Estudo Da Resistividade Do Cobre
Estudo Da Resistividade Do Cobre
Estudo Da Resistividade Do Cobre
Escola de Engenharia
Programa de Ps-Graduao em Engenharia de Minas, Metalrgica e de Materiais
(PPGEM)
MESTRE EM ENGENHARIA
sendo aprovada em sua forma final.
BANCA EXAMINADORA
Dra. Berenice Anina Dedavid PUC/RS
Dr. Walman Bencio de Castro UFCG - Campina Grande/PB
Dr. Nestor Cezar Heck UFRGS/RS
AGRADECIMENTOS
Ao meu orientador Professor Jaime lvares Spim Jr. pela pacincia e pela conduo
no processo de ensinar e aprender.
minha esposa Ana, e minhas filhas Rafaela e Bruna, por compreenderem as horas
no to fceis.
Aos colegas da SATC, principalmente os companheiros Ilen e Fbio Peruch, pelas
horas agradveis.
Aos colegas da CELESC, principalmente os grandes amigos Enaldo, Amilcar, Luiz
Carlos, Csar, Fernando, ..., pela compreenso e colaborao.
CELESC, SATC e UFRGS, por oportunizar essa etapa de minha vida.
UNESC, principalmente aos professores Mrcio Fiori e Mrcio Rocha, pelo apoio
e contribuio.
INDICE DE FIGURAS
INDICE DE TABELAS
10
RESUMO
11
ABSTRACT
12
SUMRIO
1. INTRODUO................................................................................................................ 13
1.1 Motivao ....................................................................................................................... 14
1.2 Justificativa..................................................................................................................... 15
1.3. Objetivos........................................................................................................................ 15
1.3.1 Objetivo geral .............................................................................................................. 15
1.3.2 Objetivos especficos................................................................................................... 15
2. REVISO BIBLIOGRFICA ......................................................................................... 17
2.1 Cobre e suas caractersticas ............................................................................................ 17
2.1.1 Caracterizao do produto sob estudo fios de cobre ETP ........................................ 19
2.2 Caracterizao e capacidade de conduo de corrente eltrica do cobre ETP ............... 21
2.3 Difuso no comportamento de crescimento de gro ...................................................... 22
2.3.1 Mobilidade atmica no crescimento de gros ............................................................. 22
2.4 Caractersticas e comportamento impostos pela Resistncia Trao do cobre ETP.... 28
2.5 Resistividade e Condutividade eltrica em materiais metlicos..................................... 29
2.5.1 Aspectos influentes no comportamento da Resistividade eltrica............................... 31
2.5.2 Comportamento da Resistividade eltrica em funo da variao da temperatura ..... 32
2.5.2.1 Coeficiente de variao da Resistncia para temperatura ........................................ 33
2.5.2.2 Caracterizao da Resistividade sob efeito da deformao...................................... 35
2.6 Comportamento da circulao da corrente eltrica acerca da ocupao na seo
transversal do condutor eltrico............................................................................................ 36
2.6.1 Circulao da corrente eltrica em circuitos de Corrente Contnua - CC ................... 37
2.6.2 Circulao da corrente eltrica em circuitos de Corrente Alternada CA ................. 38
2.7 Oxidao e corroso ....................................................................................................... 39
2.8 Capacidade de transporte de corrente eltrica dos condutores ....................................... 41
2.8.1 Suportabilidade trmica dos condutores em funo da corrente eltrica drenada....... 41
2.8.1.1 Comportamento trmico em condutores para corrente limitada aos valores nominais
em regime contnuo .............................................................................................................. 42
2.8.1.2 Comportamento trmico em condutores para corrente com grandes variaes de
valores................................................................................................................................... 44
2.8.2 Capacidade de corrente eltrica nominal em funo da variao da temperatura....... 44
2.9 Condies funcionais das redes de distribuio de energia eltrica............................... 46
3. MATERIAIS E MTODOS............................................................................................. 49
3.1 Caracterizao das amostras para anlises ..................................................................... 49
3.2 Monitoramento da temperatura ...................................................................................... 52
3.3 Medies da resistncia eltrica ..................................................................................... 53
3.4 Ensaios de Trao Unidirecional.................................................................................... 54
3.5 Anlise por microscopia ptica ...................................................................................... 55
4 RESULTADOS E DISCUSSES..................................................................................... 56
4.1 Monitoramento da temperatura ...................................................................................... 56
4.2 Obteno da Resistividade Eltrica ................................................................................ 58
4.3 Ensaios de Trao Unidirecional.................................................................................... 60
4.4 Anlise por microscopia ptica ...................................................................................... 65
4.5 Consideraes finais ....................................................................................................... 69
5. CONCLUSES ................................................................................................................ 72
6. SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS........................................................... 74
7. BIBLIOGRAFIA .............................................................................................................. 75
13
1. INTRODUO
O comportamento pontual das caractersticas fsicas de metais condutores em
ocorrncias de variao de temperatura demonstra, para muitos deles, alteraes em suas
estruturas constitutivas, e conseqente, alternncias no comportamento de condutibilidade e
resistncia trao.
Especificamente tratando-se do cobre, algumas particularidades devem ser
observadas na investigao das caractersticas fsicas sob efeito da variao de temperatura.
Este metal apresenta propriedades intrnsecas que o credenciam aplicao sistemtica em
condutores de energia eltrica, independente do nvel de tenso eltrica sob utilizao, no
formato de produtos trefilados. Contudo, a exposio do cobre a correntes eltricas, com
valores percentualmente acima das condies nominais de funcionamento, e dependendo
do tempo de exposio, produz acentuada variao na temperatura do material e pode
alterar significativamente seu comportamento e estrutura cristalogrfica.
Concessionrias de fornecimento de energia eltrica sofrem com eventuais
descaracterizaes do cobre ao longo de suas linhas de distribuio em razo da variao do
valor de corrente eltrica circulante, que podem variar de alguns poucos milhares de
Amper, quando da ocorrncia de um curto-circuito durante perodos de tempo prolongados,
onde dependendo da intensidade da mesma, alguns poucos segundos so desastrosos para o
sistema. Essa descaracterizao produz efeitos indesejveis na estruturao das referidas
linhas, ou seja, para linhas com espaamento horizontal pode ocorrer a dilatao dos
condutores at atingir alturas crticas para a segurana dos terceiros, j nos espaamentos
verticais, fatalmente, ocorrer o entrelaamento entre a fiao e conseqente curto-circuito,
podendo ainda acarretar no rompimento dos condutores.
O presente trabalho descreve a investigao atravs de experimentos e pesquisas,
fundamentando-se em condies nominais e de intensidades de corrente eltrica circulante
acima destes valores, bem como no regime de exposio, observando-se assim as
temperaturas apresentadas. As caractersticas observadas denotam propriedades do cobre
puro ETP C110, trefilado, meio-duro, assim como tambm deste mesmo material desde a
recristalizao at o recozimento.
14
1.1 Motivao
O Sistema Eltrico de Potncia SEP, em ambientes que apresentam agressividade
na sua composio em combinao com agentes e substncias poluidoras, como solues
salinas (salitre ou maresia da orla) e enxofre dos compostos peritosos, so constitudos com
predominncia dos condutores de fio de cobre eletroltico - ETP em linhas para tenses
eltricas nominais at a classe de 15.000 Volts (Alta e Baixa Tenso), haja vista a excelente
resistncia a corroso e oxidao sob efeitos de exposio a reagentes nveis de
temperaturas aceitveis, j que o mesmo tem constituio percentual muita baixa de
oxignio [CDA,1998].
Sendo a corrente eltrica inversamente proporcional a tenso eltrica, pela primeira
lei de Ohm 1 , conclui-se que as sees circulares dos fios de Baixa Tenso sero maiores
que as necessrias para os de Alta Tenso (acima de 1.000 Volts). Ento, em funo da
corrente eltrica circulante para cargas de Potncia nominal (pela regra de Potncia
constante [Gallardo, 2005]) tem-se uma bitola de seo circular especfica, para cada nvel
de tenso e corrente, minimizando as perdas por aquecimento dos fios quando da passagem
da corrente eltrica.
Por menor que sejam os efeitos da circulao de correntes eltricas em curtocircuito, em razo do tempo de exposio nos fios de cobre, h sempre um gradiente
acumulativo na degradao dos mesmos, disso decorre, em muitos casos, o recozimento
precoce desses fios diminuindo a capacidade operativa dos mesmos. Desta causa surge o
efeito, em funo da temperatura de exposio, da dilatao dos condutores dispostos em
espaamento vertical de 20 (vinte) centmetros entre eles, ancorados entre distncias que
variam de 30 (trinta) at algumas centenas de metros [Celesc,2002]. Essa dilatao pode
produzir a conseqncia indesejvel de contato dos condutores entre fases ou neutro,
estabelecendo a formao de curto-circuito, que em algumas situaes provoca o
rompimento do fio de Cobre naquele determinado ponto.
Lei de Ohm segundo George Simon Ohm, em 1827, a resistncia eltrica de um fio tem dependncia direta
entre a diferena de potencial e corrente, assim V R.i
15
1.2 Justificativa
A anlise destes eventos, onde ocorre o aquecimento extremo no fio de cobre em
consequncia da intensidade de corrente eltrica circulante, possibilita a indicao de
pontos onde existem fortes indicativos de ocorrncias futuras de rompimentos da fiao
quando da ao de curto-circuito, sendo atravs de manutenes preditivas e/ou preventivas
minimizado substancialmente intervenes de manutenes corretivas das concessionrias
de energia eltrica nas linhas de distribuio de energia eltrica. Decorre disso a eliminao
de re-trabalho operacional e conseqente incremento no ndice de satisfao dos
consumidores destas concessionrias, tanto pela qualidade, reduzindo os nveis de perdas
apresentados, quanto pela confiabilidade/continuidade do fornecimento.
1.3. Objetivos
1.3.1 Objetivo geral
O presente trabalho teve como objetivo estudar as provveis causas de alteraes
das caractersticas mecnica e eltrica do fio de cobre eletroltico ETP C110, tmpera meioduro, aplicado em linhas areas de distribuio de energia eltrica. Este estudo verificou a
influncia decorrente das variaes da temperatura de incidncia, originadas pela passagem
da corrente eltrica conjuntamente s condies ambientais de exposio, na resistncia a
trao e resistncia eltrica nominal.
1.3.2 Objetivos especficos
Sob corpos de prova do material, submetidos em diferentes nveis de intensidade de
corrente eltrica, pretende-se:
- analisar as propriedades eltrica atravs da medio de resistividade e condutibilidade
eltrica nominal.
16
17
2. REVISO BIBLIOGRFICA
O cobre utilizado como cabo para a conduo de eletricidade na rede de distribuio
tem algumas como japons da JSA (Japan Standart Association) denominado como
C1100; No Reino Unido denominado de Cu-ETP atravs do padro britnico BS EN; na
Alemanha pelo sistema DIN como E-Cu-5X (Eletroltico Tenaz); no sistema americano
ASTM B denominado ETP-UNS (Unificate Number Sistem) denotado por C11000.
Neste trabalho o cobre est referenciado como eletroltico tenaz desoxidado Fsforo
ETP, de seo circular, trefilado frio em tmpera meio-duro.
2.1 Cobre e suas caractersticas
O elemento qumico Cobre, derivado do Latim Cumprum, identificado na tabela
peridica pelo acrnimo Cu, apresenta como caractersticas de composio genrica, entre
outras: estrutura cristalina CFC (Cbica de Face Centrada), 8.940kg/m3de densidade, ponto
de fuso em 1084 presso constante conforme figura (1). Sua utilizao tem sido as
mais diversas desde sua difuso, seja em ligas, como desde a era do bronze, h alguns
milhares de anos anteriormente a era crist, ou tendo seu uso como metal considerado puro
em aplicaes objetivando a conduo de calor ou eletricidade.
18
[Fernndez, 2004] descreve em seu trabalho, conforme tabela (1) com exceo da
Prata, o Cobre o metal de melhor comportamento sob os aspectos de condutividade
eltrica e trmica, alm de boa conformabilidade em razo da sua ductibilidade, boa
resistncia corroso quando exposto a solues aquosas e qumicas.
Tabela 1 Condutividade Trmica e Eltrica de alguns elementos materiais
Caractersticas
Cobre
puro
Cobre
ETP
Prata
(Ag)
Alumnio
(Al)
Ouro
(Au)
Ferro
(Fe)
Nquel
(Ni)
Zinco
(Zn)
Tungstnio
(W)
Condutividade
Eltrica (%IACS)
103,6
101
106
65
73,4
17,6
25,2
28,27
30
Condutividade
Trmica (W/m.K)
398
391
428
247
317,9
80,4
82,9
113
160
19
composto pode ter uma concentrao prximo a 10 ppm de Oxignio, [Fernndez, 2004].
Deste processo obtm-se o produto com pureza mnima de 99,95%, ou 99,99% para o
Cobre Livre de Oxignio de alta pureza (Cu-OFE), condutividade variando entre 101 e
101,8% do IACS 2 , qualificando-o para aplicaes onde a necessidade de condutividade
esteja acentuada, como o caso de dispositivos eletrnicos. Para esses tipos de cobres a
condutividade extremamente influencivel pela variao de impurezas.
O Cobre contendo Oxignio (Cu-O), tambm denominado Cu-ETP, apresenta o
Oxignio dissolvido no processo de fundio do mesmo em cerca de 100 a 650 ppm,
[Fernndez, 2004], durante a formao da estrutura cristalina solidificada, fato este que o
torna, bem, menos sensvel a impurezas no composto.
Ainda, segundo [SCDA,2008] e [Fernndez, 2004] o Cobre apresenta outras
formataes de refinamento. Em uma dessas, adiciona-se ao composto um agente
desoxidante, em alguns casos o Fsforo em cerca de 5 40 ppm, objetivando, diretamente,
a remoo do Oxignio durante a fundio e o controle do tamanho de gro da estrutura
cristalina. A nomenclatura relacionada a esse tipo classificada como Phosphorus
Deoxidized, Cu-DHP (High-0,015-0,040% de P) e Cu-DLP (Low-0,005-0,013% de P).
Outro tipo, o Cobre refinado altas temperaturas agrega elementos em sua formao como
por exemplo, Prata, Arsnio, Antimnio, Fsforo e Telrio, contudo a pureza deve
permanecer em parmetros prximos a 99,88% de pureza.
2.1.1 Caracterizao do produto sob estudo fios de cobre ETP
Inicialmente o produto obtido apresenta formato laminado em placas, tiras e barras;
atravs do processo de trefilao, o cobre ETP, adquiri seo transversal circular. As
tmperas mole, meio-mole, meio-duro ou duro denominam o grau de encruamento
absorvido, e conseqente alongamento no formato dos gros como mostra a fig. (2). Desse
processo tm-se no produto, caractersticas timas para utilizao do mesmo na funo de
condutores de energia eltrica, em razo do formato e tamanho de gro na cadeia cristalina
deste cobre, ou seja, o condutor produzido absorve propriedades satisfatrias de resistncia
2
IACS International Annealed Copper Standart: padro de condutividade eltrica mundial, sendo 100%
IACS designado como 58 MegaSiemens por metro (MS/m), apresentando a equivalncia de 1/58 ohm por
metro (/m) de resistividade eltrica para um fio com seo transversal em mm2. [Fernndez, 2004].
20
(a)
(b)
Figura 2 Imagens de micrografias de cobre puro: (a) material solidificado - gros equiaxiais, e (b) gro
encruado aps processo de trefilao
Fonte: [callister,2008].
21
22
23
24
N l N . exp(
Onde:
Q
)
K B .T
(01)
Svante August Arrhenius, qumico sueco (1859-1927). Estabeleceu critrios em sua lei para processos
dependentes da influncia da variao da temperatura.
4
Ludwig Eduard Boltzmann, fsico austraco (1844-1906). Obtm-se o valor da constante de Boltzmann (kB)
fazendo-se a relao da constante dos gases perfeitos (R) pelo nmero de Avogadro (NA). Ento kB = 1,381 x
10-23 JK-1 ou 8,617 x 10-5 eV K-1 ou J/Mol.
25
Lacunas/cm3
8 0,053.T
Lacunas/cm = 10 .e
15
(378C)9,18x10
1E+16
15
(350C)4,47x10
15
(300C)1,03x10
1E+15
1E+14
14
(250C)1,81x10
13
(200C)2,20x10
1E+13
12
1E+12
(150C)1,62x10
1E+11
10
(100C)5,9105x10
1E+10
10
(80C)1,2102x10
1E+09
(60C)2,0482x10
8
1E+08
1000000
0
1000000
(40C)2,7624x10
7
(20C)2,8342x10
100000
10
100
1000
Temperatura (T) - C
Figura 5 Quantidade de lacunas por cm3 com variao da temperatura para o condutor de cobre
26
e 10-13 segundos.
A velocidade com que se desenvolve a autodifuso est associada diretamente a
variao de temperatura do material, haja vista que quanto maior a temperatura, maior ser
a dissipao de lacunas pela formao de defeitos atmicos e, naturalmente, maior ser a
mobilidade atmica.
A difuso em slidos acontece em trs meios de propagao diferentes: difuso na
superfcie, difuso no volume do material e difuso nos contornos de gro.
27
Elementos da
Difuso
Cobre (autodifuso)
Nquel em cobre
Estanho em cobre
Zinco em cobre
Bronze
Difuso Volumtrica
D0 (cm2.s-1) Qv (kcal/mol)
0,6 0,78
50,5 50,9
-5
6,5 x 10
30
-3
31
4,1 x 10
-3
2,4 x 10
30
-6
6,0 x 10
25
Difuso superficial
D0 (cm2.s-1) Qv (kcal/mol)
1000
39
------800
49
28
Superior
1,00
..
.
3,75
4,25
4,75
..
.
10,60
Inferior
1,06
..
.
4,25
4,75
5,30
..
.
11,80
Minima
366
..
.
338
336
333
..
.
290
Mxima
432
..
.
401
397
392
..
.
332
250 mm
..
.
2,00
2,10
..
.
3,75
1.500 mm
0,88
..
.
1,15
1,20
1,25
..
.
-
29
30
Figura 7 Espalhamento tri-dimensional do eltron e, orientado pelo vetor k, na anlise sob planos
relacionados ao campo aplicado
Fonte: [Rossiter, 1991].
Albert Einstein: fsico alemo (1879-1955) demonstra a dependncia de T do calor especficos dos slidos
ao admitir que a vibrao trmica dos tomos era quantizada. [Bassalo,1992].
6
Enrico Fermi: fsico italiano (1901-1954) calculou o nmero mdio de partculas com energia. tomos ou
molculas em equilbrio trmico absorvam o estado de energia estimulado. [Bassalo,1992].
31
A fig (7) confirma para [Rossiter, 1991], de quanto maior for o ngulo de
espalhamento maior a influncia na intensidade da Resistividade, ou seja, quanto maior o
ngulo , maior o percurso e atenuao dos eltrons livres.
O princpio da conduo eletrnica ajusta-se aos pr-requisitos do deslocamento de
partculas eletricamente carregadas com o movimento proposto pelas foras de atuao de
um campo eltrico aplicado. A energia necessria para produzir esse deslocamento, nos
slidos de estrutura atmica cristalina ordenada influencia os estados eletrnicos desses
tomos desde que os valores impostos as partculas estejam acima da banda de energia.
Dessa forma somente eltrons que possurem energia maior que a energia de Fermi, nessa
banda, sero acelerados pela ao do campo aplicado. Os eltrons excitados, denominados
eltrons livres, caracterizam o princpio de circulao da corrente eltrica.
2.5.1 Aspectos influentes no comportamento da Resistividade eltrica
Analogamente aos conceitos da terceira lei de Newton, em que para toda ao
aparece uma reao, na acelerao dos eltrons livres atravs do campo aplicado, surge
uma fora contrria ao sentido do campo, a qual impe restries ao livre deslocamento.
Essa fora aparece na interao de alguns aspectos que impem efeitos intrnsecos no
comportamento da Resistividade eltrica sob o ponto de vista de agentes que incrementam
o espalhamento dos eltrons livres.
Esses aspectos produzem variao na resistncia impostas em funo da intensidade
que acontecem, haja vista a proporcionalidade com as particularidades de cada metal.
Segundo [Meier et al,2004] e [Padilha, 2000] os agentes influentes no comportamento da
Resistividade podem classificar-se em trs efeitos, podendo haver simultaneidade ou no,
apontando diretamente, para contribuio provenientes de impurezas (defeitos estruturais),
temperatura de trabalho (vibraes trmicas) e deformao mecnica (trabalho mecnico).
Os aspectos, como citado anteriormente, intensificam o espalhamento dos eltrons
estabelecendo vnculo com a Regra de Matthiessen 7 , eq. (4):
t i d
7
(0 4)
Augustus Matthiessen: Fsico britnico (1831-1870), estabeleceu critrios de anlise para teoria da
mobilidade dos eltrons.
32
onde:
t a parcela de contribuio das vibraes trmicas;
i devida s impurezas; e
d a contribuio devida deformao.
Na proposio de [Cezar, 2006], sob o ponto de vista da periodicidade do potencial
eltrico, as impurezas e defeitos cristalinos aumentam a resistividade eltrica dos metais,
pois ambos interrompem localmente o mesmo na rede. J a temperatura induz os vrios
modos vibracionais dos tomos dificultando o movimento dos eltrons na rede cristalina.
Este modelo est representado na fig. (8).
(Ef,T), torna-se muito importante os processos que possam monitorar e controlar a mesma.
2.5.2 Comportamento da Resistividade eltrica em funo da variao da temperatura
A proporcionalidade do comportamento da Resistividade quando da variao de
temperatura identificada, neste trabalho, como o efeito do processo de circulao de
corrente eltrica ao longo do permetro do metal condutor. Ato contnuo, ao aumentar-se a
quantidade de cargas eltricas transportadas, a energia de ativao aumenta e o material
sofre influncia trmica gradiente, ou seja, quanto maior a corrente eltrica, maior a
33
34
tg
R
T
tg
R1
onde:
T1 a temperatura de referncia, usualmente 20C [Bakshi et al, 2005] e [CDA,1998] e R1
a resistncia . Para esse caso:
T T .[1 T T (T2 T1 )]
2
(0 5)
Cobre
Alumnio
Tungstnio
Ferro
Platina
Resistividade (.m)
1,62x10-8
1,69x10-8
2,75x10-8
5,25x10-8
9,68x10-8
10,6x10-8
Coeficiente (K-1)
4,1x10-3
4,3x10-3
4,4x10-3
4,5x10-3
6,5x10-3
3,9x10-3
35
36
Tabela 5 Valores da resistncia eltrica em condutores da classe 1A (condutor de cobre slido)
Seo Nominal
(mm2)
Dimetro
Nominal (mm)
2,80
2,95
2,97
10
3,55
1,84
1,85
16
4,50
1,14
1,15
25
5,60
0,739
0,742
35
6,70
0,516
0,519
50
8,00
0,362
0,364
A tab. (5) descreve valores de resistncia para alguns condutores de srie mtrica
comercial, indicando valores referenciais, temperatura de 20C com circulao de
corrente contnua, subsidiando o dimensionamento em planejamento de projetos,
possibilitando a previso de perdas por dissipao de calor no condutor.
2.6 Comportamento da circulao da corrente eltrica acerca da ocupao na seo
transversal do condutor eltrico
Inicialmente em condio de distribuio atmica na rede cristalogrfica os eltrons
livres direcionam-se de forma aleatria. Quando exposto a uma Fora Eletro-Motriz
FEM 8 , produzida por fonte de potencial eltrico, os mesmos se ordenam e orientam-se no
sentido de fluxo das cargas eltricas estabelecidas pela fonte de potencial eltrico. Deste
processo resulta a formao de fluxo de corrente eltrica estabelecido pela Tenso eltrica
(potencial entre dois extremos). Para [Cezar, 2006] a carga em movimento constitui uma
corrente e o processo por meio do qual a carga transportada chamado de conduo.
A
seo
transversal
delimita
quantidade
de
carga
transportada,
FEM - Fora Eletro-Motriz: a fora eltrica mnima requerida para deslocamento dos eltrons livres numa
direo ordenada no interior de um condutor. [Bakshi et al, 2005].
37
atravs da rea da seo transversal de um condutor. Seja dQ a carga que passa pela rea
de uma seo, durante um intervalo de tempo dt, ento tem-se:
dQ
dt
(0 6)
38
XL L ,
sendo
2 f
39
Pontos
C
O2 (%)
1084,5
0
1066
~0,008
1066
0,39
1066
11,2
1200
1,5
600
~0,0017
~375
11,2
40
41
MCM = Mil Circular Mil, derivao da seo transversal circular, sendo 1 MCM = 0,506707 mm2.
AWG = American Wire Gage, padro americano caracterizado pelos sucessivos passos no processo de
trefilao [Kagan et al, 2005].
10
42
43
W dt AK reg dt
(07)
reg (T 2 )
I
2
I1
(08)
44
representado
pela
equao
.l
S
(09)
Esta equao representa o tempo mximo de exposio a grandes correntes (em segundos)
para condutores de cobre;
onde: I = intensidade da corrente de curto circuito (kA);
S = rea da seo transversal do condutor (mm2);
TCC = temperatura mxima admissvel no condutor em CC (C);
Treg = temperatura mxima em regime permanente (C);
t = tempo de exposio ao CC (s).
228 TCC S
.
b) t 0,0487. log
2228 Treg I
(10)
Esta equao representa o tempo mximo de exposio a grandes correntes (em segundos)
para condutores de Alumnio.
2.8.2 Capacidade de corrente eltrica nominal em funo da variao da temperatura
45
Temperatura acrescida a
TAMB
10 mm2
16 mm2
25 mm2
35 mm2
50 mm2
70 mm2
8 AWG
6 AWG
4 AWG
2 AWG
1/0AWG
2/0AWG
Capacidade operacional
112
143
189
236
287
353
10C
71
90
113
133
155
186
20C
99
125
157
185
215
258
30C
119
150
189
222
259
311
40C
135
170
214
253
294
353
50C
149
188
236
278
323
389
150
190
251
313
381
470
46
para iniciar-se o gradiente de temperatura, sendo a evoluo para os prximos valores uma
relao logartmica, y = a.xb, conforme projeo da equao da linha de regresso
matemtica para cada seo transversal.
350
S = 50 mm
Fio de cobre nu
300
S = 35 mm
Fio de cobre nu
250
S = 25 mm
200
188
170
Fio de cobre nu - S = 16 mm
150
Fio de cobre nu
150
S = 10 mm
125
100
90
0,4569
50
10
20
30
40
50
60
70
Temperatura (T) - C
Figura 15 Capacidade de corrente para condutores de cobre nu limitados a ndice da variao da temperatura
Fonte: adaptado de [Ficap, 2008]
47
48
49
3. MATERIAIS E MTODOS
3.1 Caracterizao das amostras para anlises
Atravs da caracterizao de procedimentos metodolgicos, proposio deste
trabalho apontar os resultados das anlises realizadas acerca dos efeitos da temperatura
imposta pela corrente eltrica circulante, cuja padronizao obedece aos preceitos da
regulamentao da ABNT, dispostos na NBR5471/1986 de fios de cobre eletrolticos
ETP C110 tmpera meio-duro, seo circular, 101%IACS, utilizados em linhas de
distribuio areas de energia eltrica, alm de buscar obter-se parmetros para anlise do
comportamento do material sob alguns nveis de influncia da temperatura, ou seja, qual
intensidade mxima de corrente eltrica sob exposio do mesmo, ou percentual da
capacidade nominal em regime contnuo.
As amostras, originadas de produto, material base, disponibilizada pela empresa
Celesc Distribuio SA, foram caracterizadas, em fio de cobre nu rgido de dimetro de
4,515mm (16,00mm2), compreendido pela disponibilizao da classe de encordoamento
como classe 1A, ou seja, condutores slidos, segundo a NBR6524,1998, inicialmente
dispostos em rolos de peso e comprimentos variveis, sendo o valor mximo indicado de 40
kg, conforme demonstra a fig. (16), cujos aspectos so condizentes com os condutores sob
padro da prpria concessionria, utilizados em redes de Alta e Baixa tenso.
50
(a)
(b)
Figura 17 Arranjo e disposio dos cabos nas redes de distribuio de energia.
51
Cobre
Prata
Ferro
Mangans
Nquel
Cromo
Composio (%)
restante
0,0061
0,0006
0,0001
0,0031
0,00027
N da
Amostra
11
01
02
143
contnua
03
i de curto-circuito mdio na BT
700
04
214,5
contnua
05
2 vezes i Operacional
286
contnua
06
i curto-circuito mnimo na BT
400
120
190
Gerador de corrente Electric Test Serta (modelo SCA-175) srie 113 escala 0 2.000Amper
52
12
53
(a)
(b)
Figura 18 Equipamento de ensaio de resistncia eltrica: (a) detalhe instalao/medio, (b) detalhe
medio efetuada
13
54
(a)
14
15
55
(b)
Figura 19 (a) Equipamento de ensaio de Trao Unidirecional com estufa acoplada, (b) detalhe
estufa Biopar
56
4 RESULTADOS E DISCUSSES
Os valores foram obtidos atravs de experimentos, cujos resultados denotaram
caractersticas e particularidades do cobre ETP quando em exposio temperaturas
diversas. As relaes retratadas pela diversidade de resultados das amostras em estudo
apontam o comportamento do produto para diferentes eventos.
Ensaios de trao unidirecional projetam os esforos mximos permitidos em
ancoragem dos condutores nas estruturas de postes e portais das subestaes, subsidiados
pelos valores de dureza, as quais propiciam registros de intensidade das foras de
interligao interatmica. A anlise metalogrfica indica o arranjo atmico na estrutura
cristalina, identificando aspectos como o tamanho de gros e impurezas nos contornos de
gro que tero interferncia direta na resistncia a trao, bem como na resistividade
eltrica, minimizando efeitos de perdas eltricas por energia dissipada.
4.1 Monitoramento da temperatura
As investigaes para as amostras 2, 4 e 5 representaram comportamentos de
caractersticas acumulativas na variao de corrente e temperatura e obteve-se o gradiente
Temperatura amostra
(T) - C
256
256
256
256
136
136
242
250
228
208
Amostra 5 = 2xIOPERACIONAL
195
200
174
T = 16,734.t + 58,394
162
142
150
123
112
94
100
78
70
105
113
55
23
26
28
30
33
125
132
136
136
136
Amostra 4 = 1,5xIOPERACIONAL
T = 8,199.t + 43,788
66
50
50
88
97
120
35
38
41
45
49
52
68
65
62
58
55
Amostra 2 = I OPERACIONAL
T = 2,528.t + 21,176
0
1
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
57
58
N da Amostra
Resistncia
Eltrica - RAMOSTRA ()
Resistividade
Eltrica - (.mm2/m)
Resistncia
Eltrica especfica - R
(/km)
68,0x10-5
67,5x10-5
67,5x10-5
66,5x10-5
67,5x10-5
68,0x10-5
0,017548
0,017419
0,017419
0,017161
0,017419
0,017548
1,09677
1,08871
1,08871
1,07258
1,08871
1,09677
16
transversal e l o comprimento.
R. A
, sendo a resistividade, R a resistncia, A a seo
l
59
3,5
2,89
3
2,69
2,51
2,5
2,3
+ 1,4683
y== 0,0116x
0,0116.T
+ 1,4683
2,15
2,01
1,89
1,74
1,5
0,5
0
0
20
40
60
80
100
120
140
Temperatura (C)
60
N da Amostra
1
304,71
292,33
288,88
184,95
168,00
159,62
269,78
270,31
279,50
105,46
57,55
50,98
7,53
7,85
7,97
35,23
46,15
54,06
Tenacidade (N.m.mm-3)
1,434
1,434
1,439
4,072
4,846
5,393
61
62
63
mecnicas, tab. (10), demonstram altos ndices de perda na capacidade de operao destes
condutores, evidenciando indcios de possibilidade de dilatao dos mesmos, ou ainda a
disformidade da distncia entre os condutores fase ou neutro, na baixa tenso. Impondo um
comprometimento numa reduo em torno de 42,53% na resistncia a trao, assim como
em 78,71% na elasticidade e aumentando o alongamento em 5,88 vezes.
A grande preocupao neste caso so as conseqncias adquiridas por este produto
sob constantes tenses de ancoragem em estruturas das redes. O prprio peso do condutor,
imposto por flechas em vos entre postes de distncias consideradas, pode resultar em
conseqncias indesejadas, tanto para segurana de terceiros quanto para continuidade no
fornecimento de energia.
A amostra 6, cujo resultados esto expressos, novamente, na fig. (23), identifica o
recozimento severo do cobre ETP. Teoricamente apresenta os valores de estabilizao para
os critrios estudados no pior caso deste trabalho, ou seja, pode-se considerar que a partir
dos valores de temperaturas ao qual a amostra foi exposta o nvel de comprometimento
acentuado, comprovadamente atribudo aos valores obtidos relacionados a regio elstica,
atingindo 18,86% da amostra de referncia (amostra 2), e a mxima tenso aplicada em
torno de 54,60%, bem como a dilatao atingiu 6,88 vezes os parmetros da mesma.
Considerando a tab. (10) e as fig. (22) e (23) percebe-se que a denominao do tipo
de material sob estudo, cobre ETP (tenaz), sofre variao entre os dois grupos analisados
dentro de padres de similaridade a respeito da caracterstica de tenacidade imposta pela
temperatura. O primeiro grupo composto pelas amostras 1, 2 e 3 apresentam tenacidade
praticamente idnticas; a amostra 4 apresentou uma variao de 2,839 vezes o valor da
amostra 2 (183,9%); a amostra 5 variou em 237,9%, e a amostra 6 apresentou-se 276%
mais tenaz em relao a referncia.
Uma vez submetido a eventos em que a corrente circulante de trabalho tenha
ultrapassado o valor limite nominal, imediatamente acontece a intensificao da
possibilidade de ocorrncias de dilatao e retrao instantnea, ou seja, deformao
elstica/plstica seguidas da recristalizao instantaneamente na seqncia nos fios. Fato
este que reduz a eficcia da elasticidade na ordem mdia de 0,85% a cada Amper
incrementado, limitado a corrente de 215A; com a corrente eltrica variando de 215 286A
o percentual diminui para 0,63%/A, e a partir de 287A estabiliza-se em 0,1%/A (fig. (24)).
64
Os fios permanecem em constante trao devido ancoragem aos postes das redes
de energia eltrica, e segundo o mesmo critrio de anlise, h um decrscimo na capacidade
de tenso na ancoragem dos postes, intensificando o efeito da dilatao e at mesmo o
rompimento dos mesmos numa proporo mdia de 0,51%/A at a corrente de 215A; de
215 286A o percentual diminui para 0,13%/A, e a partir de 287A estabiliza em 0,07%/A
5,393
4,846
500
4,072
400
300
Tenacidade
Temperatura de
estabilizao
378
292,33
270,31
286
256
214,5
200
184,95
168
143
159,62
Tenso mxima
136
Tenacidade {N.mm.mm-3}
(fig. (24)).
1,434
100
68
105,46
57,55
35,23
Amostra2
Tenso
7,85
0
54,06 Deformao
Amostra 4
46,15
Amostra 5
50,98Escoamento
Amostra 6
65
Amostra 2 IOPERACIONAL
Amostra 3 ICC_OPERACIONAL
Figura 25 Micrografia Longitudinais das amostras 1, 2 e 3
66
Amostra 2 IOPERACIONAL
Amostra 3 ICC_OPERACIONAL
Figura 26 Micrografia Transversais das amostras 1, 2 e 3
67
Amostra 5 2 x IOPERACIONAL
Amostra 6 ICC_SEVERO
Figura 27 Micrografia Longitudinais das amostras 4, 5 e 6
68
Amostra 5 2 x IOPERACIONAL
Amostra 6 ICC_SEVERO
Figura 28 Micrografia Transversais das amostras 4, 5 e 6
69
70
71
72
5. CONCLUSES
Analisando-se os resultados obtidos dos ensaios aos quais, amostras de fio de cobre
nu eletrolticas ETP, foram submetidas os diversos tipos de efeitos de eventos possveis
em uma rede de distribuio de energia eltrica, observou-se o comportamento para
parmetros
encontrados
nas
propriedades
fsicas
mecnicas
eltricas,
cujo
73
74
75
7. BIBLIOGRAFIA
Askeland, Donald R..The Science and Engineering of Materials. London: S1 Edition,
1988.
Bakshi, U.A.; Bakshi, V.U. Elements of Electrical Engineering. Shaniwar Peth Pune,
ndia: Techincal Publications Pune, 2005. 314 p.
Bassalo, Jos Maria Filardo. A Crnica da Fsica do estado slido: II. Teoria dos
Metais. Publicado na Revista Brasileira de ensino de Fsica vol. 15, 1993. Disponvel
em http://www.sbfisica.org.br/rbef/pdf/vol15a16.pdf, acessado em Fevereiro de 2009.
Bassalo, Jos Maria Filardo. A Crnica da Fsica do estado slido: III. Teoria das
Bandas. Publicado na Revista Brasileira de ensino de Fsica vol. 15, 1994. Disponvel
em http://www.sbfisica.org.br/rbef/pdf/vol16a08.pdf, acessado em Fevereiro de 2009.
Byrappa, Kullaiah; Ohachi, Tadashi. Crystal Grwth Technology. New York: Springer,
2003.
Callister,William D... Cincia e engenharia de materiais: uma introduo. Traduzido
por Srgio Murilo Stamile Soares. Rio de Janeiro: LTC-7e, 2008. 705 pg.
Cardoso, Rodrigo Perito. Estudo numrico e experimental do processo de deposio e
difuso de nquel via plasma em amostras de ferro na configurao nodo-ctodo
confinado. Dissertao de Mestrado. Universidade Federal de Santa Catarina UFSC,
Florianpolis, 2003. Disponvel em http://www.tede.ufsc.br/teses/PEMC0717.pdf,
acessado em Julho de 2008.
Cezar, Alex Boiarski. Monitoramento da transio da fase estrutural CCC-CFC da
liga CoxFe100-x eletrodepositada. Dissertao de Mestrado. Universidade Federal do
Paran UFPR, Curitiba, 2006. Disponvel em http://dspace.c3sl.ufpr.br/dspace/
bitstream/1884/6786/1/Disserta%C3%A7%C3%A3o%20Alex%20Boiarski%20Cezar.p
df, acessado em Abril de 2009.
Corra, Jeferson Marian. Desenvolvimento e implementao de uma micro-rede
avanada de alta freqncia para integrao de fontes alternativas de energia.
Tese de Doutorado. Universidade Federal de Santa Maria UFSM, Santa Maria-RS,
2006.
Disponvel
em
http://biblioteca.universia.net/html_bura/ficha/params/id/
76
77
em
http://ieeexplore..ieee.org/xpl/
freeabs_all.jsp?arnumber=464650,
acessado em Janeiro/2008.
Prisedsky, V.V; Vinogradov, V.M.. Fragmentation of diffusion zone in hightemperature oxidation of copper. Publicado em Journal of Solid State Chemistry,
2004. Disponvel em http://www.sciencedirect.com. Acessado em Abril/2008.
Rao, K.P.; Prasad, Y.V.R.K. Mechanisms of high temperature deformation in
electrolytic copper in extended ranges of temperature and strain rate. Publicado no
Materials
Science
and
Engineering
em
Maro/2004.
Disponvel
em
http://www.sciencedirect.com/science?_ob=ArticleURL&_udi=B6TXD4CDJHJT3&_user=10&_rdoc=
1&_fmt=&_orig=search&_sort=
d&view=c&_version=1&_urlVersion=0&_userid=10&md5=16291f26569bc9e056a6f0
0ca3e4c09e, acessado em Janeiro/2008.
Robert, Ren. Efeito Pelicular. Publicado na Revista de Ensino de Fsica, vol. 22, no. 2,
Junho/2000. Disponvel em http://www.sbfisica.org.br/rbef/pdf/v27_583.pdf, acessado
em Abril/2009.
Rossiter, Paul L.. The electrical resistivity of metals e alloys. Melbourne - Austrlia:
Cambridge University Press, 1991. 434 pg.
Shackelford James F..Introduction to Materials Science for Engineers. Saddle River,
NJ: Pearson Education, 2009.
Van Vlack, Lawrence Hall. Princpios de Cincia dos Materiais. Traduzido por Luiz
Paulo Camargo Ferro. So Paulo: Edgard Blcher, 1970. 427 pg.
Bookmarks/Handbooks
CDA, Copper Development Association. Equilibrium Diagrams selected copper alloy
diagrams illustrating the major types of phase transformation. CDA publication 94.
78
United Kingdom UK, 1992. 36 pg. http://www.cda.org.uk/frontend/numpubs.htm,
acessado em Janeiro/2009.
CDA, Copper Development Association. For Electrical Engineering. CDA publication
122.
United
Kingdom
UK,
1998.
80
pg.
Disponvel
em
Aplicaes
do
Cobre:
instalaes
eltricas.
Disponvel
http://www.procobre.org/pr/aplicacoes_do_cobre/instalacoes_eletricas.html,
em
acessado
em Janeiro/2009.
SCDA Scandinavian Copper Development Association. Copper Metal : Properties.
Disponvel em http://www.scda.com/copper/copper.html, acessado em Janeiro/2009.
UNESC Universidade do Extremo Sul Catarinense. Relatrio de anlise n 015/08.
Departamento de Engenharia de Materiais. Cricima SC, 2008.
Normas Tcnicas
79