulaire?
- Changer les différents fils et fentes. Commenter les résultats obtenus.
Détermination de la longueur d’onde de la diode à partir de la taille de la tache centrale

Distance D Longueur d’onde  Largeur l de la tache Largeur a du fil et/ou Largeur a du fil et/ou Erreur (%)
(m) en (m) centrale en (m) de la fente mesurée en de la fente réelle en
(m) (m)
Fente 1 1,3
Fente 2 1,3
Fil 1 1,3
Fil 2 1,3
Placer ensuite la plaque A3000 et éclairer une fente rectangulaire et/ou carrée.
- Décrire alors la figure de diffraction observée.

- En utilisant la valeur réelle de la longueur d’onde de la diode laser, déterminer la longueur et la largeur des
fentes. Remplir le tableau suivant.
Détermination du diamètre du fil et de la largeur de la fente à partir de la taille de la tache centrale

Distance Longueur Largeur l de la Largeur a de Largeur de Largeur l de la Longueur de Longueur de Erreur Erreur
D (m) d’onde  en tache centrale la fente la fente a tache centrale la fente la fente sur a sur b
(m) horizontale en mesurée en réel en (m) verticale en mesurée en réelle en (m) (%) (%)
(m) (m) (m) (m)
Fente 1
(A3015)
Fente 2
(A3015)
Fente 3
(A3015)
Fente 4
(A3015)
19
Interférence de la Lumière Par des Fentes d’Young
Nous avons observé dans le TP précédent le phénomène de diffraction par une fente, un trou et un fil. Nous allons
dans cette partie nous intéresser à la diffraction d’un même faisceau monochromatique par deux ou plusieurs fentes. Il
se produit, en plus de la simple diffraction du faisceau, un phénomène d’interférences. La figure d’interférence ainsi
que le profil d’intensité obtenus (qui n’est plus une figure de diffraction) sont semblables à ceux présentés dans la
partie théorique.
On dit qu’il y a interférence lorsque l’intensité résultante de la superposition de deux ou plusieurs ondes n’est pas la
somme de leurs intensités.
Ce phénomène ne peut être observé en un point que si la lumière est produite par deux sources cohérentes :
- Leurs fréquences doivent être identiques.
- Leur déphasage reste constant dans le temps, quelque soit le retard relatif au point où l’on observe le
phénomène.
Pour étudier ce phénomène, nous devons donc disposer de deux sources de même fréquence , dont les vibrations
résultantes 1 et 2 envoyées au point d’observation M présentent un déphasage  constant au cours du temps. Les
changements de phase doivent se produire simultanément et de la même façon dans ces deux sources. On peut
obtenir très simplement ces conditions en prenant comme sources deux images S 1 et S2 d’une source unique S
cohérente au moyen de l’un des dispositifs suivants : trous d’Young, biprisme de Fresnel, miroirs de Fresnel…
L’objectif de ce travail pratique est de mettre en œuvre un dispositif interférentiel, il s’agit des trous d’Young,
d’observer les franges d’interférence et de déterminer les différentes caractéristiques mises en jeu.
Dispositif interférentiel – Etude théorique

Source Laser
La condition précédente est difficile à réaliser avec une source S incohérente. La source unique qui donne facilement
naissance aux deux sources cohérentes est la source Laser. Elle émet une lumière sous forme d’un faisceau formé
pratiquement de rayons parallèles de grande cohérence spatiale (la phase est la même dans toute une section droite
du faisceau) et de grande cohérence temporelle (faible largeur de la raie monochromatique émise).
Interférence par deux fentes de même largeur : dispositif des fentes d’Young
Le phénomène d’interférence est un cas particulier du phénomène de diffraction. Dans le cas de deux fentes nous
avons les deux phénomènes à la fois. Le profil d’intensité vu dans le TP 2 est valable en prenant une fente comme
objet diffractant. Il est cependant modifié si on considère un faisceau laser éclairant simultanément deux fentes. Dans
ce cas, on parle de dispositif des fentes d’Young. Le dispositif est représenté sur le schéma suivant :
Dans ce cas, le phénomène d’interférences entre en jeu : les deux faisceaux diffractés par chacune des fentes vont
interférer dans la zone où ils se recouvrent. Ce phénomène se produit si les deux faisceaux sont cohérents entre eux,
c'est-à-dire, si leur fréquence est identique et si le déphasage entre les deux champs électriques est constant au cours
du temps. Ces conditions sont remplies ici car les fentes sont éclairées par le même faisceau laser.
On peut par le calcul retrouver l’intensité reçue en un point M du plan de l’écran situé sur l’axe Ox’. Comme les deux
sources (ici les fentes éclairées par le faisceau laser) sont cohérentes, on ne peut pas simplement additionner
l’intensité émise par chacune des fentes :
il faut additionner les amplitudes du
champ électrique émis par chacune des
fentes. L’expression de l’amplitude du
champ électrique émis par une fente
dans le plan de l’écran a été donnée dans
la partie précédente. Ces calculs
(obtenus en sommant les contributions
de chacun des points de la fente)
peuvent être repris en modifiant la
20
position de la fente dans le calcul de l’intégrale. Pour la fente centrée en ‘–e/2’, l’amplitude complexe ‘A1’ du champ
électrique émis par la fente est
et celui émis par la fente centrée en ‘e/2’
L’amplitude totale vue au point M est alors obtenue en sommant les deux amplitudes et en effectuant les
changements de variable pour le calcul de ‘A2’, on obtient finalement :
On remarque que l’intégrale est la même que

celle donnant l’amplitude du champ électrique
obtenu avec la diffraction par une fente unique.
Cette amplitude est modulée par un cosinus, qui
est le terme d’interférence. L’intensité est donc
finalement proportionnelle
Le profil d’intensité normalisée prend donc la

forme suivante (dans le cas où l’écran est à 1m50
des fentes et avec des fentes de largeur 50μm,
espacée de 200μm) :
Profil d'intensité théorique de la figure de

diffraction à une distance D=1,5m, pour une
longueur d'onde incidente de 532nm et deux fentes de largeur a=40 µm espacées de e=100 µm
L’enveloppe (en rouge) représente le profil d’intensité obtenu lors de la diffraction du même faisceau laser par une
fente de largeur 40μm. Cette enveloppe, dans le cas d’une diffraction par deux fentes, est modulée par le
qui dépend de la distance ‘e’ entre les deux fentes. En supposant que θ est faible, on peut faire
l’approximation où xm est la coordonnée du point M sur l’écran selon l’axe O’x’. Le terme
d’interférence devient donc .
Seuls les interférences par deux trous (ou fentes) d’Young

Si on se focalise que sur la tache centrale de la diffraction, On ne considère que le phénomène de diffraction.
Expérience des fentes de Young
Une source ponctuelle, Laser S, éclaire deux trous (ou fentes) S 1 et S2 percés dans un écran et placés à la même
distance de S. Ils se comportent comme deux sources (principes d’Hygens) qui envoient deux vibrations parallèles en
phase ( = 0) dans toutes les directions.
21
Figure 1. Dispositif de trous d’Young
Soit deux sources sinusoïdales S1 et S2 issues d’une source S unique.

S 1 =a1 cos (ωt +ϕ 1 )
S 2 =a2 cos (ωt +ϕ 2 )
La différence de phase entre les deux sources est constante dans le temps :
2π
Δϕ=ϕ 1−ϕ 2= ( d −d )
λ 2 1
Sur un écran E’ placé à une distance adéquate apparaissent des bandes étroites équidistantes, claires et obscures,
appelées franges d’interférence.
On considère le schéma suivant:
On pose S1S2 = e, S1M = d1, S2M = d2, OM = x et O’O = D.
La différence de marche s’écrit:
δ = d2-d1
Ce terme est lié à la différence de phase Δφ
2π
Δϕ= δ
λ Figure 2. Franges d’interférences
On démontre alors que la différence de marche s’écrit :
e
δ= x
D
- Intensité lumineuse en un point M est donnée par la superposition
des ondes composantes S1 et S2.
L’intensité résultante de l’onde S est égale :
Δϕ
I =I 0 cos2 ( )
2
I 0=4 a 20
Figure 3. Intensité lumineuse en fonction du
déphasage des deux sources
Remarque :
Les franges brillantes sont des points d’amplitude maximale pour lesquels la différence de phase a la forme :
2π 2π e
Δϕ= δ= x
λ λ D
λD
x=n
Leurs abscisses sont telles que a , n entier naturel
λD
x=(2 n+1 )
- Les positions des franges sombres sont obtenues pour I nulle : 2e , n entier naturel.
- Interfrange : L’interfrange i est la distance entre les milieux de deux franges consécutives de même nature.
λD
i=
Soit : e
Interférence par plusieurs fentes (réseau)
Un réseau est un arrangement matériel qui impose, à une onde incidente, une variation périodique de son intensité.
La caractéristique fondamentale d’un réseau est sa période, que l’on donne le plus souvent sous forme du nombre de
traits par mm. Le réseau le plus simple est constitué par un ensemble de fentes parallèles.
22
Chaque trait diffuse de la lumière en dehors de la direction incidente et se comporte ainsi comme une bande opaque.
En revanche les parties situées entre les traits, qui laissent passer la lumière, jouent le rôle de fentes transparentes.
Celles-ci vont interférer entre elles (fentes d’Young).
On considère N fentes rectangulaires étroites parallèles de largeur b et très allongées, distants de e. Nous supposons
que la lumière incidente est perpendiculaire au plan des fentes. On peut observer sur un écran E placé à une grande
distance de la fente une figure d’interférence et de diffraction.
La relation liant , la longueur d’onde  de la lumière incidente et la période e du réseau est :
esin (θ )=mλ
m étant un nombre entier positif, nul ou négatif.
N
πθ a
sin(
( )
) ( N−1)
λ πθ a
I=N 2
πθ a
4 cos ( )
λ
En un point M de l'écran, l'intensité est donnée par :
λ
Le terme en cosinus est un terme d’interférences.
Figure 4. Dispositif de diffraction par N fentes et l’intensité lumineuse I en fonction de l’angle de diffraction dans le
cas de deux fentes
2. J=Partie Expérimentale
 Banc 2 mètres profilé aluminium anodisé avec
2 pieds réglables
 Un laser rouge (classe II) de puissance 1mW
 2 cavaliers simples
 cavalier à réglage latéral crémaillère (+/- 30 mm)
 jeton microlithographié 3 fentes double
 Jeton avec trous simples, doubles, carrés…
 Écran 15x15 cm plastique avec une face quadrillée
 Une caméra type ovisio
 Manuel d'expériences
On réalise le montage suivant. Placer la source laser à une extrémité du banc optique sur le cavalier réglable
latéralement, la plaque ref 3020 sur le cavalier réglable verticalement au centre et l’écran à l’autre extrémité du banc.
Eclairer avec la source laser les fentes et/ou les trous et former la figure d’interférence du faisceau laser sur l’écran.
Voir le montage ci-dessous.
23
1. Interférences par deux fentes

1.1. Mesure Manuelle
Aligner le montage de manière à ce que la figure d’interférence soit au centre de l’écran. Pour cela, éclairer les deux
fentes les moins espacées et regarder où se forme la figure d’interférence. Si l’image n’est pas au centre de l’écran,
tourner légèrement le laser dans son socle de manière à dévier le faisceau dans la direction voulue pour former
l’image au centre de l’écran. La figure d’interférence n’est alors plus visible. Tourner alors le barillet de manière à
éclairer à nouveau les deux fentes de manière à observer de nouveau les interférences. Si la figure n’est toujours pas à
l’endroit souhaitée, recommencer la procédure.
- Décrire alors la forme de la figure. Vérifier qu’elle correspond à ce qu’on attend en théorie. Expliquer
pourquoi il est nécessaire d’éclairer les deux fentes avec la même source laser.
Deux paramètres importants intervenant dans l’allure de la figure obtenue avec deux fentes sont la largeur
‘a’ des fentes et la distance ‘e’ entre deux fentes.
Tourner la plaque de façon à observer la figure obtenue avec les deux fentes centrale. On notera que
toutes les fentes sont de la même largeur : seule la distance entre les deux fentes change d’une paire de
fentes à l’autre. Comparer la figure avec celle obtenue avec les deux fentes précédentes.
Remarque : pour obtenir un profil d’intensité exploitable pour cette question, privilégier une exposition
faible de manière à pouvoir distinguer les franges d’interférence à l’intérieur de la tache centrale. Il n’est pas
nécessaire ici d’observer les taches secondaires.
- Remplir le tableau suivant

Détermination de la distance entre les fentes
N° de Distance Longueur Interfrange Largeur de Distance Distance Largeur a Erreur
franges D (m) d’onde  i (m) la tache e exp. e réelle de la fente (%)
N (m) centrale l (m) (m) en (m)
en (m)
Fente 1
Fente 2
Fente 3
1.2. Mesure à l’aide de la caméra

Nous allons effectuer la même expérience précédente mais en utilisant une caméra. Pour ceci remplacer l’écran
d’observation par la caméra (appeler le professeur). Brancher la caméra au port USB de l’ordinateur et lancer le
logiciel Ovisio. Quelques secondes sont nécessaires au
logiciel pour configurer la caméra numérique. Une fois la
configuration terminée, deux fenêtres apparaissent : la
fenêtre « vidéo » montre l’image filmée par la caméra et
la fenêtre « profils et mesures » permet d’afficher
l’intensité détectée par la caméra selon un axe
préalablement choisi.
Observer l’image donnée par la caméra. Il se peut que la
figure des interférences soit peu ou trop lumineuse. Pour
régler la luminosité des taches sur l’image, cliquer sur le
menu réglage puis source. Modifier alors le paramètre «
exposition » et regarder l’influence du paramètre sur
l’image. Une fois le paramètre réglé, il est alors possible
de visualiser les variations d’intensité dans une direction
particulière du plan de l’écran, choisie par l’utilisateur.
- Tracer le profil d’intensité de la figure d’interférence. Décrire ce profil : en particulier, identifier sur ce profil
l’effet produit par la diffraction par une fente et l’effet produit par l’interférence entre les faisceaux
transmis par les deux fentes.
- Quelle est l’influence de la modification de la distance entre les deux fentes sur le profil d’intensité ?
24
- Déduire de l’observation précédente et des rappels théoriques, une méthode pour déterminer la largeur des
fentes (qui est la même pour toutes) et la distance entre les deux fentes à partir du profil d’intensité et
l’appliquer pour les trois paires de fentes (pour plus de facilité, commencer par les fentes les moins
espacées et conserver le réglage pour les deux autres paires de fentes). On précise que la longueur d’onde
de la radiation émise par le laser est 632 nm.
- Remplir les tableaux suivants.
Détermination de la largeur de la fente

Distance D Longueur Tache centrale Distance a Distance a réelle Erreur
(m) d’onde  (m) (m) mesurée (m) (m) (%)
Fente 1
Fente 2
Fente 3
Détermination de la distance entre les fentes

Distance Longueur 10 i (m) Interfrange i Distance e Distance e Erreur
D (m) d’onde  (m) (m) exp. (m) réelle (m) (%)
Fente 1
Fente 2
Fente 3
2. Interférences par plusieurs fentes

L’objectif de cette manipulation est de généraliser le dispositif des fentes d’Young (dispositif à deux fentes) pour
comprendre le fonctionnement des dispositifs à fentes multiples régulièrement espacées et de même largeur.
Lorsqu’on éclaire simultanément plusieurs fentes avec la même source laser, les champs électriques émis par chacune
des fentes interfèrent, tous comme dans le cas de deux fentes. Nous allons donc observer ce phénomène.
- Eclairer le système de 3 fentes avec le faisceau laser. Décrire précisément la figure observée et l’expliquer à
partir des informations fournies dans la partie rappels théoriques. Tracer et décrire le profil d’intensité de la
figure.
- Remplir le tableau suivant
Détermination de la largeur de la fente a et de la distance entre les fentes e

Distance D Longueur Largeur de la Interfrange i Distance e Distance a
(m) d’onde  (m) tache centrale (m) exp. (m) mesurée (m)
(m)
3 fentes
4 fentes
Retirer la plaque du banc. Placer sur le support prévu à cet effet le réseau de diffraction possédant plusieurs traits par
mm. Un réseau peut être considéré comme un système de fentes multiples possédant un très grand nombre de fentes.
Placer ensuite le réseau sur le banc et l’éclairer par la source laser.
- Observer et commenter la figure obtenue. Placer l’écran à une distance permettant d’observer
simultanément plusieurs tâches à l’aide de la caméra (sinon sans caméra). A l’aide de la figure obtenue,
donner une estimation du pas ‘p’ du réseau, c'est-à-dire, la distance entre deux fentes successives (en se
plaçant dans l’approximation des petits angles).
25
Interférences de la Lumière Par le Montage de Michelson
Le but de ce TP est de comprendre et étudier la théorie et les applications de l’interférométrie à 2 ondes en

construisant soi-même son propre interféromètre de Michelson.
L’interféromètre de Michelson tire son nom du physicien Albert Abraham Michelson, né

dans l’actuelle Pologne, en 1852. Dès 1855, sa famille émigre aux états unis, où il devient
enseignant en Physique. Durant ses travaux, il met au point un système d’interférométrie
censé pouvoir mettre en évidence l’existence de l’Ether, sorte de courant, qui diminuerait
la vitesse de propagation de la lumière sur une des voies de l’interféromètre par rapport à
l’autre (compte tenu de la vitesse de mouvement de la terre). Les résultats ne parvenant
pas à montrer la moindre différence de vitesse, Michelson invalida partiellement la
théorie, et fournit par là même de précieuses pistes pour la théorie de la relativité
d’Einstein à venir.
Le principe de l’interféromètre développé à cette occasion fut réutilisé, et trouve désormais des applications dans la
spectrophotométrie par transformée de Fourier, le contrôle de surfaces, de planéité…
A. Partie Théorique
L’interféromètre est constitué de deux miroirs M1 et M2 placés à Miroir M2

une distance relativement voisine d’une séparatrice SP.
L’interféromètre est éclairé par une source lumineuse S, les
observations se font suivant l’axe orthogonal au miroir M2.
Séparatrice 50-50 SP
La lumière issue de la source va être séparée en 2 voies. L’une
réfléchie au niveau de la séparatrice, l’autre la traversant. Ces deux
voies se reflètent sur leur miroir respectif, et se recombinent après
un nouveau passage par la séparatrice.
Pour l’observateur, les deux miroirs M1 et M2 apparaissent donc
dans le champ de vision. Source S
La lumière issue de M1 semble provenir d’une source située dans le

prolongement de M2. L’interféromètre a créé un système qui va se comporter
Miroir M1
comme un « duplicateur » de source lumineuse, dont la séparation sera
complètement déterminée par la position relative des deux miroirs.
Les deux sources « virtuelles », S1 par le chemin de M1 et S2 par le
Observation
chemin de M2, vont produire dans la direction de l’observation des
phénomènes d’interférences. Ainsi, pour une distance strictement
identique, les deux ondes issues de S1 et S2 vont se trouver
parfaitement en phase, et donc produire des interférences 100%
constructives. Lorsque les distances ne sont pas identiques comme
sur le schéma ci-joint, les deux ondes ne sont plus identiques que ce
soit :
 dans leur forme (la lumière issue de la source diverge, plus l’on s’éloigne, plus la courbure s’aplanira)
 dans la distance que l’onde aura parcourue
La différence de courbure générera des phénomènes d’anneaux, la différence de distance aura pour conséquence une
amplitude résiduelle plus ou moins élevée dans l’axe d’observation, certains fronts seront systématiquement
superposés, provoquant des interférences constructives (intensité max) et d’autres seront systématiquement décalés
d’une demie période, provoquant des interférences destructives (noir complet).
Ces propriétés géométriques sur la forme des figures d’interférences permettront de tirer des propriétés extrêmement
précises sur la nature de la source ou de la valeur du déplacement D.
26
B. Partie Expérimentale
 Table magnétique
 3 cavaliers (pied) magnétiques lourds
 2 cavaliers (pied) magnétiques standards
 2 cavaliers porte écran
 1 séparatrice/compensatrice réglable
 1 miroir plan réglable en XY
 1 miroir plan monté sur chariot mobile
 1 laser vert de puissance 1mW
 1 objectif x4 adaptable sur le laser
 1 écran translucide quadrillé
 1 écran plastique blanc
 2 lentilles de focalisation sur monture
1.1 Etude de l’effet d’une lame séparatrice et d’une lame compensatrice
La description que nous avons faite jusqu’à présent de la séparatrice

prend en compte uniquement un composant infiniment fin. Dans la
réalité, il s’agit d’une lame qui reçoit sur une des faces un traitement
métallique semi-réfléchissant. Le trajet optique en destination de M1
serait donc allongé d’une triple traversée (passage 1, 2 et 3).
Dans la pratique on adjoint donc à la lame séparatrice une lame dite
« compensatrice », chargée de rétablir l’équivalence stricte de chemin
optique entre les 2 voies.
 Placer 2 pieds larges et le pied porte écran sur la table
magnétique, sur un même axe comme dans la photo ci-contre. Sur
l’un des pieds, positionner le laser vert sans son extenseur. Positionnez
l’écran blanc sur le pied porte-écran, face quadrillée vers le laser.
 Aligner et ajuster le faisceau du laser de telle façon à ce que
le point d’impact coïncide avec le centre du quadrillage de l’écran.
 Sur le pied restant, y insérer l’ensemble compensatrice-

séparatrice, dans un premier temps perpendiculaire au faisceau du
laser.
 Qu’observez-vous ?
 Changer l’orientation de l’ensemble séparatrice-

compensatrice.
 Que remarquez-vous au niveau de la tache centrale lumineuse ? Proposer une explication.
 Placer maintenant la séparatrice à 45°. S’aider des diagonales de la table magnétique et

du marquage sur le pied magnétique pour placer correctement la séparatrice.
Dans la suite du TP, on utilisera toujours la séparatrice à 45°.
 Déterminez le décalage induit par l’insertion de la lame séparatrice à

45°. Sachant que l’épaisseur ‘e’ de la lame séparatrice et de la
compensatrice sont de 5mm chacune et que son indice n 2 est de 1.52,
retrouvez par le calcul théorique le décalage δ latéral du faisceau et
comparez avec la mesure faite précédemment.
1.2 Positionnement à 45° de la séparatrice et réglage de la compensatrice

(a
)
27
Nous allons maintenant régler de façon plus précise la séparatrice à

45° avant de se lancer dans le réglage de la compensatrice.
 Réaliser le montage ci-contre en prenant garde de
parfaitement aligner les ² pieds. Avant de placer la séparatrice,
aligner le faisceau laser de telle façon à ce que le spot du laser arrive
sur l’axe vertical de l’écran dépoli. Positionner le pied de l’autre écran
de telle façon à ce que le centre du quadrillage corresponde à l’axe (b
perpendiculaire (en rouge dans la photo (a)). )
Placer maintenant l’ensemble séparatrice-compensatrice
approximativement à 45° sur le pied central. Sans bouger le pied
magnétique, ajuster ensuite l’angle de rotation de la séparatrice en
regardant les faisceaux réfléchis sur l’écran blanc. Tourner la
séparatrice jusqu’à ce que le point le plus lumineux soit placé au
niveau de l’axe vertical du quadrillage de l’écran. (Voir photo (b))
 Qu’observez-vous ? Proposer une explication. C1
 Pour régler la compensatrice, le but est d’aligner les

différentes taches afin de n’en obtenir plus que 5 d’une intensité C2
symétrique avec la tache centrale étant la plus lumineuse comme sur
la photo 4. Il est probable que vous soyez au départ dans une
configuration avec de très nombreuses réflexions. Procéder comme
sur les figures ci-dessous afin de régler votre compensatrice.
1 2 3 4
Actionner la vis C2 Actionner la vis C1 Actionner les vis C1 et C2

Pour régler horizontalement Pour régler verticalement Pour ajuster et faire
coïncider les spots
1.3 Positionnement du miroir sur rail de translation
Nous allons maintenant positionner le miroir dit « mobile » qui

MM1
VM
formera le premier bras du Michelson. Ce miroir est translatable par
vernier micrométrique, afin de pouvoir faire varier de façon précise et
sensible la longueur du chemin optique de ce bras. Le miroir possède
un réglage d’inclinaison X et Y centré. La vis du haut MM1 permet de
régler l’orientation verticale de celui-ci. La vis sur le côté MM2
MM2
permet d’orienter horizontalement le miroir. Le vernier
micrométrique VM permet de translater le miroir de façon précise.
 Positionner le chariot mobile à la place de l’écran translucide.

Le miroir doit être à environ 3 cases de la séparatrice et dans l’axe du
laser. On pourra s’aider en ajustant le parallélisme du vernier avec les
axes de la table magnétique. Placer l’écran translucide en bas de la
table magnétique comme sur la photo ci-jointe. Faire en sorte que
l’axe vertical de l’écran translucide corresponde à l’axe indiqué en
rouge sur la photo. Brancher le laser et ajuster la position du miroir
en utilisant les vis MM1 et MM2 de façon à ce que le faisceau
revienne vers la sortie du laser. Normalement si la séparatrice n’a pas
28
été déplacée, la réflexion revenant du miroir, se réfléchissant sur

l’arrière de la séparatrice et arrivant sur l’écran dépoli doit être
décalée de quelques millimètres de l’axe vertical de l’écran (du côté
du miroir).
 Comparez le décalage à celui qui avait été déterminé lors de l’étude de la séparatrice-compensatrice.
Proposer une explication. MF1
1.4 Positionnement du miroir fixe

MF2
Nous allons maintenant positionner le miroir dit « fixe » car ne
pouvant être translaté. Ce miroir permettra de former le second
chemin optique de l’interféromètre. Il possède un réglage
d’inclinaison X et Y centré. La vis du haut MF1 permet de régler
l’orientation verticale de celui-ci. La vis sur le côté MF2 permet
d’orienter horizontalement le miroir.
 Placer le miroir en lieu et place de l’écran blanc quadrillé
comme sur la photo du montage ci-joint. Il faut que la distance entre
le miroir fixe et la séparatrice (d1) soit un peu près équivalente à la
distance entre le miroir mobile et la séparatrice (d2). On doit obtenir d1=d2
deux ensembles de points légèrement décalés comme sur la photo en
bas de page.
Astuce : pour faciliter le placement des miroirs à une distance équivalente, se

repérer à l’aide des montures des miroirs (voir photo ci-jointe) et en regardant
de haut, les aligner par rapport aux carreaux de la table magnétique. Vous
pouvez par exemple positionner chaque miroir à 3 carreaux de la séparatrice.
Faire également en sorte que les montures de miroirs soient le plus parallèles
possible au bloc support afin de garder une plage de réglage satisfaisante.
 Expliquer la nature du 2eme ensemble de faisceaux.
 De la même façon que pour la compensatrice, rapprocher les

deux ensembles de points jusqu’à les confondre en actionnant les vis
MF1 et MF2.
Vous venez de réaliser le montage d’un interféromètre de Michelson.
Il faut maintenant le régler convenablement.
Lors de la construction de l’interféromètre, les éléments ont été

placés et alignés au fur et à mesure. Vous êtes donc à priori déjà
assez proche du bon réglage au niveau du parallélisme du miroir. Cela
dit, vous serez amené à dérégler les réglages, il est donc nécessaire
de savoir le réaligner sans tout démonter. C’est ce que nous allons
faire dans un premier temps.
2.1 Alignement laser
 Sans toucher à la position des différents éléments, ni à

l’orientation de la séparatrice, modifier les vis MF1, MF2, MM1, M2,
VM, C1 et C2 afin de dérégler l’alignement. Vous devez obtenir une
C1
multitude de taches sur l’écran translucide lorsque vous allumez le
laser. Cela signifie que le Michelson est déréglé.
 Aligner le laser de telle façon à ce qu’il soit au centre du
C2
miroir mobile et au centre du miroir fixe. Agir sur les vis C1 et C2 afin
29
de superposer les taches les plus faibles. Cela réduira le nombre de

taches visibles.
 Il reste donc 2 ensembles de taches, l’un correspondant au MF1/MF2
chemin optique se réfléchissant sur le miroir mobile et l’autre étant le
chemin optique provenant du miroir fixe. Agir d’abord sur les vis du
miroir mobile MM1 et MM2 afin dans un premier temps de repérer
sur quel ensemble de taches cela agit. Positionner cet ensemble de
taches au centre de l’écran translucide. Agir maintenant sur les vis
MF1 et MF2 de l’autre miroir pour superposer le seconde ensemble
de taches sur le premier.
Lorsqu’on arrive là, on dit que les miroirs sont réglés « parallèles ».
Sur le montage, ils sont en fait parfaitement perpendiculaires à cause
de la présence de la séparatrice à 45°. Il reste maintenant à régler la
longueur des chemins optiques.
2.2 Obtention des interférences
Avant de régler les longueurs des chemins optiques, nous allons

d’abord essayer d’obtenir nos premières interférences.
 Visser l’extenseur x4 au bout du laser vert. Le faisceau du
laser se retrouve élargi. Si besoin, recentrer légèrement le laser sur les
miroirs. On doit obtenir assez rapidement des anneaux en sortie au
niveau de l’écran translucide. Agir sur les vis MF1 et MF2 pour
recentrer les anneaux.
Si vous trouvez que votre champ d’interférence n’est pas satisfaisant :
Regardez à travers la séparatrice suivant la flèche et vérifiez que les miroirs Baisser le support Tourner la Cas idéal
sont bien superposés l’un sur l’autre comme sur la figure de droite. Ci ce n’est du miroir fixe séparatrice
pas le cas, il peut il y avoir plusieurs raisons : soit le laser est mal orienté, soit
la séparatrice n’est pas parfaitement à 45°, soit l’un des miroirs est désaxé.
 Maintenant, agir sur la mollette VM de déplacement manuel
du miroir mobile, et constater l’effet. Vous devez constater que le
diamètre des anneaux tend à augmenter ou à diminuer lorsque vous
translatez le chariot mobile de quelques tours de vernier.
2.3 Recherche de la teinte plate
Lorsque les deux miroirs sont exactement superposés du point de vue

de l’observateur, les deux sources virtuelles sont parfaitement au
même endroit. Le résultat en est des interférences constructives en
quelque point que ce soit. On parle alors de « teinte plate » pour
décrire une lumière homogène sur toute la plage d’observation. Le
contact optique désigne l’équivalence stricte de position des 2
miroirs, et donc l’équivalence stricte de longueur de chemin optique,
aboutissant à la génération de la teinte plate.
 Pour atteindre la teinte plate, tourner la mollette dans le
sens d’un allongement du diamètre. Vous obtenez à une position
donnée un cercle unique au delà de laquelle les anneaux
réapparaissent. C’est la teinte plate. Vous êtes au contact optique,
c'est-à-dire à l’endroit ou les deux chemins optiques sont de longueurs
identiques. Si le cercle lumineux présente une forme elliptique ou
hyperbolique, ajuster les réglages de la compensatrice (vis C1 et C2).
30
Outre la teinte plate, il existe d’autres phénomènes et cas réels

observables qu’on appelle lame d’air et coin d’air. Au contact optique,
d=0
Lorsque M1 est strictement parallèle à la projection de M2, un même
angle d’incidence correspondra toujours à la même différence de
marche en sortie de l’interféromètre.
M2 M1
C’est pour cela que l’on parle alors d’anneaux d’égale inclinaison.
(Séparatrice)
Tout se passe comme si les deux faisceaux interféraient après un Source ponctuelle
passage dans une lame d’air à faces parallèles. Cette observation sera
appelée « Lame d’air ».
La lame d’air est une appellation issue des positions de miroirs. Le
coin d’air désigne lui aussi l’effet généré par une configuration
particulière des réglages.
On appelle « Coin d’air » une faible inclinaison de M2 par rapport à
M1 au voisinage immédiat du contact optique. Tout se passe en effet M1
comme si les deux faisceaux interféraient après un passage dans un (Séparatrice)
coin d’air.
Nous allons dans la suite du TP, visualiser ces 2 configurations particulières.
3.1 Réglage en lame d’air M2
L’interféromètre tel que nous l’avons décrit consiste en un système

éclairé par une source ponctuelle. Dans la réalité, de telles sources
n’existent pas, et seuls les lasers s’en rapprochent suffisamment
pour pouvoir obtenir des résultats strictement conformes à une
théorie effectuée dans ce sens.
En lame d’air, la configuration d’anneaux d’égales inclinaisons
favorise la projection à l’infini.
Dans la suite du TP, nous allons apprendre à régler l’interféromètre

et observer les différentes figures d’interférences.
 Sans toucher aux miroirs, translater le chariot mobile avec
la vis VM et observer le comportement. Translater maintenant dans
l’autre sens en passant de l’autre côté de la teinte plate.
 Que constatez-vous ? Justifiez en comparant avec la théorie.
 Observez l’évolution du contraste des anneaux. Proposer une explication.
3.2 Réglage en coin d’air
En coin d’air, les interférences (au voisinage du contact optique) sont situées à la surface des miroirs. On utilisera donc
un écran placé au niveau de l’image des miroirs de l’interféromètre.
 Sur le montage précédent, rajouter une lentille de focale 00mm en sortie de l’interféromètre, comme sur la
photo ci-contre. Régler l’interféromètre de nouveau en teinte plate. Vous devez obtenir la figure 1 ci-contre.
 Agir légèrement sur la vis MM2 du miroir mobile. Vous devez
obtenir une figure de ce type. Constater l’apparition de franges
correspondant au coin d’air.
 Continuer l’action sur la vis MM2 du miroir mobile et
observer.
 Que constatez-vous ?
 Maintenant translater le chariot mobile avec la vis VM et

observez le comportement.
31
 Que remarquez-vous ? Comparez avec la théorie.
4. Réglage en Anneaux
Régler l’interféromètre en lame d’air de façon à obtenir la figure en anneaux suivante la plus symétrique possible.
La principale difficulté consiste à trouver l’anneau d’ordre 1 tel que le
centre soit strictement lumineux, mais de diamètre pratiquement nul
comme sur la figure de gauche.
 Translater le miroir mobile en actionnant la molette et
essayer d’obtenir une configuration adéquate comme sur la figure 2.
 En utilisant la face quadrillée des écrans, ou bien une règle,

déterminer le diamètre des 5 premiers anneaux lumineux
OK NON
et comparer leurs rapports.
Diamètre mesuré Ratio par rapport

Ordre Racine de l’ordre
(mm) à l’ordre 1
1
2
3
4
5
32

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Travaux Pratiques d’Optique Ondulatoire (SMP S4) Mustapha ABARKAN

PR. MUSTAPHA ABARKAN

Université Sidi Mohamed Ben Abdallah de Fès - Faculté Polydisciplinaire de Taza

Etude des Caractéristiques d’un Laser

Figure 1: Schéma du laser He-Ne usuel

Figure 2 : Illustration des processus pour le fonctionnement du laser

Figure 3: Schéma de principe du laser à gaz Hélium Néon

3. Géométrie du LASER = Light Amplifier by Stimulated Emission of Radiation :

Il s’agit d’étudier la répartition de

Figure 5. Méthode de couteau de Foucault

On mesure avec un détecteur de large surface l'intensité totale transmise

Figure 7: Rayon caractéristique du faisceau en fonction de z

- Transformation du faisceau par une lentille.

Figure 8 : Transformation d'un faisceau par une lentille

Figure 8 : Montage expérimental utilisé

Etude de la Polarisation de la Lumière : Vérification de la Loi de Malus - Influence des Lames

1.1. Introduction et définition

Depuis les travaux théoriques de Maxwell et les expériences de Hertz

Une onde électromagnétique consiste en la propagation dans

Il est possible de donner un état de polarisation à une onde primitivement

I = I0 cos2(α) (Loi de Malus)

1.3. Différents types de polarisation

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On a vu que la lame quart-onde permet de transformer une polarisation en polarisation

• Sans démonter le montage précédent placer la lame quart-onde à un angle quelconque (≠

2.1. Etude de la polarisation d’une diode

• Dans un tableau, relever pour différents angles l’éclairement correspondant. Commencer

Faire attention au calibre : si l’afficheur indique « O.L », il faut changer de

 Tracer le graphe E= f(α). En déduire alors le sens de polarisation de

2.2. Loi de Malus

On se propose maintenant de vérifier la loi de Malus.

On se propose maintenant d’observer le phénomène d’extinction (minimum d’intensité). Lorsque l’analyseur et le

2.3. Influence des lames quart-onde et demi-onde

Grâce à la première manipulation réalisée au paragraphe 1, nous avons

• Insérer au montage précédent une lame demi-onde dans un premier

Diffraction de la Lumière Par Plusieurs Obstacles

Ce TP permettra de mettre en évidence et d'observer quantitativement et qualitativement le phénomène de

où ‘x’ est la coordonnée selon l'axe Ox du point P.

La différence de phase entre les deux ondes est donc :

On obtient finalement que l’intensité dans le plan de l’écran

On peut remarquer que l’intensité s’annule lorsque

s’annule et Donc, on observe

Dans ce cas, le phénomène

et celui émis par la fente centrée en ‘e/2’

changements de variable pour le calcul de ‘A2’, on obtient finalement :

d’interférence devient donc .

2.1. Diffraction par des trous circulaires

Détermination du diamètre des trous de diffraction

2.1.2. Mesure avec la caméra (voir le mode d’emploi de la caméra en annexe)

Détermination du diamètre des trous de diffraction

Détermination du diamètre des trous de diffraction

Détermination de la longueur d’onde de la diode à partir de la taille de la tache centrale

- Décrire alors la figure de diffraction observée.

Détermination du diamètre du fil et de la largeur de la fente à partir de la taille de la tache centrale

Interférence de la Lumière Par des Fentes d’Young

Dispositif interférentiel – Etude théorique

et celui émis par la fente centrée en ‘e/2’

changements de variable pour le calcul de ‘A2’, on obtient finalement :